강태종 대구대학교 화학과 교수 김동호 한국표준과학연구원 분광연구실 책임연구원 김성규 성균관대학교 화학과 교수 김용록 연세대학교 화학과 교수 김학진 충남대학교 화학과 교수 김홍래 강원대학교 화학과 교수 박영동 아주대학교 화학과 교수 박정희 고려대학교 화학과 교수 송남웅 한국표준과학연구원 양자연구부 선임연구원 이민영 이화여자대학교 화학과 교수 전승준 고려대학교 화학과 교수 조민행 고려대학교 화학과 교수 주태하 포항공과대학교 화학과 교수 최영식 인하대학교 화학과 교수 최중길 연세대학교 화학과 교수 허영덕 단국대학교 화학과 교수

레이저의 화학적 응용

레이저의 화학적 응용

강태종 김동호 김성규 김용록 김학전 김홍래 박영동 박정희 송남웅 이민영 전승준 조민행 주태하 최영식 최중길 허영덕 딘옵사

머리말 1960 년에 레이저가 고안된 이래, 레이저는 현대 과학 발전에 지대 한 공헌을 하였다. 레이저는 물리학에서는 핵 융합이나 원자 분광학 으로, 생물학에서는 생분자의 형광 표식으로, 기상학에서는 공기속 도 측정으로 , 전기전자공학에서는 광전자 공학기기 등 거의 모든 기 초 및 응용 과학 분야에서 사용되고 있다. 최근에는 이러한 학문적 연구 이외에 산업적 응용으로 바코드 인식기, 콤팩토 디스크 플레이 어에서의 정보 인식, 외과, 안과 수술을 위한 의학적 응용, 광통신, 레이저 프린터 등 수많은 예가 있고 새로운 응용이 개발되고 있다. 레이저는 화학 분야에서도 역시 상당한 기여를 하였다. 특히 화합 물의 성질 및 반옹성의 원인을 연구하는 물리화학 분야, 그 중에서도 분자 분광학, 반응속도론, 반옹 동역학의 연구에 많은 공헌을 하였다. 최근에는 화학자들의 오랜 숙원이었던 화학반응에 대하여 분자 수준 에서의 미세한 움직임을 실제 시간 단위에서 레이저를 사용하여 관 찰하고 있다. 현재의 레이저 기술로는 약 l0-l4 초의 시간분해능을 가 지고 관찰할 수 있다. 그리고 물리화학 분야에서 개발된 레이저 연구 방법들이 화학의 다른 분야에 응용되는 사례는 급속히 늘어나고 있 으며, 앞으로 화학 분야 전반에 걸쳐 레이저 기술의 이용은 매우 중 요한 연구 수단이 될 것으로 예측할 수 있다. 이러한 경향은 최근 물 리화학 분야의 연구에 레이저 기술 이용 실태 를 조사한 결과 를 보더 회라에도서 알 발수행 있되다는. 전약 문5 년 학 전술 잡조지사인에 J의au 하rn면a l 미of 국 P화hy학s i 회c a 와i C 미he국m 물is리tr학y와

Jou rnal of Chemi ca l Phy s i cs 에 게재되는 연구 논문의 40 % 가 레이 저 를 사용한 연구 논문이었고 최근에는 더욱 늘어났을 것으로 예상된다 . 우리나라의 레이저 를 이용한 연구 수준은 매우 뒤떨어진 편이다 . 우선 우리나라에서 화학 분야의 학문적 연구 를 위하여 레이저 를 보 유하고 있는 학교나 연구소가 매우 적고, 따라서 이 분야의 연구 활 동이 부진하였다 . 또한 레이저 기술이 화학 분야의 연구에 활발 히 사 용된 것은 외국의 경우도 역사가 길지 않기 때문에 이 분 야의 연 구 경험이 있는 국내 과학자가 매우 적었다 . 그러나 최근 수년 간 외국에 서 이 분야를 연구하고 귀국한 실험 물리 또는 분석 화학자 들 이 적 지 않으며 이 분야에 대한 학계의 관심이 최근 급속히 증가하고 있 다. 이에 따라 1992 년 11 월에 레이저분광학연구회라는 모임을 만 들 어 많은 호옹 속에 정기적으로 모임을 가져왔다 . 이 후 1993 년 8 월부터 1 년 간 대우재단 콜로키움 지원과 한국과학재단 소모임 지원 을 받아 매 달 모임을 가졌으며, 국내 레이저 분광학 연구학자 들 의 연구 결과 를 토론하고 정보 교환의 장으로 만들어왔다. 그리고 레이저 관련 연구 롤 활성화시키기 위해서는 이 분야에 대한 연구 종사자의 저변 확대 및 연구자들의 자질 향상을 위한 노력이 필요하다는 인식 아래 『 레 이저의 화학적 응용』에 대한 책을 공동으로 저술하게 되었다 . 레이저의 화학적 옹용은 매우 다양하다. 우선 분광학에서는 물질 과 레이저 빛의 상호작용을 통하여 물질의 성질과 반웅성을 연구하 고 또한 물질의 확인 및 극미량 물질 검출에 이용한다. 재료화학 분 야에서는 비선형 광학 특성을 바롯한 여러 가지의 광학적 성질을 연 구하는 데 사용된다. 이처럼 레이저는 여러 분야에서 중요한 실험기 기로 사용되고 있다. 따라서 연구를 위한 기본적인 실험 도구로 레이 저 를 사용하는 연구 분야도 다양하고 광범위하다. 또한 레이저 발생 기술의 발달과 함께 레이저를 사용하는 분야가 급속히 팽창하고 있 고 그 중요성과 옹용성에 대한 관심도 급속히 증가하고 있다. 이 책

은 레이저를 응용하는 화학의 여러 분야들을 그 분야의 국내 전문가 가 총설 형태로 저술하였다. 이 책은 다양한 레이저 연구 분야에 대 한 대학원 수준에서 레이저 사용의 연구를 위한 기본 이론 및 실험 지침서가 될 수 있도록 저술하였다. 초보자에게는 소개서가 되면서 전문가에게도 실용적으로 도움을 줄 수 있는 책이 되도록 노력하였다. 1 장은 빛과 물질의 상호작용을 다루었고, 2 장 및 3 장은 레이저 및 레이저 관련 실험을 위한 여러 기구에 대하여 설명하였다. 4 장과 5 장 은 비선형 광학과 그 응용에 대하여 설명하였고, 6 장은 레이저 홉수 분광학의 원리와 응용에 대해, 7 장은 레이저 유도형광과 그 응용에 대해 설명하였다 8 장은 극초단 펄스를 이용한 분자 진동 분광학을, 9 장은 라만 (Raman) 산란 분광학의 원리와 비선형 라만 분광학에 대 해, 10 장은 분자빔을 이용한 화학반응 동역학, 11 장은 용매 동역학의 이론과 극성 및 비극성 용매에서의 용매 동역학, 12 장은 펄스를 이용 한 시간분해 레이저 분광학, 13 장은 펨토초 화학, 14 장은 광음향 분 광학의 원리와 응용, 15 장은 타원편광법의 원리와 옹용, 16 장은 액정 분자 특성 연구에의 레이저 분광학 응용에 대해 각각 설명하였다. 1950 년대 핵자기공명 (NMR) 방법이 개발된 이후 40 여 년이 지난 오늘 이 방법은 물리학 또는 물리화학 분야보다 유기화학, 무기화학 등의 화학 분야 전반에 걸쳐 가장 많이 사용되는 실험 기술이 되었 다. 이와 비슷하게 레이저도 미래에는 물리화학에서뿐만 아니라 화 학 분야 전반에 매우 중요한 실험기기가 되리라고 생각된다. 끝으로 이 책이 쓰여지기까지 많은 조언과 격려를 아끼지 않았던 레이저분광학연구회 회원들과 책의 출간을 지원해 준 대우재단 및 출판을 맡아준 민음사 편집부 여러분들께 감사드린다. 1998 년 겨울 대표저자 전승준

차례

머리말 5

제 1장 빛과 물질의 상호작용 17

1.1 서론•17

1.2 전자기장-빛•17

1.3 흑체복사•24

1.4 Einstein A와B 계수•24

1.5 복사선의 흡수와 방출•28

1.5.l 두 준위 분자28

1.5.2 일반적인 시간의존 섭동법34

1.5.3 홉광계수 39

참고문헌 42

제 2장 레이저의 원리 및 종류 43

2.1서론 • 43

2.2레이저의 원리 • 43

2.3레이저의 종류 및 특성 • 45

2.3.1고체 레이저 45

2.3.2 반도체 레이저 52

2.3.3 원자 및 이온 기체 레이저 55

2.3.4 분자 기체 레이저 60

2.3.5 색소 레이저 67

2.4 레이저의 파장 변환 기술•71

2.5펄스 생성 기술•72

2.5.1 Q-전환 72

2.5.2 공진기 덤핑 73

2.5.3 모드-잠금 75

2.5.4 모드-잠금 레이저에 의한 시간일치 펌핑 79

참고문헌 82

제 3장 레이저 분광기기 83

3.1 서론•83

3.2 광학 부품•84

3.2.1 광학 재질 84

3.2.2 광학 코팅 88

3.2.3 광학 부품 91

3.3 광검출기•97

3.3.1 광검출기 관련 용어 98

3.3.2 광검출기의 종류 99

3.4 신호 측정기기•108

3.4.1 위상 감지 신호중폭기 109

3.4.2 박스카 신호평균기 110

3.4.3 광계수기 110

3.4.4 오실로스코프 112

참고문헌 113

제 4장 비선형 광학 현상 115

4.1 서론•115

4.2 광학 비선형성•117

4.2.1 기본 원리 117

4.2.2 X iik⁽²⁾ 과정 120

4.2.3 X ijkl⁽³⁾ 과정 122

4.3 비선형 광학물질의 종류 및 특성•124

4.3.1 무기물질 124

4.3.2 유기물질 126

4.4 비선형 광학 계수 측정 방법•127

4.4.1 전기 광학 계수의 측정 128

4.4.2 β의 측정129

4.4.3 x⁽²⁾의 측정 132

4.4.4 x⁽³⁾ 측정 135

참고문헌 140

제 5장 비선형 분광학의 이론적 배경 143

5.1 서론•143

5.2 맥스웰 방정식과 파동 방정식•144

5.3 분광학적 측정과 비선형 분극•146

5.4 밀도 연산자와 양자 동역학•149

5.5 모형 해밀톤 연산자•152

5.6 용매화 동역학•154

5.7 비선형 감응함수와 분극의 계산•159

5.8 분광학적 선폭 확대 현상에 관한 다양한 모형•166

5.8.1 Bloch 근사법 166

5.8.2 Kubo의 모형 167

5.8.3 확장된 Kubo의 모형 169

5.9 결론•170

참고문헌 171

제 6장 레이저 흡수 분광학의 원리 및 응용 173

6.1 서론•173

6.2 홉수 분광학의 원리•174

6.3 레이저 홉수 분광학의 종류•181

6.3.1 들뜸 분광학 181

6.3.2 이온화 분광학 184

6.3.3 열렌즈 분광학 185

6.3.4 광음향 분광학 187

6.3.5 광유전기 분광학 187

6.3.6 레이저 자기 공명 188

6.3.7 레이저 Stark 분광학 190

6.3.8 포화 분광학 191

6.3.9 광학적 이중 공명 192

6.4 적의선 다이오드 레이저 흡수 분광학•194

6.4.1 적외선 홉수선의 세기 194

6.4.2 적외선 다이오드 레이저 홉수 분광학의 응용 195

참고문헌 203

제 7장 레이저 유도형광 205

7.1 서론•205

7.2 형광이 지니는 정보•206

7.3 형광 분광학의 기본 방법•211

7.4 레이저 유도형광 분광학의 기기 장치•212

7.4.1 집광 장치 212

7.4.2 분광 장치 213

7.5 형광 분광학의 응용•213

7.5.1 국미량 분석 214

7.5.2 초음속 분광학을 이용한 분자 구조 결정 214

7.5.3 형광 스펙트럼 축소 분광학 217

7.5.4 Shpol'skii 분광학 218

7.5.5 매트릭스 고립 분광학 219

참고문헌 219

제 8장 극초단의 중적의선 레이저 펄스를 이용한 분자 진동 분광학 223

8.1 서론•223

8.2 극초단의 적의선 펄스의 발생 원리•225

8.3 액체 용액 상태에서 극초단의 적의선 분광학•226

8.3.1 극초단 적외선 분광학의 필요성 226

8.3.2 극초단의 적외선 레이저 펄스를 이용한 실험 장치 및 그 응용 229

8.4 극초단 적외선 분광학의 표면 화학에의 응용•239

8.4.1 Cu(lll)금속상에 흡착된 CO 분자에 관한 펨토초 시간대의 공진성 순간 적외선 분광학 241

8.5 결론•246

참고문헌 248

제 9장 레이저 라만 산란 251

9.1 서론•251

9.2 라만 분광법의 원리•252

9.3 비선형 라만 분광학•255

9.4 유도 라만 분광학•256

9.5 고차 라만 분광학•259

9.6 공진성 반스톡스 라만 분광법•261

참고문헌 271

제 10장 분자빔 내에서의 화학반응 동역학 273

10.1 레이저,분자빔 및 반응 동역학•273

10.2 반응하는 분자의 분광학•277

10.3 빠른 반응속도 측정•287

10.4 남는 에너지의 분배•292

10.5 벡터 상관법•300

10.6 결합 선택 화학과 화학반응의 조절•304

10.7 결론•307

참고문헌 307

제 11장 극성 및 비극성 용액에서의 용매 동역학 317

11.1 서론•317

11.2 용매 동역학의 기본 이론•319

11.2.1 유전체 연속 모델 319

11.2.2 분자 모델 320

11.3 액체 상태에서의 초고속 레이저 분광학•323

11.3.1 동적 스톡스 이동 분광학 323

11.3.2 순간 홀버닝 분광학 330

11.3.3 광자 메아리 분광학 334

11.4 결론•337

참고문헌 338

제 12장 시간 영역 레이저 분광학 343

12.1 서론•343

12.2 미켈슨 간섭계를 이용한 시간분해•344

12.3 기초 이론•348

12.3.1 에너지 계단 그림법 및 공진성 348

12.3.2 위상일치 방향의 설정 351

12.4 몇 가지 시간 영역 분광학법•353

12.4.1시간분해 자발 형광 분광법 353

12.4.2 비공명 3차 비선형 감응률을 이용한 기술들 358

12.4.3 공명 3차 비선형 감응률을 이용한 분광 기술들 364

12.4.4 5차 이상의 높은 차수의 감응률을 이용한 비선형분광학 371

12.5 결론•372

참고문헌 372

제 13장 펨토초화학 375

13.1 서론•375

13.2 일반적인 연구 방법•378

13.3 ICN의 분해반응 동역학•384

13.4 Nal 분해반응 동역학•388

13.5 H+C0₂ 반응의 동역학•394

13.6 여러 가지 다른 반응들의 동역학•396

13.6.1 ClO₂의 분해반응 396

13.6.2 C₂F₄l₂→C₂F₄+2I 반응의 동역학 398

13.6.3 (CH₃)₂CO→2CH₃+CO 반응의 동역학 400

13.7 결론•402

참고문헌 403

제 14장 광음향 분광학과 그 응용 405

14.1서론•405

14.2 광음향 효과의 원리와 실험 방법•406

14.3 광음향 효과의 응용•408

14.3.1 극미량 검출 408

14.3.2 화학반응 연구 410

14.3.3 분광학적 연구 417

14.3.4 표면 연구 418

14.3.5 상전이 현상 연구 420

14.3.6 반도체의 분광학적 연구 423

14.3.7 광음향 현미경법 427

14.3.8 광학 마이크로폰법 429

14.4 광음향 효과와 밀접히 관련된 현상•433

14.4.1 빔음향 효과 434

14.4.2 광열 효과 435

14.5.3 광굴절법 436

14.5 결론•437

참고문헌 439

제 15장 표면 및 계면 탐구를 위한 타원편광법 445

15.1 서론•445

15.2 타원편광법의 기본•446

15.2.1빛의 편광 상태 446

15.2.2 매질의 광학 상수와 광학 요소들 447

15.2.3 편광의 반사 449

15.2.4 반사에 의한 타원편광성 변화 452

15.2.5 타원편광법의 방법 453

15.2.6 Δ,ψ와 계면의 광학적 성질 457

15.2.7 기판의 굴절률이 미지수일 때 460

15.2.8 표면의 거칠기 효과 461

15.3 편광 분광법의 적용•463

15.4 타원편광법의 동적 영상화•464

참고문헌 470

제 16장 액정 상태 특성 연구에의 레이저 분광학응용 477

16.1 서론•477

16.2 액정 상태의 일반적 특성•478

16.2.1 액정 상태의 종류와 구조 478

16.2.2 액정 상태의 물리 화학적 특성 481

16.2.3 액정물질의 응용 483

16.3 액정계에 적용되는 레이저 분광학적 방법•484

16.3.1 편광 분광법 484

16.3.2 광산란 분광법 489

16.3.3 4파 혼합 분광법 494

참고문헌 499

찾아보기 503

제 1 장 빛과 물질의 상호작용 저느^:근: 5> <건: l.l 서론 이 장에서는 빛에 대한 고전역학적 전자기장 이론을 중심으로 한 빛과 물질 사이의 상호작용에 대하여 다루고자 한다. 전자기장은 고 전역학적으로, 물질은 양자역학적으로 다루는 반고전적 (sem i - class i ca l) 인 방법에 의하여 빛과 물질 사이의 상호작용을 설명할 것이다. 1.2 전자기장-빛 빛이란 무엇인가에 대한 근대적인 과학적 고찰은 Ne wt on 에 의하 여 이루어졌고 Ne wt on 은 입자의 흐름으로 생각하였다. 그 후 Hu yg en 은 빛을 파동으로 생각하여 회절과 반사를 설명하였다. 19 세 기 중반 Maxwell 은 우리가 현재 생각하는 것과 같이 빛은 전자기파 라고 불리는 전자기적 에너지의 한 형태임을 밝혔다. 20 세기 초반 완 성된 양자역학에 의하여 전자기적 에너지가 양자화되어 있다는 사실

과 Ne wt on 과 Hu yg en 의 개 념을 모두 포함하는, 입 자성 과 파동성 의 양쪽성 개념이 확립되었다. 공간의 한 점에서 전자기적인 상태는 전기장 E 와 자기장 H 의 두 백터로 표현될 수 있다 . 시간에 따라 변하지 않는 정적인 상태에 서 두 장(fi eld) E 와 H 는 공간상의 전하와 전류의 분포에 따라 서 로 독립적으로 결정된다. 그러나 동적인 상태에서 두 장은 서로 독립 적이 아니고 다음과 같은 식에 의하여 관계된다[1]. V X E= 一 aB/a t (1.1) v x H=J + an/at (1.2) V • D=p (1.3) V • B=O (1.4) 맥스웰 (Maxwe ll) 식이라 불리는 위 식들은 정적인 상태나 동적인 상 태에 모두 적용된다. 여기서 p는 전하 밀도이고 J는 전류 밀도로서 빈 공간의 경우 0 이 된다. 비자기적 매질에서 자기 유도 (ma gn e ti c ind uc tion ) B 는 다음과 같다 B=µoH (1.5) 여기서 µo 는 투과율(p ermeab ility)이며 진공에서 47r X10 - 7 H/m 의 값 을 갖는다. 또한 전기 적 변위 (elec tric dis p l a cement) D 는 다음과 같다. D=c0E+P (1.6) Eo 는 진공에 서 의 투시 율(permitti v ity)로 8.854 X 10-12 F/m 이 며 , 분극 (pola r iza ti on ) P 는 매질의 단위부피당 쌍극자 모멘트, 죽 쌍극자 모 멘트 밀도이다 . 여기서 오칙 P 만이 매질과 관계되는 성질이다.

식 (1.1)의 양변에 curl ope rati on ( v x ) 을 하면 다음과 같은 관계 가 얻어진댜 v x ( v x E)= 一 'v X (cJB /cJ t)= —cJ( v x B)/cJ t (1.7) 빈 공간 에서 다 음 의 벡터 관 계 식 ( 1. 8) 과 식 (1.2) , (1. 5) 를 사용하면 식 (1. 9) 가 얻어 진다 'vv (X v ( '•v EX) E-)v = 2 ' vE ( =' v —• µE0)0 2— D v / o2 f E ((11..89)) 식 (1. 9) 에 식 (1. 6) 을 대입하고 정리하면 다음의 관계식이 얻어진다. v 2 E— v ( v • E) -1/c2 8 2E/of = (l /c 。 c2) a2P lat2 (1.10) 여기서 e 。µ 。 = 1/c2 이고 c 는 진공에서 빛의 속도이며 2.998X 1 08 m/s ec 이다. 식 (1.1 0) 은 x, Y, z 와 t에 대한 편미분 방정식으로 전기 장과 매질의 전기 쌍극자 모맨트 밀도의 관계 를 보여준다. 우리가 보 통 관심 있는 횡장(t ransverse fi eld) 에서는 V • E=O 을 만족하므로 다음의 파동 방정식을 얻을 수 있다 . 군 E-1/c2 a 2E/at2 = (1 /c。 c2) a2Plaf (1.11) 이 식 (1. 11) 은 기본적인 전자기장 방정식으로, 식을 사용하기 위해서 는 매질의 분극 P 를 지정하여야 한다. 그러나 진공 속에서는 매질 의 분극이 0 이므로 진공 속에서의 파동 방정식은 다음과 같다. 군 E— (1/ c2) 정 E/ 짜 =0 또는 v 2 E= (l/c2) a2E/at2 (1.12 ) 식 (1. 2) 도 위와 같은 과정으로 변환하면 자기장에 대하여 유사한 파

동 방정식을 얻을 수 있다 . 92 H 국 1/c2) a2Hf af = O 또는 92 H=(l/c2) a2 H /af- (1.13 ) 각진동수 (an gu lar fr e q uenc y)가 (I)( = 21( 11 = 21( / T( 진 동 수, T 는 진동 주기))인 단색 전자기파에 대하여 식 (1.1 2) 의 해 를 다음과 같이 쓸 수 있댜 E( r, t) = E 。( r) e i(k • r-wt) 또는 E( r, t) = E 。( r) cos ( k · r-(I)t) (1.14 ) 여기서 위치 벡터 r= &+ jy+ &로 정의되며, 파동 벡터 k= ikx+ Jk y + kkz 로 주어진다. 파동 백터의 방향은 전기장 백터 E 방향에 수직인 빛이 진행하는 방향이며, 크기는 | k l=k=(k;+ k;+k~ )1 12=2 처 A 로 주어진다. 여기서 A 는 전자기파의 파장이다. 전자기파의 파장과 진동수는 항상 Av=c( 빛의 속도)의 관계를 만족 시킨다. 진공 속에서 빛의 속도 c=c 。 (=2.99792458X108 m/ s) 이고, 굴 절률이 n 인 매질 속에서 c=c 。 In 이다. 모든 매질 속에서 같은 진동 수 v 를 가지므로 매질이 달라짐에 따라 매질의 굴절률에 의하여 파 장이 A=A0/n= c 。 /nv 로 달라진다. 공동 (cav ity) 내에 전자기장이 존재하고 벽은 전자기장을 완전히 반사한다고 가정하면, 공동 내의 식 (1.1 2) 의 파동 방정식을 만족하는 모드에 관하여 논의할 수 있다. 진동수 V 와 v+dv 사이에 존재하는 모드의 수는 다음과 같다 [2]. dN.,= (81rvIc3) V dv (1.15 )

또한 파장 A 와 tt + dtt 사이 의 모드수는 다 음과 같다. dN,= 8T( ( V/저) d11/11 (1.16 ) 여기서 V 는 공동의 부피 이며, 이 걸과 는 공동의 모양과 무관하다. 자기장도 전기장과 비 슷한 형태의 결과 를 얻을 수 있다. 자가장의 방향은 빛의 진행 방향과 전기장 방향에 수직이며 전기장과 자기장 의 크기는 다음의 관계 를 갖는다. E/1-f = 1/€0C = µ 。 c = (µ 。 /c 。 ) 112 =3 77 ohm (1.17 ) E/B = c ( 1.18 ) 전자기파의 에너지 는 다 음 의 포 인팅 백터(p o i n ti n g vect or , S, 단위 : wa tt)에 의하여 표현될 수 있 는 데, 둘러싼 표면에 대하여 적분하면 단위시간당 밖으로 흐르는 에너지의 총 양을 계산할 수 있고 이 백 터의 방향이 전자기파의 진행 방향이 된다 . S=EXH (1.19 ) 만약 전자기파의 진행 방향이 £라고 하면 공간에서 주어진 점의 포 인팅 벡터의 순간적인 값은 식 (1.1 7) 의 관계 를 이용하면 다음과 같다. S=l/µ 。 cE k=c0cE k (1.20 ) 따라서 평면 사인파의 포인팅 벡터의 평균값은 다음과 같다. satJ = c 。 C EIT ilS2 k= 1/2c0C E 。 2 f (1.21 ) =2.66 X 10-3 EIT ilS2 Gw att /m 2

또 c f로 진행하는 전자기파의 에너지 밀도는 다 음 과 같다. 1/2c0 Enns2+ 1/2µ 。 Hnns2 = c 。 Enns2 = 1/2€0 E 。 2 (1.22 ) 예 를 들어 , 2mm 직경, 20GW 인 레이저 빛 의 최 대 전기장은 식 (1. 21) 로부터 다음과 같이 구할 수 있다. E 。= 2112 Erms = 2112(~; 챙- ~ f 12 =2 . 2 X 109 V/ m 이는 상당히 큰 전기장으로 원자의 경우 1 A 의 거리에서 0 . 22V 의 전위차를 보이는 값이다. 원자 내에 수소 원자의 +1 의 핵전하가 l bohr 거리의 전자에 작용하는 전기장의 세기는 약 5 X 1011V/m 이댜 자기장의 최대값을 식 (1.1 8) 을 이용하여 계산하면 B 。 =E 。 / C =2.2X 109/3x108=7 . 3 t esla 로 역시 상당히 큰 값을 보인다. 빛의 파동성은 19 세기에 일찍이 알려졌지만, 빛의 입자성은 20 세기 초 전자기파의 이중성을 주장한 Bohr 에 의하여 알려지게 되었다. 전 자기 파를 입자로 생각할 때 광자(p ho t on) 라고 부른다. 광자의 에 너 지 와 운동량은 다음의 관계를 갖는다. E= hv= h(t )/2 1r= hc /..l = he~ (1.2 3) P=h/..l= hk (1.24 ) 여기서 h 는 Planck 상수이다 . 전자기파는 상당히 넓은 범위의 파장 영역을 보인댜 그림 1. 1 은 파장 영역과 영역의 이름이 나타나 있다. 인간의 시각으로 인식할 수 있는 가시광선 영역은 그림에서 보는 바 와 같이 매우 적은 일부 영역이다.

파 디오라 00 9.10x 1 03 1 00 8.X .11-402x 1 X 10.0 2 3.33 030000 선

로파 외원적

마이크3 33 00003적 외선선 JIA선선'자f외광 350.8o .08 (071031101x X).0X20 .-0— X 011. 0 102.33 1 41907 06X 0.1.(8)X 8041 ) 11 .5. .20 2310.x04 4x1x( 크 10기 -0 3.6012( X608)41X2.131. x3 310. 근 I선광선외시가1적 선근외자선적중외 0033812 00362 5 030300000 020387 0083 X 마 선10o.11- ox 00801 x3 .1 X 26 10.1 .0 118X0 자선원외선 주감x 130 -00.1 01203.0 x080 x12 .1 1110x 0.0 000 0100 10우m !n{),Hz )v(Jm(o)eE/lk (1i-)mc i m 1(-c)v (A)nm

. 선 사복기자전.1 1 그림

1.3 흑체복사 흑체는 모든 파장의 빛을 특별한 선택성 없이 흡수 또 는 방출할 수 있는 물체로 흑체의 방출 스펙트럼은 온도에 따라 달라진다 . 그림 1. 2 와 같이 작은 구멍을 갖는, 내부벽이 완전히 전자기파 를 반사하도 록 되어 있는 공동 형태의 흑체가 일정 온도 T 를 유지하고 있다고 생각해 보자. 흑체에 의하여 방 출되는 전자기파의 스펙트럼은 그림 1. 3 과 같다 고전 열역학에 의하면 열적평형 상태에 있는 계의 진동 자 평균 에너지는 /eT( k 는 Boltz m ann 상수)이댜 흑체 내의 각 모드 를 진동자로 가정하면 전자기파 스펙트럼의 에너지 밀도 p (v) 는 식 (1.1 5) 를 이용하여 다음과 같이 쓸 수 있다. p(/.I)d v=N(/.I) kTd /.I= (81rv2 記) kTd/.I (1.25 ) 이 식은 Ray le ig h — Je ans 식으로 알려져 있는데 그림 1. 3 에서 보는 바 와 같이 낮은 진동수 영역에서는 실험치와 거의 일치하나 높은 진동 수 영역에서는 실험치와 매우 다르다. Planck 는 진동자 에너지가 양 자화되어 있다는 가정에 의하여 실험치와 일치하는 다음 식을 유도 하였다. p( v)dv=~~)—f dv (1.26 ) 1.4 Ein s te i n A 와 B 계 수 에너지 준위가 E1 과 E2 의 두 개로만 구성된 분자 N개가 온도 T, 복사 전자기파의 에너지 밀도 p(J/)인 환경 속에 있는 계를 가정

그립 1.2 흑 체.

,C1oE r(s102’161)..1d 55 52 · 2 30’’’’’’`’ ’ 0` ’ ’’` ` , ` , ``’ K’’ ’ ` ` ’` ` ``` ` `` ` ` ` ` ` ` ` 4` ` ` ` `` ` ` `` ` ` ` ` ` ` ` ` ` ``6 ` ` `` `` --으 8 10 111013Hz

그림 1.3 흑체복사 분포. 실선은 각 온도에서의 관찰 결과이고 점선은 Ray le ig h - Jea n 식의 결과이다.

하자. 에너지 E1 인 분자의 수를 N1 개, 에너지 E2 인 분자의 수를 N균 11 라 하면 (N=N1+ N.인, 열적평형에서는 다음의 Boltz m ann 관 계가 만족된다 . N2/N1= exp [ -hv2i/ kT ] ( 1.27 ) 여기서 hv21=E2-E1 이다 . 복사선과 분자의 상호작용에 의하여 복 사선 유도 홉수, 유도 방출, 자발 방출의 세 가지 과정 이 가능하며 그림 1. 4 에 보여 주고 있다. 분자가 광자를 홉수하여 E1 에서 E2 상태로 되는 경우(그립 l.4( a)) 의 속도는 다음과 같다. dN2/dt= B 1-2 P( ll21)N1 (1.28 ) 여기서 B1-2 는 유도 흡수의 Ein s te i n 계수라 불리고, 위 식을 반응 속도식이라 생각하면 반응속도 상수에 해당하는 계수이다. 반대로

E2 유도홉수 유도방출 자발방출 N2

/ hII / hv 도/ 2hv /hv군 E1 82 니 82 一 1 A2 一 1 N1 (a) (b) (c)

그립 1.4 두 준위계에서의 유도 흡수, 유도 방출, 자발 방출.

광자에 의하여 E2 에서 E1 으로 유도 방출되는 경우(그림 l. 4(b) )의 속 도는 다음과 같다. dN2/dt= -B 2-,, P ( ll21 )N2 (1.29 ) 여기서 B 2 - •1 는 유도 방 출 의 Ein s te i n 계수이다. 이 과정 이외에 들 뜬 상태에서 자발적으로 광자 를 방출하는 자발 방출의 과정(그림 l. 4(c)) 이 있는데, 이 과정 의 속도는 다음과 같다. dN2 /d t = 一 A 2-• 1 N2 (1.30 ) 여기서 A 2 - 1 는 자발 방출의 Ein s te i n 계수이다. 계는 평형에 있기 때문에 흡수에 의한 들뜬 상태 분자의 변화속도와 방출에 의한 변화 속도는 다음과 같이 서로 균형을 유지하여야 한다. B 1-,2 P(V21)N1 =A 2-,1 N2+B2-,1P( V21)N2 (1.31 ) 그리 고 식 (1. 27) 을 사용하면 다음과 같은 관계를 얻을 수 있다. —NN12 -= A 2-B•I 2 +, -B1 P 2(-V,1 2 P1() V21) =exp [ -hv21/kT] (1.32 ) 이 식을 p (v21) 에 대하여 정리하면 다음과 같다. p(l/21 )= B2·_l e xp [ —A~ 2/—•k l T]-B 2 기 (1.33 ) p(!1 21) 은 식 (1.26) 의 Planck 식에 의하여 주어진다. 따라서 이 식 (1. 26) 과 (1. 33) 을 비교하면 다음과 같은 관계를 얻을 수 있다. B1 - ,2=B2 기 (1.34 )

A2-• l=8 神~ ).BI2 1 3 2·-1 ( 1.35 ) C 식 (1. 34) 와 (1. 35) 는 Ein s te i n 계수간의 관계 를 보여주고 있다. 식 (1. 35) 에 의하면 두 에너지 준위의 에너지 차이가 증가할수록 자발 방 출 계수가 에너지 차이에 해당하 는 진동수의 세제 곱 에 비례하여 증가함을 나타내고 있으며, 이는 분광학에서 매우 중요한 결 과이다. 1.5 복사선의 흡수와 방출 전자기파의 홉수, 방출, 산란과 같은 빛과 물질의 상호작용은, 물 질을 양자역학적으로 빛은 고전역학적으로 취급하는 반고전역학적 방법으로 설명할 수 있다 . 일반적으로 양자역학적인 과정은 빛에 의 한 효과를 물질의 해밀토니안 (Ham il t on i an) 에너지 연산자에 대한 섭 동으로 취급한 섭동론적 방법(p e rt urba ti on me t hod) 을 사용한댜 물질 이 빛을 받게 되면 상호작용이 시간에 따라 변화하기 때문에 시간의 존 섭동론적 Schrodin g e r 방정식에 의하여 기술된다. 1.5.1 두 준위 분자 [3] 우선 두 개의 준위만을 갖는 분자계를 생각해 보자. 두 준위에 대 한 'Pl , 'P 2 는 파동함수로 Schrodin g e r 방정 식 H< /J0 =En'P n 을 만족하며 서로 직교성 (o rt ho g ona lity)을 갖는다고 가정한다. 그리 고 각 준위의 에너지는 각각 E1 과 E2 이고 이 두 준위 사이의 전이

는 Bohr 의 관계식 E2-E1=hv= n w( n =h/21r) 를 만족하고 분자는 쌍 극 자 모맨트 µ 를 갖는다고 가정한다 . 진자기 파와 분자 사이 의 상호작용은 시 간의존 섭 동법(ti me-de penden t pe rt ur bati on me t hod) 에 의하여 구할 수 있다. 전기장의 효과가 자기 장의 효과에 비하여 매우 크기 때문에 섭동항은 다음과 같이 쓸 수 있댜 H = —µ • E(t) = —µ • E 。 (t) cos(k • r-(J)t) (1.36 ) 전자가장이 z 방향으 로 진동하고 분자계의 크기가 전자기파의 파장 A 에 비하여 매우 작은 경우 (k • r~0) 다음과 같이 쓸 수 있다. (가 시광선 영역에서 작은 분자에 대하여 성립한다 . ) H'= -µz • E 。 ,cos CtJt= - µ • EcosCt Jt (1.37 ) 전자기 복사선에 의한 전이 확률은 다음의 시간의존 Schrodin ge r 식 의 해로 구할 수 있다. ih cJ lJf/cJt= [ H0+ H' (t)] lJf (1.38 ) 섭동항인 H, 항이 없다면 식 (1. 38) 은 다음과 같은 두 개의 해를 갖 는다. 1Jf1= ¢1exp (-iE1t / n) = ¢1exp ( —i (J}1t ) (1.39 a) 1Jf2 =

표현할 수 있다. lJf( t) = a1 ( t) + a2( t) 어 | H'l exp (-i(J)12 t) (1.42 a) 여기서 Di rac 의 브라켓 (brake t) 표시인 <¢ ;I H'l = J e xp (i(J)12 t) + az ( t) << /12 I H'l (1.42 b) 식 (1.4 6) 에서 (J) 12= (J) 2- (J) 1 의 관계가 있다. 식 (1.4 2) 는 두 개의 연립 미분 방정식으로 이 두 식의 해 a1U) 와 a2( t)를 구하면 시간의 함수 로써 전이 확률을 알 수 있다. 식 (1.4 2) 의 두 식은 원래의 시간의존

Schrodin g e r 식과 완전히 동일한 식이며 이 단계까지는 근사가 전혀 들어가지 않았댜 앞서 전자기파에서 전기장만의 섭동을 가정한 전기­ 쌍극자 근사 (ele ctr i c-d ip ole a pp rox i ma ti on) 로 H 를 -µ • E cos wt로 하면, H' 은 홀함수 이므로 <¢JH 1¢l> = <¢ 21 H'l = 0 이고, 따라 서 식 (1. 42) 는 다음과 같이 된다. ih a\(t) = —a 2 C t) M12 E exp (-i(J)12 t) c os(J )t (1.43 a) ih a'2(t) = 一 a1( t) M 12 E exp (i(J)12 t) c os(J )t (1.43 b) 여기서 M12 = M 21=< < /J1 lµl 은 전이 쌍극자 모멘트이다 또한 cos (L)t= {ex p(i w t) +ex p(-i(L)t) }/2 의 관계를 이용하면 식 (1.4 3) 의 두 식은 다음과 같이 쓸 수 있다 . ci1 U)=l/2 i az (t) ( M12E/n) x { exp [ 급( (L)1 2 -(L))t] + exp [ 급( (L)1 2 + (L))t]} (1.44 a) az( t) =I/2 i a1U) ( M12 E/ n ) x { exp [i( (J)1 2 -( J))t] + exp [i( (J)1 2 + (J))t]} (1.44 b) 만약 (J)12 : ::::(J}, 죽 전자기파의 각진동수가 두 준위 사이의 예너지 차 이에 해당하는 각진동수와 비슷한 경우에는 식 (1. 44) 의 ex p항 중에 첫번째 항은 매우 빠르게 진동하는 두번째 항에 비하여 시간에 대하 여 느리게 변화하고 따라서 두번째 항은 첫번째 항에 비하여 무시할 수 있을 정도로 작기 때문에 근사적으로 다음과 같이 된다. a1U) =1/2 i a2(t ) ( M12 El n )exp [ -i((J)1 2-(J ))t] (1.45 a) a2(t) = 1/2 i a1( t) ( M12Eln)exp [i((J)1 2-(J ))t] (1.45 b)

이 두 연립미분 방정식의 해 를 구하기 위한 초기 조건으로 t =O 에서 계가 'P1 상태에 있다고 가정하면 a1( 0) =l 과 az (O )= O 이고, 식 (1.4 5) 의 해 는 다음과 같다. a1( t) = [cos(6 t/2 ) —i( 6 / 2)sin (Qt/2 )] exp (i 1/2 A (1.46 a) az (t)=i((J)사요 )s i n( Qt/ 2) ex p(一i 1/26 t ) (1.46 b) 여기서 (J)R = M12E I n 후료 Rabi 진동수라고 불 리며 , 6.= w-w12, 요=[ ((J)값+ ,6. 2 ]1/2 이댜 이 결과로부터 시간의 함수로서 분자계가 들뜬 상태에서 있을 확률은 다음과 같다. P 1= I a1( t) I2= ( (J)R 2 /요 2) sin 2(Q t/2 ) (1.47 a) 이를 Rabi 식이라고 부른다. 또한 바닥 상태에 있을 확률은 다음과 같다. P 。 = l a 。Ct) l2= 1-l ai ( t) l2= 1-( (JJ R2/ 요 2) sin 2(.Q t/2 ) (1.47 b) 6.= 0, Q=(J) R 인 경우를 공명 (resonance) 상태라고 하는데, 이 경우 식 (1. 47) 은 다음과 같이 주어진다 . P1 = I a1U) l2= sin2 ((J }R t/2 ) (1.48 a) P 。 = | a 。( t) l2 = 1 -sin 2( (J}R t/2 ) = COS 2( (J}R t/2 ) (1.48 b) 6. =0 와 다른 값들에 대한 시간에 따른 P1 의 변화를 그림 1. 5 에 보 여주고 있다. 스값이 커질수록 두 에너지 준위의 차이는 증가한다. 공명 상태에서는 계가 t= 1r/(J) R 시간 후에는 완전히 상태가 바뀌고 들뜬 상태에서 발견될 확률이 1 이 되는 반면, 공명되지 않은 상태에

1.0

z_(-)-e_ 。 5 0.5 1.0 1.5 2.0 I / (2rr/( JJ미

그림 1.5 두 준위계에서 서로 다른 스값에 대하여 들뜬 상태에서 발견될 확률.

서는 들뜬 상태에서 발견될 확률이 줄어든다. 그러나 이러한 상황은 모든 들뜬 상태에서 이완되는 과정을 무시한 경우이다. 복사선의 자 발 방출에 의한 에너지 이완의 경우 (T1 과정)나 충돌에 의하여 에너 지 준위의 분포 변화 없이 원자나 분자 파동함수의 위상(p hase) 이 변 화하여 일어나는 이완 과정 (T2 과정)이 있어 Rabi 진동에서 감쇠 (dam ping)가 일어난다. 그러나 복사선의 세기를 증가시키면 Rabi 진 동수가 이완 진동수보다 매우 크게 되어 ――죽 (JJ R~ (JJ이완 -Rab i 진동을 관찰할 수 있다. 예를 들어, 스핀 이완이 매우 느린 핵자기공 명 (nuclear magn e tic resonance : NMR) 에서 수 W 의 라디오 진동수로 이러한 현상을 관찰할 수 있다. 그러나 적의선, 가시광선, 자의선 영 역에서는 이완 과정이 훨씬 빠르기 때문에 보통 Rabi 진동이 빠르게 감쇠되어 들뜬 상태와 바닥 상태에 있을 확률이 각각 0.5 씩 되는 포

화 상태에 도달한다 . 1.5.2 일반적인 시간의촌 섭동법 [4] 일반적으로 원자나 분자의 계는 무한히 많은 에너지 준위를 가지 고 있다 . 따라서 이러한 경우 시간의존 섭동법의 해는 근사룰 사용하 여야 한다. 일반적인 계는 앞과 같이 식 (1. 38) 의 시간의존 Schrodin ge r 식을 만족한다. 만약 시간에 의존하지 않는 해밀토니안 에너지 연산자 Ho 의 해가 파동함수 W,1 을 준다고 가정하면 섭동이 없을 때의 시간의존 파동함수는 다음과 같다. 죽 in alJf/ a t= H0 lJf,, 의 해는 다음과 같다. 伊广궁 ,,ex p( _iE,, t/ h ) = ¢,1exp ( _i(L),,t) (1.49 ) 섭동된 계의 파동함수는 두 준위계의 경우와 마찬가지로 섭동이 없 는 경우의 시간의존 파동함수를 기저함수 (bas i s fu n cti on) 로 하여 다 음과 같이 표현할 수 있다. 즉 in a lJf/ a t= [ H0+H'(t) ] 伊의 해는 다음과 같다. lJf= Ln an( t) lJfn= Ln a,,( t) ¢,,exp ( —iE, ,t/ h ) = Z an( t) ¢nexp (-i(J)nt ) (1.50 ) ’’ 이 식은 두 준위계의 식 (1.4 0) 에 해당되는 것으로, 결국 시간의존 Sehr 陣ng er 방정식의 해를 구하는 것이 an( t)를 구하는 것과 같다. 따라서 식 (1 .50) 을 시 간의 존 Schroo inge r 방정 식 에 대 입 하여 정 리 하 면 다음과 같다.

L a,,(t ) H' ( t) 1JT1 1= iti L [ oanC t) /ot ] 1Jl,, (1.51 ) 11 11 두 준위 계 와 마찬가지 로 1Jl/ ( = ¢; exp (i(L)kt )) 를 가하고 적 분하면 기 저 함수들의 직 교정 규성 (o rt honormal ity)을 이 용하여 다음과 같은 결 과를 얻는다 . 혹 a,,(t) H,kI(t) e xp (-i(1),,t)=in a/t)e xp (-i(1)kt ) (1.52 ) 여기서 야(t)= 8ak(t) / 8t, H,k?I(t) = <'P k I H'I 'Pn > 이다. 이 식을 야(t)에 대하여 정리하면 야( t) = ( l / i h ) 혹 a,,(t ) H' ,,,, ( t) exp (i(L),,,,t) (1.53 ) 이다. 여기서 (J),,,,=(J) k 一(J) n 이다 . 식 (1. 53) 은 시간의존 Schrodin ge r 식에 근사룰 사용하지 않은 정확한 해이다. 이 식은 1 차 미분 방정식 이다. 이 식의 해를 구하기 위하여 t= O 부터 t까지 적분하면 다음과 같댜 ai t) -ak (O) = (l I i n ) 척 J0'an ( t) H' kn (t) ex p(i(J)나) dt (1.54 ) 이 식의 해를 구하거 위하여 an( t)를 모두 알아야 하기 때문에 정확 하게 이 식을 푸는 것은 불가능하다. 따라서 근사해를 구하기 위하여 가정을 도입한다. 첫번째 가정은 섭동이 매우 약하고 섭동이 가해지 는 시간이 길지 않다는 것이다. 이것은 섭동 후에도 처음 상태와 유 사함을 의미한다. 구해야 할 시간 t에서 f 상태와 관련된 계수들을

aAt ) 로 표시하고, 처음에는 t =O 인 i 상태에 있어 a i 를 제의한 다 른 계수들은 전부 0 으로 가정한다 . 그런데 이 가정에서 i 이외에 다 른 모든 상태는 시간이 경과해도 전부 계속 작은 기여를 한다고 가 정하기 때문에 n=i 이외의 모든 n 상태에 대하여 a,,(t )= O 으로 놓는댜 이 경 우 식 (1. 54) 는 다음과 같다. at< t) -at< O ) = ( 1 / i ti ) J0。 1a;(t ) H' fi ( t) exp (£(JJ1 /) dt ( 1.55 ) 그리고 at< O )=O 이고, a;(t) = l 의 가정으로부터 식 (1. 55) 는 다음과 같다. at 은 전이 쌍극자 모멘트이다. 역시 cos (JJt ={ex p(i(JJt) +ex p(一iw t) }/2 의 관계를 이용하면 식 (1. 57) 은 at< t) = - (1 / 2it i ) M /iE J0 1exp (-i(J}fit) { exp (i(J}t) + exp (-iwt) } dt (1.58 )

이 된댜 식 (1. 58) 을 적분하면 다음 결과 를 얻는다. a;( t) = —( 1 / 2 i n ) M 1;E { ~.『(J)/~:+(J);)t) ] —l + exp [ ii((( (JJ))fIii __ ((JJ)))) t] —l } (1.59) 보통 자외선 , 가시광선, 적외선 영역에서의 분광 실험에서 진동수 (L)j,와 (L)는 l015 s - l 근 처가 된댜 식 (1. 59) 에서 중괄호 내 두 항의 분 자 들 은 exp (ix)= cosx+ i sin x 관계 를 사용하면 전부 1 보다 작은 데, 첫번째 항의 분 모 는 매우 크고 두번째 항의 분모는 전이가 일어 나는 경우 (L)/1와 (L)가 비 슷 하므로 거의 0 이 된다. 이 경우 첫번째 항 을 무시 할 수 있으므로 식 (1. 59) 는 다음과 같이 된다. a/t) = —(1 / 2ih ) Mf iE exp [ ii((( (JJ))/fii -_ (( JJ)))) t] -1 (1.60 ) 따라서 t 시간 후에 계가 f 상태에 있을 확률은 다음과 같다. P1=IaJ t)l2 =( 1/4 ti 2) I M /1| 2# { exp [i((( (JJ))JIii -—(( JJ))) 2) t] —1 }2 (l.61) 또 exp (i 2x)-1=2 s in x 의 관계를 이용하면 식 (1. 61) 은 다음과 같 이 된다. P,=la/t)l 2=( 1/ ti 2) I M 1;-j2 E 2( (~J)Ji -(J( J))J) i2 _ (J))~ (1.62 ) 전자기 복사선의 진동수가 에너지 준위의 차이에 해당하는 진동수와 정확히 일치하는 공명의 경우 lri m sin 2 (1/2ax) / x2=1/4a2 의 관

계를 이용하면 식 (1. 62) 는 다음과 같이 된다. P1 = I M fi「 E2 t2 I 4 n 2 (1.63 ) 분광학에서 실험적으로 측정하는 홉광계수 (abso rpti on coe ffici en t)는 전이속도(t rans iti on ra t e) 와 비 례하는 관계를 보인다. 따라서 전이속 도는 다음과 같다. W;-.1= d P1/dt= I M 1/E2t I 2 n 2

균 에너지는 U=2c: ,,E2 V 이기 때문에 E2= U/ 2 c:。 V 이댜 이를 식 (1. 66) 에 대입하면 다음과 같이 된다. W;-.1=1/3 I Mn·l2 Up i/._v fi) I 8 c:。 Vn2 (1.67 ) u p( VJ i) I V = p( V) 의 상태 에 너 지 밀 도 (ener gy densit y of s t a t e) 로 바꾸어 표현하면 다음과 같이 된다 . W;-.1= I M 서%싸 v) I 24 갑군 (1.68 ) 전이속도에 관한 식 (1. 28) 과 (1. 68) 을 비교하면 유도 홉수의 Ein s te i n 계수 BEI 는 다음과 같다 B ,-1= I M fil2 I 24c 。l'i 2 (1.69 ) 또 식 (1. 35) 에 의하여 자발 방출의 Ein s te i n 계수는 다음과 같이 된다. AFi= 2 규 갑3c3 eI 。 hM /i|2 (1.70 ) 1.5.3 홉광계수 실험적으로 분광법에 의하여 측정되는 홉광도 (absorbance) 와 전이 쌍극자 모멘트 사이의 관계를 살펴보자. 전자기파의 에너지 밀도 (energy densit y, U), 에 너 지 선속 (ener gy flux , fb), 세 기 (Inte n sit y, I) 의 관계는 다음과 같다. (l)= c U (1.71 ) dU=p (v )dv (1.72 )

d (/) = cd U = cp ( v)dv= I ( v)dv (1.73 ) I (v)=cp ( v) (1.74 ) 두께가 dl 인 시료를 통과한 전자기파의 에너지 밀도가 감소하여 빛 의 세기가 감소하였다고 가정한다 . V 와 v+dv 사이의 진동수의 복 사선을 홉수하는 단위부피당 분자수가 n(v)dv 이고, 이 분자 한 개가 한 개의 양자를 흡수하는 전이속도는 W= B p이므로 V 와 v+dv 사이의 진동수에 대한 단위부피당 에너지 밀도의 변화율은 다음과 같다. d U/dt= —hv Wn(v)dv= —n(v )hv Bp d v (1.75 ) 그리고 식 (1. 72) 를 이용하면 다음과 같다. dp / dt= -n(v)hv Bp (1.76 ) 일정한 면적과 두께 dl 을 갖는 사각기둥을 통과하는 전자기파의 단위시간당 에너지 밀도 변화율과 단위길이당 에너지 선속의 변화량 은같다. 즉 d U/dt= d (})/dl (1.77 a) 또는 dp /d t= dI/di (1.77 b) 이다. 따라서 식 (1.74 ), (1.75 ), (1. 76) 으로부터 다음 관계가 얻어진다. dl/ I = -n(11)h11B/c di (1.78 ) 분광 실험에서 Beer-Lamb ert의 법칙은 다음 식으로 표현된다.

d l / I = -a ( v) C dl (1.79 ) 식 (l. 78) 과 (l. 79) 를 비교하면 다음 결과 를 얻는다. a(v) C =n (v)hvB/c (l.80 ) 양변에 dv 을 가하고 흡수띠에 대하여 적분한댜 fn(v )dv= N 은 모든 입 자수 를 의 미 하고 N I C = NA 는 아보가드로 (avo g adro) 수 이므로 다음 관계가 얻어진다. J{a(1 1)/11}d11= Bh NA/c (1.81 ) 일반적으로 흡수띠에서 II 가 II Ji에서 약간만 떨어지면 a(v) 가 0 이 되므로 II 는 III, 로 취급하여도 무방하다. 따라서 홉수띠를 적분한 홉광계수 fa(v )dv= A 는 다음과 같다 . A=(hvfi NA/c) B (1.82 ) 이 식에 식 (1. 69) 의 유도 흡수의 Ein s te i n 계수를 대입하면 홉광계수 는 다음과 같다. A = ( 1!Vf i N 서 l2cohc) I M /ii 2 (1.83 ) 이 식은 실험에 의하여 측정되는 홉광계수 A 와 양자역학적으로 계 산할 수 있는 전이 쌍극자 모맨트 | M fi| 사이의 관계를 나타내 주는 식이다. 이상의 결과는 레이저 분광학의 근간이 되는 빛과 물질 의 상호작용을 이해하는 출발점이 된다.

참고문헌 (1) J. R. Reit z, F. J. Mi lford , and R. W. Chris t y , Foundati on of Electr o mag n eti c Theory 3rd ed., (Addis o n- W esley, Readin g, MA, 1979) (2) E. Hecht and A. Zaja c , Optics, (Addis o n-Wesley, Readin g, MA, 1974) (3) P. W. At k in s , Molecular Quan tu m Mechanic s , 2nd, (Ox for d Univ . Press, New York, 1983) (4) I. N. Lev ine , Molecular Sp ec tr o scopy (W iley , New York, 1975)

제 2 장 레이저의 원리 및 종류 김동호 2.1 서론 레 이 저 (Ligh t Amp lifica ti on by the Sti m ulate d Em iss io n of Radia - tion : LASER) 가 1960 년에 등장하면서 과학의 발달에 많은 영 향을 끼쳐 왔다. 이 장에서는 레이저의 원리 및 종류 그리고 각각의 특성 둥에 대하여 간단히 살펴보고자 한다. 2.2 레이저의 원리 양자 이론에 의하면 분자는 일정한 에너지를 갖는다. 또한 빛을 홉 수하면 바닥 상태에서 높은 에너지 상태로 전이한다. 들뜬 상태에 있 는 분자는 일반적으로 수명이 매우 짧으며 이완 과정에 의해 에너지 를 방출하면서 바닥 상태로 떨어진다. 바닥 상태로의 전이에는 빛을 방출하는 전이와 방출하지 않는 전이, 두 가지 전이가 가능하다. 빛 을 방출하는 전이는 빛에 의한 유도 방출과 빛의 존재와 무관한 자

발 방출로 나뉜댜 유도 방출을 일으키는 광자의 에너지는 전이 에너 지와 같아야 한다. 자발 방출은 전이로 인한 방향성이 없지만 유도 방출로 인한 빛은 전이를 일으킨 빛의 방향과 같은 방향으로 방출된 댜 그림 2 .1에 이에 관한 것이 나타나 있댜 레이저에서 유도 방출을 일으키는 매질이 필요하며 이 를 활성 매 질이라고 부른다. 또한 활성 매질을 들뜨게 하기 위하여 의부에서 공 급되는 광원이나 전원이 필요하다- 아울러 활성 매질의 양끝에 전반 사경과 부분반사경을 설치하여 공진기 (resona t or) 를 구성하여야 한다. 공진기 내부에서 빛이 활성 매질을 반복적으로 왕래하면서 유도 방 출에 의해서 빛이 증폭된다. 그림 2.2 에 공진기 구조가 나와 있다. 일반적으로 빛의 진행은 레이저 축과 일치하여야 정상파를 이루지 만 레이저 축과 약간 벗어나도 빛을 방출할 수 있다. 따라서 실제적 으로 레이저에서 나오는 빛의 모드(방식)는 TEMmn 형태로 여러 모 드가 나올 수 있다. 공진기 내에 작은 구멍을 설치하면 원형인 모드

(a)

:\/\/\ (b)

그립 2.1 들뜬 분자에 의한 자발 방출 (a) 과 유도 방출 (b).

DMR,, l IdI I l l '· rMR22

들 뜸

그립 2.2 레이저 공 진기의 개략도.

만이 존재하도 록 할 수 있다. 이렇게 해서 얻어진 레이저 빛은 단색 파장이며, 세기가 크고 밝으며, 직진성이 뛰어난 장점을 갖는다 . 레이 저 를 구성하는 활 성 매질도 기체, 액체, 고체 둥 많은 매질이 가능하 며, 그동안 개발된 여러 가지 레이저들이 다양한 과학 기술 분야에서 응용되고 있다. 2.3 레이저의 종류 및 특성 2.3.1 고체 레이저 고체 레이저에서의 활성 매질은 일반적으로 작은 양의 전이 금속 이 첨가 (do pi n g)된 투명한 결정이나 유리이며, 여기서 전이 금속의 전이가 레이저 발진을 일으킨다. 루비 (rub y) 레이저와 알렉산드라이 트 (alexan drit e) 레 이 저 의 크롬 이 온과, Nd : YAG 레 이 저 와 Nd : Glass 레이저에서의 니오디뮴은 가장 혼한 첨가 이온이며, 첨가 이온 의 농도는 대체로 1% 미만이다. 이러한 레이저들은 넓은 선너비 (broad-b and) 를 가진 플래쉬 램프 광원에 의해서 매질을 들뜨게 하 며, 높은 출력을 얻기 위하여 펄스로 작동하기도 한다.

® 루비 레이저 루비 레이저는 1960 년에 만들어진 최초의 레이저로 가장 잘 알려 진 고체 레이저이다. 이 레이저는 루비봉 (Al z() 3, 직경 :3-25mm, 길이: 약 20cm) 이 코일 (co il) 형태의 플래쉬 램프나 루비봉과 평행한 타원 형의 반사체 안에 플래쉬 램프를 넣어 크롬 이온을 들뜨게 한다. 이 레이저의 전이 과정 상태를 살펴보면 단지 Cr3 + 의 에너지 준위만이 관여되는 3 一준위계이다. 그림 2.3 과 2 .4에 루비 레이저의 구조와 에너 지 준위가 나타나 있댜 플래쉬 램프의 빛에 의하여 Cr3+ 이온이 바 닥 상태 IE (4&) 에서 들뜬 상태인 두 개의 3E (4F) 준위 중 하나로 전이한다. 이 준위들은 나노초 이하의 수명을 가지므로 2E 준위로 빠 르게 전이한다. 2E 준위는 4ms 정도의 긴 수명을 가지므로 2E 와 IE 상태들 사이에 밀도반전 입자수 역전(p o p ula ti on in vers i on) 이 일어나 Cr3+ 이온들이 바닥 상태로 떨어지면서 694.3run 파장의 빛을 내는 레이저 방출이 일어난다. 이렇게 해서 얻어지는 레이저 펄스는 대략

플래쉬램프

플래쉬램프 타원형반사체 (a) (b)

그림 2.3 루비 레이저에서 플래쉬 램프와 루비봉의 배열. (a) 플래쉬 램프가 루비 봉을 나선형으로 둘러싸고 있는 형태, (b) 타원형 반사경 내에서 초점이 같은 곳에 직선으로 배열된 플래쉬 램프와 봉으로부터 얻어지는 고효율 들뜸의 예.

30

25 f-- 4F1 푸른색 띠 20 r 4F 2 초 록 색띠 IcE 1510 g( R2)=2 』T 02E 29 cm- 1 L)0_뚜―~ p

R2 R1 5 레이저천이 。 4A2, g1= 4

그립 2.4 루비에서 cr3 + 의 중요한 에너지 준위 들. (2E 준위들 사이의 에너지 간격 은 그립의 scale 과 다르게 표시됨).

0.3-3 ms 정도의 펄스 폭을 갖는다. 루비 레이저에서 가장 큰 문제는 펄스가 발생될 때마다 생기는 열을 제거하는 것이며 이를 위해서 루비 봉을 물로 식힌다. 이런 문제에도 불구하고 가시광선 영역에서 약 200] 까지 에너지를 얻을 수 있으며, 스펙트럼 선폭은 약 0.5 run 정도이다. ® 알렉산드라이트 레이저와 타이 Era: 사파이어 레이저 알렉산드라이트 레이저의 활성 매질은 크롬 이온이 첨가된 알렉산

드라이트 (BeAh04) 결정이댜 루비 레이저와 달리 알렉산드라이트 레 이저의 경우 Cr3+ 전자의 4A2 바닥 상태는 에너지가 일정한 단일 상 태가 아닌 결정격자 크롬과의 상호작용 때문에 띠 구조 를 이룬다. 일 반적인 플래쉬 램프 를 이용한 광들뜸에 의한 레이저 방 출 은 4F2 상태 에서 바닥 상태로 일어나기 때문에 파장이 700-815nm 까지 변환이 가능한 출력이 발생된다. 이러한 이유로 알렉산 드 라이트 레이저는 종종 전자一진동 레이저 (v i bron ic laser) 라 불린다 . 최근에 개 발 된 타이타 늄:사파이어 (T it an i um : Sa pp h i re) 레이저도 이와 비슷한 형태로 타이타 늄 이온의 2E- 21'려 전자크진동 (v i bron i c) 전이 과정이 650-1000nm 범위의 넓은 영역에서 고출력의 연속 발진이 가능하며 들 뜸 광원이 펄스일 경우 펄스로도 작동할 수 있다. 그림 2.5 에 타이타늄 이온의 스펙트럼이 나와 있다 . 크롬이 첨가된 결정으로 최근에 개발된 것은 Cr3+ : LiS r A! Fs (Li SAF) 인데 780-920nm 범위에 파장 가변 영역을 가지며 들뜬 상 태의 소멸 시간은 약 67 µs 이다. LiSA F 결정은 단축 (un i ax i al) 이며 Cr3+ 발광은 강한 r 편광이 다. 홉수 및 발광 스펙트럼 이 그림 2.6 에 나타나 있다. 4T2-4A2 전이에 의한 발광이 830nm 부근에서 나타나 며 Cr:L iSA F 결정은 플래쉬 램프 혹은 다이오드 들뜸 레이저로서 많은 응용 가능성이 있다. 특히 Cr : Li SAF 의 넓은 발광띠로 인하여 펨토초 모드-잠금 (mode-lockin g ) 펄스를 생성하거나 증폭하는 데 유용하댜 특히 다이오드 들뜸 레이저의 경우 전부 고체 상태로 이루 어진 파장 가변 펨토초 펄스의 생성에 큰 가능성이 있다. ® 니오디뮴 레이저 니오디뮴 (Neod ymi um) 레이저에는 매질이 이트륨 알루미늄 가넷 (yttrium alumi nu m ga rnet) 결 정 (YJ A.ls 012) 인 경 우의 Nd : YAG 와 유 리질 (amo rp hous g lass) 인 경우의 Nd:Glass 두 가지 형태가 있다. 이

r 편광

1.0 ,‘’' ’ ’ . .’ ?,` 형 \광``` ,' (ljwk _이i_uol() 000。...842 6 ,,', ',’ ', ', ',’' ,' ., .'‘ , ,,'' ,', ', ', ', ',' ,' , '' ``````` ``` ` ```` ` ``````` ` ` `` ` ` `` ` ` `````` ` ,' 。 400 500 600 700 800 900 파장 (nm)

• 그림 2.5 Al i) 3( 사파이어)에 들어 있는 Ti3 + 이온의 흡수 및 형광 스펙트럼.

온에서의 전이가 레이저 발진을 유발하지만 발광 특성은 니오디뮴의 에너지 준위에 대한 매질의 영향에 의해 서로 다르다. 또한 유리질은 YAG 결정보다 열전도도가 떨어지므로 연속 작동보다는 펄스 형태 로 작동한다. 루비 레이저처럼 니오디뮴 레이저는 플래쉬 램프에 의 해서 들뜬다 . 최근에는 다이오드에 의해서 들뜨는 작은 YAG 레이저

6 LiSr AIF5: er+

(cEo 42 -oi0 ~)~to G 발광 。 300 500 700 900 파장 (nm)

그립 2.6 Cr : Li SAF 의 홉 수 및 발 광 스펙트 럼

도 개발되었다 . 니오디뮴 이온의 에너지 준위는 레이저 발진에 관계 되며 자유 이온 상태에서는 축퇴되어 있는데 결정장과의 상호작용으 로 인해 나뉜다 . 그림 2.7 에 Nd : YAG 의 니오디뮴 이온의 에너지 준 위 도가 나와 있다 . 따라서 자유 이 온 상태에 서 는 금지 된 4F312 과 411112 상태들 사이에서의 전이가 허용되어 레이저 발진이 나타난다. 여기 서 4F312 상태의 플래쉬 램프에 의한 들뜸과 높은 에너지 상태에서의 소멸로 인하여 밀도가 높아지며 또한 4h1/ 2 상태가 바닥 상태인 %n 상태 위에 있으므로 4- 준위계를 형성하게 된다. 니오디뮴 레이저에서 주된 발진 파장은 1.06 4 µm 이며 매질에서 알루미늄이 리튬으로 치환된 Nd:YLF 레이저인 경우에는 1.04 7 µm 에서 발진한다. 또한 1.31 9 µm 에서도 발진되는 레이저를 만들 수도 있다. 니오디뮴 이온들의 환경이 달라서 결정장 분할이 서로 다르기 때문이다. 따라서 Nd:Glass 레이저인 경우 Nd:YAG 레이저보다 훨씬 더 넓은 선너비를 갖게 된다. 그러나 유리질에서는 첨가되는 니

V////////A

20 冒여기띠 18 16 (TE0C1142O LX) 4F312 -· . -· -· . ----- · 오- -· 4 F312--=::,: 1111541024 cm-1RR1 2 —xHb 10 레이저전이 ----g~. /1512 <.'E''\: :;`양;: ::: ~6000 crn-1 8426 44사/,135//122~ -J ~------?- -' g--- ------ - --- -- - --- -- ----- - --- g - --- -- - -- _ 44},1 113/1 22<<; `군_\\,\`:; -`:;. 二 - 二~二8];~~40L100c Y m, -1 。 %/2 --바닥준위 --------. 4/9 /2'~g놉`,`,: :잡::8::4: 8입1 3싶4

그림 2.7 Nd : YAG 의 에너지 준위도.

오디뮴 이온의 농도가 6% 까지 높으며 (YAG 인 경우 1.5% ), 따라서 높 은 출력을 얻을 수 있다. 이러한 특성 때문에 Nd:Glass 레이저는 모 드-잠금 기술을 이용하여 출력이 높은 극초단 펄스 레이저를 생성하 는 데 적당하다. 일반적인 연속 출력 Nd:YAG 레이저의 출력은 수W 이나 lOOW 이상도 가능하다. 펄스 형태로 작동할 경우 펄스당 에너지는 펄스를 만드는 기술과 펄스 반복률에 따라 다르게 되나 하나의 펄스당 수십

m] 까지도 가능하댜 대부분 Nd:YAG 레이저 를 이용한 광화학은 1.06 4 µm 파장을 이용하는 것이 아니고 주파수 변환 방법을 이용하 여 생성되는 높은 출력의 가시광이나 자외광 을 이용한다. 예 를 들어, 조화파 발생· 방법으로 532, 355, 266nm 파장을 얻 을 수 있댜 최근 들어 다이오드에 의해서 들뜨는 고체 레이저 들 이 많이 개발 되었댜 이러한 레이저는 반도체 다이오드 레이저에 의해서 Nd:YAG 결정을 직접 들뜨게 하므로 아주 작게 만 들 수 있으며 효율이나 안 정성이 좋다. 아직은 연속 출 력이 그다지 높지 않지만(수 W) 앞으로 계속 높아질 전망이며 Q-전환(Q - sw it ch i n g) 펄스 생성 기술로 수 kW 의 출력도 가능하다. ® 색소 중심 레이저 이 레이저는 활성 매질이 색소 중심 (Color Cente r 또는 F-cen t ~r) 이 라고 불리는 이온 결정이 있는데, 알칼리 할로겐 결정의 결함에서 오 는 광학적 전이에 의해서 레이저 발진이 일어난다. 색소 중심은 주로 Nd:YAG 나 아르곤/크립톤 이온 레이저에 의해서 들뜬댜 이러한 레 이저는 회절격자에 의해서 파장 변환이 가능한데 여러 가지 서로 다 른 결정들을 사용하면 0.8-3.4 µm 의 파장 범위가 가능하다, 이러한 레이저는 결정을 아주 낮은 온도로 유지시켜 주어야 하기 때문에 액 체 질소가 필요한 불편이 있다. 그림 2.8 은 색소 중심 레이저에 관한 것이다. 2.3.2 반도체 레이저 반도체에는 결합띠 (valence band) 와 전도띠 (condu cti on band) 로 알 려진 두 개의 에너지 띠가 존재한다. 반도체 레이저는 전자회로에 많 이 쓰이는 발광 다이오드 (LED) 와 비슷한 원리로 동작한다. p형과 n 형

(a)

M2

(b)

(

ulr_o iL( LL LEN)+ I:O:f BN(:)-:f+3 Zx)+ Z z(J:1B >t)+ _n七lv)~X 」=nx1)0 eo=VfF ql뜨 l v 0.6 1.0 1.4 1.8 2.2 2.6 3.0 3.4 µm

그림 2.8 (a) 연속 출 력 색소 중십 레이저의 공진기 구성으로 수차 보정을 한 접 혀진 선형 공진기, (b) 여러 가지의 색소 중심 결정에서 나타나는 발광 스펙트럼

결정 사이의 접촉 부위에 전압을 걸어주면 반도체의 경계면에 걸쳐 있는 전도띠에서 결합띠로 떨어지면서 일반적으로 적외선의 빛이 방 출된다. 그림 2.9 에 반도체 레이저의 작동 원리가 도시되어 있다. 반 도체 레이저는 아주 작은 크기로 만들 수 있는 것이지만 빔이 많이

퍼지므로 , 이것을 보정해 주는 광학계가 필요하다 . 반도체 레이저는 정해진 파장에서 발진하는 것과 파장 변환이 가능한 두 가지 종류가 있다. 흔히 알려진 정해진 파장에서 발진하는 반도체 레이저로는 GaAs, GaAlAs, InGaAsP 가 있다. GaAs 레이저는 대체로 0.904 µm 근처에서 발진하는데, 화합물의 비율을 변화시키면 0.8-1. 3 µm 영역 에서 발진시킬 수 있다. 흔히 납염(l ead salt) 다이오드 레이저라고 불 리는 반도체 레이저는 Pb, Cd, Sn 과 Tl, Se, S 등을 혼합해서 만드는 데, 화합물의 비율에 따라 2.8-30 µm 범위에서 레이저를 발진시킬 수 있다. 여러 가지 반도체 레이저의 발광 특성이 그림 2 .1 0 에 나와 있다. 이러한 레이저들은 낮은 작동 온도(1 5一 90 K) 가 요구되는데, 발 진 파장이 온도에 크게 좌우되므로 온도를 변화시켜 파장을 바꿀 수 있다. 반도체 레이저의 선폭은 10-3cm-1 이하로 매우 작아 고분해능 적의선 분광학을 연구하는 데 많이 쓰이고 있다. 출력은 대체로 mW 정도이나 최근 들어 W 수준까지도 개발되었다.

전도띠 —xH 전도전.자 들

p p 영역 Eg 十 n 영역 p 영역 전이영역 n 영역 (a) (b)

그립 2.9 반도체 레이저의 개략적 준위도 . (a) 바이어스가 걸리지 않은 pn 접합, (b) pn 접합 근처에서의 밀도 반전 및 전압이 질렀 을 때의 빛 방 출 재 결 합 과정 .

2.3 .3 원자 및 이온 기체 레이저 원자나 분자가 활성 매질인 원자 및 이온 기체 레이저들의 발진 선폭은 아주 작다. 일반적으로 기체는 밀봉된 관에 채워지며 초기 들 뜸은 전기 방전으로 이루어진다. 일반적으로 레이저 관에는 두 종류 의 기체를 사용하는데, 하나는 들뜸에 사용하며 다른 하나는 레이저 발진에 사용된다. 기체 레이저는 활성 매질이 열 손상을 입지 않으므 로 매우 안정하기 때문에 폭넓게 쓰이고 있다 . ® 헬륨-네온 레이저 및 헬륨-카드늄 레이저 헬륨_네온 (He-Ne) 레이저는 1962 년에 시판된 가장 오래된 기체 레이저이댜 활성 매질은 lmbar 정도의 헬륨과 0.1 m bar 정도의 네 온이 혼합된 기체이다. 초기 들뜸은 전기 방전에 의한 전자 충돌에

(a) ’ ’PPb1 lb,1 -,l E_x1 S X.S _n .mTx_lS e._e ,.기l~ , ’ ' I (b) 3000 I , , , , P,b ,C,d 1,- ,, S JI3 .3

PbS, :_f x-S·- e x· - · - · -·--- PbP... 1 b.-_i |x -. C x- - Gd,,eS. Te 2000 f-- \ ---l 5 _ _. 一P·l n.·- b -니x- 1A - - st x1-G•- e xx SSb x 忠으|E \ Pb1- x Sn\ -T E`뽀__ 、- G+a Sb 1000 10 더 AIk.G--1ia l1n ,-G xa A1s-, ~G AasA, sln1A -sx1 P - x x P x I \ \,,, Pb, 一 XSnxse In 닥 Ga,P 1 I 1III I I I I II,I 。 10 100 0 0.2 0.4 0.6 0.8 1.0 파장 (µm)

그립 2.1 0 (a) 서로 다른 반도체 재료에서의 발광 스펙트럼, (b) Pb1- xS nxTe 납염 (lea d salt) 레이저의 x 비율에 따른 발광 스펙트럼 의존성 .

He-Ne

1s2s•S 2 갑 5s1 충 돌 3.3 9 1 µm 2p 44 p 1 1 s2s ,s 2p 44 s1 2p 43 p 1 l전자충 돌! 2p 43 s1 튜브벽과의 ’’ 충 돌 로인한소멸 1s?s\ Ne 2p 0

그림 2.1 1 헬 륨 -네온 레이저의 에너지 준위도 .

의해 헬륨이 들뜨며, 들뜬 헬륨은 충돌 에너지 전달에 의하여 네온 원자에 에너지를 전달한다. 이렇게 생성되는 네온의 에너지 준위는 가장 낮은 들뜬 상태보다 높아 입자수 역전이 이 준위들 사이에 생 겨 그림 2.11 처럼 레이저가 발진된다. 수 mW 정도의 출력으로 632.8mn 에서 발진하며 적의선 영역에서 는 이보다 낮은 출력으로 1.1 52 와 3.391 µm 에서 발진한다. 일반적으 로 관의 직경은 매우 작으며 최근에는 543.5mn 에서 lmW 까지 발진 하는 헬륨-네온 레이저도 쓰이고 있다. 이 레이저는 낮은 출력에도 불구하고 값이 싸서 출력이 그다지 문제가 안 되는 분야에 널리 쓰 이고 있다. 헬륨-네온 레이저와 비슷한 것으로 헬륨-카드늄 (He-Cd) 레이저가 있는데 카드늄 원자의 전이 과정으로 인하여 mW 정도의 출력으로 442mn 와 325mn 에서 발진하게 된다.

® 아르곤 및 크립톤 레이저 아르곤 이온 레이저는 활성 매질이 불활성 기체로 이루어진 이온 레 이저 중 가장 널리 쓰이는 레이저이다. 0.5 mbar 정도의 기체가 플라즈 마 관에 채워져 있으며 전기 방전에 의해서 들뜬다. 아르곤 원자들은 전자 충돌에 의해서 이온화된다. 이로 인하여 여러 가지 들뜬 상태에 입자수 역전이 유발되어 레이저 발진이 일어난다. 여러 가지 상태들 사 이에서 레이저 발진이 이루어지므로 350-530nm 사이에서 다양한 발진 파장을 나타내는데, 488.0nm 와 514.5nm 에서 강한 레이저 빔이 나온다 이 중 이온화된 Ar2+ 이온들이 자외선 근처의 빛이 나오는 데 기여한 다. 그림 2 .1 2 에 아르곤 이온 레이저의 개략도가 나와 있다. 이 레이저 에서는 여러 가지 발진 파장이 가능하므로 에탈론이나 프리즘을 공진 기 안에 넣어서 단일 파장을 골라낸다 . 레이저 발진을 위해서는 많은 양의 에너지가 필요하며 효율이 낮기 때문에 튜브의 냉각이 매우 중요 하다. 일반적으로 물을 관 주위로 순환시켜서 냉각시키는데, 연속 출력 아르곤 이온 레이저의 경우 출력은 mW 에서 25W 정도이다. 또 다른 이온 레이저로는 크립톤 이온 레이저를 들 수 있는데 아르

(a) 4 pl\)(

컷(b) —< c 尸《 그립 2.12 (a) 브루스터 (Brews t er) 프리즘이 장착된 아르곤 이온 레이저에서의 발 진 파장 선택, (b) Li ttro w 프리즘 반사 거울, (c) 아르곤 이온에서의 레이저 전이 개략도.

곤 이온 레이저와 비슷하며 발진 파장은 350-800nm 범위이다. 크립톤 이온 레이저는 효율이 낮기 때문에, 현재 5W 출력까지 시판되고 있으 며 가장 강한 발진 파장은 647 .1 nm 이다 . 이 레이저는 많은 점에서 아 르곤 이온 레이저와 비슷하므로 아르곤과 크립톤 기체를 혼합한 레이 저를 만들어서 가시광선 영역에서 여러 가지 파장을 얻을 수 있다. ® 구리 증기 레이저 이 레이저는 금속 증기 레이저의 하나로 전하를 갖지 않은 금속 원자가 레이저를 발진하는 데 사용된다. 구리 레이저는 그림 2 .1 3 에 에너지 준위가 나타난 대로 3- 준위계이다 . 바닥 상태의 구리 원자의 전자 충돌이 2p 상태로의 들뜸울 유발시키고 2D 상태로의 전이가 레

22pp 3,1/2 2 } 3d104p 1

578. 2 nm 전자 레 01 저 충돌 510.5 nm 발광 2D112 } 3d94s2 2D312 2s,/2 3d104s1

그립 2.13 구리 중기 레이저의 에너지 도표.

파1워0 (wj) I Cu

Cu Ba Au 51 Mn Pb Au »nm 300 400 500 1000 1500

그림 2.1 4 전형적인 금속 중기 레이저 출력 .

이저 발진을 일으킨다. 레이저 발진은 510 . 5run 의 초록색과 578.2run 의 노란색에서 이루어진다 . 이 레이저는 에너지 전이와 들뜸 과정상 펄스로만 작동하는데, 반복속도는 대체로 5kHz 정도이다. 펄스 폭은 약 30ns 정도이며 에너지는 mJ 정도이다. 관 안에는 구리 금속과 전 기 방전을 위하여 약 5mbar 정도의 네온이 들어있는데, 전류가 호르 면 약 1400 - 15oo•c 로 온도가 상승되어 구리를 가열하고 약 0.1 mbar 정도의 구리 증기를 생성하여 레이저 활성 매질로 쓰인다 . 구리 중기 레이저의 장점은 가시광선 영역에서 높은 출력을 갖는(평균 출력 10-lOOW) 것과 효율이 높다는 점이다. 이 레이저는 동위원소 분리 둥에 응용되며 색소 레이저를 들뜨게 하는 데 많이 쓰인다. 또 다른 금속 증기 레이저로 금 증기 레이저가 있는데, 이것은 628run 에서 수 W 정도로 발진한다. 다론 금속 증기 레이저의 발진 파장과 출력은 그림 2 .1 4 에 나타나 있다.

2.3.4 분자 기체 레이저 ® 이산화탄소 레이저 및 일산화탄소 레이저 이산화탄소 레이저는 레이저 발진이 이루어지는 이산화탄소의 에 너지 준위들이 전자 준위가 아니라 회전 및 진동 에너지 준위들이다 . 따라서 발진 파장이 적외선 영역에서 나타난다. 레이저 매질은 이산 화탄소, 질소 및 헬륨 기체 를 1:4:5 의 비율로 혼합한 것인데, 헬륨 은 레이저 효율을 높이고 질소는 헬륨-네온 레이저에서 헬륨과 마찬 가지로 에너지 전달 역할을 한다 . 레이저 전이 과정은 그림 2 .1 5 에

N2 CO2

충돌 200 二 040 030 020 i랩발광과 010 충돌소멸 -11-(2036-0- c-m0 -1- ) 。 -0v3(2-3409 c-m--10)00 0 -0v1(-13-400 cm- 기0)0 0-0 : 000

그림 2.15 C02 레이저의 에너지 도표.

나타나 있는데, 첫번째 단계는 전자 충돌에 의한 질소의 진동 들뜸 준위로의 전이를 나타낸다 . 바닥 진동준위 상태에서 질소 분자는 여 러 가지 희전 에너지 를 가지므로 전자 충돌에 의하여 진동 들 뜸 상 태에 속하는 여러 가지 회전 에너지 상태로 들뜨 게 된다. 이러한 준 위 들 은 전부 불안정한 상태이나 이산화탄소의 진동방식의 하나인 (OOl) 준위와 에너지가 잘 일치하므로 두 분자 사이의 충돌에 의해서 에너지 전달이 매우 효율적으로 일어난다. 이산화탄소 레이저에서 레이저 방출은 (1 00) 과 (020) 상태에 속하 는 회전 에너지 준위로의 전이로 인해서 일어나는데 각각 10.6 µm 과 9.6 µm 에서 발진한다 이 두 전이 과정을 통해 (020) 준위로의 소멸 이 일어나며 계속적으로 바닥 상태로 이완된다 . 에너지 전이 과정에 나타났듯이 여러 가지 회전 에너지 상태가 관여하므로 10.6 µm 과 9.6 µm 사이에서 여러 파장이 얻어질 수 있댜 일반적으로 이산화탄소 레이저는 에너지 변환 효율이 상당히 높은 편이며, 공진기의 길이가 길어질수록 높은 출력을 얻을 수 있다. 또한 관 내의 이산화탄소의 압력을 높임으로써 높은 출력을 얻을 수 있는데 (대기압 또는 그 이상) 방전을 유지시키기 위하여 강한 전기장을 컬어주어야 한다. 이러한 레 이 저 는 그림 2 .1 6 에 나타나 있는데 통상 TEA(Transverse Excit a- tion At m osph eri c) 이산화탄소 레이저라 불린다. 이산화탄소 레이저 는 레이저 유발 화학반응을 연구하는 데 널리 쓰이고 있다. 이산화탄

음극배열 춤력거울

양극막대기 레이저빔 +

그림 2.16 TEA(tr a nsverse excita tion atm osph e ri c) C 아 레이저에서의 전극 배열

소 레이저와 비슷한 레이저로는 일산화탄소 레이저가 있는데 이 레 이 저 의 발진 파장은 4.97-8.26 µ m 이 며 이산화탄소 레 이 저 와 마찬가 지로 여러 파장이 적외선 영역에서 발진되므로 시간분해 적외선 분 광학을 이용한 반응 동역학 연구에 널리 쓰이고 있다. ® 질소 레이저 이 레이저는 질소 기체가 고전압 전기 방전에 의하여 C37ru 삼중 전자 들뜸 상태로 전이되어 낮은 에너지인 불안정한 B3J rg 상태로 전이되면서 레이저 발진이 일어난다. 레이저 발진이 일어나는 높은 에너지 준위의 수명 (40ns) 은 낮은 에너지 상태보다 훨씬 짧으므로 입자수 역전이 유지될 수 없다. 또한 질소 레이저는 자동적으로 펄스 형태로 작동하여 펄스 폭이 약 lOns 또는 그 이하이며 발진 파장은 337 .1 nm 이다. 펄스의 반복률은 1-200Hz 정도이며 자외선에서 높은 출력을 내기 때문에 광화학반응에 많이 쓰이며 색소 레이저를 들뜨 게 하는 데 널리 쓰이고 있다. ® 화학 레이저 화학 레이저에서는 입자수 역전이 발열 화학반응이나 다른 화학적 방법에 의해서 일어난다. 가장 오래된 화학 레이저 중 하나는 HCI 레이저인데, 이 레이저는 아래의 반응식과 같이 수소와 염소 기체의 화학반응에 의해서 작동된다. Ch+ hv p-➔ 2Cl • Cl • +H2 - ➔ HClf +H • H • +Ch - ➔ HClf +Cl • 여기서 hv p는 플래쉬 램프에 의해서 생기는 들뜸 자외선이다. 레이 저 발진은 진동 들뜸된 HCl 분자가 빛을 방출하면서 이루어진다. 이

SF6 _

+ - H0e 2—- _ 一 H2 방전공간 전부반사하 레이저 출 력 는거울

그립 2.1 7 HF 레이저의 개략도.

레이저 를 약간 개선한 HF 레이저가 더 흔히 사용되는데, 이 레이저 에서 플루오르 라디칼이 SF6 의 전기 방전을 통해 생성된다. 이러한 레이저의 개략도가 그림 2 .1 7 에 나타나 있다. 공진기의 길이는 lm 까 지 만들 수 있으며 빔의 크기는 지름이 2-3mm 정도이다 . HF 레이 저는 2.6- 3. 0 µm 사이에서 발진한다. 연속 발진 출력은 수 W 에서 150W 정도이다. 화학 레이저의 또 다른 예는 산화질소, 플루오르, 중수소와 이산화 탄소 기체를 이용하는 것이다. NO+F2 -0NF+F • F • +Dz-DF'I' + D • DFf + C02-DF+co/ 이 반응은 궁극적으로 이산화탄소 분자로의 진동 에너지의 충돌 전 달이며 이로 인하여 이산화탄소 레이저와 마찬가지로 레이저 발진이 이루어진다.

® 요오드 레이저 요오드 레이저를 요오드 탄화수소(i odoh y drocarbon) 나 요오드 플루 오르화탄소(i odo fl uorocarbon) 기체의 광분해에 의한 원자 요오드 광분 해 레이저라 할 수 있댜 레이저가 발진되는 반응 과정은 다음과 같다 . C3F1I + hvp -----> C3F1 + I* I*-----> I+ h 꼬 C 昴 +I*+M-----> C3F1l+M 여기서 hv 1-》는 플래쉬 램프에 의한 자외선이며, hvL 은 레이저 발진 을 나타낸댜 여기에 관련된 에너지 준위는 그림 2 .1 8 에 나타나 있댜 레이저 발진은 들뜬 불안정한 2p l/2 상태와 바닥 상태인 2p 3/2 상태 사 이에서 일어나며 발진 파장은 1.31 5 µm 이댜 위 식에서 보면 원리적 으로는 반복되는 사이클을 이루지만 실제로는 부반응 때문에 효율이 떨어진다.

해리한계

1.315 µm 2p 31 2 흡수 ~F1I

그림 2.1 8 원자 상태 I2 광분해 레이저의 에너지 도표.

요오드 레이저의 가장 큰 장점은 활성 매질이 상대적으로 가격이 싸서 많은 양을 쉽게 구 할 수 있다. 이 레이저는 통상 ms 정도의 펄 스 폭과 수 J의 에너지 를 갖는 다. 그러나 Q-전환이나 모드-잠금 방 법을 이용하면 ns 나 그보다 짧은 펄스 를 생성할 수 있다 . 이 레이저 응용 예의 하나는 수용액의 온도 를 급격 하게 상승시킬 수 있다는 점 이다 물 이 1.31 5 µm 의 빛을 1 cm 당 약 30% 의 효율로 강하게 흡수 하므로 ns 에서 수 o c 의 온도를 쉽게 올릴 수 있어서 빠 른 화학반응 및 생물반응에 널리 쓰이고 있다. ® 엑시머 또는 엑시플렉스 레이저 이 레 이 저 는 활 성 매 질 이 엑 시 플 렉 스 (exc it ed dia t o m i c comp le x, exc ip lex) 인 레이저인데 가장 큰 특징은 들뜬 상태는 최소 위치 에너 지(p o t en ti al energy m i n i mum) 가 있는 안정된 상태이고 바닥 상태는 최소 위치 에너지가 없거나 아주 얕은 경우이다. KrF 에 대한 위치에 너지곡선(p o t en ti al energy curve) 은 그림 2 .1 9 에 나타나 있다. 엑시플 렉스는 통상 불활성 기체와 할로겐 이온들 사이의 화학반응에 의해 서 생성된댜 KrF 에서는 엑시플렉스가 아래와 같은 연쇄반응에 의해 서 생성된다. Kr+e- - Kr+ +2e- F2+e- - F-+ F F-+ Kr+ + He 키 KrF* +He 마지막 반옹에서 헬륨은 단지 완충제로만 작용한다. 이렇게 생성된 KrF 는 전자적으로 들뜬 상태 이 고 수명 이 짧다(약 2.5 ns). 따라서 그 림에 나타난 대로 빛을 방출하면서 낮은 에너지로 소멸된다. 또한 이 것은 불안정한 상태이므로 원자들간의 힘은 항상 서로 밀어낸다. 따 라서 곧 원래 엑시플렉스를 이루던 단원자로 분리되게 된다. 엑시폴

E

비탄성충돌 연속형광 뿔

一 K K

J

파장가변 영역 R

그림 2.1 9 엑시머 분자의 위치 에너지 도식.

렉스 레이저는 레이저 발진을 유발시키는 연쇄반응의 마지막에 아래 와 같은 반응에 의해서 출발 기체인 Kr 과 硏 기체를 생성한다. KrF* ---- ► Kr+F+h 四 F+F---- ► F2 따라서 앞에 예를 든 화학 레이저와는 달리 활성 매질을 직접 소모 하지 않고 계속적으로 사용할 수 있다. 이러한 성질로 인하여 밀폐된 공진기도 가능한데 KrF 인 경우 2% 크립톤, 0.2% 플루오르와 97.8 % 헬륨으로 전체 압력이 2.5-3.0 기압에서 사용할 수 있다.

엑시플렉스 레이저는 펄스 폭이 10-20ns 이며 펄스 반복률이 1-500 Hz 정도 범위에서 강한 펄스를 생성한다 . 펄스당 에너지는 1 J로 순 간 최고 출력 이 MW 범위이고 평균 출력 은 20-100W 정도이댜 발진 파장은 사용하는 기체에 따라 다른데, Xe .i 157nm, ArF 193nm, KrCI 222 run, KrF 248 run, XeCI 308 nm, XeF 351 과 353 run 이 다. 이 레이저는 자외선 영역의 출력을 내므로 광화학반응을 연구하는 데 매우 유용한 도구가 되고 있다. 2.3 .5 색소 레이저 색소 레이저는 활성 매질이 색소 용액이며, 용액의 가시광선 영역 에서의 강한 흡수와 형광을 이용하여 레이저가 발진된다. 색소의 종 류는 200 가지 이상이 사용된다. 가장 흔히 알려진 색소는 로다민 6G (Rhodami ne 6G) 인데 이것의 구조가 그림 2.20 에 나타나 있다. 또한 이 색소의 넓은 홉수와 형광 스펙트럼이 그림 2.21 에 나타나 있다. 일반적으로 색소에 의한 가시광선의 홉수는 바닥 상태 So 로부터 들

c2H5 H\ / N N!\ ,`,,.- CH2 Hs

CH3 CH3 c~o OC2Hs

그림 220 로다민 6G 양이온의 공명 구조 중 한 예.

二sV1o :른 〉이완 a(10- A1 6 cm2 )

:: 』 대: \u〉 만 겅 12..50 1 I \ / \ 형광 1.0 0. 5 460 500 540 580 620 660 nm (a) (b)

그림 2.2 1 (a) 색소 분 자에 서 의 들 뜸 사이 쿨 및 에너지 준 위 개 략도, (b) 에탄 올 에 녹 인 로 다 민 6G 색 소의 홉 수 및 형 광 스텍트랍

뜬 상태 S1 간의 전이 를 나타내며 형광은 들 뜬 상태 S1 으로부터 바닥 상태 So 로 빛을 내 면 서 소멸하는 것을 나타낸다 . 이 형광이 레이저 발 진을 유발하는데 홉 수 파장보다 장파장이 나온다. 레이저 발진 효 율을 저해하는 요소는 Tl 상태의 생성인데, 이 T1 상태에 분자 밀도 가 커지는 것을 방지하기 위해서 DMSO 를 첨 가하기도 한다. 그림 2.22 에 여러 가지 색소 레이저의 발 광 특 성이 나와 있다. 색소 레이 저에서는 색소 분자의 광화학적, 열적 안정도가 매우 중요하기 때문 예 일반적으로 색소 용액을 순환시킨다. 통상 쓰이는 색소 레이저 구 조가 그림 2.23 과 그림 2.24 에 나타나 있다. 들뜸에 사용되는 광원으 로는 플래쉬 램프나 다른 레이저 를 이용하며, 농도는 대개 10-2-10 기 moVL 이댜 색소 레이저의 가장 큰 특성은 형광이 넓은 파장 영역에 서 나오므로 단색 광을 만들기 위 하여 격 자판(grati n g) , 에 탈론 (e t alon) 또는 복굴절 필터 (b ir e fring en t filter ) 둥을 사용하는데, 이러한 광학 계 를 조절하여 여러 파장에서도 작동시킬 수 있어 파장을 연속적으 로 바꿀 수 있는 레이저가 가능하다 . 예를 들어 로다민 6G 를 사용하

(a) COU~RIN

COU~IARCIN O U46~~R IN 4I8C0 OUMARIN RHOD59A0M INE R/ HOD61A0RM HINOED AMINE STl :?&^ \ G40 OXAZINE NILE BLUE ;8 69O0 XA Z.IN E / ~DOTC 而 l HITC 如 _

K

Hp k 吉

400 500 600 700 BOO 900 1000

(b)

RHODAMI' .D CM LOS 698 RHODAM IN- 590 LOS 751 560 COUMARI 540 汀COUMARIN ―Hx知 COU4M80A RIN ’ 可O STILBEN 吉8 400 500 600 700 800 900 1000 파장 (nm)

그림 2.2 2 (a) 펄스 래이저, (b) 연속 발진 래이저에 의해 발진되는 여러 가지 레 이저 색소의 분광 이 득 분포 곡선.

、 ` AD+AA ``` 원동형 렌즈 R N:~:『 \

그립 2.23 횡 들 뜸 및 빔 확대경으로 이루어진 Hansch 형 색소 레이저 . 파장은 회 절격자 룰 돌림으로써 변화시킬 수 있으며 다른 파장을 갖는 AD+6A 빛은 공진기 밖으로 회 절된다.

ko

레이저 Ap 레 01 저 AD Ap 三R( Ao)=(1►-T A)D% R(Ap ) =100% 레 01 저 ,^p A D

였을 경우 570-610nm 파장 변환이 가능하며, 색소에 따라 대체로 400-lOOOmn 까지 레이저를 발진시킬 수 있다. 색소 레이저의 효율 은 대개 5% 정도이며 출력은 들뜸 광원의 출력에 비례한다. 연속 출력 색소 레이저는 들뜸 광원으로 아르곤이나 크립톤 이온 레이저 를 사용하며 펄스로 작동할 경우에는 질소, 엑시머, 구리 증기, 펄스 형 고체 레이저 등을 사용한다 . 연속 출력 색소 레이저인 경우 선폭 은 대체로 10-20GHz( 약 0.5cm 내이나 적절한 광학계를 사용하면 GHz 미만으로 줄일 수 있댜 선폭을 더욱 더 줄이기 위해서는 공진 기의 구성을 링모양의 원형으로 만든 링색소 레이저 (r ing dy e laser) 를 사용하는데, 이 경우 선폭을 4Xl0-6cm-1 정도까지 줄일 수 있다. 레이저 분광학을 연구하는 데 널리 사용되고 있는 색소 레이저의 단 점은 기체 레이저에 비해서 출력이 불안정하다는 점이다. 2.4 레이저의 파장 변환 기술 레이저를 여러 방면에서 유용하게 사용하기 위하여 레이저의 발진 파장을 변환하는 기술이 다양하게 개발되고 있다. 앞 절에서 언급한 색소 레이저는 들뜸 레이저의 파장을 색소 레이저의 파장으로 바꾸 는 예라 할 수 있다. 색소 레이저의 파장은 들뜸 레이저의 파장보다 항상 길다. 하지만 여러 가지 비선형 광학 특성을 이용하면 레이저의 파장을 다양하게 변환시킬 수 있다. 진동수의 2 배, 3 배 또는 진동수 의 합이나 차에 해당하는 진동수를 갖도록 할 수도 있다. 바선형 광 학에 관해서는 제 4 장에 논의되어 있다. 라만 산란을 이용한 파장 변환 역시 자주 쓰이는 방법인데 수소, 중수소, 메탄 둥의 기체를 이 용한 진동 라만 효과로 파장을 변환할 수 있다. 라만 산란에 관해서 는 제 9 장에 논의되어 있다.

2.5 펄스 생성 기술 레이저는 작동 원리상 펄스로 동작하는 것도 있지만 보다 높은 순 간 최고 출력을 얻기 위해서나 매우 빠르게 일어나는 현상을 연구하 기 위해서 극초단 펄스 를 얻기 위한 펄스 생성 기술이 매우 중요하 댜 이러한 기술 중 대표직인 몇 가지 가술을 살펴보기로 한댜 2.5.l Q-전환 셔터 (shu tt er) 나 다른 광학 소자 를 레이저 공진기 안에 넣어 레이저 발진 손실을 유발할 수 있다 . 이 경우 충분한 입자수 역전이 활성 매 질 내에서 이루어지도록 한 다음 셔터를 순간적으로 열어주면 공진기 내에 축적된 에너지가 매우 강하게 방출된다. Q - 전환(Q -sw itc h ing) 이라고 이름이 붙여진 이유는 처음에는 레이저의 질(q ual ity), 즉 Q- 요소(Q - fact or) 를 감소시키다가 나중에는 갑자기 증가시킨다는 이유 에서 붙여졌다. Q-요소는 아래의 식으로 정의된다. Q= 2rc X 공공진진기기 사내에이 클축당적 된에 너에지너 지손 실 실제적으로 요구되는 입자수 역전을 생성하기 위해 들뜸속도는 자발 방출에 의한 소멸속도보다 커야 하며, Q-전환 시간은 단일 펄스를 생성하기 위해서 충분히 짧아야 한다. 레이저의 Q-전환을 이루는 데 흔히 세 가지 방법 중 하나가 사용 된다. 첫번째는 공진기 내의 한쪽 끝 거울을 높은 속도로 회전하는 거울로 바꾸는 것이다. 이 경우 레이저는 회전 거울이 출력 거울과 나란하게 되는 순간만 발진한다. 펄스 반복속도는 거울의 회전에 의 해서 결정된다. 두번째 방법은 기계적 방법보다는 전광 효과를 이용

하는 포켈 (Pockels) 셀을 공진기 내에 설치 하 는 것이다. 이 경우 적 당한 전압차가 이 셀 의 양단에 걸리는데, 평면 편광된 빛이 셀을 통 과하여 다시 반사되어 나와 전체적으로 90 ° 의 편광 방향 변화가 생 긴다 따라서 공진기 내에 편광기와 포캘 셀을 설치하면 전압이 가해 졌을 때 효과적인 셔터 역할을 한다. 가해진 전압이 없어지면 공진기 는 효과적으로 Q 一 전환 빛을 방 출한다 그림 2.25 와 2 . 26 에 Q 一전환 및 포캘 셀 에 의한 Q -전환 에 대해서 잘 나타나 있다. 세번째 방법은 포 화흡수제 색소 를 쓰는 것 이다 . 이 화합물은 레이 저 발진 파장에서 강 한 홉수 를 나타내며 새기에 따라 홉수속도 가 떨 어진다. 어떤 경우에 는 바 닥 상태의 분자가 없어짐에 따라서 백색화 (bleach i n g) 현상도 생긴다. 따라서 포화흡수체 를 넣은 셀 이 레이저 공진기 내에 설치되 면 들뜸 의 초기 단계에서는 강한 홉수 가 효과적으로 일어나지만 입 자수 역전이 증가하면 방 출 되는 빛의 세기가 커져 색소의 백색화 현 상이 나타나 강한 필스 의 빛이 생성된다 . 일반적으로 Q 一 전환은 10-9 - 10-8 n s 정도의 펄스를 생성한다. 입자 수 역전이 다시 생성되 는 데 걸리는 시간에 의해서 결 정되는 펄스의 반복 률은 들뜸속도 에 의 존 하며 펄스 간의 시간은 수초 이내이다. 2.5.2 공진기 덤평 이 이름이 의미하듯이 공진기 덤핑 (ca vtiy dum pi n g)은 공진기 내 에 모여진 에너지 를 빠르게 없애주는 것이다. 이 를 위해서는 공진기 내에 광학 소자 를 설치하여 이 소자가 스위치 역할을 하여 순간적으 로 빛을 공진기 밖으로 빼내는 것이다. 일반적으로 는 그립 2.27 에 나 타난 것처럼 음향-광학 (acous t o - o pti c) 변조기가 주로 사용되는데, 이 소자는 라디오파 전기장에 의해서 유도되며 레이저 빔을 회절시키는 음향파 를 발생한다. 라디오파의 반복 률 은 MHz 정도이며 주로 모드-

--문--턱 - -치- - ---- ----- - -- -- 스- - - -- N-( I-):. ;-- -------- -구 ---II •I . r. \.I .\ PL

Pp , PL, b.N \ , ,--\ -\ i / \ \ , 1. ,, 1 Pp

그립 2.2 5 Q-전환 레이저에 대한 레이저 출력 PL(t) , 반전 밀도 6 N(t) , 공진문턱 치 및 펌프 출력 P p(t)의 그립

lo 曰 广2 二T· Alo 출u력 Nd:YAG P1 셀 R`=1

Pockels m T T=To(1-cos28) 8u u (a) (b)

그림 2.26 레이저 공진기 내에 설치된 포켈 셀에 의한 Q-전환 레이저. (a) 두 개 의 서로 수직인 편광기 내에 설치된 포켈 셀 및 투과도 곡선 T(()), (b) 실험 구성 장치.

들어오는 반사된

레이저 빌 레이저 빔 M3 (J)。 (J)『 -~ Eo cos (w 따 )1 \ ~EBorag c go s회 w절t ',>\압 .전` 소 x'. - \ \V s\ \ iA s 아르곤레이저 E 。 cos (J)t \ \ 프리즘 `. , · 七 출력빔

그립 2.2 7 펄스형 음파에 의한 연속 출 력 아르곤 레이저의 공진기 덤핑, 오른쪽에 파장 As 를 갖는 초음파에서 광학파의 Brag g 반사 를 나타내고 있다.

잠금과 겸비하여 많이 쓰인다. 2.5.3 모드一잠금 모드-잠금 (mode-lock ing) 방법은 공진기 덤핑이나 Q-전환보다 훨 씬 더 짧은 펄스를 생성하는 기술이다. 레이저 발진은 mA/2=L (m 은 정수, L 은 공진기의 광학 길이)인 정상파 조건을 만족하여야 한다. 따라서 발진 주파수는 11 = mc /2 L 이 며 , 각각은 6. v =c/2 L 만큼 떨 어지게 된다. 이것은 일반적으로 108 Hz 정도이며 주파수를 골라내 는 소자가 없는 고체나 색소 레이저인 경우에는 종모드(l on git ud inal mode) 가 공진기 내에 103-1 어 정도 존재한다. 그러나 이 경우 모드들 사이에 어떠한 상관관계도 없으며 그림 2.28 에 나타난 것과 같이 공 진기 내 빛의 세기에 요동이 있게 된다. 모드-잠금 기술은 위상 관계

(a)

+ :r 1(11) 前 R ~~o 0 - n· 주 71 주 71 (b) /(t) 前

K

J 시간

그립 2.28 모드 잠금이 안 된 레이저의 신호. (a) 주파수 영역에서 모드 들 의 세기 i( u )는 가우스 평균의 Rayl e ig h 분포 를 가지며 위상 둘 은 임의로 분포 되어 있다. (b) 시간 영역에서 신호의 세기는 열적 잡음의 특 성 을 갖는다.

를 생 성 하여 종모드의 위 상(p hase) 을 같도록 하여 모드들간의 간섭 현상이 일어나도록 한다. 일반적으로 빛의 간섭이 공간적으로 일어 나는데 반해 모드-잠금에서는 간섭이 시간적으로 일어난다. 따라서 생성되는 펄스 폭은 ^t =41rL/(2N+lk' 이다. 그립 2.29 에 모드-잠금 된 펄스 레이저에 대한 그림이 나타나 있다. 모드-잠금은 Q-전환과 마찬가지로 능동적 방법과 수동적 방법이 있다. 능동적 방법은 주파수 c'/2L 로 유도되는 전자광학 또는 광음향

_n

i(기 K前홍 0 J +;r 주파수 (a) 주파수 /(I) 陣

印 一 '’― ― At p 시간 (b)

그립 2.2 9 이상적으 로 모드-잠금된 래이저의 신호 구조. (a) 분광 분 포는 가우스 그래프 형태 를 띠고 있는데 반해 분광 위상은 전부 ' ' 0 이다. (b) 시간 영역에서의 신호는 변환이 제한된 가우스 펄스 형태이다.

스위치 를 레이저 공진기 내에 설치하는 것이다. Q-전환과 마찬가지 로 이러한 소자는 셔터 역할을 하며 모드-잠금이 일어난다. 수동적 방법은 공진기 내에 포화흡수체를 설치함으로써 이루어진다 . 이 경 우 공진기 내에서 발진이 이루어질 때 출력이 매우 다르게 되나 몇 번 공진기 내를 왕복함에 따라 약한 펄스는 점점 소멸되며 강한 펄 스만이 살아남아 증폭되어서 마침내 강한 펄스만이 방출된다. 그림 2.30 에 이에 관한 모사 실험 (s i mula ti on) 결과가 도시되어 있다.

(a) x 10_ 1 0 (d) X 10- 5

1.5 3.0 ―c 20 1 llfY c 1.0 l、 、산wf=h 0 :、il!: t0.5 J

。2 2 23 24 25 26 산{ 。 240 241 242 243 시간 (ns) 시간 (ns)

(b) X 10- 9 (e) X 10- 4

3.0 _clhY1 005 Y}4 2910 t=f 可 H

、R 。 。 85 86 87 88 88.6 251 252 253 254 시간 (ns) 시간 (ns)

(c) X 10- 8 (f) x 10- 1

1005 8.0 `=RW可4_ 、clkRw可 ”邸 2.0 。 115 116 117 118 280 281 282 283 284 시간 (ns) 시간 (ns)

그립 2.3 0 잡음에서 모드-잠금된 펄스 생성의 컵퓨터 시뮬레이션 (a- f). (a-c) 까지 는 선형 중폭 및 선형 색소 흡수 영역이며, (d-e) 는 색소 셀에서의 비 선형 흡 수 를 나타내며 (f)는 색소가 완전히 백색화된 비선형 중폭을 나 타낸다.

2.5.4 모드 - 잠금 레이저에 의한 시간일치 펌평 시간일치 (s yn chronous) 들 뜸의 경우 T=2d J c 만큼 시간적으로 떨 어져 있는 짧은 펄스 를 제공하는 모드-잠금된 레이저 Ll 이 또 다른 레이저 L2 를 들 뜨게 한다. 이 경우 레이저 L2 는 반복 주파수 f=l/T 로 펄스 형태로 작동한다. 한 예로 그림 2.31 에 음향광학 변조기를 이용한 모드 - 잠금 아르곤 이온 레이저로 들뜨는 연속 출력 색소 레 이저에 대하여 나타나 있다. 색소 레이저 펄스들에서 최적의 발진은 그 펄스 들 이 활성 매질에 최대의 밀도 반전 e::.N (t) 시간에 도달할 경우에 얻어진다. 만일 색소 레이저의 광학적 공진기 길이와 펌프 레 이저의 공진기 길이가 일치하면 이 두 레이저에서 펄스들의 왕복운 동 시간은 서로 같고, 이 두 펄스들의 증폭 색소 제트(j e t)에서의 도 착 시간이 같다. 포화 효과로 인하여 색소 레이저 펄스들은 들뜸 펄 스보다 훨씬 짧으며 1 p s 보다 짧은 펄스 폭을 얻을 수 있다. 실제 실 험의 경우 정확한 시간일치를 이루기 위하여 색소 레이저의 한쪽 끝 거울은 공진기의 길이를 잘 조절하기 위하여 마이크로미터로 조절하 도록 한다. 실현 가능한 펄스 폭 e::. T 는 광학적 공진기 길이가 일치 되는 정확도가 l µm 정도만 불일치해도 펄스 폭이 0.5 에서 1 PS 으로 늘어난다. 많은 경우에 펄스 반복속도 f=c/ 2d( 공진기의 길이, d=l m 인 경우 f =150MHz) 로 매우 높다. 이러한 경우 시간일치 들뜸과 공’ 진기 덤핑을 조합해서 사용하면 펄스의 반복속도를 줄일 수 있다. 이 경우 모드-잠금 펄스가 공진기 덤퍼를 지날 때 초음파 펄스가 정확 히 가해지도록 하기 위하여 초음파 펄스와 모드 - 잠금 펄스의 시간일 치가 이루어져야 한다. 이러한 시간일치된 시스템에 대한 것이 그림 2.32 에 나타나 있다. 초음파의 주파수 Vs= Q /2 7f가 모드-잠금 진동 수의 정수배 11s= q ·c/2d 가 되도록 조절되었다. 모드-잠금 광학적 펄스를 검출하는 빠른 광다이오드는 라디오파 발생기의 시작 신호를

득화비포 이--- --,---,-t--.•---- _---- ‘ 0

-l o 자/:M4 f)Sn?sd;)d=Sf M1 3Ms

소전

변 / M3

소 색

L(P),t 스

색. 에서 저포 분도 이적레간 이한러 )tp(시의 및P )쪽펄스왼(뜸 저들 이 레저소색레이 출력 르곤아 뜸 연속들 (N) t 및. :::1 기동간전반 시도.132 림

(a)

183cm 아르곤이온레이저 석영A프OM리 즘 수평이동스테M이A 지에 있는거울 M1 M3 M2 복굴절필터 153 cm

(b)

P 냐 sor 레이저펄스 7J( 1 +TJ) 초음파변조 2 요 1· • | 시간

그립 2.32 시간동기 전자 레이저로 구성된 공진기 덤핑 시간동기 둘 뜸 색소 레이 저. (a) 실험 구성도(p .d . : 펄스 지연, f.d . : 주파수 분할기, ph .o. : 위상 잠금 공진기, a : 증폭기), (b) 공진기 덤핑 팔스와 조합된 최대 출 력운 내는 모드一잠금된 레이저 펄스의 시간동기 그립.

제공한다. 이것은 모드-잠금 펄스의 공진기 덤퍼 도착 시간이 최대 출력 효율을 갖도록 초음파의 위상을 조절하는 역할을 한다. 초음파 펄스가 존재하는 동안 단 하나의 모드 잠금 펄스가 나온다 . 출력 반 복 주파수 ve=(c /2 d) 는 초음파 펄스의 반복속도를 조절함으로써 lHz 에서 4MHz 사이에서 얻어진댜 이외에도 레이저 빛의 강한 전기장 에 의한 비선형 효과를 이용한 Kerr- 렌즈 모드 잠김 현상이나 광학 적 펄스 압축 기술 등을 이용하여 극초단 펄스를 생성한다 . 이러한 극초단 펄스들은 불확정성의 원리( 6.E • 6.t > n )에 의한 스펙트럼 선폭 확대 효과도 보여준다. 현재 최고 4.5 fs 펄스가 생성되어 사용 되고 있다. 참고문헌 [1] D. L. Andrews, L(J ,Se rs in Chemi stry (Sp ri n ge r, Berlin , 1990 ) [2] W. Demt ro der, L(J ,Se r Sp ec tr o scopy , 2nd ed. (Sp ri n g e r, Berlin, 1996) [3] J. F. Rabek, Expe r i me nta l Meth o ds in Photo c hemi stry and Photo p h y s ics, Pa rt I & II (W iley , New York, 1982) [4] 0. Svelto, Pr inc iple s of L{J ,Se rs (Plenum, New York, 1982) [5] W. Koechner, Soli d- Sta t e L(J ,Se r Eng ine eri ng , 4th ed. (Sp ri n ger , New York, 1996) [6] W. M. Yen and M. D. Levenson, L(J ,Se rs, Sp ec tr o scopy and New Ide{J,S (Sp ringe r, New York, 1987)

제 3 장 레이저 분광기기 송남웅 3.1 서론 분광학을 이용한 연구 방법은 자연계에 존재하는 물질의 변화를 이해하는 데 필요한 다양하고 핵심적인 정보를 제공한다. 그 중에서 도 특히 레이저 를 이용한 분광학 연구는 강한 광원을 이용함으로써 물질과 빛의 상호작용에 의해 유발되는 매우 약한 분광 신호를 관찰 하는 것을 가능하게 한다 . 다양한 파장과 광범위한 시간대에서 나타 나는 광신호를 효율적으로 관찰하기 위해서는 적절한 레이저 광원의 선택뿐만 아니라 부수적으로 사용되는 광학 부품, 광검출기 및 주변 측정기기 동의 특성을 잘 이해하여 각 실험에 따른 최적의 조합을 구성하는 것이 필요하다 . 이 장에서는 분광 실험에 사용되는 다양한 광학 부품, 광검출기 및 주변 측정기기들의 특성에 대해 간략하게 소 개하고자 한다.

3.2 광학 부품 분광 실험에서 사용되 는 광학 부 품은 용 도 에 따라 매우 다양한 종 류 로 발전되어 왔다 . 여기서 는 이 들 광학 부품과 이 들을 구 성하는 재 질 에 대해 알아보기로 한다 . 3.2 .l 광학 재질 렌즈나 필터 또는 거울 등 을 제작하기 위해 사용되 는 광 학 재질 들 은 사용되는 파장 범위에 따라 투과도가 달라지기 때문에 실험의 성 격에 따라 다른 재질을 사용한 광학 부품 실험 장치 를 구성해야 한 댜 따라서 널리 사용되는 광학 재질의 물리적 성질과 파장에 따른 투과도 및 굴절률을 미리 알아두면 매우 편리하다 . ® 용융 석영 유리 용융 석영(fu sed s ili ca) 은 결정 구조가 없는 유리 형태의 석영 고체 를 말하며 순도에 따라 약간의 차이 는 있지 만 대 개 180-2100 nm 영 역에서 90% 이상의 광투과성을 나타내므로 대부분의 자외선 영역 분광 실험에서 사용되는 렌즈, 필터, 프리즘, 시료 용기 (cuve tt e) 및 유리창 (w in dow) 재질로 사용된다. 이때 10% 정도의 손실은 흡수에 의한 영향보다는 표면에서의 반사에 의한 손실이므로 적절한 무반사 코팅을 함으로써 투과도를 99% 이상으로 높일 수도 있다. 열팽창 계 수가 작고 경도가 높아 홈집이 잘 나지 않으며 열적 충격에 강하다 는 점이 있다. 이 밖에도 광학 부품 제조회사에 따라 몇 가지 다른 재질로 제작되는 자외선 투과 유리들이 있으며, 재질의 이름은 회사 에 따라 다르므로 선택시에 파장에 따른 투과율을 참조하는 것이 좋다 .

@ 수프라실 1 수프라실 1(supr a sil 1) 은 불 순 물 이 적고 모든 방향에 대해 균일성 이 좋은 용융 석영 유리이다 . 또한 금 속 함유율이 8p pm 이하이기 때 문에 자외선 투 과 도 가 높 고( 그림 3.1) , 형광이 거의 없다. 수프라실은 형광이 적은 자외선 유리창이나 렌즈 또 는 프리즘의 제작에 사용되 며, 여러 축 에 대해 광학적 균 일성이 요구되는 경우에도 사용된다. © 자외선 용융 석영 유리 자외 선 용융 석 영 (UV gra de fus ed sili ca) 유리 는 S i CLs 의 불꽃 가 수분해(fl ame h y drol y s i s) 로부터 얻어지는 무결정성의 S i아 형태이며, 강한 레이저 광원에 의해 쉽게 손상되지 않는 재질로 자외선용 유리 창, 렌즈, 프리즘 및 거울에 사용된다(그림 3.2 ). ® 인프라실 301 인프라실 30H inf r a sil 301) 은 OH 함유율이 적은 용융 석영 유리로서 결정 형태의 석영을 전기로에서 용융시켜 제작하며, OH 홉수가 최소화 되어야 하는 근적외선 영역 실험의 광학 부품 재질로 사용된다仁 l 림 3.2 ). CV BK7 유리 BK7 은 보로실리케이트 크라운 유리 (boros ili ca t e crown g lass) 의 약자로 360-2100run 영역에서 90% 이상의 투과성을 보이고 재질의 가격이 비교적 저렴하기 때문에 가시광선과 근적의선 영역의 실험에 널리 사용되는 광학 유리이다(그림 3.3). 대개의 경우 가시광선 영역 에서 사용되는 렌즈, 프리즘, 필터 및 유리창 재질로 활용된다. ®사파이어 광학 재질로서의 사파이어 (sa pp h ir e) 는 Al,IJ 3 단결정을 의미하며,

~뽕w숯i:- 1 84060000 f 一 I叫. 1 :40:00 I

/ .20 20 。 。 0.1 5 0.2 0 0.2 5 0.3 0 0.5 1.5 2.5 3.5 0.15 0.2 0 0.2 5 0.3 0 1.0 2.0 3.0 4.0 파장 (µm) 파장 (µm) 석영 단결정 -10 mm 두께 수프라실 1 - 10 mm 두께

그림 3.1 석영 단결정과 수프라실 l 의 파장에 따 른 투 과도 곡 선.

1 0080604020 10080604020

談()( 크 ? )(談\^ \’ r뽕W 뽕叫

O I I I I I I - | I O 0.15 0.20 0.25 0.30 1.0 2.0 3.0 4.0 0.20 0.2 5 0.30 0.3 5 1.0 2.0 3.0 4.0 파장 (µm) 파장 (µm) 적외선 용융 석영 인프라실 301 -10 mm 두께

그립 3.2 자외 선 용융 석 영 과 인프라실 301 의 파장에 따 른 투 과도 곡선.

':100。0 .30 0.35 0.40 0.4 5 1.0 2.0 3.0 4.0 '1[ 0.2I0 / 0.30 0.4 0 0 .50 3.0 4.0 5`.0 \6 .0

七 파장 (µm) 파장 (µm) BK7 一 10mm 두께 사파이어 _1 mm 두께

그림 3.3 BK7 유리와 사파이 어 의 파장에 따른 투과도 곡선.

100 I1: 0:0

-^0끓U싱Y ~卜」 486000 I/ 叫 40 I / 20 20 。 。 0.1 0 0.1 5 0.2 0 0.2 5 0.3 0 4.0 6.0 8.0 0.10 0.1 5 0.2 0 0.2 5 0.30 6.0 8.0 10.0 Mg F2 파—장5 (mµ mm) 두께 CaF2파 -장5 ( µmmm) 두께

그림 3.4 CaF 2 와 M g F 2 의 파장에 따 른 투 과 도 곡선 .

200-SOOOnm 의 광범위한 영역에서 80% 이상의 투과성을 가진다(그림 3.3) . 대부분의 손실은 사파이어의 굴절률이 크기 때문에 생기는 표 면 반사로, Mg F 2 등 을 이용한 무반사 코팅을 하면 가시광선 영역에 서 98% 이상의 투과도 를 유지할 수 있다. 사파이어는 다이아몬드나 보론나이트라이드(B N) 둥의 극히 적은 고경도의 재질로만 홈집을 낼 수 있을 정도로 경도가 높고, 열전도성과 용매에 대한 안정도가 매우 높아 얇은 유리창 재질로 많이 사용된다. 또한 사파이어는 육각 단결정 형태이기 때문에 편광에 따라 굴절률이 달라지는 복굴절성을 나타낸댜 ® 적외선용 광학 재질들 앞서 설명한 광학 재질들은 6 µm 이상의 파장을 가지는 빛을 투 과하지 못하므로 적외선 영역에서 렌즈 둥의 광학 부품을 이용하여 실험을 하기 위해서는 용융염 형태의 광학 재질들이 사용된다. 그 중 가장 널리 사용되는 것으로는 CaFz(0 .12 -9 µm), NaCH0.2-16 µm), KBr(0.2-25 µm), ZnSe(0 .5 -22 µm), Mg F z(0 .13 -7 µm) 등이 있으며, 원적외선 영역에서는 용융 석영 (80-400 µm) 역시 사용될 수 있다(그 립 3.4 ). 대부분이 용융염 형태라서 습기에 약하다는 단점을 가지고

있으나 M g F 놉 비교적 습기에 강한 편이댜 3.2 .2 광학 코팅 렌즈나 프리즘 또는 필터 등은 그 용도에 따라 적절한 코팅을 함 으로써 더욱 좋은 효율이나 기능을 갖는다. 여기서는 광학 부품을 제 작하는 데 있어 사용되는 광학 코팅의 종류와 기능 및 원리에 대해 설명하기로 한다. ® 무반사 코팅 보통 AR 코팅으로 표현되는 무반사 코팅 (an ti re fl e cti on coa ti n g)은 용도에 따라 선택된 파장에서의 반사율을 최소화하는 단일 파장 코 팅과 비교적 광범위한 파장대의 빛에 대한 반사율을 줄이는 광폭 코 팅으로 나눌 수 있댜 반사율은 임의의 경계면에서의 경계를 이루는 두 상의 굴절률과 반사각의 함수로 주어지는데, 무반사 코팅은 경계 면에 새로운 물질을 코팅함으로써 굴절률의 차이룰 점진적으로 변화 하도록 하여 반사율을 최소화하거나 새로이 형성되는 두 계면에서의 반사광이 상쇄간섭을 일으키도록 하여 반사광을 소거하는 두 가지 원리 중 하나를 이용한다(그림 3.5). 주어진 실험 장치에 대해 광학 부품의 무반사 코팅을 하기 위해서는 대상광의 파장, 광학 부품의 재 질, 입사각, 편광 및 광원의 세기를 규정하여야 한다. ®유전 코팅 유전 코팅 (d i ele ct ric coa ting)은 특정한 두께의 유전체를 광학 유리 창 재질에 진공증착법으로 중착시킴으로써 형성되며, 계면을 이루는 두 충의 굴절률과 두께를 조절하여 반사광이 보강간섭이 일어나도록 코팅한 것이므로 흡수가 전혀 없이 높은 반사율이 필요한 레이저용

R,lo (1 -R ,)R2 I n1

nn1 2~ V/ /겁 鶴 무공반기 人頃 n따2 n 3 \\\ \ \二 유리 n4 n2 > n3 > n, (a) (b}

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~ --- -- ~ __ -- - -- -- … -- 1--- n--= -1- .- 5 - - - --- - --- --- - - - -- - - 4 卜 무코팅 3 2 卜\ .\ . 넛 다중코팅 \ · ,.`✓. ...이.....중 ·-코팅 ·-·-.- ·-.-.- --· _ .. ,. •' 400 500 600 700 A(nm) (c)

그립 3.5 (a) 단충 및 (b) 복충 무반사 코팅과 (c) 파장에 따 른 반 사 율 의 예.

광학 거울을 만드는 데 사용된다(그림 3.6). 또한 유전 코팅은 규정된 파장에서는 전반사가 일어나고 나머지 파장에서는 투과가 일어나는 이색 거울(di chro i c m i rror) 에도 사용된다. 유전 코팅을 거쳐 제작되어 진 거울은 펄스 레이저와 같은 강한 광원의 빛에 대해 손상이 없이 전반사를 하는 거울을 얻을 수 있기 때문에 고광도의 레이저 광원 반사용으로 주로 이용되며 , 비선형 결정을 이용한 레이저 펄스의 이

R %

R=0.9 9 5 T 8 공기 曺 n=1 76543유)))))JJJJJ리44444 nnnnn따6,345 <<>== = n nnnn1 111,2 0.8 ’’’’’’:', _ ----T·-- -----. . ’,,’’ ’’’ ’’’ ’’, ‘’ ’, ’’ ’ 500 600 700 A (a) (b)

그림 3.6 (a) 고반사 율 유전 코팅과 (b) 파 장에 따 론 반 사 및 투과율 의 예 .

차 조화파 생성시에 (t}와 2 (t}의 진동수 를 갖는 레이저 펄스들을 분 리하기 위한 이색 거울의 제작에도 응용된다 . 유전 코팅 거울은 S 편광과 P 편광의 빛에 대해 반사하는 파장 범 위가 다르며, 대개 S 편광의 빛이 P 편광의 빛보다 넓은 파장대에서 반사된다. 여기서 S 편광이란 거울면에 대한 입사광과 반사광의 벡 터로 이루어진 평면에 대해 수직인 평면 편광 성분을 가지는 빛을 의미한다. 참고로 유전 코팅된 면은 거울의 옆 면에 화살표로 표기하거나 옆 면에 광학 거울의 특성에 관한 정보를 기재할 때 글씨의 윗부분에 해당하는 면이 코팅면이 되도록 하여 코팅면을 구분할 수 있도록 하 는 것이 관례이다. ®간섭 코팅 간섭 코팅(int e rfe rence coa ting)을 통해 제작된 간섭 필터는 규정된

\錢

/ \ 분리충 유전충 유리가충 / 흡수필터 (a) (b)

그립 3.7 (a) 두 개의 단 일 은 (A g) 충 과 (b) 여러 겹의 유전충으로 만 든 Fabry - Pero t형의 간섭 필 터 .

파장에 대해 최대 90% 의 높은 투과율과 최소 l A 의 좁은 스펙트럼 선폭을 갖는 선택적 투과 필터로 사용된다. 여러 겹의 적절한 코팅을 통해 만들어지는 간섭 필터는 규정된 파장에 대해 최소 l. 5run 의 스 펙트럼 선폭에 해당하는 빛만을 투과시키고 나머지 파장의 빛은 상 쇄간섭 효과룰 이용하여 0.0 1 % 이하의 투과율을 나타낼 정도로 소멸 된다(그림 3.7). 이것은 홉수 를 이용한 띠투과 필터 (band pa ss filt er) 에 비해 월등한 파장 투과 선택성을 가져 단색화 장치 (monochroma t or) 를 이용하지 않고도 높은 광도를 유지하면서 파장 선택성을 갖는 매 우 효과적인 광학 부품이지만, 전 파장 범위에서 필터를 준비하기에 는 비용이 매우 많이 든다는 단점이 있다. 3.2 .3 광학 부품 ® 단색화 장치 단색화 장치 (monochroma t or) 는 광범위한 파장 영역에서 발생하는 광신호 중에서 특정 파장의 빛만을 선택하기 위해 설계된 장치로 좁 은 입사 슬릿을 통해 들어간 빛이 프리즘이나 격자판(grating) 둥에

입체 영상 가공 격자판 1800 g/m m 기계 가공 격자판 1200 g/m m,

100 E+ 500 nm BLAZE 80 !零!:- 60 O!fU 여 40 20 300 400 500 600 700 800 900 1000 300 400 500 600 700 800 900 1000 파장 (nm) 파장 (nm)

그림 3.8 홀로그래픽 격자판과 일반 격자판의 파장과 편광에 따 른 투과율의 변화

고기 서'-' ·

의해 파장에 따라 분산되어지고 이 를 다시 좁은 출사 슬릿을 통해 걸러냄으로써 매우 좁은 스펙트럼 선폭을 갖는 단일 파장의 빛을 얻 어내는 장치이다. 단색화 장치의 파장분해능은 내부에 사용된 오목 거울의 초점거리가 길어질수록 높아지며, 입사 슬릿과 출사 슬릿의 폭에 의해서도 좌우된다 . 입사 슬릿이나 출사 슬릿의 폭을 좁게 하면 파장분해능을 높일 수 있지만, 출사 광량을 줄이는 효과를 가져오므 로 무한히 줄일 수는 없다. 단색화 장치 내의 초점거리가 길어지면 높은 파장분해능으로 강한 출사광을 얻을 수 있으므로 실험의 종류 에 따라 단색화 장치의 초점거리를 선택한다. 그러나 초점거리와 단 색화 장치의 가격은 거의 이차 비례관계에 있으므로 실험에 따라 파 장분해능을 희생하여야 하는 일이 빈번히 발생한다. 단색화 장치 내의 격자판은 입사광의 편광과 파장에 따라 투과율 이 달라지므로 파장에 따라 일정한 광도를 나타내는 광원에 대해서 도 변화된 양상의 광도를 출력으로 나타낸다(그림 3.8). 따라서 형광 스펙트럼을 측정할 때처럼 파장에 따른 광도를 측정하고자 할 때에 는 이에 대한 정보를 미리 알고서 실험치를 보정해야 정확한 측정값 을 얻을 수 있다.

참고로 격자판을 이용한 단색화 장치는 간섭 효과 를 통해 파장분 해능을 가지므로 이를 이용하여 임의의 광원의 스펙트럼을 분석하는 과정에서 2 tt에 해당하는 위치에 A 에 해당하는 빛의 이차 보강간섭 상이 맺히게 되므로 적절한 필터를 사용하여 고주파 영역을 제거하 지 않으면 잘못된 실험 결과를 얻을 수 있다 . 한 예로 355nm 의 레이 저 광원에 의한 산란 신호는 단색화 장치의 355 nm 뿐만 아니라 710 nm 와 1065nm 에 해당하 는 위치에서도 나타난댜 ®광학 필터 광학 필터는 크게 절단 (cu t -o ff, edg e ) 필터와 띠투과 (band- p ass) 필터 및 중립 홉수 (neu t ral densit y : ND) 필터로 분류할 수 있다 . 절 단 필터는 규정된 파장 이상 또는 이하의 영역의 빛을 흡수하여 제 거하는 필터로 레이저 광원에 의한 산란 신호 등을 제거하는 데 주 로 사용된다(그림 3.9). 띠(밴드)투과 필터는 홉수형과 간섭형으로 분류되며, 홉수형은 저 렴한 비용으로 비교적 낮은 투과율을 가지면서 몇 개의 투과 영역을 선택할 수 있는 반면 간섭형은 가격은 고가이지만 높은 투과율과 다 양한 파장 선택성 및 좁은 투과 스펙트럼 선폭을 확보할 수 있다는 장점이 있다. 표 3 .1에서는 전형적인 홉수 및 간섭 밴드투과 필터의 성질을 비교하였다.

표 3.1 흡수형과 간섭형 밴드무과 필터의 전형적 성질 비교

홉·수형 필터 간섭형 필터 최대 투과도 30% 90% 두과 밴드폭 50run lA 가격 10 달러 250 달러

100

90 80 70 605040 (

y

)

t

叫 30 20 10 。 300 400 500 600 700 800 900 파장 (nm)

그림 3.9 시판중인 절단 필터의 파장에 따른 투과도의 예.

중립 홉수 필터는 재질에 따라 자의선용과 가시광선 영역용으로 나뉘며 대개 400-750nm 의 파장 범위에서 일정한 흡수율을 갖기 때 문에 광신호의 세기가 너무 클 경우 파장에 따른 광도의 굴곡이 없 이 광신호를 줄이는 용도로 사용된다. 필터의 유리질 형성에 있어서 가시광선용 중립 홉수 필터(그림 3 .1 0) 와 같이 BK7 유리 둥의 광학 재질을 사용하는 경우에는 350nm 이하의 파장 영역에서는 홉수도가 급격히 증가하여 자외선 영역에서 사용이 불가능하기 때문에 자외선 영역에서의 홉수체로 사용하기 위해서는 용융 석영 유리 등의 재질 을 사용하며, 이 경우에도 중립 흡수체의 자외선 영역에서의 홉수도 가 가시광선 영역에 비해 커서 실험에 사용할 때에는 파장에 따른

·· 0짧잡衍평젊갤08909005 0 00000IIIIII’0IIIII II II I 0 I'r 0/r/- / I0/IIr 0~ 0~-8` 111 一-·-- --- --—` `` k --. NN,NNNNNNGGGGGGG G 1 S114311192

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그림 3.1 0 가시광선용 중립 흡수 필터의 파장에 따른 투과도의 예.

홉수도 를 미리 점검하고 사용하는 것이 필요하다. ® 비선형 광학 부품 레이저 분광학 실험에 있어 비선형 광학 부품은 빼놓을 수 없는 소재이댜 비선형 광학 부품은 광자와 물질 간의 상호작용으로 인해 광자의 편광이 생성 또는 소멸되는 현상을 이용한 것으로, 가장 잘 알려져 있는 것으로는 입사광((l))에 대해 이차 (2 (l)), 삼차 (3 (l)) 또는 사차 (4 (l)) 조화파를 생성시키기 위한 용도로 사용되는 무기 단결정 (KDP, BBO, LiN b03 등)이 있댜 이러한 무기 단결정들은 고차 조화 파의 생성을 이용한 광자의 고에너지화뿐만 아니라 하나의 광자를 분할하여 두 개의 저에너지 광자를 생성시키는 비선형 광학 현상을 이용하여 적의선 펄스를 만드는 데에도 사용된다 . 이러한 현상을 이 용하여 극초단 펄스 레이저(f s~ns 펄스)의 파장을 자유롭게 변환하 는 기술이 이미 확립되어 OPO(op tica l pa rametr ic oscil lat o r ), OPG (op tica l pa rametr ic ge nerato r ) 둥의 이름으로 시판되고 있다. 석영 단결정 등의 광학 소재들은 광자가 물질을 통과할 때 편광의

성질이 달라지는 비선형성을 가지고 있어서 평면 편광을 회전 편광 으로 전환하거나( A/4 파장판 (wave pla te ) ), 편광면을 90° 회전하는 데 ( A/2 파장판) 사용한다. 최근에는 유기 고분자나 반도체 물질을 이용 한 비선형 광학 소재의 개발도 매우 활발하게 진행되고 있다. ® 그밖의 광학 부품들 @ 렌즈 광학 렌즈는 빛을 모아주거나 분산시키기 위한 광학 기구로 레이 저 광원처럼 단파장의 빛에 대해서는 적절한 설계 를 통해 광원의 단 면적을 줄인 후 평행광으로 만드는 것 (coll i ma ti on) 이 가능하다. 주어 진 광원에 대한 렌즈의 초점거리는 렌즈 표면의 굴곡률과 렌즈 재질 의 굴절률의 함수로 주어지며, 모든 광학 재질들이 파장에 따라 다른 굴절률울 나타내기 때문에 렌즈의 초점거리 역시 파장에 따라 다른 값을 갖는다. 이러한 현상을 포함하여 여러 가지 요인에 의해 상이 찌그러지는 현상을 수차 (aberra ti on) 라 하며, 이를 제거하기 위해 적 절한 코팅이나 렌즈의 재질 선택 및 렌즈의 조합 등의 작업이 필요 하다. 백색광의 광원을 한 점에 집속하고자 할 때에는 파장에 따른 초점거리의 차이(색수차)를 제거하기 위해 두 개의 다른 재질로 만든 렌즈를 붙여서 사용하는 색수차 제거 (achroma ti c) 렌즈를 사용한다. ©프리즘 프리즘은 광학 재질의 파장에 따른 굴절률의 변화로 인해 빛이 분 산되는 성질을 이용하는 광학 부품이며, 그 용도에 따라 다양한 모양 으로 설계 • 제작된다. 직각 이등변삼각형 형태의 프리즘은 빗변이 아닌 면에 수직으로 입사된 빛의 진행 경로를 파장에 관계없이 90° 만 큼 바꾸어주며, 고광도 레이저 펄스의 비교적 높은 광도까지 손상을

입지 않고 거울로 사용할 수 있으므로 고가의 유전 코팅 거울 대신 사용하기도 한다. 다만 무반사 코팅을 하지 않을 경우에는 표면에서 의 반사로 인한 약 10% 정도의 광도 손실을 감수해야 한다. @ 편광기 편광기는 투 과된 빛이 한 평면으로만 편광되도록 만드는 광학 기 구로 원치 않 는 편광 성분을 홉 수하거나 반사시키는 두 가지 원리룰 이용하여 제작한다. 대개의 편광기는 투과된 빛의 편광면을 알 수 있 도 록 표시하므로 이 를 근 거로 투과된 빛의 편광을 판단할 수 있다. 편광면의 위치는 형광의 비등방성(fl uorescence anis o tr o p y) 실험에 있 어 매우 중요하므로 잘 알아두어야 한다 . 3.3 광검출기 사람의 눈은 가시광선 영역 (400-750nm) 에서 빛을 감지하는 매우 뛰 어 난 광검 출기 이 다. 망막에 있는 광감지 물질 인 로돕신 (Rhodo p s in) 이 가시광선 영역의 광자를 홉수하여 구조의 변화를 일으키고, 이 변 화가 파장에 따른 빛의 존재 및 세기를 뇌에 전달한다. 이와 같이 광 검출기로 사용되기 위해서는 주어진 파장의 광자와 상호작용을 하여 물리적 변화를 일으켜야 한다. 우리가 사용하는 광검출기는 감응하 는 광자의 파장 범위와 그에 따른 물리적 변화의 차이에 따라 다양 한 종류로 분류되며, 그 중에서 각 실험의 방법에 따른 최적의 검출 기를 선택하기 위해서는 검출기의 파장에 따른 감응도, 일정 파장에 서의 절대 감응도, 검출기에 따른 신호 대 잡음비, 검출 신호와 광도 가 일차 비례하는 광도의 범위 및 검출기의 옹답 시간 둥에 대한 정 보가 필요하댜 때로는 유효한 광검출기의 가격 역시 중요한 고려 대

상이 된댜 이러한 광검출기 들 의 성질을 알아보기 전에 우선 광검출 기의 성능과 용도 를 가늠하게 하는 용어 들 에 대해 간단하게 알아보 기로 하자. 3.3.l 광검출기 관련 용어 ®감응도 감응도 (sens iti v ity)란 검출기에 입사된 광량의 크기 (P) 에 대한 출 력 신호 (Vs) 의 비 를 말한다 감응도의 단위 는 광검출기의 출력 신호 가 광전 검출기(p ho t ovol t a ic dete c to r ) 둥과 같이 전압인 경우에는 v /W로 표시 하고, 광전증배관(p ho t omul tipli er t ube) 과 같이 전류인 경우에는 A/W로 표시한다. 단색광에 대한 감응도는 분광 상대 감응 도 (s p e ct ral relati ve res p onse) 라 부르는데, 열검 춥 기 들 은 파장에 따른 감응도의 변화가 거의 없는 반면, 광전 검출기는 파장에 따른 상대적 감응도가 다르게 나타난다. ®선형성 입사광의 세기에 대해 출력 신호가 일차 비례하는 특성을 말하며, 모든 실험은 광검출기가 선형성(li near ity)을 보여주는 광도 범위 내 에서 수행되어야 한다. 광검출기와 측정기기를 연결하는 전자회로의 구성이 적절하지 못할 때에는 선형성을 나타내는 광량의 범위가 좁 아지므로 주의하여야 한다. 광검출기에 직렬로 연결되는 외부 저항 이 과도하게 큰 경우 선형 범위가 좁아진다. ®감응시간 광검출기가 입사광의 시간적 변화에 따른 출력의 변화속도를 나타 내는 척 도가 감옹 시 간 (res po nse ti me) 이 다. 순간적 으로 일 정 세 기 의

입력이 가해질 때 출력 신호값은 입력이 없을 때의 값으로부터 변화 하여 입력 세기에 상옹하 는 출력 값을 나타낸 후 다시 감소한다. 이때 출력값 이 전체 변화량의 10 % 에서 90% 로 증가하는 데 걸리는 시간 을 상승 시간 (r i se ti me) 이라 하고, 90% 에서 10% 로 감소하는 데 걸 리는 시간 을 하강 시간(fa ll ti me) 이라 한다. 출력 신호가 지수함수적 으로 상승 또는 하강할 경우에 신호가 전체 변화량의 1/ e 만큼 변하 는 데 걸 리 는 시 간을 시 간 상수(ti me cons t an t)라고 정 의 한다. 광검 출 기의 감옹 시간은 광신호의 시간분해능을 결정하는 요소이므로 시간 분해 분광 실험 에서 는 직절한 감웅 시간을 갖는 광검 출 기 를 선택하 는 것이 중요하다. ® 양자효율 양자 효율(q uan t um e ffici enc y)은 외 부 양자 효율 (ex t ernal qu antu m e ffi c i enc y)과 내부 양자 효율(i n t ernal qu antu m e ffi c i enc y)로 나누어 정의한다. 외부 양자 효율은 검출기에 입사된 광자수 중 출력에 기여 하는 자유 전하수의 비이고, 내부 양자 효율은 표면에서의 반사 둥을 고려하여 실제로 흡수된 광자수 중 출력에 기여하는 자유 전하수의 비 를 말한다. ® 감응 파장 범위 광검출기의 감응도가 측정 가능한 수치 이상을 유지하는 광자의 파장 범 위 를 감응 파장 범 위 (sensit ive sp e ct ra l rang e ) 라 하며 감응 시간과 함께 광검출기를 선택하는 데 있어 가장 중요한 요소이다. 3.3.2 광검출기의 종류 광검출기는 크게 열검출기(t hermal de t e ct or) 와 광전 검출기(p ho t o

elect ric de t e ct or) 로 분류되 며 , 그 밖에 자국 카메 라 (s t reak camera) 나 MCP(mi cro channel pla te ) 검 출기 등이 있다 ® 열검출기 열검출기는 광흡수체에 의한 광자의 홉수가 온도 상승을 일으키 고, 온도 변화를 직접 또는 간접적인 방법으로 전기적 신호로 전환시 켜 빛의 세기를 측정하는 원리로 작동된다. 열검출기는 전기적 신호 전환 방식에 따라 열전대(t hemocou p le), 열전대더미(t hermo pi le), 서미 스터(t herm i s t or), 볼로미터 (bolome t er), 열편극 검 출 기(pyr oele ctri c dete c t or ), 골레이 셀 (Gola y cell ) 등으로 분류된다 . 열전대는 서로 다른 금속 또는 금속 합금을 접 촉 연결할 때 접합 부에서 온도차에 비례하는 기전력이 발생하는 현상을 이용한 광검출 기이며 감도를 증가시키기 위해 여러 개의 열전대 를 직렬 연결한 열 전대더미가 흔히 사용되고 있다. 볼로미터와 서미스터는 감지기가 좁은 띠 모양으로 되어 있는 것이 보통인데, 볼로미터는 금속의 온도 가 올라감에 따라 저항이 증가하는 현상을 이용하여 빛의 세기를 검 출하는 반면, 서미스터는 반도체로 되어 있어서 온도가 올라감에 따 라 저 항이 감소하는 현상을 이 용한다(그림 3.1 1).

R

(a) (b) (c)

그립 3.11 (a) 열전대 및 (b) 서미스터 를 이용한 볼로미터와 (c) 브릿지 회로.

저느-=-기

열 편극재질 u R (a) ◊ LED 단속 71 :·.:. ? >···. :. : : .:. 흡수기체 축전기 (b) (c)

그립 3.1 2 (a) 열편극 검 출 기와 (b) 반사형 및 (c) 홉수형 골레이 셀.

열편극 검 출 기 (pyroe lect ric de t e ct or) 는 콘덴서 (condenser) 에 넣은 유전체 물질의 온도에 따른 편극 정도가 달라지면 표면에 나타나는 전하량이 달라지는 현상을 이용한다. 유전체로는 TGS(tr igly c in e sulfa te) , SBN(str o nti um bariu m nio b ate ) , PVF(po lyv iny l fluo ri de ), PZT(pi ez oelect ic tra nsducer) 세라믹 둥이 사용되며, 충전기의 특성 상 입사광의 변화량에 대한 출력이 발생되므로 펄스가 아닌 지속파 광신호를 검출하기 위해서는 단속기 (cho ppe r) 를 이용하여 입사광을 변조시 켜 야 광도를 측정 할 수 있다(그림 3.1 2 ). 골레이 셀의 두 가지 유형 중 하나는 홉수체에 빛이 홉수되면 접 촉된 작은 용기에 채워진 기체의 가열 팽창에 따라 거울면이 움직이

고 거울에서 반사된 빛의 방향이 바뀌는 정도 를 측정하여 광신호를 검 출 하는 방식이고, 다른 하나는 기체의 팽창 정도에 따라 얇은 금속 판이 움직이도록 하여 박막과 고정된 다 른 판 사이의 전기 용량이 달라지는 것을 이용하는 콘덴서 마이크 방식이다( 그림 3.1 2 ). 열검출기의 장점은 감응 파장 범위가 넓고 파장에 따 른 상대적 감 응도의 차이가 거의 없어서 자외선으로부터 원적외선 영역에 이르는 넓은 파장대의 광신호 를 파장에 관계없이 측 정 할 수 있다 는 점이다. 그러나 대개의 경우 감응 시간이 느 리고 감응도가 비교 적 낮다는 단 점을 가지고 있어서 일반적으로 느 리게 변화하 는 신호 또는 일정한 신호 를 측정하는 데 이용된다. ® 광전증배관 광전증배관은 광방출 음극, 집속 전극, 전자증폭기 및 전자를 모으 는 양극으로 구성되어 있다. 광자가 광음 극 에 홉수되면 광음극은 광 전자 를 방출하고, 이 광전자 들 이 집속 전극의 전압에 의해 가속되고 전자증폭기판에 충 돌 하여 하나의 전자가 다량의 이차 전자 를 생성시 켜 전자의 수가 증가한다. 증폭된 전자들은 양극에 의해 모아져서 출 릭 전류 신호로 나타나며, 이러한 이차 방 출 증폭 원리 를 사용하여 광전증배관은 자외선, 가시광선, 근적외선 영역의 빛을 검출하는 센 서 중에 가장 민감한 소자로 사용되고 있다. 또한 광전증배관은 낮은 잡음도와 빠른 감응속도를 가져 분광 실험에서 가장 널리 사용되는 광검출기이다. 광전증배관은 광방출 음극과 전자증폭기의 배열 구조에 따라 크게 정면형 (head-on) 과 측면형 (s i de-on) 구조로 분류되는데, 정면형 구조 는 좋은 균일성과 낮은 잡음도를 가지므로 매우 적은 광량의 빛을 관찰하는 데 유리한 반면, 측면형 구조의 광전중배관은 가격이 비교 적 저 렴 하여 많이 사용된다(그립 3.1 3 , 3.1 4 ). 파장 감응도는 광음극과

집속전극

l 입사광- 二\\\ 입력창 광음극 전 X 頂폭 71 양국 지지대 (다이노드)

그림 3.1 3 정민형 광전증 배관의 구조 및 작동 원리.

{a) 측연형 (b) 정면형

그립 3.1 4 (a) 측 면형과 (b) 정면형 광전증배관의 외형.

불투명광음극 ....... ··•• • ··. 반투과광음극

... ·· : ·. 입璃 떠 호군: 芹\ ... ::. ... . ..... . : 입사광 ----- --- ..·. ...-.- . •·· ·.- . .. .-.. - .· • · ·. - .....- . - .· • · ·... - ... .- -.•· ·· . ... ..-. -..· · .- , ·• .... . · •• . ... .. . •• 광전자 광전 X f (a) 반사방식 (b) 투과방식

그립 3.1 5 광음극의 유형에 따 른 광 중 폭기의 모양 . (a) 반사 형 광음극, (b) 투과형 광음극.

유리창의 재질에 따라 좌우되는데 광음극의 재질로는 1200nm 의 적 외선까지 동작하는 Ag - 0-Cs, 높은 감응도와 낮은 잡음도를 갖는 알 칼리 금속 (Sb-Rb-Cs, Sb-K- C s, Na-K- S b), 파장에 따른 감응도의 변화가 거의 없이 자외선에서 근적외선 영역을 포괄하는 다중 알칼 리 금속 (Na-K-Sb-Cs) 등과 적 외 선 영 역 에 서 만 작동하는 Cs-Te 또 는 Cs-I 둥이 있다(그림 3.1 5 ). 유리창 재질로는 BK7 유리, 자외선 투 과 유리, 용융 석영 유리 및 Mg F 2 유리 등이 있으며, 재질에 따라 자외선과 적외선 영역에서의 투과성이 달라 실험의 종류에 따라 알 맞게 선택해야 한다. 광전증배관의 감옹 시간은 광음극에서의 전자 방출에 따른 상승 시간과 이차 전자의 발생을 통한 증폭을 위해 걸리는 전자 이동 시 간으로 나누어 생각할 수 있는데 일반적으로 광전증배관에 걸어주는 고전압의 세기가 커질수록 빠른 감옹 시간과 높은 중폭률을 갖는다. 따라서 시간분해능을 높이기 위하여 입사 광량을 줄이고 높은 전압 을 걸어준 상태에서 실험을 하는 것이 유리하지만 잡음광 역시 함께 중폭됨에 유의해야 한다. 광전중배관에 걸어주는 전압이 과다할 경 우에는 지나친 전류 생성으로 인한 기기의 손상 이외에도 광량에 따

른 신호의 선형성이 주어지지 않는다는 단점이 있으므로 광량에 따 론 신호의 선형성을 점검해야 한다. 광전증배관과 유사한 형태를 가 진 광검출기로 광전관이 있으며, 이것은 광전증배관에서 전자증폭기 를 제거한 형태를 가진다. ® 광다이오드 광다이오드(p ho t od i ode) 는 접합부가 빛에 노출될 때 반도체의 P-N 접합부에서 전압이 유발되는 광전압 효과를 이용한 검출기이다. 광 다이오드는 작동 방식 및 구조에 따라 PN 광다이오드, PIN 광다이 오드, 쇼트키 (scho tt k y)형 광다이오드, 애벌란시 (avalanche) 형 광다이 오드 등으로 분류된다. 광다이오드의 특징으로는 뛰어난 선형성, 낮 은 잡음, 넓은 파장 갑응도, 기계적 안정성, 가볍고 단단합, 긴 수명 동이 있으며, 광중폭도가 그리 크지 않기 때문에 비교적 큰 광신호를 측정하는 데 널리 사용된다. PIN 형 광다이오드는 P 층과 N 충 사이에 1 층을 끼워 넣어 응답 시 간을 짧게 한 것으로서 대개 5_20V 사이의 역바이어스를 걸어주어 상승 시간이 100 피코초 정도가 되도록 하여 나노초 또는 피코초의 시간분해능을 가지는 실험에서의 작동 개시(t r igg er) 신호를 공급하 는 데 사용된다. 애벌란시형 광다이오드에서는 P 一 N 접합부에 역바 이어스를 걸면 디플리션 (de p le ti on) 충에 높은 전기장이 형성되고, 이 것에 의해 광자 운반체들이 가속되면 이들과 원자들의 충돌로 인해 이차 운반체가 형성되는데, 이러한 과정이 눈사태처럼 반복 진행되 어 106 정도의 높은 광폭률을 나타내는 현상을 이용한 다이오드이다. 역바이어스로 걸어주는 전압이 충분히 클 경우 1012Hz 의 높은 감옹 속도를 가지므로 애벌란시 광다이오드는 작은 광신호를 높은 시간분 해능으로 처리하는 데 사용 가능하며, 광전중배관에 비해 적의선 영 역에서의 감응도가 뛰어나므로 적의선 영역에서 빠르게 변화하는 광

신호를 감지하는 데 유리하다. 어 레이 (arra y)형 광다이오드는 매우 작은 광다이오드(폭 15 µm, 간 격 10 µm) 를 어레이 형태로 하나의 칩에 형성시켜 다양한 파장의 광 신호 를 동시에 처리할 수 있는 기능을 가지게 한 것으로 512, 1024 또는 2048 개의 다이오드 어레이가 하나의 칩으로 구성되어 있는 것 이 보통이다 . 어레이형 광다이오드는 단색화 장치의 출 사구 부분에 슬릿을 제거한 후 설치합으로써 라만 분광법, 섬광 분해법 등의 분광 실험 수행시에 여러 파장의 빛의 세기 를 동시에 독립적으로 관찰하 는 데 사용되기도 한다. ® 적외선 검출기 적외선 검 출 기는 수 µm- 수십 µm 의 파장 을 가지 는 빛을 검출하 는 데 사용하는 광검 출 기 를 의미하며, 대개의 적외선 검출기는 그 작 동 원리상 수백 ns 에서 수백 µs 에 이 르는 느린 감옹속도를 갖는다. 감옹 파장 범위는 검출기의 재질이나 작동 원리에 따라 달라지며 상 온에서 사용할 경우, 물체에서 발산하는 적외선에 의해 잡음이 커지 므로 액체질소 또는 액체헬륨 둥을 이용하여 냉각시킨 상태에서 사 용하는 것이 일반적이다. 적외선 검출기의 재질에 따른 감응 파장 범 위가 표 3.2 에 정리되어 있다. ® 그밖의 광검출기 분광학 실험의 발달과 함께 광검출기의 종류 역시 다원화되면서 높은 시간분해능을 가지고 큰 광증폭률을 나타내는 새로운 광검출기 들이 개발되어 왔다. 여기서는 최근 들어 발달한 몇 가지 광검출기들 에 대해 간략하게 설명하기로 한다.

표 3.2 칙의선 검 출 기의 재 질 에 따 른 목 성

검출 기의 유 형 검출 기명 감 웅 파장 범 위 (µm) 사용 온 도 (K) 열감지형 TG골S ,레 이Li T 센 a 03 전 파검장출 영가역 능에 서 300 PbS 1-3 300 광전도형 PbSe 1-4.5 300 내 부형 Hg GC ed Te 0.62--1 12.9 30707 과O 저L. 혀0 InAs 1-3 77 양 자형 GIen:S Ab u 21--150.5 7777 Ge:H g 2-14 4.2 외 부형 GGee:: CZ n u 22--4300 44..22 Si :G a 1-1 7 4.2 Si :A s 1-23 4.2

@ 자국카메라 자국 카메 라 (s t reak camera) 는 하나의 레 이 저 펄 스에 의 해 유발되 는 시간에 따 른 광신호 변화 를 높은 시간분해능으로 관찰할 수 있는 장치이다. 광음극에 조사된 빛이 광전자 를 유발시키면 이것이 전향 판 (de fl e ct or p la t e) 에 걸린 전압에 의해 일정 방향으로 편향되며, 전 향판에 걸린 전압의 세기가 시간에 따라 변화하도 록 조절되어 시간 차에 따른 광신호가 공간상에서의 변화로 나타난다 . 이러한 방식에 의해 200 一 850nm 영역의 광신호에 대해 최대 400 fs의 시간분해능을 가지고 시간에 따른 광신호의 변화 를 관찰할 수 있다(그립 3.1 6 ). <9 MCP 광검출기 MCP(m icr ochannel pla te ) 검출기는 광전증배관의 일종으로 분류되

가속전압 U 瞬 二 광음극 I __ !iI _ _________ __ _ _ _ _ __ ____ 'I. _ _ __ -__ _ _-_ _ ___ _- -- - -- - - -- - -- - -I` 슬 릿 二―_J -- 광음극 집속전극 편 향 판 발광막 광성유 양극

그립 3.1 6 자국 카메라의 구조 및 작 동 원 리 .

기도 하지만 광전중배관과는 다른 방식으로 전자증폭기가 작동하여 감응속도가 광전증배관에 비해 빠르다는 장점을 가지고 있다. MCP 검출기는 작은 구멍이 있는 판에 광자가 충돌하면 광전자가 발생하 고 이들이 구멍의 내벽과의 충돌을 통해 이차 전자가 발생하여 광신 호를 증폭한다. 작동 원리 측면에서는 광전증배관과 같지만 전자중 폭기에 해당되는 부분이 매우 좁은 부분에 한정되어 있으면서 광전중 배관과 같은 정도의 증폭률을 나타내므로 광신호의 시간에 따른 변화 가 매우 빠른 경우나 정교한 시간분해능을 요구하는 실험에 사용된다. 3.4 신호 측정기기 광검출기에서 빛에 의해 유발된 신호는 검출기의 종류에 따라 전 류 또는 전압으로 주어진다. 이러한 신호의 세기를 좋은 신호 대 잡 음비롤 유지하면서 측정하기 위해서는 광신호의 반복률이나 펄스 폭 둥에 따라 적절한 전자기기를 선택하여 사용하는 것이 필요하다. 여

기서는 위상 감지 신호증폭기(l ock- i n amp li fi er) , 박스카 신호평균기 (boxcar sig na l averag e r) , 광계수기(p ho t on counte r ), 오실로스코프 (oscil los cop e ) 등의 측정 원리와 특성에 대해 간략하게 소개하기로 한다. 3.4 .l 위상 감지 신호증폭기 위상 감지 신호증폭기는 광신호를 규칙직으로 변조하면서 변조 주 파수와 동조되는 신호만을 측정함으로써 잡음 신호를 원천적으로 제 거하는 방식으로 작동된다. 신호의 변조는 대개 연속 출력 레이저 광 원을 단속기를 사용하여 kHz 영역의 주파수를 가지는 사각파로 만 들어주는 것이 보통이며 반복률이 매우 높은 펄스 레이저를 사용할 경우에도 같은 방식으로 신호를 변조한다. 변조 주파수는 적용되는 실험에 따라 5-20kHz 사이에서 결정되어진다. 위상 감지 신호중폭 기에는 단속기와 연결된 조작 신호와 시료로부터 나오는 광신호가 입력되어 단속기의 조작 신호와 같은 주파수를 가지는 입력 신호만 을 선택적으로 증폭함으로써 대부분의 잡음 신호를 제거하는 효과를 거둔다. 이러한 원리를 사용함으로써 잡음 신호가 실제 광신호의 1000 배 정도되는 신호까지도 측정이 가능하므로 매우 약한 레이저 유발 형 광 신호의 분석 에 도 사용될 수 있다(그림 3.1 7 ).

지속파레이저 단속 71

위상감지신호증폭기 기록계로의춤력

그림 3.17 위상 감지 신호중폭기의 응용 예.

3.4 .2 박스카 신호평균기 박스카 신호평균기는 적분기(i n t e g ra t or) 라고도 불리며, 규칙적인 펄스에 의한 규칙적인 광신호를 일정 시간의 게이트 를 열어 관찰함 으로써 적분하여 평균할 수 있도록 한 기기이다. 여기서 게이트는 기 기가 작동하는 시간에 해당되며, 일정한 게이트 안에 들 어오는 신호 가 적분되어 하나의 신호값으로 나타난다. 박스카 신호평균기에는 펄스의 시간적 위치 를 알려주기 위한 작동 개시 펄스 와 광신호의 전 기적 전환 신호가 입력되며, 트리거 신호가 감지된 이후에 박스카 신 호평균기가 신호 를 감지하기 위해 게이트 를 여 는 순간까지의 지연 시간을 미리 고정함으로써 언제나 일정한 위치에서의 신호를 읽어들 이는 법과 지연 시간을 지속적으로 변화시켜 측정합으로써 입력 레 이저 펄스에 의해 생성된 광신호의 시간에 따른 변화 를 관찰하는 두 가지 방법으로 작동된다(그림 3.1 8 ). 박스카 신호평균기는 한 번의 펄스 신호에서 하나의 게이트에 의 한 신호만을 관찰하기 때문에 광신호 펄스의 모양을 관찰하고자 할 때에는 여러 개의 펄스 신호가 필요하다는 단점이 있다. 따라서 한 번의 펄스 광신호로부터 그 모양을 진단하고자 할 때에는 박스카 신 호평균기와 오실로스코프의 장점을 살려 작동되는 기기인 순간 기록 기(t rans i en t recorder) 를 사용하며, 이는 일정 시간대를 100 개 정도의 게이토로 나누어 한 펄스로부터 유발되는 광신호를 동시에 처리함으 로써 시간에 따른 신호의 세기를 측정할 수 있도록 한 장비이다. 3.4 .3 광계수기 광계수기는 일반적으로 광전중배관에서 광신호에 의해 발생하는 중폭된 전자 펄스의 수를 측정함으로써 광신호의 세기를 측정할 수

:- t:, t一’ : :-t::.t- - :’ :_— 61 - --:’’’

(a) - ’:' :’' ◄ - 一; : _ t''' c .''t t’’: ,.’’t 6.t (b)

그립 3.18 박스카 신호평 균 기의 응용 예. (a) 반 복 적인 신호의 평균화 , (b) 반복적 인 신호의 시간에 따 른 파형 분 석 .

있도록 설계된 장치로, 단위시간 안에 존재하는 펄스의 수를 집계하 는 지속형과 박스카 신호평균기처럼 일정 시간의 게이트 안에 존재 하는 펄스의 수 를 집계하는 게이트형이 있다. 광계수기의 입력 신호 는 대개 판별기 (d i scr i m i na t or) 를 거쳐서 들어가며, 판별기에서는 미 리 정해놓은 크기 이상의 진폭을 갖는 입력 신호만을 잡음이 아닌 실제 신호로 판단하여 광자가 존재하는 것으로 인식하며, 단위시간 당 입력되는 전자 펄스의 수로부터 광신호의 세기 를 판단한다. 광계수기는 주로 연속 출력 레이저 광원으로부터 유발되는 형광 또는 산란 신호의 세기를 측정하는 데 편리하며, 높은 반복 률 을 가지 는 펄스 레이저에 의해 유발되는 광자수 를 측정할 때에도 사용된다. 위상 감지 신호중폭기나 박스카 신호평균기는 광검 출 기의 신호 를 아

날로그 신호의 입력을 받아들이기 때문에 대부분의 광검출기와 접맥시 켜 사용할 수 있는 반면, 광계수기는 광원이 펄스가 아닌 경우에는 펄스 형태의 출력이 나오지 않는 광검출기의 출력을 측정할 수 없으며, 파장 이나 시간의 변화에 따른 광신호의 세기 변화를 실제 광자수를· 세어 통 계적으로 처리함으로써 알아내기 때문에 1kHz 이상의 펄스 레이저나 연속 출력 레이저 광원을 이용한 실험에 효율적으로 사용·할 수 있다. 참고로 광계수기는 실제 광자수를 측정하는 방식을 채택하기 때문에 측정 감도에 있어서는 위상 감지 신호증폭기나 박스카 신호평균기보다 뛰어나다는 장점을 가지고 있는 반면, 반복률이 낮은 펄스 레이저에 의 해 발생하든 짧은 시간대(수 ns) 의 광신호를 관찰하는 데에는 매우 비 효율적이다. 요즘에는 시간대에 따른 광신호의 세기를 쉽게 측정하기 위해 빈 (b i n) 이라는 구획을 나누고 각각의 빈에서 측정되는 광자수를 누적 계산하여 형광 소멸에 따른 광신호의 분포를 측정할 수 있도록 설계된 다중 채널 스케일러 (mul tic hannel scaler) 도 사용되고 있다. 3.4 .4 오실루 A 구立 오실로스코프는 규칙적인 전기적 파형을 관찰하는 데 매우 유용한 장비로, 대부분의 광검출기의 최종 출력이 전기 신호이므로 광검출 기로부터 나오는 신호의 시간에 따른 변화를 관찰하는 데 사용된다. 작동시에는 작동 개시 신호와 입력 신호의 두 가지 신호가 필요하며, 미리 선택된 시간대역을 500-1000 개 정도의 시간 간격으로 나누고 입력 신호를 체집 (samp l ing)함으로써 전기적 입력 신호의 파형을 검 출한다. 오실로스코프는 시간에 따른 입력 신호의 변화를 관찰하는 것이므로 펄스 레이저에 의해 유발되는 물리적, 화학적 변화에 따른 광신호의 시간적 변화를 측정하는 데 사용된다. 입력 신호가 충분히 크고 반복적일 경우에는 입력 신호 자신이 작동

개시 신호가 되기도 하지만 대개의 경우에는 매우 작은 광신호를 측정 하므로 PIN 형 광다이오드 등을 이용하여 작동 개시 신호를 마련하고 여러 번의 펄스에 의해 유발된 광검출기로부터의 신호롤 매번 읽어들 여 평균함으로써 잡음을 제거한 상태에서 광신호의 변호H t 관찰한다. 레이저 분광 실험에서는 대개 디지털화 기억 (d igiti z i n g sto r ag e ) 오실로스코프가 사용되는데, 실험 수행시 조건에 맞는 오실로스코프 를 선택하기 위해서는 선폭과 샘플링속도 및 가능한 신호평균 횟수 를 고려해야 하며, 선폭은 신호처리시의 시간분해능을 결정하고, 샘 플링속도는 신호처리의 속도를 결정한다. 선폭, 샘플링속도 및 가능 한 신호평균 횟수는 오실로스코프의 가격과 비례관계에 있으므로 장 비의 선택시에 적절한 절충이 필요하다. 참고문헌 (1) W. Demt ro der, Laser Sp ec tr o scopy , 2nd ed. (Be rlin Heid e l- berg, New York, Sp r in g e r-Verlag, 1996) (2) D. L. Andrews, Lasers in Chemis try, 2nd ed. (Be rlin Heid e l- berg, New York, Sp ring e r-Verlag, 1990 ) (3) J. R. Meye r-Arendt, Intr o ductio n to Op tics, 3rd ed. (Prenti ce -Hall Inc., New Jer sey, 1989) (4) J. R. Lakowi cz , Pr inc iple s of Fluorescence Sp ec tr o scopy (Pie - num Press, New York, 1983) (5) 김동호, 김용완, 정영붕, 이인원, 『광겁출기』 (표준과학연구원, 1988) (6) CVI cata l og for Op tics and Coati ngs (1994) (7) Melles Gr iot cata l og Users Guid e 5 (19 90) [8] Hamamats u cata l og for Photo m ultip lier s (19 95)

제 4 장 비선형 광학 현상 이민영 4.1 서론 비선형 광학 현상이란 빛과 매 질 이 상호작용할 때, 매질의 분극이 빛의 세기에 따라 비선형적으로 변하는 것을 말한다. 이러한 비선형 성은 물 질마다 다르며, 비선형성의 정도 를 나타내는 것이 물질의 비 선형 계수이다. 정도의 차이는 있지만 모든 물질은 비선형 물질이다. 비선형성은 2 차, 3 차 비선형성으로 구분하는데(그 이상의 고차 선형성 도 존 재하나 양이 작기 때문에 보통 무시함), 물질에 따라 2 차 비선형성 이 나타나지 않는 물질도 있기 때문이다. 다만 3 차 비선형성은 모든 물질에 나타난다. 물리학에서는 비선형 광학이 하나의 큰 연구 영역을 형성하고 있 으나 화학에서는 비선형 광학이라는 용어가 다소 생소하게 들 릴 수 있다. 그러나 최근에 물리 분야에서 개발된 레이저가 화학 분야에서 광범위하게 퍼져 있듯이 비선형 광학 분야도 화학에서 그 중요성이 크게 인식되고 있다. 비선형 광학 분야에서 화학의 중요성은 자명하 다. 왜냐하면 비선형 광학물질 없이 비선형 광학이라는 것이 존재하

지 않기 때문이다. 새로운 물질을 합성하고 제조하는 것은 화학자의 고유 몫이므로, 비선형 광학 분야에서 비선형 광학 물 질을 개발하고 이의 특 성을 탐구하는 데 화학자 들 이 해야 할 일 들 은 무궁무진하댜 비선형 광학물질은 새로운 산업혁명을 주도 할 광산업에서 요구되는 핵심 물질로서 레이저 파장 변환 장치, 광메모리, 액정 , 광변조기, 광 통신, 광컴퓨터 등의 분야에 필수불가결하게 이용된다. 비선형 물질 및 비선형 광학 현상은 레이저 분광학 분야에 도 널 리 이용되고 있다 . 몇 가지 예 를 들면, 원하는 파장을 위한 주파수 변환, 2 차 조화파 발 생을 이용한 표면 연구, 시간분해 형광 분광학, 순간격자판, 비선형 라만, 광학적 Kerr 효과, 다광자 분광학 등이 있다 [l, 2]. 물질의 비선형 광학 계수의 값이 크다고 해서 모 든 분야에 다 옹 용되는 것은 아니다. 광학 비선형성의 크기 외에도 우수한 비선형 물 질은 홉수 계수, 산란, 결정 또는 박막 제조 가능성, 광학물질 조건 , 굴절 률 , 빛에 의한 손상 문턱값, 감응 시간 등이 고려되어야 한다 . 이 러한 비선형 광학물질의 특성 평가는 레이저 분광학적 방법을 사용 하여 수행될 수 있다. 본문에서 기술하는 내용은 크게 광학 비선형성, 비선형 광학물질 의 종류 및 특성, 그리고 비선형 광학 계수 측정 방법으로 나누어져 있다. 4.2 절에서는 비선형 광학의 기본 원리 및 2 차 비선형성과 3 차 비선형성에 대해 관해 꼭 알아야 할 개념들을 다루었고 , 4.3 절에서는 현재 많이 사용되는 비선형 광학물질의 종류 및 특성에 대해 나열하 였고, 마지막으로 4 .4절에서는 레이저 광학 및 분광학적 방법을 사용 하여 비선형 광학물질의 광학 계수를 측정하는 여러 실험 방법들에 대해 간단히 설명하였다.

4.2 광학 비선형성 4.2.1 기본 원리 모든 분자는 외부 전기장의 영향으로 유도 쌍극자 모멘트를 갖는 데, 외부 전기장에 의한 분자의 유도 쌍극자 모멘트는 다음과 같이 주어진다 [3]. µ•=aE+ 강/3 E2+ 강 rE 도 .. (4.1 ) 여기서 E 는 외부 전기장의 세기이며, a 는 선형 분극률(li near po lar- iza bil ity), /J 와 r 는 각각 1 차와 2 차 초과 분극률 (h yp erp ol ari zab ility) 이다 . 분자가 극성인 경우 , 분자는 영구 쌍극자 모멘트를 가지고 있 으므로 극성 분자의 전체 쌍극자 모멘트는 영구 쌍극자 모멘트와 유 도 쌍극자 모맨트의 합이 된다 . 모든 원자나 벤젠 분자처럼 대칭 중 심 점 (cente r of inv ersio n ) 대 칭 요소를 갖는 분자의 경 우는 1 차 초과 분극률 B 값이 0 이다. 원자나 분자, 또는 이온이 모여서 고체를 형성하는 경우에는 쌍극 자 모맨트 대신에 유도 분극(i nduced po l ari za ti on) 을 정의한다. 큰 부 피 매질의 유도 분극은 다음과 같이 주어진다. P*= x(1)E+ x(2)E2+ x(3)E 3+… (4.2) 여기서 x(I), x(2) 및 x ( 3) 를 각각 1 차, 2 차, 3 차 전기적 감옹률 (elect ric susce pti bility)이라 부르며, E 는 전기장의 세기이다• X(l) 는 선형 감응률, x(2) 와 x(3) 는 비선형 감응률이라고도 부른다. 동방성 물질이나 대칭 중심을 갖는 물질의 2 차 비선형 감옹률은 0 이며 모든

물질은 3 차 비선형 감응률값을 갖는다. 식 (4.2) 는 전기장 백터의 방 향 및 크기가 같은 경우에 적용되는 식이며 이 들 이 다 를 때는 다음 식을 사용하여야 한다. P 느 x ii> Ei + X iik< 2>Ei E k + X iik1 < 3>E iE kE1 + (4.3) =PI(l)+Pj( 2)+Pj( 3)+··· 여기서 i는 유도 편광 백터의 방향, j, k, 1 은 전기장 벡터의 방향을 나타낸댜 물질의 분극은 분자의 유도 쌍극자 모맨트에 수밀도 (number densit y) p 를 곱하여 얻 어 지 므로 분자의 분극과 부피 가 큰 매질의 감옹 률 은 다음과 같은 관계가 있다. x m = p a f( (/)) (4.4 a ) x (2)= p /3 f( (/)1)f( wz)f( 이 (4.4 b ) x <3> = p r f( (JJ1 ) f( wz)f( COJ)f( (L}.l ) (4.4c) 여기서 f는 국부장 요소(l ocal fiel d fact or) 로, 분자가 고체 를 구성할 때 주변 분자와의 상호작용 때문에 고려하는 양이다. 따라서 국부장 요소는 보정 요소 (corre cti on fact or) 라고도 불리며, 빛의 진동수의 함 수이다. 물론 정적인 전기장이 적용될 경우 o 는 0 이 된다. 국부장 요소는 두 가지 로 구분된다. 하나는 Lorentz - Lorentz 법 칙 으로부터 얻어지는 Lorentz 국부장 요소이며 동방성 물질에 대해서는 다음과 같이 주어진다. f(aJ)=3 ~ (4.5) 여기서 d (J))는 유전 상수로 굴절률의 제곱과 같은 양이다. 다른 하 나는 Onsa ge r 국부장 요소로 정적인 전기장에서의 유전 상수를 Eo,

쌍극자 이완 (d ip olar relaxa ti on) 보다 빠른 진동수에서의 유전 상수 를 cco 라 하면 다음과 같이 주어진다. f(0 )= c2 。C[ oc +OOe +O2O ] (4.6) 매질에 빛이 통과하거나 또는 전기장을 걸어줄 때 굴절률이 변하 는 것은 비선형 감응 률 때문이다. 외부 전기장 존재하에 물질의 굴절 률은 다음과 같이 주어진다. n( (I)) = no( (I)) +n1( (I)) +n2( (I)) + ... (4.7) 여기서 no 는 선형 굴절률, m 및 m 는 비선형 굴절률이다. 굴절률과 전기적 감응률과는 다음과 같은 관계가 있다. no=l+4TCxrn (4.8) m= 뇨上 (4.9 ) n 。 n21=2T~ X (3) (4.1 0 ) 식 (4 . 9) 는 선형 전기 광학 효과(포켈 (Pockels) 효과), 식 (4 .1 0) 은 광 학적 Kerr 효과라 부른다. 포펠 효과는 매질에 직류 전기장을 걸어주 었을 때 굴절률이 변하는 현상을 말하며, 광학적 Kerr 효과는 빛의 세기에 따라 매질의 굴절률이 변하는 현상을 일컫는다. 이들 관계식 으로부터 비선형 광학 계수 x(n) 를 알면 이들로부터 비선형 굴절률 이나 비선형 분극률을 알 수 있으므로 x(2) 와 x(3) 로 구분하여 상세 히 알아보고자 한다.

4.2.2 X ii/2 ) 과정 식 (4.3) 에서 2 차 비선형 감응률 텐서 xI Jk (2 ) 항 은 대칭 중심점을 갖 는 등방성 물질에서는 0 이 되며, 비등방성 물질에서는 다음과 같다 . Pi( 2 )(O3)=Xi jk( 2)(O3, 0l 士 wz) E i( w1) Ek( 士 wz) (4.11) 여기서 CV3=(,/)!±CV2 로 새로운 진동수 CV3 는 두 입력 레이저 진동수 의 합이나 차로 주어지는데, 합인 경우는 합진동수, 차진동수 생성이 라 불린다. 빛 대신에 직류 전기장이 사용되면 이에 대응하는 진동수 는 0 이댜 합진동수 생성에서 가장 간단한 경우가 바로 0l 과 cv2 가 같은 2 차 조화 진동수 생성 (second harmonic ge nerati on : SHG) 이며, 이때의 위상일치 조건(p hase matc h in g cond iti on) 은 다음과 같이 주 어진다 [4, 5]. k(2 (J) ) =2k( (J) ) (4.1 2 ) 여기서 k(2(J )) 및 k( (J))는 각각 2 차 조화파의 원래 레이저 빔의 파동 벡터이다. 파동 벡터와 굴절률의 관계는 다음과 같이 주어진다 . k( w ) = (J) n( w )/c (4.1 3 ) 따라서 n(2 (l) ) = n( (l) ). (4.1 4 ) 정상 분산 영역에서 정상파와 비정상파의 굴절률은 파장에 따라서 같이 중가하기 때문에 식 (4 .1 4) 의 조건을 만족시키기 위해서는 한 빔이 정상파이면 다른 빔은 비정상파라야 한다. 정상파와 비정상파 의 차이는 매질 내에서 빔의 편광 방향이다. 예를 들어 단축결정 (unia xial c ry s t al) 에서 z 축을 광축으로 잡을 때 빔의 편광 방향이 z 축

표 4.1 단 축결정 의 위상일치 조건

11c - n 。 1 형 I]형 입사 분극 (In p u t po lariz a ti on ) 평형 수직 음 ( ne g a ti ve) o 土 o— • e o 土 e ― ► e 양(p os iti ve) e 士 e— . 0 o 士 e~ °

과 수직이면, 즉 편광 방향이 x 축 또는 y축과 평행하면 정상파라고 부르고 z 축과 평행하면 비정상파라고 부른다 . 정상파의 굴절률은 빔 의 진행 방향이 광축과 이 루는 각도에 무관하지만, 비정상파의 굴절 률 은 바로 이 각도의 함수이다. 정상파의 굴절률과 비정상파의 굴절 률이 같아지는 각도 를 광학물질 각도라 부르며 이때 2 차 조화파의 발생은 최대가 된다 . 광학물질(p hase ma t ch i n g)에 대해 더 자세히 알아보자. 합진동수 생성에 있어서 광학물질 조건은 다음 파동 벡터에 의해 표시된다. k1+k2= k3 (4.1 5 ) .口.,_ 느L- n( w1 ) (I) 1+ n( a)2 ) (I)2 =n( (J)3 ) (I)3 (4.1 6 ) 광학물질 조건은 각도뿐만 아니라 결정의 온도나 입력빔의 편광 방향에 의해 영향을 받는다. 이는 특히 합(차) 진동수 생성이나 광학 적 변환 과정에서 중요하다. 단축결정에서의 합 및 차 주파수 생성에 대한 위상일치 조건을 표 4 .1에 나타냈다. 광학적 변환 진동 (o pti cal pa rametr ic osci lla ti on ) 이 나 광학적 변환 증 폭도 세 빔의 상호작용인 x(2) 과정이다. 이는 한 광자 를 두 개의 광자로 나누는 과정이므로 표 4 .1에서 부호를 +로 취하고 화살표 를 반대 방향 으로 놓는다면 단축결정의 위상일치 조건을 그대로 적용할 수 있다•

4.2.3 X ijkl (J ) 과정 대칭 중심점을 갖 는 물질 에 있어서 x ( 2 ) 는 0 이지만, 4 파 상호작용 은 항상 허용되며 3 차 감응 률 텐서 X ii kl < 3) 를 포함하 는 함 수 로 주 어진다 . p/3 ) ( (J)4 )= X iikl (3 ) E j( (J)1 ) Ek( (J)2 ) E,( (J)3 ) (4.1 7 ) x ( 3 ) 는 4 차열 텐서이므로 이 론 적으로 모두 81 개의 성분 이 가능하 다. 그러나 비등방성 물질 에서 는 21 개의 성 분 만이 0 이 아 닌 값 을 갖 게 되 는 데 이 들 성분 들 은 아래 관 계식 을 갖는 다. X (3) I IIl = x (3)2 222= x (3) 3333 (4.l 8) x (3)1 1 2 2= x (3) 1 l 3 3= x (3) 2 21 l = x (3)2233= x (3)331 l = x (3)·' l3 2 2 (4.1 9 ) x (3)1 2 1 2 = x (3) 13 1 3 = x (3) 2 323 = x (3)21 21 = x (3)3l3 1 = x (3)3232 (4.20) x (3)1 2 2 1 = x (3)1331 = x (3) 2 112 = x (3)2 332= x (3) 3l1 3 = x (3)3223 (4.21) 여기서 1, 2, 3 은 직각 (C art es i an) 좌표 를 나타내는데 x { 3) 는 네 개의 레이저 빔의 분극에 의해 정의된다. 위의 관계식 들 은 서로 독 립적이 아니며 다음과 같은 관계 를 갖는다. X 1(3J)1 1111 =_ X-· 1(3J)' i12 2 +I X-· (''3)1 212 +I X__ (3)1 2 21 (4.2 2) 죽 등방성 물 질은 단지 세 개의 독립적인 x(3 ) 값을 가질 수 있다. 네 개의 레이저 빔이 같은 분극을 가질 때 우리가 측정할 수 있는 값은 x(3)1m 이다. x(3) 는 복소함수이며 양과 음의 값을 가질 수 있다. 측 정 방법에 따라 x(3) 의 절대값을 측정하거나 실수부만 혹은 허수부만 측정이 가 능하다. 예 를 들면 3 차 조화 진동수 생성(thi rd hannonic ge nerati on : THG) 이나 축퇴 4 파 혼합 (de g enera t e fou r wave mi xing : DFWM) 은

절대값을 측 정하며, 간섭계 방법은 실수부만을, 비선형 홉수 방법은 허수부만 을 관찰한다. Z- 스캔 방법은 부호까지 측정할 수 있는 장점 이 있다 X ( 3 ) 는 공명 (resonan t)과 비공명 (nonresonan t) 성분의 합으로 주어 진댜 죽 x (3)= x 임+ x (3 )NR (4.2 3 ) 이댜 공명 성분은 레이저 빔의 파장이 물질의 바닥 상태(또는 결합성 띠)와 들뜬 상태(또 는 전도 성 띠) 사이의 에너지 차이와 같거나 유사 할 때 생기 는 비선형성으로, 전자적 효과, 핵의 운동에 기인하는 효 과 둥이 영향 을 미친다. 비공명 성분에 의한 기여는 물질의 순수한 전자의 분극 효과에 기인하는 것이다. 따라서 일반적으로 공명 성분 은 비공명 성분에 비하여 훨 씬 크다. x(3) 는 물질의 감옹 시간에 의 해 영향 을 받으며, 파장의 합수이다. 매질 내에서 상호작용하는 레이 저 빔의 파장이 그 물질 의 전자나 진동 공명과 멀리 떨어져 있을 때 에 이 효과는 미미하다. 그러나 공명 근처에서는 x(3) 의 값이 파장에 따라 영향을 많이 받는다. 또 x(3) 는 비선형 굴절률과 관계가 있기 때문에 온도의 함수이다. 식 (4 .1 0) 에서 알 수 있듯이 3 차 비선형성은 빛의 세기에 의존하는 굴절 률 과 관계가 있다. 일반적으로 강한 레이 저 빔에 의한 굴절 률 은 다음과 같이 주어진다 . n=n 。 ( A) + An( A, I) (4.24) 여기서 no 는 선형 굴절률이며, 비선형 굴절률 b.. n 은 전기장에 기인하 는 성분과 열에 의한 굴절률 변화의 합으로 주어진다.

4.3 비선형 광학물질의 종류 및 특성 4.3.l 무기물질 [6] CD KDP 계열 화합물 여기에 속하는 화합물 들 은 가장 많이 개발되어 있으며, SHG 용으 로 가장 많이 쓰인다 . 결정은 모두 음단 축결 정 (ne g a ti ve un i ax i al) 이 며 42m 의 점군(p o i n ting gr ou p)에 속하고 정사면체 대칭 구조 를 가 지고 있다. 결정은 상온의 수용액상에서 성장시 킬 수 있기 때문에 양 질의 큰 단결정 형태로 얻어진다. 따라서 광학 적 으 로 질도 좋 고 손상 문턱값이 상대적으로 높지만, 결정적인 단 점 은 비선 형 계수가 낮으 며 홉수성 이 있다. 이 화합 물들 은 투과 영 역 이 200-1600 nm 까지 걷 쳐 있기 때문에 Nd:YAG 레이저의 SHG 는 물론 3 차 , 4 차 조화파 발 생에도 많이 사용된다 . ® 니오비융계의 화합물 일반적으로 이 군에 속하는 화합물들은 홉 수성이 없으며 단단하고 표면 가공이 용이하다. 대표적인 결정으로 Li N b03, KNb 야 및 Ba 心 aNb5015 둥이 있다. L i Nb03 와 KNb03 는 단축결정 이 며 Ba iN aNbs01s 는 양축 (b i ax i al) 결정이다. 투과 영역은 L i Nb03 와 KN 따가 400-5000 nm 범 위 인 데 반하여 Ba 心 aNbsO15 는 460- llO O nrn 범위이다. Ba iN aNbs01s 의 비선형 계수값은 KDP 에 비해 2000 배 이상 크지만 이 물질은 L i NbOa 나 KNb03 보다 결정을 성장시키기가 어렵 다. Li NbO 높 파장 변환 외에도 음향광 소자나 전기 광학 소자 둥에 도 상업적으로 널리 쓰이기 때문에 그 성장 방법이나 물리적 성질 및 응용이 광범위하게 연구되어 있다. 한 가지 큰 단점은 가시광선이 나 자외 선 영 역 에 서 광굴절에 의 한 손상(p ho t ore fracti ve dama g e) 을

입기 쉽다. ® 봉산계 (Bo rate ) 화합물 현재 붕소산화 물 계 통 의 결정으로서 상업적으로 시판되고 있는 것 은 /3 - BaB 2 0 4 (B BO) 와 L i B 3 야 (LBO) 의 두 종류가 있다 . BBO 는 결정 구조가 삼각 형태이며 3m의 점군에 속하고 광학적으로 음단축결정 (neg a ti ve un i ax i al) 이다. BBO 는 비선형 결정으로서 투과 영역이 넓 고(1 90 - 3500nm) , 손 상 문턱값이 크다 (~10GW/cm2) 는 장점을 가지고 있댜 BBO 의 비 선 형 계수값은 KDP 보다 4 배 가량 크며 화학적으로 안정하 고 거의 홉 수성이 없다 . LBO 결정은 BBO 의 광학적 성질을 약간 개선한 것 으 로 여러 면에서 BBO 와 비슷하다. 다만 투과 영역 이 BBO 보다 자외 선 쪽으로 더 넓 고(1 60-3500 nm) 홉습성 이 없으며 손상 문턱값이 2 배 이상 크다. @ 반도체 화합물 KDP 나 니오비융 계열, 또는 붕산계 화합물의 투과 영역은 거의 대부분 자외선부터 근적외선까지의 범위이다. 따라서 중적외선 (2.5- 50 µm) 영역에서는 반도체 결정의 사용이 필수적이다. 이 파장대에 서 발진되는 레이저의 종류가 드물기 때문에 SHG 에 관한 연구는 거 의 없지만 가시 영역의 레이저 빔을 혼합하여 적외선 파장을 얻는 데 A g GaS 라 Ag G aSez 둥이 쓰여져 왔다. 반도체 결정들은 대부분 손상 문턱값이 낮지만, 비선형 계수 및 전자 유동성이 크고 감옹 시 간이 빠르기 때문에 고속 광전자 등에 그 옹용이 기대된다. ® KTP(KTiO P 04) 이 결정은 인산계의 화합물이지만 결정학적, 광학적 성질이 KDP 계열과 판이하게 다르다 [9]. KTP 의 결정 구조는 직교형 (o rt horhomb ic)

이며 점군 mm2 에 속하는 양축결정이댜 KTP 는 비교적 최근에 개발 된 결정이며 비선형 물질로서 갖추어야 할 조건을 거의 모두 구비한 아주 우수한 물질이다. 죽 비선형 계수가 KDP 보다 30 배 정도 크고 손상 문턱값이 높으며 홉수성이 없다. 또한 입사 각도의 온도에 따른 위상일치 조건이 매우 안정합을 보여주고 있다. 이러한 장점 때문에 KTP 결정은 Nd : YAG 레이저의 주파수 배가(fr e q uenc y doublin g) 용으로 가장 우선적으로 선택되고 있다. KTP 는 또한 광전자 A 계 수값이 크고, 유전 상수가 낮기 때문에 광변조기나 Q-전환(Q­ swi tch ) 등의 광전자 분야에 널리 이용된다 KTP 계열의 결정으로 는 KT i OAsO~(KTA) 가 있는데 이 물질의 비선형 광학 계수가 KTP 보다도 높고 원적외선 영역에서 투명도가 높은 것으로 알려져 있다. 4.3 .2 유기물질[6, 7] 유기물질이 일반적으로 무기 결정보다 비선형 계수 및 손상 문턱 값이 크다는 사실이 알려지면서 이에 대한 연구가 폭발적으로 진행 되고 있다. 유기 결정 중에서 우레아의 비선형적 성질이 가장 먼저 알려졌는데, 그 이후로 이 물질에 대한 여러 파장에서의 손상 문턱 값, 굴절률, 위상일치 조건 등이 자세히 연구되었다 . 따라서 KDP 가 무기물질의 기준 물질로서 사용되듯이 우레아는 다른 유기 결정 연 구에서 기준 물질로 많이 사용된다. 현재 비선형 물질을 모델링하는 데 있어서 출발점으로 잡는 계는 벤젠 고리에 전자 주개(D) 및 받개 (A) 치환체로 r 결합된 경우이다. 이 계열에 속하는 물질로서 DAN, DOM, MNA, COANP, MAP, NPP, NPAN 둥이 있다. 이들의 공통 된 특징은 T 전자 비편재화 때문에 비선형 계수값이 매우 크다는 점이다. r 결합을 이루지 않으면서도 비선형 계수가 큰 물질로는 앞 에서 예로든 우레아 외에도 (L)-Argi nine ph osph ate ( LAP), 팔극자

모맨트 를 갖는 유기 물질 등이 있다 . 유기 고분자 들 이 큰 바선형 감응률을 갖는다 는 사실은 다음의 pol yd ia c ety le ne(PDA) 계의 화학물 연구 를 통해 처음 알려졌댜 고분 자에 있어서 연구가 활발한 분 야 는 비선형 계수가 큰 유기 분자 들을 고분자에 녹 이 거 나 또는 고분자 를 기본으로 하여 유기 분자들을 매 달아 사용하 는 경우 이다 . 이러한 물질은 필름을 만 들 거나 형태 를 고 분자의 특 성대로 쉽게 변형시킬 수 있기 때문에 광전자 기구로서의 응용이 기대되고 있다. 한 가지 문제점은 유기 분자들이 고분자 내에 무작위하게 분포 되어 있기 때 문 에 x (2) 값이 거의 0 에 가깝다는 점이 댜 이 룰 높 여 주기 위해 전기장 배열 (elec t r ic fiel d po li ng ) 방법을 사 용한댜 즉 고분자 를 유리점(g lass tra nsit ion ) 온도 이상으로 높여서 용액 상태 로 만든 후 유기 용질 분자들을 섞고, 전기장을 걸어주어 용 질 의 쌍 극 자 들을 한 방향으로 정렬시킨다. 다음에 온도를 서서히 낮추어 고분자 를 응고시킨 후 전기장을 제거한다 . 거시적인 비선형 계수 x (21 는 개개 분자 의 감웅률의 합으로 주어지기 때문에 정렬된 고분자는 비선형 적 성질을 갖는다. 4.4 비선형 광학 계수 측정 방법 레이저로 측 정할 수 있는 비선형 광학물질의 물리적인 양으로는 전 기 광학 계수, 2 차 비선형 광학 계수, 비선형 굴절 률 , 3 차 비선형 광학 계수, 감응 시간 등이 있다. 여기서는 간섭계 를 사용한 전기 광학 효 과의 측정법, 분자의 초과 분극률을 측정할 수 있는 전기장 유도 2 차 조화파 발생 법 (eletr i c fiel d ind uced second hannonic ge nerati on : EFISH), 2 차 비선형 광학 계수 측정에 많이 사용되는 Kw tz 분말법, 위상일치 방법, Maker 줄무늬 (Maker fring e ) 및 쐐기 (wed g e) 방법, 3 차

비선형 계수 측정법으로서 3 차 조화파 발생, 축퇴 사광파 혼합, Z- 스 캔 방법 등에 관하여 기술하고자 한다 . 4.4 .l 전기 광학 계수의 측정 [7] 선형 전기 광학 계수(포 켈 계수) 를 측정하는 가장 간단한 방법은 Senarmont 보상 (com p ensa t or) 방법인데, 광학계는 편광기, 측정하려 는 결정, 사분파판( A/4 pla te ) , 편광 분석기로 구성된다. 레이저 빔은 결정의 광축에 편광기에 의해 45· 방향으로 입사된다. 전기장을 걸어 주면 전기 광학 효과에 의해 빔은 타원편광으로 바뀌 는 데, 이는 사분 파판에 의해 선형으로 편광되며 이때의 위상 지연을 편광 분석기를 통해 측정한댜 편광이 l80° 회전하였을 때 걸어준 전기장을 이분파 전압 (A/2 vol t a g e:V :r )이라 하는데, 이분파 전압이 알려지면 다음 식에 의해 전기 광학 계수 m 를 구할 수 있다. Vrr= A/2n3ni (4.2 5 ) 여기서 A 는 사용한 레이저 빔의 파장이며 n 은 정상파 굴절률이다. 최근에는 전기 광학 계수 를 측정하는 데 Mach-Zehnder 간섭계 (MZ I) 나 미켈슨 (M i chelson) 간섭계와 같이 빛의 간섭성을 이용하는 방법이 많이 행해지고 있다. 미켈슨 간섭계를 사용하는 경우는 구조적으로 MZI 에 비해 대기 흐름, 진동, 온도 변화 등에 상대적으로 둔감하기 때문에 정확도가 높다.

4.4 .2 /3의 측정 CD EFISH[l] 용액에서 는 분 자의 배향이 무질서하기 때문에 거시적인 2 차 비선 형성은 존 재하 지 않 는 다. 그러나 극성이 있는 용질 분자가 녹아 있는 용액에 직류 전 기장 을 걸 어 주 고 레이저 범을 조사하면 2 차 조화파가 관 찰 된다. 이러 한 방법 은 전 기장 유도 2 차 조화파 생성 (elec t r ic fiel d ind uced second harmonic ge nerati on : EFISH) 으로 널 리 알려 져 있으 며 2 차 초 과 분 극률 을 정량 적 으로 측정 할 수 있다. 측정 장치는 2 차 조 화파 를 측 정하 는 방 법 과 동 일하다. 단 시료가 담긴 셀에 고전압을 걸 어주어야 하 므로 EFISH 용의 특 별한 셀을 사용해야 한다. 측 정 된 2 차 조 화파의 세기로부터 분자의 2 차 초과 분극률을 얻기 위해서 는 이에 관린된 비선형 과정을 이해하여야 하는데 , 결과만 소 개하면 다 음 과 같 다. /3 z = 7l : Nf (O )f2 ( l (JJ )f(2 (JJ ) “2 IIMM((22 (J(JJ J))s (4.2 6 ) 여기서 µ z 는 z 방향 분자축의 쌍극자 모멘트이며 N 은 분자 밀도, f 는 식 (4 .4)의 국 부장 요소이다. 입사하는 빔에 수직한 방향으로 셀을 움직이면 2 차 조화파는 간섭 패턴을 보여주는데, 2 차 조화파의 최대 치가 IM 이다 . 첨자, S 는 2 차 비선형 계수 를 정확히 알고 있는 기준 물질을 말한다. 그림 4 .1은 2 차 조화파 발생을 통하여 /3나 x(2) 를 측 정하는 데 사 용되는 기본적인 실험 장치의 개략도이다. EFISH 방법에서는 셀에 전압을 걸어주는 장치가 추가된다. 파장 변환기는 실험 목적에 맞도 록 들 뜸 레이저의 파장을 바꾸어주는 장치인 색소 레이저, 고체 파장

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가변 레이저 OPO 나 OPA, 라만 이동기 (Raman shif ter ) 등이 이에 해 당된댜 ® 고차 Rayl e ig h 산란 [8] EFISH 방법을 사용하여 바닥 상태에서 쌍극자를 가지고 있는 분 자, 즉 극성 분자만을 대상으로 한다. 또한 이 방법을 사용하여 1 차 초과 분극률을 측정 하기 위해서는 분자를 특정한 방향으로 배향시켜 야 한댜 EFISH 의 이런 단점을 보완하기 위하여 개발된 산란 방법 은 쌍극자 모맨트는 없어도 팔극자 모맨트를 갖고 있는 분자도 측정 가능하며, 분자의 정렬이 필요하지 않기 때문에 이온화합물에도 적 용시킬 수 있다. 측정 방법은 대상 분자를 적당한 용매에 녹여 용액에 강한 펄스 레이저 빔을 조사시켜 준 후 2 차 조화파의 세기를 측정하면 된다. 이 때 발생하는 2 차 조화파의 세기는 기본파 세기의 제곱에 비례한다. 즉 S2w=GB 양 (4.27) 이다. 여기서 S2w 는 2 차 조화파의 세기이며, G 는 기하학적 요소, Io 는 기본파의 세기이다 . 함은 초과 분극과 관련이 있는 양으로 용질-용 매 이성분계에서는 다음과 같이 주어진다. B2 = Nsolvent /3 2solvent + Nsolute /3 2solute (4.28) 여기서 Nsoiv c nt, Nsolu t e 는 각각 용매와 용질의 수밀도이다. &u/I o2 (= G B.!)을 용질의 수밀도를 변화시키면서 측정하여 도식하면 선형 관계 식을 얻을 수 있다. 최소자승법을 이용하여 얻은 기울기와 절편을 각 각 m 과 c 라 할 때 /3 solu t e 는 다음과 같이 주어진다. /3 solute = [mNso!venJ c] 112 /3 solvent (4.29)

이 식은 용매의 수밀도가 일정하다는 가정하에 얻어진 식이므로 실 험은 가능한 한 붉은 용액에서 수행되어야 한다 . 용매의 초과 분극률 을 모 를 때는 기준 물 질을 같은 용매에서 실 험 하여 측 정할 수 있다 . 즉 /J samp le = [m 책 m p l d ffi refc rencc J 112 fJ ref e r en c e (4.3 0 ) 이다. 이 식은 측 정하려 는 시 료 와 기준 물질 의 대칭성이 같 을 때 적 용되며 둘 이 서로 다 른 점 군 에 속 해 있 을 때 는 이 룰 보정해야 한다. 4.4 .3 x <2) 의 측정 [1] CD Kurt z 분말 방법 분말 방법은 바선형성이 있는 물 질 을 단 결 정으로 성장시키기에 앞 서 가려내는 방법으로 널 리 이용되고 있다. 실험 장치 는 그림 4 .1에 서 용액 셀 l 이 분말 셀로 치환된다. 이때 수집 효율을 증가시키기 위하여 앞 방향에서 SHG 신호 를 관찰하 는 방법도 있다. 레이저 빔의 직경(D)과 셀의 두께(1)와 시료 입자 크기 (r) 와는 r (4.31 ) 따라서 입자의 크기와 물질의 응집 길이 Oc) 를 알면 측정된 SHG 값 으로부터 2 차 비선형 계수가 알려진 기준 물질과 비교하여 시료의 d 계수 를 구할 수 있다. 응집 길이는 기본파와 2 차 조화파의 위상불일

치 정도(6. k) 가 7[만큼 변할 때의 거리를 말한다. 즉 lc= - -6Ak: - ~4n(2 (J) ) - n( (J) ) (4.32) 이댜 참고로 2 차 비선형 계수를 나태내는 기호로 문헌에서 d 와 x(2) 가 사용되는데 d= x{2) / 2 의 관계가 있다. ® 위상일치 방법 2 차 조화파의 발 생은 3 파 상호작용 중에서 입력빔의 파장이 같은 경우이며, 이때의 위상불일치 정도는 다음과 같이 주어진다. 6k = 2 k., -k2., (4.33) 여기서 kw, k 2 댜는 각각 본래 레이저 빔과 2 차 조화파의 파동 벡터 이댜 발생된 2 차 조화파의 세기는 다음 식으로 주어진다. P2 =Kl2 丙P一: sin@ 2k( Al/2k )l2/2 ) (4.34) K=2 군(J) 2d2 여기서 n 는 평면파 임피던스, 1 은 빔이 통과하는 방향으로의 결정의 길이, A 는 빔의 단면적이다. 이 식에서 보면 발생되는 2 차 조화파의 세기가 입력범의 세기 및 2 차 비선형 광학 계수의 제곱에 비례함을 알 수 있다. 6k 는 결정의 각도와 온도의 함수인데, 6k 가 0 일 때 2 차 조화파의 값이 가장 크며 이 경우 광축과 입력빔이 이루는 각도 룰 위상일치 각도라 한다. 위상일치 각도는 결정의 온도나 화학적 조 성의 함수인데 이 각도가 90 도가 되는 경우를 특별히 비임계 위상일 치 조건 (noncr iti cal ph ase ma t ch ing)이라 부른다. 비임계 위상일치 조

건에서는 2 차 조화파가 위상일치 각도에 둔감하고 빔의 퍼짐에 영향 을 받지 않고 이동 (walk-o ff) 효과가 없는 등의 장점이 있다. 실험 장치는 그림 4 .1에서 결정을 회전시키면서 2 차 조화파 를 측정해야 하 므로 시료는 희전 장치 (ro t a ti onal s t a g e) 에 놓고 이 를 컴퓨터로 구동 시키는 것이 필요하다. ® Maker 줄무늬 방법 위상일치 방법은 2 차 바선형 계수의 절대값을 측정하므로 기하광 학적으로 엄격한 제한이 따른다. Maker 줄무늬 방법은 기준 물질과 의 비교 를 통해서 비선형 계수 를 구하기 때문에 실험적으로 간단하 다. 결정에 임의의 각도로 입사되면 자유파와 조 화파 사이의 간섭에 의해 줄무늬가 형성되는데, 이때 2 차 조화파의 세기는 입사 각도의 함수이다. P2 。( 0 )=한( 0 ) sin 2 (6 .kV 2) (4.35) 여 기 서 IM 은 외 피 함수 (envelo p e fun c tion ) 이 며 ^ k 는 식 (4.33) 으로 정 의되는 위상불일치이다. Maker 줄무늬 방법에 의해 얻어지는 2 차 비선형 계수는 다음과 같이 주어진다. d=A (IM(O)f) J/2/l c (4.3 6 ) f= (nw + 1)3 (n2w + 1) 3(n 댜 I12w)/(nzR( O)) (4.37) A 는 입력빔의 조건이 변하지 않을 경우 일정하댜 R(O) 은 수직 입사 빔의 반사에 대한 보정치이며, n2<0 인 경우 근사적으로 R(O)=l+ [(r12- 1) /(r12+ 1) ]4 로 주어진댜 기준 물질의 d 값은 알고 있으므로 실험 장치는 위상일치 방법과 같은데 Maker 줄무늬 방법으로부터 실험적 으로 얻은 2 차 조화파의 세기와 응집 길이로부터 시료의 2 차 비선형

계수를 다음 식에 의해 구할 수 있다 . d = ds (I M( O)f /1 판 (O) f s) J/2 (l C, S (O)/k(O) ) (4.38) 위의 식에 의해 나타난 바와 같이 Maker 줄무늬 방법에 의해 2 차 비선형 계수 를 구 할 때는 시료의 두께와 각 파장에서의 굴절률을 알 아야한다 . 4.4.4 x (3) 측정 3 차 비선형 계수 를 측 정하는 방법은 많이 개발되었는데, 많이 쓰이 는 방법으 로는 3 차 조화파 생성 (THG) 방법, Z- 스캔 방법, 축퇴 4 파 혼합 (DFWM) 방법, 간섭계 방법, 포화 홉수 방법, 제곱 전자적 흡수 (qu adrati c elect ro - ab sorp tion ) 방법 , 광학적 Kerr 게 이 트 (OPG) 방법 등이 있다. 이 중 가장 많이 사용되는 방법은 3 차 조화파 발생 방법과 축퇴 4 파 혼합 방법 및 Z- 스캔 방법이다. 3 차 조화파 발생은 측정하는 방법이 측 정하는 파장만 다 를 뿐 2 차 조화파 발생 방법과 같으므로 여 기서는 4 파 혼합 방법과 Z- 스캔 방법에 대해서만 설명하기로 한다. ® 축퇴 4 파 혼합 방법 축퇴 4 파 혼합(D e g enera t e fou r wave mi xi n g : DFWM) 실험은 레 이저 광원으로 연속파 를 이용하면 3 차 비선형 감응률 (x(3) ) 을 측정 할 수 있으며, 펄스 형태의 레이저를 사용할 때는 x(3) 와 감옹 시간 을 함께 측정할 수 있다. 이 방법은 매질 내에서 파장이 같은 세 개 의 빔이 작용하여 같은 파장의 네번째 빔이 생성된다. 생성된 신호빔 에 대한 유도 비선형 분극은 다음과 같다. Pi( (J) ) = X (J)ijk l(-W ; (J) , (J) , -( J) ) Ei ( (J) )E k@)E( 야 (4.39)

DFWM 은 입사빔 의 각도에 따라 전향(fo rward) 과 후향파 혼합 (backward wave m i x ing)의 둘로 나뉜다. 전향파 혼합은 세 빔이 같 은 방향에서 조사되며 신호빔도 같은 방향에서 검지된다 . 이때의 위 상일치 조건은 자동적으로 만족된다. 후향 DWFM 에서는 두 개의 범이 서로 반대 방향의 시료에서 만 나기 때문에 위상 연관 거울(p hase conju g a te m i rror) 을 형성하며 탐 지빔이 전향 방향과 10· 정도의 작은 각도 를 이루어 시료에 조사된 다. 탐지범에 의해 반사되는 신호빔을 위상 연관빔(p hase conju g a te beam) 이 라 부론댜 반사율 또는 회 절 효율 (d iff rac ti on eff ici e n cy) 7J = Is/I p와 같이 정의할 때 3 차 비선형 감응률은 다음 식에 의해 구할수 있다. X (3) = 군64 c군 A _ll_ (L7IJb I)/2I I2 (4.4 0 ) 여기서 A 는 사용한 레이저 빔의 파장, l 은 시료의 두께이며 I f와 Ib 는 각각 전향 및 후향 빔의 세기이다. 반사율은 경우에 따라 100% 를 초 과할 수도 있는데 이는 신호빔의 에너지 일부가 격자판을 형성하는 If 및 Ib 로부터 얻어지는 것을 의미한다. 이 식에 의해 3 차 바선형 계 수를 구할 수도 있으나 빔의 세가 둥에 의해 오차가 생길 우려가 있 으므로, 많은 경우 그 값이 이미 잘 알려져 있는 기준 물질 (C Si) 등 과 비교하여 구한다. 이때의 식은 다음과 같다. :깁호 3> =證n~ 「lr FI!1 2 (4.41 ) DFWM 실험에서 사용하는 레이저 파장에서 시료에 의해 흡수가 일어나는 경우가 있다. 이때는 식 (4 .4 0) 을 보정한 다음 식을 사용해 야한다.

x (3) = ::7(\广 孟王 禪鬪 (4.42) T 는 투과율(t ransm itt ance) 로 a 를 선형 홉수 계수라 할 때 exp (-a l ) 로 주어진다. 기준 시료가 이 파장에서 흡수가 없다면 식 (4.4 1) 대신 에 다음 식을 사용하여 구할 수도 있다. ~=-릅 [ 『 三 (4.43) 그림 4 . 2 는 DFWM 의 개략도이다. 이 방법을 사용하여 시료의 감

Is

lb 레 01 저 5% 50% 8S1 8S2 시간지연장치

그림 4.2 축되 4 파 혼합 실험윤 위한 장치.

' 爲’ n=+2

NM 2K•-K- .,,. n=+1 R- n=+O n=-0 K• x 0〔 二L 휴Z ` .... n=-1 n=-2

그림 4.3 비선형 매 질 에 의한 자체 회 절 현상.

응 시간을 측정하려면 전향 빔 두 개를 시간적으로 일치시켜 두 펄 스가 시료에서 동시에 만나도록 하고, 후향 빔에 시간차 를 두어서 연 관 신호를 시간차의 함수로 측정한다. 펄스 레이저 를 사용하는 DFWM 방법은 THG 방법으로 측정할 수 없는 시료의 감옹 시간을 측정할 수 있다. DFWM 의 간단한 경 우로는 두 개 의 빔 배 치 (tw o beam con figur a- ti on) 에 의한 방법인데 간단히 2 파 혼합이라 부르기도 한다. 이 방법 은 펄스 형태의 레이저를 사용하더라도 감응 시간을 측정할 수 없지 만 세 개의 빔을 사용하는 DFWM 보다 x(3) 를 좀더 쉽게 측정할 수 있다. 두 빔이 시료에서 만나면 그림 4.3 에 보여주는 바와 같이 3 차 비선형 효과에 자체 회절 (se lf -d iffracti on) 이 일어난다. 2 차 회절 신호 는 1 차 회절 신호에 비해서 매우 작으므로 보통 한쪽의 1 차 회절 신 호를 측정하여 다음 식으로부터 x(3) 를 얻는다.

x (3)= 32n 2군c A (ET)aT II2 그I—p1 /2 (4.44) ® Z- 스캔 방법 Z- 스캔 방법은 자체 집중 (se lf-fo cus i n g) 또는 자체 확산 (sel f­ defo c usin g) 원리, 즉 굴절률이 빛의 세기에 의존한다는 점과 가우스 빔의 경우 가장자리보다 중심에서 그 세기가 더 높다는 사실을 옹용 한 것이다 [9]. Z ―스 캔 방법의 장점은 3 차 비선형 광학 계수의 양과 부호 를 함께 측정할 수 있다는 점이다. 측정 방법을 그림 4 .4에 보였 는데 여기서 D1 은 레이저 빔 세기의 변화를 측정하는 데 쓰이는 검 지기이며, D 는 신호 를 관찰하는 데 쓰이는 검지기이다 . D 앞에는 조리개 를 두어 필요한 광량을 조절한다. 가우스 빔이 진행하는 방향 을 z 축 으로 잡고 볼록 렌즈에 의해 초점이 모이는 부분을 0 점으로 잡는댜 물질의 바선형 굴절률이 0 보다 작은 경우 (n2<0) 는 자체 확산 에 해당하며, 렌즈의 초점거리보다 두께가 충분히 얇은 시료가 초점 앞부분에서 뒷부분으로 옮겨갈 때, 초점 앞부분에서는 음렌즈 효과 (neg a ti ve lensin g e ff e ct)에 의해 빔을 모으기 때문에 광검지기에 도

조리개

BS 曰 -z 。 +z

그림 4.4 z- 스캔 실험의 개략도. D1 과 D2 는 광감지기 릅 나타낸다.

달하는 광량이 증가하며, 반대로 초점 뒷부분에서는 빔을 퍼지도록 하기 때문에 검지기에 도달하는 광량이 줄어든다. 즉 빔의 투과율(=D;JI)!)을 z 방향 거리의 함수로 측정하여 이를 이론식과 맞춤을 통하여 3 차 비 선형 광학 계수나 비선형 굴절률을 얻는다. Z- 스캔뿐만 아니라 NLO 전반적인 내용에 대해서는 참고문헌 [10] 을 참조하기 바란다. 참고문헌 [1] Y. R. Shen, The Pr inc iple s of Nonlin e ar Op tics (Wi ley , New York, 1984) [2] M. D. Levenson, Intr o ductio n to Nonlin e ar Laser Sp ec t ro scopy (Academi c, New York, 1892) [3] P. N. Prasad and D. ]. Wi lliam s, Intr o ducti on to Nonli ne ar Op tica l Ef fects in Molecules and Polym ers (Wi le y, New York, 1991 ) [4] A. Ya riv, Qua ntu m Electr o nic s, 2nd ed. (Wi ley , New York, 1975) [5] A. Yariv and P. Yeh, Op tica l Wive s in Cr yst a l s (Wi ley , New York, 1983) [6] V. G. Dmi triev , G. G. Gurzady a n, and D. N. Ni ko g o sya n, Handbook of Nonlin e ar Op tica l Cr yst a l s (Sp ring e r-Verlag, Berin , 1990) [7] D. S. Chemla and J. Zy s s, Nonlin e ar Op tica l Prop erties of Orga nic Molecules and Cr yst a ls , Vol 1, 2 (Academ ic, New York, 1987)

[8] K. Clays and A. Persoons, Rev. Sci . Instru m. 63, 3285 (19 92) [9] M. Sheik - B ahae, A. A. Said , T.-H. Wei, D. J. Hag an , and E. W. Van Str yla nd, IEEE J Qua num Eletr o n. 26, 760 (19 90) [10] H. S. Nalwa and S. Mi yat a , Nonlin e ar oph 'cs of orga nic wolecules and 加 ly mers (CRC Press, Boca Rato n , 1997)

제 5 장 비선형 분광학의 이론적 배경 조민행 5.1 서론 분광학은 분자와 빛간의 상호작용을 이용하여 다양한 물리 화학적 현상을 연구하는 분야로, 근래의 레이저 기술의 급속한 발전에 힘입 어 사용의 폭이 다각도로 넓어지고 있다. 이 장에서는 특히 비선형 분광학의 이론적 배경을 고찰하고자 한다. 비선형 분광학이란 외부에서 가해주는 전자기장의 세기에 비선형 의 관계 를 가지 는 분광 현상을 다루는 분야를 의 미 한다 [1- 7]. 따라서 선형 분광학, 예 를 들어 홉광 분자 분광학과는 달리 비선형 분광학에 서는 가해주는 전자기장의 수, 세기, 각도 및 위상 동이 인위적으로 조절될 수 있기 때문에 여러 가지 분자 동역학적 측면을 선택적으로 조사 연구할 수 있다는 장점이 있다. 이로 인하여 화학, 물리, 생물 등 자연과학 전 분야에 폭넓게 사용되는 핵심적인 실험 도구로서의 위치를 확보해 가고 있다. 근래에 이르러 경이로운 발전을 거듭하고 있는 레이저 기술의 산물인, 수펨토초에 이르는 극초단 펄스의 사용 이 가능해짐에 따라 [8], 분자의 진동, 광분해반옹, 광유발 전자 전달

반응 동을 직접 관찰할 수 있게 되었을 뿐 아니라 이제는 종래의 실 험 방법으로는 측정할 수 없었던 초고속 현상에 관한 연구도 가능하 게 되었댜 이 책의 다른 장들에서는 여러 가지 실험적 방법과 함께 최근의 연구 동향이 소개되어 있으므로 이 장에서는 이론적인 배경 에 관한 정리와 함께 널리 사용되는 모형들을 설명하고자 한다. 이 장의 구성을 간략히 설명하면 다음과 같다. 전자기학의 기본 골 격을 이루는 맥스웰 (Maxwe ll) 방정식으로부터 파동 방정식을 유도한 후, 분광학적으로 측정되는 신호와 매질의 분극과의 관계가 있는지 를 검토하고자 한다. 이어서 밀도 연산자 (dens ity o p era t or) 의 개념과 성질을 간단히 기술한 후, 응축상에서의 비선형 분광학적 현상을 유 발하는 계에 적절한 모형 해밀톤 (Ham i l t on) 연산자 를 도입 설명한댜 그리고 비선형 분극의 계산에 기본적 요소인 비선형 감응함수를 분 광 밀도의 개념을 도입하여 표현한다. 끝으로 분광학적 선폭 확대 현 상을 설명하는 이론적인 모형들을 소개하고자 한다. 5.2 맥스웰 방정식과 파동 방정식 모든 전자기학적 현상은 전기장 E( r, t)와 자기장 B( r, t)에 대 한 맥스웰 방정식으로 설명할 수 있다, v xE=-—1c —a8Bt v xB= 上C 효at +' ~C I V • E=41rp V • B=O (5.1 )

위의 식에서 ]( r, t)와 p( r, t)는 각기 전류 밀도와 전하 밀도 를 나 타낸댜 이 두 함수는 총 전하 보전 법칙에 의하여 다음 관계식을 만 족한다. • I+ 뿔 =0 (5.2) 식 (5 .1)과 식 (1.1) - (1. 4) 는 사용된 단위에 차이가 있으며, 두 표현은 동일하다 . 만일 자기 모 멘 트 가 없 는 경우, 위의 관계식들로부터 다음의 파동 방정식 을 유 도할 수 있다. 'v x 'v x E( r, t)+ 꿉 룹 E( r, t)= ―퉁 룹 P( r, t). (5.3 ) 이 식에서 P( r, t) 는 매 질 의 분극을 의미한다. 주어진 광학적 매질 과 외부에서 가해지 는 전기장과의 상호작용에 의하여 분극이 형성되 면, 위에 주어진 파동 방정식에 의하여 결정되는 전기장 E( r, t)가 형성되므로, 비로소 실험적인 측정이 가능해진다. 비록 위에서 제시 한 맥스웰 방정식과 파동 방정식은 고전적인 경우에 있어서 적용이 가능하지만(다시 말 해 방정식에 등장하는 변수 들 은 양자역학적 연산자가 아니라 고전적인 함수 들 이다), 대부분의 비선형 분광학적 실험은 이 범 주에 속한다고 볼 수 있다. 물론 전자기장의 양자화 과정을 통하여 양자역학적 맥스웰 방정식을 유도함으로써 보다 정교한 이론적 기술 이 가능하지만, 레이저 광의 세기가 커짐에 따라 고전적인 방법으로 전자기장을 다루는 것이 더욱 적합한 근사임을 알게 되었으므로 이 장에서는 고전적인 방법으로 전기장을 다루고자 한다. 그러나 전기 장과 상호작용하는 분자들의 동역학적 측면에서는 양자역학적 방법 을 사용하여야 한다. 3 절에서 소개할 밀도 연산자 (dens ity o pe ra t or) 의

운동 방정 식 인 양자 Liou vil le 방정 식 을 섭 동 이 론에 입 각하여 풀고, 비선형 분극을 계산합으로써 비선형 분광학적 신호 를 얻는다. 5.3 분광학적 측정과 비선형 분극 분자계의 다양한 동역학적 측면을 이해하기 위하여 비선형 분광학 을 사용할 때, 측정된 신호와 비선형 분극 간의 상관관계 를 이해하는 것이 우선되어야 한다. 첫단계로, 분 극 P( r, t) 를 선형과 비선형 부 분으로 나눈다. P( r, t)= PL( r, t)+ PNd r, t) (5.4 ) 선형 분극 PL( r, i)은 선형 감응함수 SL( r, i)을 이용하여 나타낸다 . PL( r, t)= fdr' f。 dr SL( r-r, t-r )E( r, r) (5.5) 식 (5 .4)와 (5 . 5) 를 맥스웰 파동 방정식 (5.3) 에 대입하고 정리하면 다 음과같다. V X V X E( r, f)+?룹 fdr ' 』 /dr c( r-r', t- r)E( r, r) =— 4c12.r a2 PNaLf < r , t) (5.6) 위의 식에서 유전함수 (d i ele ctri c fu n cti on) 는 다음과 같이 정의된다. c( T_ T', t_ r) = 8(.t-i)8( r-r)+ 41rSL( r— r, t- r) (5.7)

대부분의 비선형 분광학적 실험은 전기장의 홉수로 인한 손실을 막기 위하여 용매의 홉광 스펙트럼 에서 크게 벗어나는 주파수 영역 안에서 이 루 어진다. 그러므로 선형 감응률Oi near susce pti b ility)의 혀 수 부분은 무시할 정도로 작다. 일반적인 선형 감응함수 SL(r, t)은 위치에 의존하는 함수이지만, 용매 분자간의 전자적 상호작용이 작 기 때 문 에 공간적으로 편재되 어 있다고 가정할 수 있다 . 위의 두 가 지 근 사 를 적용하면 맥스웰 의 파동 방정식을 다음과 같이 고쳐 쓸 수 있다 il X il X E(r, t) + 릅룹 E(r, i)=-퉁 a2 ~a(f r ,t) (5.8) 위의 식에서 n 은 매질의 굴절률을 나타낸다 . 식 (5.8) 에서 보듯이 선 형 분극의 기여는 유전함수의 실수 부분인 굴절률로 반영되고 있다. 만일 주어진 계의 내 부 에 바선형 분극 PNL( r, t)이 유발될 경우, PL(r, t) 은 새 로운 진기장 E(r, t) 를 형성시키는 근원으로서의 역 할을 담당한다. 비 선 형 분극을 파동 백 터 (waveve ct or) 와 주파수로 푸 리 에 (Fourie r ) 확장을 하면 다음과 같다. PNL ( r, t) = Ls P5 ( t) exp [ i ks • r-i(I)s t ] (5.9 ) 이 분극에 의하여 형성되는 전기장의 해 를 찾고자 한다. E( r, t) = Z:: Es (z, t) exp [ -i(J)sf+ i ks' • r] + c. c. (5.1 0 ) s 여기서 새롭게 형성되는 전기장의 파동 벡터 ks, 과 분극의 파동 벡터 ks 는 반드시 같지는 않다. 위의 두 식 (5.9) 와 (5 .1 0) 을 (5.8) 에 대입하고, 분극의 크기 PS(t)가 광학적 주기( 1/ws) 에 비하여 느리

게 변화하는 함수라고 가정할 수 있다 . | 8Pas:t) |<1(L) s R (t)1 (5.1 1) 이로부터 신호에 대한 파동 방정식을 얻는다. VXVX Es(r,t)— 값( (J)Ps ) ( J ): Es ( r,r) C = ―4,r子( J): Ps ( t) exp (i ks • r) (5.1 2 ) C 식 (5 .1 1) 을 느리게 변화하는 크기 (slowl y -v a ryi n g - am p l it ude) 근 사법 이라고 한다. 마찬가지로, 신호 전기장의 크기 역시 느리게 변화하는 함수라고 가정하면, 광학적 매질이 있는 공간 내에서 형성되는 전기 장의 크기는 다음과 같다. 8Easz(z ) -= ~ n2(m(J'} (sJ })s c P.( t) exp [ i( ks - k; ) • z] (5.1 3 ) z 의 범위(시료의 두께)는 0 부터 d 까지라고 가정하면, Es(d, t)는 위의 식을 적분하여 얻을 수 있다. Es {d , t)= ~ P s

이라고 한다 [2 ― 5]. 따라서 물질계에 형성되는 비선형 분극과 같은 방 향으로 새 로운 전기장 이 형성되고, 이렇게 형성된 진기장의 세기 를 측정함으로써 원하는 신호를 얻는다. 만일 전기장의 세기가 직접 측 정된다면 , 신호 는 다음과 같다. Is( t ) = ~81r 11,E Lj5s1i 2 =- ~2n(w2J c ud 2,1 ~P ss(, •t ),i l(26 .k d/~2)2 (5.1 5 ) 주목해야 할 점은, 분자들과 외부 전기장 간의 상호작용에 의하여 광학 시 료 내에 형성된 분극 의 세기( 1Ps (t) l2) 는 측정되는 신호의 세 기 I/ t)에 비례한다 는 사실이다. 따라서 비선형 분광학적 신호 를 이 론적으로 계산하 는 것은 광학적 분자들과 외부 전기장 간의 상호작 용에 의하여 유 발 되 는 매 질 전체의 분극을 계산함으로써 가능하다. 식 (5 .1 5) 에 의하여 주어지는 측정의 경우 신호는 시료 내부의 분 극의 세기, 즉 크 기의 재 곱 에 비례하며, 이 방법을 호모다인 (homod yn e) 측 정법이라 고 한다. 반면에 의부에서 가해주는 또 다른 전기장과의 상호 간섭 현상을 이용하여 측정하는 헤테로다인 (he t erod yn e) 측정법 의 경우, 신호는 광학적 시료의 분극에 일차로 비례하므로 보다 정확 한 측정 이 가능하다는 장점이 있다. 그러나 추가되는 전기장을 정교 하게 조절해야 하는 단점도 있다. 후자의 방법에 대한 상세한 기술은 이 책의 범주 를 벗어나는 것이므로 여기서는 다루지 않겠다. 5.4 밀도 연산자와 양자 동역학 먼저 비선형 분광학적 신호와 비선형 분극과의 관계 를 살펴보자. 비선형 분극을 계산하기 위해서는 매질의 동역학적 측면을 양자역학

적으로 고려하여야 한다. 이 를 위해 널리 사용되는 밀도 연산자의 성 질을 간략히 정리할 필요가 있다. 임의의 주어진 양자역학적 계가 순수한 상태(p ure s t a t e) 로 기술된 다고 할 때, 실험적으로 측정 가능한 값은 그에 해당하는 양자역학적 연산자 A 의 기대치에 의하여 결정된댜 = (5.1 6 ) 즉 측정값의 시간에 따른 변화는 시간의 함수인 파동함수 1fJ(t) 를 계 산합으로써 얻을 수 있다. 이 계에 대한 밀도 연산자 p(t)는 다음과 같이 정의된다. p(t) = I lff( t) >< lJf( t)I (5.1 7 ) A- 연산자의 기대치는 다음과 같이 주어짐을 보일 수 있다. = Tr [A p (t)] (5.1 8 ) 위의 식에서 T r{…]는 A p(t)에 의하여 주어지는 행렬의 대각선상 의 요소 를 합하는 연산자(t race) 이다. 만일 주어진 계가 통계역학적인 혼합 상태 (m i xed s t a t e) 에 있고, |'P k 〉 를 발견할 확 률 이 pk 로 주어지 는 경우에 밀도 연산자의 정의는 다음과 같이 달라진다 . p(t) 투 ZPJ #k (t) ><'P k ( t)I (5.1 9 ) k 이 경우에도 임의의 연산자 A 의 기대치는 식 (5 .1 8) 로 주어짐을 증명 할 수 있댜 그러므로 밀도 연산자의 시간에 따른 변화를 이해함으로 써 임의의 실험적 측정값을 계산할 수 있다. 참고로 밀도 연산자의 몇 가지 성질을 요약하면 다음과 같다.

(1) p(t) 는 에르미션 (Herm iti an) 이다 . 죽 p.a p ( t) = p {Ja( t) . (5.2 0 ) (2) p( t)의 대 각 요소 (d i a g onal matr i x elemen t)는 0 보다 크거 나 같다. P aa = Lk Pk < 여 少I,.. 〉〈 'Pk la> = Lk P,J <여 'P k 〉 |2 책 (5.2 1 ) 따라서 대 각 요 소 들 은 주 어진 계가 |a> 상태에 있을 확 률 을 의미한다. (3) p( t) 는 규격 화 (norma li za ti on) 되어 있다 . Tr [p(t)]= l (5.22) (4) Tr {p2 ( t)] ~ 1. 주어 진 계가 순수한 상태에 있을 때 등식이 성 립한다. (5) 비 대 각 (o ff - d i a g ona l) 요소들은 다음의 부동식 을 만족한다 . PaaPPP 타 Pal (5.23) 이 결과 는 일 반 적 인 Schw art z 의 부등식 정 리 로부터 유도할 수 있다. 위에 논 의된 밀도 연산자의 정의로부터 양자 Lio u vil le 방정식을 유도할 수 있댜 땝 = _*[H(t ),p(t)] (5.24) 식 (5 . 24) 에서 [ , ]는 양자역학적 교환 연산자 (commu t a t or) 를 나타 낸다. 일반적인 경우 해밀톤 연산자는 물질과 전기장 간의 상호작용 을 포함하므로 시간에 따라 변화하는 연산자임 을 고려해야 한다. 대

부분의 경우 분자와 전기장 간의 상호작용은 상대적으로 작기 때문 에 섭동항으로 간주하여, 전체 해밀톤 연산자 를 둘로 나누어 생각할 수 있댜 H( t) = H。 +H it) (5.25) 구체적인 해밀톤 연산자의 형태는 다음 절 에 설 명하기로 한다. 전체 적인 이론적 접근 방법은, 식 (5.24) 에 주어진 양자 Lio u vil le 방정식 을 시간에 따른 섭동 이론을 이용하여 풀어서 밀도 연산자 를 계산한 후 측정하고자 하는 값에 해당하는 연산자의 기대치를 계산하는 과 정을 밟을 것이다 5.5 모형 해밀톤 연산자 의부의 전기장과 상호작용하는 분자(용 질 )들이 용매(엑체, 고체 또는 단백질)에 녹아 있는 경우, 용매 분자들과 용질 간의 상호작용에 의하 여 용질의 전기적 상태가 시간에 따라 끊임없이 변동한다. 이 과정은 용매화 동역학적 연구 를 통하여 비교적 심도 있게 연구되어 왔다. 응 축상에서의 분광학적 현상을 설명하기 위한 다양한 이론적 연구가 이미 발표된 바 있으며, 현재까지도 새로운 모형이 꾸준히 제시되고 있으므로, 확고하게 정립된 이론을 소개할 수 없음을 안타깝게 생각 한다. 그러나 대부분의 비선형 분광학적 현상 들 을 성공적으로 기술 하고 있는 한 가지 이론을 집중적으로 다름으로써, 기본적인 개념을 정립하는 데에 주력하고자 한다. 용매의 동역학적 측면을 추정 통계적 (s t ochas ti c) 방법으로 설명하 는 이론이 상당 기간 주목받아 왔으나, 근래에 이르러서는 이론상 간

단하고 실제 상황에 근접 한 조 화 진동자 용매 모형 (boson ic bath model) 이 널 리 사 용되고 있다 이 모형에 의하면 용매의 동역학 적 측 면은 무수히 많 은 수 의 조 화 진 동 자 들 에 의하여 대변될 수 있다는 가 정하에 정 립 된 것으로 모 형 해 밀톤 연산자 를 다음과 같이 가정한다. H( t)= [ ig ~ c ] ―昌 업 E(r, t) + [ 디 : +。 방 ?n.(J): d;} 틀 王(J)。: ( qa _ mC(:J); 5 ):!! 이 정의에서 볼 수 있 듯 이 광학 적 분자(용질)는 간단히 두 전자적 상 태에 의하여 설명될 수 있다고 가정하고 있다 . 식 (5.26) 의 첫번째 항 은 두 전 자 적 바 닥 및 여기 상태의 전자적 에너지 를 나타낸다. µ 핼 는 전기 적 전 이 쌍 극자 모 맨 트 를 나타내므로, 식 (5.26) 의 두번째 항 은 분자의 전기 적 쌍 극 자와 외 부 전기장 간의 상호작용을 의미한다. 세번째 항은 용매 를 대변하는 조화 진동자 들 의 해밀톤 연산자들이다. 주목 할 점은 전자 적 바닥 상태에 비하여 들 뜬 상태의 용매 조화 진 동자 들 은 평형 상태의 위치가 상대적으로 Ca/ma (J);만큼 이동하였 다는 것이다. 여기서 Ca 는 a 번째 용매 조화 진동자가 의부 전기장 에 의한 전자적 전이 과정에 얼마나 크게 영향을 받는지 를 나타내는 척도이므로 이제부터 는 연결 상수 (cou pli n g cons t an t)라고 부르기로 한다. 식 (5 . 26) 에서 제시한 모형은 비록 간단한 조화 진동자 들 로 복 잡한 용매의 동역학적 운동을 대치하고 있으나, 이 들 조화 진동자 둘 의 주

파수 분포와 연결 상수의 크기 둥을 임의로 정의할 수 있기 때문에 현재까지 제안된 이론적 모형을 모두 포함하 는 일반적인 모형임을 강조할 필요가 있다. 5.6 용매화 동역학 식 (5.26) 에서 제시한 모형 해 밀톤 연산자 를 기본으로 하여, 우선 용매화 동역학이 어떻게 기술되는지 설 명하고자 한다. 이제까지 알 려진 바에 의하면 용매화 동 역학 을 연구하 는 데에 가장 적합한 실험 방법은, 시간에 따라 형광 스펙트럼(fl uorescence s p ec t rum) 이 이동하 는 과정을 측정하는 것이었다. 우선 초기에 용매 분자들과 평형을 이 루고 있는 바닥 상태의 광학적 분자 를 수십 펨토초에 이르는 짧은 광펄스 를 이용하여 들뜬 상태로 전이시킨다. 그러면 이 분자의 전자 분포는 순간적으로 변화하고, 주변에 위치한 용매 분자들은 일순간 비평형 상태에 처하게 된다. 시간의 경과에 따라 용매 분자들의 위치 또는 3 차원상의 배치가 변화하면서 새로운 평형 상태에 도달하는데, 이 과정 동안 방 출 되는 형광 스펙트럼은 적색 전이 (red sh ift) 를 보인 댜 여기서는 이 현상을 형광 스 톡 스 전이(fl uorescence St ok es shif t: FSS) 라고 부르기로 하겠다 . 매순간 형광 스펙트럼의 위치 를 측 정하 고 시간에 따라 그래프 롤 그려보면 시간에 따른 용매화 현상에 대한 직접적인 정보 를 얻을 수 있다. 이러한 방법을 이용하여 다양한 용매 들 의 용매화 현상이 연구되어졌고, 이론적인 예측과 비교하면서 이 현상에 대한 미시적인 이해가 가능해지고 있다(용매화 동역학에 관한 이론적 배경은 제 11 장을 참고하기 바란다). 이 방법을 이용하여 측정되어진 결과는 FSS 함수 S( t)에 의하여 간단히 표현된다.

S(t) = 6삭 흥E((t0))-- 삭6 륜 E(( o00o)) (5.27) 이 식에서 1::,.E (t) 는 시간에 따라 변화하는 형광 스팩트럼의 중심 주파수에 Planck 상수 를 곱 한 크기를 의미한다 . 죽 이 값은 들뜬 상 태와 바닥 상태의 비평형 전자적 에너지의 차이를 나타낸다. 위에 정 의된 바와 같 이 FSS 함수는 l 에서부터 감소하여 0 에 접근한다. 만일 충분히 긴 시간이 경 과된 후에는 용매 분자들이 광학적 분자의 들뜬 상태에 의한 전자 분포 와 평형을 이루므로, S (t)는 0 으로 시간에 무 관한 값을 취할 것 이다. 이렇게 정의된 FSS 합수 를 평형 상태에 있는 용매 분자들의 변동 현상과 연관 짓기 위하여, 들 뜬 상테와 바닥 상태의 평형 전자적 에너 지의 차이 6 E(t) 를 다음과 같이 나누어 쓰도록 한다. ^E (t) = <^ E > + 8VSB(t) (5.28) 한 가지 주의할 점은 스 E( t) 가 비평형 상태에서의 에너지 차이를 의미하지만, ^ E (t)는 용매와 광학적 분자 간에 평형이 이루어진 상 태에서의 에너지 차이 를 의미한다는 것이다. 또한 스 E( t)가 양자역 학적인 연산자임에 반하여, ^E (t) 는 비평형 상태에서 평균값이 계 산된 것이므로 고전적인 함수이다. 식 (5.28) 에서 첫번째 항은 시간에 따라 변화하지 않는 평균값을 나타내고, 8VSB( t)는 용매 분자들의 동적 운동에 의하여 유발되는 변동 부분을 나타내고 있다. 선형 감옹 이론(외부에서 가해주는 섭동에 의하여 유발되는 측정 가능한 변화는 외부 섭동의 크기가 작을 경우 일차의 비례관계가 있다)을 적용하면, FSS 합 수는 감옹함수 G (t)와 다음과 같은 관계가 존재한다.

JOO d r G(r) S(t) = ~ J 。 dr G(r) (5.2 9) 여기서 감응함수 는 다음과 같 이 정의 된 다 . G(t) = K [ 8VS B( O) , 8VS B( t )]> (5.30 ) 식 (5.30) 에서 볼 수 있 듯 이 , 감웅 함 수 는 oV sB ( t)의 교 환 연산자 (commu t a t or) 의 기대치 로 주어 진 다 따라서 식 ( 5 . 29 ) 는 바평형 상태 의 이완 (relaxa ti on) 현 상이 평형 상태에서의 변동 에 대한 통 계역학적 연구 를 통하여 유추 될 수 있음 을 보여 주고 있다 . 특 히 위에 정의된 감옹함수 G (t) 는 비선형 분 광학적 현상 , 예 를 들 어 위상공 진 성 이완 (dep h asin g ), 분광학적 선폭 확 대 (o pti cal broadenin g ), 분광 확산 (spe ct ra l dif fus io n ) 현상 들을 이해하 는 데 결 정 적 인 역 할을 담당한다. 주파수 변환 을 통한 분 광 밀 도 (s p ec t ral densit y, p((l))) 를 다음과 같 이 정의함으로써 다양한 현상 들을 일 괄적 인 이 론적 틀 안에서 설명 할수 있다. p(w ) = fm2 처[ iC (2ww 2) ] (5.3 1 ) 식 (5.31) 에서 C( (JJ)는 감옹함수 G( t)의 Fouri er -L ap la ce 변환을 의 미한다. C( (J)) = J。 d(J) e ;'1G( t) (5.3 2) 。 앞서 제안된 모형 해밀톤 연산자와 식 (5.26) 을 적용하면 다음과 같은 사실이 발견된다.

<^ E> = cc- g +Z c\ a 2ma(J) a oVsB = L CaQ a , (5.3 3 ) a 위 식의 물 리 적 의미 를 살 펴보면, 변동하는 위치 에너지 연산자 8VSB( t) 는 용매 조 화 진동 자의 좌표 연산자 q a 에 비례하며, 이때 연 결 상수 는 곧 비 례 상 수 의 역 할 을 담당하고 있다. 식 (5 . 33) 을 감옹 함수의 정의인 식 ( 5 . 3 0) 에 대입하고 분 광 밀 도 (s p ec t ral dens ity)의 일 반적 정 의 인 식 ( 5 . 31 ) 을 이 용하면, 모형 (5 . 26) 을 기 반으로 한 분광 밀 도 는 다 음과 같 이 표현된 다. Ps ( Q) = 감 2 c> @— (L)a ) (5.34) a ma(L )a 용매화 동역 학적 정보 를 함 축 적으로 담고 있는 FSS 함수는 분광 밀 도의 합수 로 달 리 표 현 될 수 있다. S( t) = [ 』 OO d(J ) (J)P s( w) cos (J)t (5.35) 식 (5 . 34) 의 정의에서 아래 첨 자 S 는 이 분광 밀도가 모형 해밀톤에 의하여 결 정되 는 분광학적 함수임을 강조하고 있다. 식 (5 . 35) 에서 규 격화 (normal i za ti on) 상수로 자연스럽게 등장하는 As 는 용매화 재배 치 에 너 지 (solvati on reorg a niz a t ion energy ) 라고 불 린 다. A s = h 』 OO d(J) (J)P s( (J)) (5.3 6 ) 이 값의 물리적인 의미 를 설명하면 다음과 같다. 초기에 외부에서 가 해지는 펄스에 의하여 유발된 비평형 상태는 시간이 지남에 따라 새

로운 평형 상태로 전이한다. 이 과정은 용매 분자들의 운동에 의하여 가능해지며, 그 결과 초기의 비평형 상태의 분자-용매 상호작용 에 너지에 비하여 낮은 값을 갖는다. 이 두 값의 차이를 용매에 의한 재 배치 에너지라고 정의한다 . 앞서 제안된 용매 조화 진동자 모형의 경 우 광학적 분자의 전자적 상태가 들뜬 상태로 변함에 따라 조화 진 동자 들 의 평형 위치 들 이 바뀌 는 데, 바로 이 변화가 용매화 현상을 유 발하는 주된 이유이다. 물론 식 (5.34) 에 주어진 정의 이외에 다 른 형태의 분 광 밀도 정의 들 이 무분별하게 사용되고 있으므로 상당한 혼란 이 야기된다. 식 (5.34) 의 정의가 가장 적합하다고 생각되는데, 그 이유 는 첫째 용메화 재배치 에너지의 크기는 분광 밀도 합수의 평균 에너지로 해석할 수 있고, 둘째 용매화 동역학은 (J) Ps( (J))의 코사인 변환에 의하여 주어 진다는 해석이 가능하기 때문이다. 이 모형의 경우 바닥 상태와 들뜬 상태의 에너지 차이는, 만일 용매가 광학적 분자의 바닥 상태와 평형 에 있다고 가정할 경우 cc-cg+ As 의 값을 가진다. 시간에 따른 FSS 함수의 실험적 측정이 분 광 밀도 Ps( (J)) 를 결정 하는 가장 직접적인 방법으로 알려져 있지만 , 실제 실험상의 문제접 이 있음도 지적할 필요가 있다 . 최근에 사용되고 있는 광펄스는 약 30 - 40 f s 의 넓이 를 가지므로 약 100f s 정도의 용매화 현상에 이르기 까지 측 정이 가능하지만 정확한 함수 형태 를 결정하는 데는 무리가 있다. 이 방법 이외에 광자 매아리(p ho t on echo) 현상을 이용하여 분 광 밀도를 결정할 수 있음이 보고되고 있지만, 역시 상세한 설명은 생략하고자 한다. 지금까지 설명한 실험적 방법 이외에 컴퓨터 를 이용한 분자 동역 학 모사 실험 (s i mula ti on) 은 컴퓨터의 계산속도의 급격한 증가에 힘 입어 널리 활용되는 방법이 되었다. 이 방법을 이용하여 용매화 동역

학에 관한 정보 를 직접 얻어내고 식 (5.27) 에 주어진 FSS 함수 를 계 산하여 식 (5.31) 로부터 분광 밀도를 결정할 수 있다. 물론 현재의 분 자 동역학 모사 실험은 고전적인 경우로 한정되어 있지만, 얻어진 분 광 밀도를 양자역학 적 모형으로 확장할 수 있음이 알려져 있다. 이 과정의 핵심적인 부분은, 용매 를 고전역학적인 조화 진동자들의 집 합이라고 가정하여 분광 밀도를 얻고, 이 조화 진동자들을 양자화함 으로써 용매의 양자 동역학적 인 측면을 고려할 수 있다. 이 절에서 논의된 분광 밀도 를 이용하여 비선형 분극을 계산하는 과정에 대해 서는 다음 절 에서 설명 하고자 한다. 5.7 비선형 감응함수와 분극의 계산 앞 절에서 용매의 동역학적 측 면을 설명하는 이론적 모형을 소개 하고 그에 따 른 이 론직 해석을 간략히 기술하였다. 이제 식 (5 . 26) 에 주어진 모형 해 밀톤 연산자가, 광학적 분자가 용해되어 있는 계를 설 명하는 적절한 모형이라고 가정하고, 비선형 분광학적 신호의 계산 에 필요한 비선형 분극의 이론적 계산을 하고자 한다. 여러 가지 비선형 분광학적 현상 중에서 3 차의 섭동 이론이 필요 한 4 파 혼합 분광학(fo ur-wave mi xi n g s p e ct rosco py)에 대하여 설명 하고자 한다. 식 (5.26) 에 주어진 모형 해밀톤 연산자 를 적용하기 편 리하게 변형하기U ~위e하xp여 {+다음 꾸의 Pa변[ 환: 연:산a자(JJ~ 를 l l 사용한다. (5.37) 위에 주어진 변환 연산자는 유니터리 (un itary)이다. 이 연산자 를 이용

하여 주어진 모형 해밀톤 연산자 를 변환하면 다음과 같다. fl= UHU - 1 = Hi。+ V(r, t) (5.38) 식 (5.38) 에서 차수 0 인 해밀톤 연산자는 두 항의 합으로 주어진다. H。 = H s+ Hb (5.39) 여가에서 Hs =[ ii! 2J Hb= 구{ 2::a + 방 ma(J )!q!} (5.4 0) 섭동 해밀톤 연산자인 V(r, t)는 다음과 같이 정의된댜 V(r, t)= -[ 짜g e~ p(iJj µe ge X~(— il5 ] E( r, t)= -l!E(r , t) (5.4 1 ) 새롭게 정의된 연산자 J 는 다음과 같다. J= 2a h mca(J\) a pa (5.42) 식 (5 .4 1) 에서 볼 수 있듯이 섭동 해밀톤 연산자는 용매의 조화 진동자들에 의하여 변형되었다는 사실에 주목할 필요가 있다 . 이렇 게 변환된 해 밀톤 연산자 식 (5.38) 은 두 준위 분광학적 분자와 용 매 조화 진동자 간의 선형 연결항들이 제거되었으므로, 새롭게 정의 된 V(r,t) 연산자 를 섭동 해밀톤 연산자로 가정하여 이론을 전개할

수있댜 지금부터 변환된 해밀톤 연산자 식 (5 . 38) 을 이용하여 3 차의 비선 형 분극을 계산하고자 한다. 3 절에서 논의한 밀도 연산자 를 계산함으 로써 분자와 외부 전기장 간의 상호작용으로 유발되는 비선형 현상 에 관한 양자 동역 학적 연구가 가능할 것이다. 식 (5.24) 에 주어진 바 와 같이 밀도 연산자 는 양자 Liou vil le 방정식을 따른다. 뿌 = —- {-[ H o , p( r, i) ] -- } [ V( r, t) , p( r, t) ] (5.43) 표기 를 간단하게 하기 위 하여 Lio u vil le 연산자들을 다음과 같이 정 의한댜 L 마 = [Ho,A] L1A= [ lt,A ] L vA= [ V( r, t) , A] = -L.,A E( r, t) (5.44) 양자 Liou vil le 방정식은 다음과 같이 선형 형태로 고쳐 쑬 수 있다 . 坐僚仁 _ -} L 。p( r, t) -- {-L J . r, t) p( r, t) (5.4 5 ) 식 (5 .4 5) 에서 두번째 항을 섭동항으로 간주하고 시간에 따른 섭동 이론을 적용하면, 밀도 연산자는 다음과 같이 확장이 가능하다. p(t)= Z00 p(1 I)(t ) (5.4 6 ) 11= 0 이 식에서 n 번째 항은 잘 알려진 섭동 이론에 의하여 다음과 같다.

p( II)( r, t)=(국)’'Jt 。I dr,, Jt 。r drn-r •• Jt 。~ ' dr1 e 국나 /-r . ) X LV(r,,)e ---f L 。 (r.- r._1 ) L V(r n— 1) … X e 一 *II L- 。. .( r •2 - r.1 . )LT v 信/ _ ), e_ - -f L 。 (r, 갑 ) p(t。) (5.4 7 ) 마지막에 등장하는 p(t o) 는 초기의 평형 상태 를 나타내는 밀도 연산 자로 다음과 같다. p( to) = lg> Tre [xe px p( ( --B部H)b )]

µ= [ µo:g µog] (5.5 1 ) 식 (5 .4 9) 를 식 (5.50) 에 대입하고 교환 연산자를 완전히 확장하면 다 음과같다 . P(3)( r, t)= Tr [E p ( 3)( r, t)] = 다 )3 ft 。: dr3 J1 。r 3 dr2 ft。~' dr1 Tr{ µ( t) [ lt( r아 , [ lt( r2) , [ lt( r1 ) , PC to) ]] ]} E( r, r3)E( r, rz)E( r, r1) (5.52) 이 식에서 새 롭 게 정의된 연산자들은 아래와 같다. µ.(t) =e xp ( 검_ H0t) µexp ( — 검- Hot) = [ µ:; iE, ,,I µege o- iE 1 V=( r ,,[) 투 exp (감_ °H0 r,,) lt exp µ( @—e 감x-p {H 크。 r,K ,T) ,,) 국 E.,r.) l (5.53) µ;ge xp { il< r,,) + ice gr ,,} 0 식 (5.52) 에서 볼 수 있듯이 3 차의 비선형 분극을 계산하기 위해서는 3 개의 적분을 계산해야 한다. 이 적분 형태를 이해하기 쉽게 변형하 기 위하여, 적분 변수들을 다음과 같이 변환하고 ti= r2-r1 t2= r3-r2 t3= t -r 3,

식 (5.53) 을 식 (5.52) 에 대입한 후 Baker-Hausdorf f 연산자 일치 정 리 를 연속적으로 사용하면, 3 차의 비선형 분극은 다음과 같은 형태를 취하게 된다. P(3)( r, t)= J。(X) dt 3 fc。(X) d t 2 fc。(X) dt 1 s<3>( t3, tz, t1) x E( r, t-t3) E( r, t— t3 - t2) E( r, t— t3 - t 2 - tl) (5.54) 이 식에서 비로소 비선형 감응함수인 S(3)(t3 , t2, t!)가 등장하며, 계 산 결과 다음과 같은 형태로 표시된다. s(3)( t3 , t2, A) =다)• 3 O(t3 ) O(t2 ) O(A) Za=4 I[ Ra(t3 , t나 )-R:( t 3, t나)] (5.55) 이때 각각의 비선형 상관함수 (correla ti on f un cti on) 는 다음과 같다 R1( t3 , t2, t1) = exp ( 규 굶 eg t l —i weg t3) x exp {-g•(t3) - g( t1) —g •(t2) +g•(t2 + t3) +g( tr+ t2) -g( t1+ t計 t3)} Ri t3 , t2, t1) = exp (i 굶 eg t l -i 굶 eg t 3) x exp { —g• ( t3) -g( tr) + g( t2) —g( t2 + t3) -g.( t1 + t2) +g•(t1 + t2+ t3)} Rlt3 , t2, tr) = exp (i (J)eg tl 규 (J)e g t3) X exp {-g(t3) -g• (t1) +g•(t2) -g•(t2 + t3 )-g• (t1 냐 ) +g•(t1 + t2+ t3) } R4(t3 , t2, t1) = exp (-i (J)e g t1 _ i (J)eg t3)

X exp { -g( !3) -g( l1) -g( t2) +g( t2 + !3) +g( t1+ l2) —g(l1 +l2+l3)} (5.56) 굶짢는 (ce- cc+ t ts) / n 와 같다. 비록 위에 나열된 이론적 결과의 식들이 매우 복잡해 보이지만, 모든 비선형 상관함수들은 공통된 함 수인 g(t)에 의하여 결정된다 . 특히 공통함수인 g(t)는 분광 밀도 Ps( (J))에 의하여 정 의되 는 함수이므로 모든 중요한 정보는 분광 밀 도에 의하여 결 정 된 다고 볼 수 있다. g(t)의 정의는 다음과 같다. g( t) = -1 A 5t / n + P( t) + iQ(t) (5.5 7 ) 여기에서 보 조 합 수 들 인 P(t)와 Q(t)는 분광 밀도에 의하여 각각 다 음과 같이 계산된다. P( t) = f d(J ) P s( (J)) coth ( /3 n (J)/2 ) (1 - cos (J)t) Q(t) = Jd (J ) Ps( (J)) sin (J)t (5.5 8 ) 그러므로 분광 밀도가 결정되면, 비선형 분광학적 분극의 계산이 원 칙적으로 가능함을 의미한다. 식 (5 . 57) 에 주어진 g(t)는 복소수함수로서 실수 부분과 허수 부분 으로 나뉜다. 실수 부분인 P(t)는 용매와 용질(분광 물 질) 간의 상호 작용으로 인하여 유발되는 분광학적 선폭 확대 (s pect ral broadenin g ) 현상을 나타내는 항이다. 반면에 허수 부분에 해당하는 ( -Ast/ h + Q(t))는 시간에 따라 변동하는 용매 분자들의 운동으로 유발되는 이 완 (relaxa ti on) 또는 분광 전이 (s pect ral shif t) 현상을 기술하고 있다. 이 두 부분은 통계 역 학적 인 동요-소실(fl u ct ua ti on-d i ss ip a ti on) 정 리 에 의하여 연관되어 있다.

5.8 분광학적 선폭 확대 현상에 관한 다양한 모형 앞 절에 유도한 결과들은 식 (5 . 57) 에 정의된 瓜t)에 의하여 모두 계산될 수 있다 . 따라서 용매의 복잡한 변동 현상을 이론적으로 기술 하기 위하여 다양한 모형이 제안된 바 있다. 이 절에서는 이제까지 많은 연구의 대상이 되었던 모형들을 간략히 설명하고자 한다. 5.8.1 Bloch 근사법 이 모형은 가장 오래된 이론으로서 많은 경우에 성공적으로 적용 되어 왔으며, 분광학적 선폭 확대 를 현상학적으로 기술하고 있다. 이 근사법을 간략히 설명하면, 앞에 논의한 바 있는 밀도 연산자의 대각 요소인 p aa( t)는 주어진 상태의 수명(lif e ti me) 을 나타내는 ra 에 의 하여 감소된다고 가정하고 있다. 그리고 비대각 요소인 p a8( t)는 시 간에 따라 위상공진성 이완되는 과정을 거치며 상수 I' (=l'+ ra+r p)에 의하여 결정된다고 가정하고 있다 . 여기에서 F 는 순수 한 위 상공진성 이 완(p ure deph asin g ) 상수 를 의 미 한다. Bloch 의 근사 법을 식 (5.57) 에 주어진 g(t)의 형 태로 표현하면 다음과 같다 . gn (t) =I't (5.59) 이 경우 gB (t) 는 순수한 실수의 함수로서 시간 t에 대하여 1 차의 바 례관계가 있다. 허수 부분이 존재하지 않기 때문에 분광 전이 현상 또는 스톡스 전이 (S t okes shi ft) 둥은 이 모형을 이용하여 설명할 수 없다. 식 (5.59) 의 비 례 상수 r 가 분광학적 선폭 확대 현상을 기술 하는 수치 가 된다. 만일 전자적 바닥 상태의 수명 상수(lifeti me consta n t) rg 를 0 으로 간주하면, I'= r+ 7e 이 다. 이 모형 을 홉광 스

펙트럼의 설명에 사용하면 , 주파수의 변화에 따라 Lorentz 함수를 나 타낸다 . 역으로 홉광 스팩트럼이 Loren t z 의 곡선모양이면 Bloch 의 위 상공진성 이완에 의하여 선폭 확대 현상이 나타났다고 간주할 수 있 다. 만일 Bloch 의 근사법을 비선형 감응함수에 적용하면, 다음의 결 과를 얻게 된댜 R1( t3 , f2, f1 )= exp ( —i 굶 e gf l —i 굶 e gt3 _I'(h + t3) ) R 2( t3 , t2 , u) = exp (i 굶 eg f l 규 굶eg l3 -I'U1 + t3) ) Rl t3 , f2 , t1) = exp (i 굶 e gf l 一 i 굶라 3 一I'( t1 + t3) ) Ri t3 , t2 , t1 ) = exp ( 급; ; e g tI — 1굶 eg t3 _ I'( h + t갑) (5.60 ) 이 경우 굶 e g = (c e _c 김/ h 이다. 위의 식에서 본 바와 같이, 시간 tl , t2 동안에 위상 현상이 나타남을 관찰할 수 있다. 이 결과를 이 용하여 비선형 감응함수 를 계산할 수 있고 매질의 분극과 신호 전기 장을 계산할 수 있으므로, 임의의 비선형 분광학적 측정 신호의 계산 이 가능하댜 그러나 이 모형은 몇 가지 근본적인 문제점을 내포하고 있다. 첫째, 이 모형은 용매의 변동이 무한히 빠르다고 가정하고 있 다 (Markov i an 근사법) . 둘째, 용매에 의한 용매화 현상을 무시하고 있 다 . 즉 g(t)는 허수 부분을 포함하지 않는다. 셋째, 용질의 진동에 의 하여 유발되는 양자 진동(q uan t um beat) 현상을 설명할 수 없다. 이 같은 문제점으로 인하여 보다 진일보한 Kubo 의 모형이 널리 사용되 어 왔다. 5.8.2 Kubo 의 모형 1960 년대 Kubo 에 의하여 제안된 모형은 위에 설명한 Bloch 의 모

형보다 일반적인 것으로 여러 가지 분광학적 선폭 확대 현상을 성공 적으로 설명하였다. 실제로 측정되어진 홉광 스펙트럼들은 Bloch 모 형 이 예측한 바와 같이 Lonren t z 의 함수도 아니 고, 광학 분자의 불균 일한 주변 환경에 의하여 야기되는 가우스함수도 아닌 경우가 흔히 관찰된다. 이를 하나의 일반적인 모형으로 설명하고자 하는 시도가 여러 차례 있었으나, 가장 성공적인 것은 Kubo 의 모형이라 할 수 있 다. Bloch 의 모형과 달리, g(t)는 다음과 같은 함수로 주어진다고 가 정한댜 g(t)= —A6. ~2 { exp ( -At) + At— 1} (5.61 ) 위의 식에서 ^2 는 용매와 용질 간의 상호작용으로 인하여 유발되는 변동의 평균 제곱값을 의미하며, A 는 용매 자체의 상관 시간 (correlati on ti me) 을 뜻한다. 죽, 용매의 변동에 대한 상관함수는 시간 에 따라 지수함수로 감소하며, 이때 감소 를 결정하는 상수는 A 이다 . 반면에 ^2 는 용매와 용질 간의 상호작용의 크기에 의하여 결정되는 값이다. 따라서 이 두 가지 상수는 서로 독립적인 수치이다 . 이 모형 의 두 극단을 조사하면 Kubo 의 모형 이 Bloch 의 모형 보다 일 반적 인 것이라는 점을 이해할 수 있을 것이다. 첫째, A~ .6.의 경우 식 (5.61) 은 다음과 같이 근사될 수 있다 . g(t);;;;;2令 t (5.62) 이 경우 만일 .6. 2/A 를 Bloch 모형의 위상공진성 이완 상수 I'로 재 해석하면 Bloch 의 모형이 자연스럽게 얻어진다. 따라서 홉광 스펙트 럼은 Lorentz 함수 모양이 될 것이다. 반대의 극한에 있어 A~ 6. 의

경우 식 (5 . 61) 은 다음과 같이 근사될 수 있다. g(t);;;L':: ,.2 t2 /2 (5.63) 이 경우 홉광 스펙 트럼 은 가우 스 함수 모양이 된다. 이 경우가 바로 불균일 선폭 확대 현상 을 설명할 수 있는 극한이 될 것이다. 이상으로 Kubo 의 모 형 이 균일 선폭 확대 현상을 설명하는 Bloch 의 극한으 로 부터 불균일 선폭 확대 현상의 극한까지 설명할 수 있는 일반적인 모형임 을 설 명하였다. 그럼에도 불구하고, 최근에 진행되고 있는 연구 결 과에 의하면 대부분의 용매들은 짧은 시간(수백 펨토초) 동안에는 가우 스 함수의 상관관계 를 유지하며 이어서 느리게 변화하 는 부분을 동시에 가 진 다 는 사실이 발견되었다. 이를 일반적으로 설 명하기 위해서 는 앞서 강 조 한 분광 밀도에 관한 이론적 모형을 제시 하고 이 를 바탕으 로 실 험적 결과 들 과의 비교가 필요하다. 5.8.3 확장된 Kubo 의 모형

비록 종래의 모형이 많은 성공을 거두었지만, 식 (5.61) 에 주어진 g(t) 역시 순수한 실수함수로 간주되었다. 따라서 분광 전이 현상에 관한 설명은 이 모형으로는 불가능하다. 이를 보정하기 위한 모형으 로 g(t)를 다음과 같이 가정할 수 있다. g(t)= ~2hAkAB {T e xp ( -At) + At - 1}-i.- Aj - { exp ( 一 A t) +A t-1}. (5.64) 위의 식에서 A 는 용매화 재배치 (solva ti on reorga niz a ti on ) 에너지이 다. 이 식에서 보는 바와 같이, 실수함수 부분은 용매와의 상호작용

으로 인한 분광학적 선폭 확대 현상을, 허수함수 부분은 용매의 재배 치에 의하여 유발되는 분광 전이 현상(예 를 들 어 스톡스 전이)을 설명 하고 있댜 그러나 이 경우에도 짧은 시간 동안의 용매의 변동에 대한 상관함 수가 가우스함수로 감소한다는 사실이 이 모형에 포함되어 있지 않 다. 그러므로 분광 밀도 를 이론적 모형으로 가정하고 g(t) 를 계산하 는 것이 보다 정교한 이론이 될 것이다 . 이 방법에 관한 것은 이 책 의 범주를 벗어나므로 생략하고자 한다 . 5.9 결론 비선형 분광학은 레이저 기술의 발전과 더불어 급속도의 성장을 거듭하는 연구 분야가 되었다 . 1960 년대 중반에 미국의 Bloemberge n 과 동료들에 의하여 이론 및 실험적 연구가 시작된 이후에 주파수 영역과 시간 영역에서의 실험적 연구는 실로 자연과학 연구 전반에 걸쳐 핵심적인 부분을 차지하게 되었다. 비록 다양한 선도적 실험이 현재에도 계속 진행되고 있으나, 그 결과 를 이해하기 위한 이론적 모 형은 다소 느린 발전을 보여왔다. 그 이유는 응축상에서의 현상들 모 두가 무수히 많은 분자들의 운동에 의하여 유발되는 것이므로 이론 적인 기술이 대단히 어려웠기 때문일 것이다. 물론 부분적으로 성공 적인 이론적 모형들이 제안되고 여러 실험가들에 의하여 적용 연구 되어 왔지만, 더 정교한 실험 결과들을 개념적으로 간단하면서도 적 용하기 쉬운 이론적 모형으로 설명하는 것은 아직도 초보적인 단계 에 머물고 있다 . 이 장에서는 비선형 분광학적 측정에 관한 일반적인 이론적 배경 과 함께 몇 가지 이론적인 모형을 소개해 보았다. 그리고 이제까지

연구된 결과들보다 진보된 이론이 머지않은 미래에 등장할 것을 기 대한다 . 참고문헌 [1) N. Bloemberge n, Nonlin e ar Op tics (Benja m i n, New York, 1965) [2] Y. R. Shen, The Pnnc iple s of Nonlin e ar Op tics (Wi ley , New York, 1984) [3] P. N. Butc h er and D. Cott er , The Elements of Nonli ne ar Op tics (Cambrid g e Univ e rsit y, Cambrid g e , 1990) [4] M. D. Levenson and S. S. Kato , Intr o ducti on to Nonlin e ar Laser Sp ec tr o scopy (Academi c, New York, 1988) (5) S. Mukamel, Pr inc iple s of Nonlin e ar Op tica l Spe c tr os copy (Oxfo rd Univ e rsit y Press, New York, 1995) [6] G. R. Flemi ng , Chemi ca l Ap plica ti on s of Ultra fa s t Sp e ctr o s- cop y (Oxfo rd , New York, 1986) (7) G. R. Flemi ng and M. Cho, Ann. Rev. Phys . Chem . 47, 109 (1996) [8] Ultra fa s t Laser Pulses and Ap pli c a tio ns, Top ics in Ap plied Phys ic s , Vol. 60, edit ed by W. Kais e r (Sp ri n ge r, Berlin , 1988)

제 6 장 레이저 흡수 분광학의 원리 및 응용 박정희 6.l 서론 분광학이란 물질이 빛과의 상호작용을 통하여 에너지를 얻거나 잃 는 광학적 과정의 파장 또는 진동수 의존성을 연구하는 학문이라 할 수 있다[1]. 시료의 분광학적 감응은 화학적 조성에 의해 단일하게 결정되므로, 옹용 범위는 물질의 분자 구조 및 다른 물리 화학적 특 성에 대한 정보를 얻기 위해 사용하는 것과 여러 다른 성분으로 구 성된 시료의 특정한 화학종을 감지하는 데 사용하는 것으로 나눌 수 있다. 빛의 홉수나 방출은 분광학적 분석에 사용되는 가장 고전적인 방법이지만, 분광학적 목적에 사용되는 빛과의 상호작용에는 여러 종류가 있으며 그로부터 얻는 정보 또한 다양하다. 죽, 적외선 영역 은 분자의 진동 상태간의 전이에 의한 것이므로 분자 내 핵 배치에 대한 정보를 얻을 수 있고, 전자 전이에 의한 가시광선 또는 자외선 영역의 홉수는 전자 배치에 대한 정보를 얻을 수 있다. 레이저는 100 run 보다 장파장 영역은 거의 다 낼 수 있도록 개발되어 있으며 분광 학적 응용에 필수적인 요소인 높은 세기 및 단색성은 홉수 분광학에

서 중요한 위치를 차지하고 있다. 즉 레이저의 단색성은 고분해능을 주고, 빔의 평행성은 시료의 투과 길이를 길게하여 감도를 증진시킨 다 . 이 장에서는 레이저를 사용한 홉수 분광학의 기본 원리를 먼저 다룬 후 다양한 홉수 분광학 기술을 살펴보고, 그 중에서도 최근에 개발된 다이오드 레이저 를 이용한 적외선 홉수 분광학에 대하여 자 세히 논해 보고자 한다. 6.2 흡수 분광학의 원리 홉수 분광학은 서로 다른 화학종에 의해 홉수되는 파장의 선택성 에 기본을 두고 있으며, 파장에 따른 빛의 홉수 세기 변화를 관찰한 댜 홉수의 선택성이란 시료 를 구성하고 있는 원자나 분자의 높은 에 너지 상태로의 전이 를 만들 수 있는 에너지의 광자를 홉수하는 것을 의미한댜 각 전이는 단일 광자의 홉수가 요구되며 이것은 선택 규칙 에 의해 지배된다. 홉수 매개체를 통과하는 빔의 세기 감소율은 빛의 세기 및 홉수종 의 농도에 비례하므로 다음과 같은 관계식을 가지며, Beer 의 법칙으 로 알려져 있다. -dl=a(v) /Cd! (6.1 ) 식 (6 .1)에서 I 는 복사선 세기, C 는 몰농도, l 은 시료의 통과 길이, a(v) 는 비례 상수로 표시한 홉광계수이다. 특정 파장에서 이 식을 적분하면 다음과 같다. log (J I 10) = -E l C (6.2)

여기서 s=a/2.303 이며, 일반적으로 몰 홉광계수 (e xtincti on coef fi- ci en t)라고 부른다 . 종종 e /C 를 A 로 나타내고 시료의 홉광도 A(a=bs o—rlboagn ceT) 의라 고관 계부식르을며 갖 , 는다투.과 도식( t( r6.a2n) s는m it다t an음ce과) 인 같 이T =나 J타/ Io낼 와 는수 있다. 6.] /I= 1-10-A (6.3) 여기서 스 1 = I。 ― I 이며, 식 (6.3) 의 좌변항은 주어진 파장에서의 시 료 홉수에 의한 빛 세기의 감소를 의미한다. 특히 이 관계식은 홉수 분광학의 다양한 방법의 민감도 를 나타낼 때 유용한 식으로 사용된다. 홉광계수의 파장의 존도는 a ( v )로 표시함으로써 강조된다. 용기 길이 l 에 대해 위 식의 적분은 홉광계수가 입사 세기 또는 홉수가 일어나지 않은 물질 에서의 세기 品와 용엑을 포함하고 있는 용기를 통과한 후의 복사선 세기 1로 측정한다. Beer 법칙의 적분된 형태는 다음과 같이 얻어진다. a( l/)=占 댜 (6.4 ) 주어진 전이에 대한 흡수띠는 일반적으로 한 진동수 영역 이상으 로 확장된다. 따라서 띠의 전체 홉수 세기는 홉수 영역에서 a(11) 를 측정하고 일반적으로 그래프식 적분에 의한 적분된 홉광계수 S를 얻 어 나타낸다. S= fban~ a ( 11 )d11 (6.5) 또는 파수 7의 함수로 나타내면 다음과 같고, 이때 c 는 빛의 속도이다.

S= fhb,,annd n a•( v•) dv = 요C 이러한 실험적 성질 a(v), 또는 S 를 이론적으로 고찰할 필요가 있 다. 시간의촌적 Schrodin g e r 방정식으로부터, l 상태에서 m 상태로의 유도 홉수 전이 속도는 Ein s te i n 계수 B1111 으로 불리 며 다음과 같다. (B,m) p= ~ I µ ,m l 2 P (6.6 ) 여기서 | µ Im I 은 전이 모맨트이며, p는 복 사선의 밀도이다. 광자 에너지 h11111, 이 전이에 의해 입사광으로부터 제거된다고 생각하면, 시료의 길이 dl 을 통과한 빛의 세기 또는 에너지의 감소는 다음과 같이 주어진다. -dl= 툴 I µ Im I 2 P hvIm N'di (6.7) 여기서 N' 은 1cm3 부피의 시료에 들어 있는 분자의 수 를 나타낸다. 또 빛의 세기 I 는 1 초에 1cm2 의 단면적을 통해 흐르는 에너지이므로 에너지 밀도와 다음의 관계가 있다. I=c p (6.8 ) 여기서 c 는 빛의 속도이다. 따라서 다음과 같은 식을 쓸 수 있다. _di= 3h 8사 군µ l ,I2 다c) hV /m N'di (6.9) 실험식과 비교하기 위해 끝으로 N1 을 몰농도 C 와 연관시키는 것 이 필요하다. 아보가드로수 N 과는 다음 관계가 있다•

N'= 麟1000 (6.1 0) 식 (6 . 9) 에서 이 를 N' 대신에 대입하면 다음과 같이 주어진다. 겔 = 3/古 二 ,II 2 어 ) h v Im 겁듦 di (6.11) 이 식을 Beer 법칙의 미분 형태인 식 (6 .1)과 비교하면, a(II) 에 해당 되는 항이 얻어진다 전이에 대한 전체 흡수는 S= f a(11)d11 이므로 다음을 얻을 수 있다. S= 3hc8(7 lr,3 N00 0) V I,,, I µ hI,| 2 (6.1 2 ) 여기서 111111 은 홉수띠의 중심이고, 전이 모맨트는 다음과 같이 정의 된다. I µ Im I = f_+oo oo 'P ; I 마 ,}I dx (6.1 3 ) 시작과 끝의 상태에 대한 파동함수를 알고 식 (6 .1 3) 의 적분이 실행 될 수 있다면, 식 (6 .1 2) 로부터 적분된 홉광계수 또는 단순히 띠 세기가 특정 전이에 대해 계산될 수 있댜 반대로 | µ,111I 2 값과 土 | µ/m1 을 얻기 위해 측정된 S 값을 이용할 수 있고, 따라서 전이에 관계된 상태 의 파동함수에 관하여 알 수 있다. 보통 가시광선과 자외선 영역의 복사선 흡수는 분자의 전자 구조 변화를 수반한다. 여기서는 자세한 매커니즘은 논하지 않고, 전자 전 이로부터 생기는 홉수띠의 세기를 간단한 계산으로 예측하고자 한다. 복사선의 홉수에 관여하는 분자나 이온의 전자는 Hook 의 법칙 형태

에 따라 구형으로 근사된 분자의 중심으로 끌린다고 가정한다. 이런 모델에서 전자의 움직임은 조화 진동자 파동함수로 주어진다 . 전이 의 |µ 1ml 을 구하는 데 필요한 쌍극자 모멘트 를 그것의 평형 위치로 부터 미소 변화 q =r-r e 의 급수 전개로 나타내면 다음과 같다. µ=µq= O + (틀q = O q+… (6.1 4 ) | µl, 1 = J:OOOO #I [µq= 0 + (:q=o q]

I µ10x I = I µ10y I = I µ10 』 =e(~ 노 )l/2 (6.1 7 ) 같은 성분을 더하면 다음과 같다. I µ10 尸= 8 i31-e m2h 函 (6.1 8 ) 식 (6 .1 2) 에 위의 식을 대입하면 적분 홉광계수는 다음과 같이 표현 된다. S= ~ sec-1 cm- 1 mole-1 liter (6.1 9 ) 또는 S = ~ cm-2 mole-1 liter (6.20 ) 이댜 수치 를 이 식에 넣으면 다음과 같이 얻어진다. S = I a( v) d 고 = 2 . 31 x 108 cm-2 mole-1 liter (6.21 ) 위의 결과는 전자 홉수띠의 실제 세기에 대해 비교되는 참고값으로 자주 사용된댜 이 렇게 하기 위해 진동자 세기 (osc ill a t or s t ren gt h) 를 도입하는데, 진동자 세기는 f로 표시되고 식 (6.21) 로 예측된 값에 대한 측정된 적분 홉광계수의 비율로 정의된다. I= ~[[N fe a2/(1v0)0d0기 c 2m] =4.33Xl0-9J a(v )dv (6.22) 실제로 많은 전자의 홉수띠는 거의 일관된 f값을 갖는다. 또한 홉수

띠의 f값이 매우 작은 경우에 그 홉수띠 를 금지된 전이로 부른다 . 레이저가 개발되기 전에는 대부분의 흡수 스펙트럼을 연속적인 광 원 을 사용하여 시료 통과 전이나 후에 단색화 장치 를 사용하여 흡수 의 파장의존도 를 측 정하여 얻었다. 현재 사용되는 대부분의 적외선 및 자외선/가시광선 분광기 는 레이저 를 사용하지 않으며 위와 같은 원리로 작동된다. 통상적인 홉 수 분광기는 홉 광도 최소값이 약 10-2 정도이며 푸리에 (Four i er) 변환을 사용하면 10 배 정도 더 증대된댜 레이저 를 사용한 홉 수 분광기에서 는 파장 을 가변 할 수 있는 레이저 를 사용하여야 하는데, 자외선 / 가시광선 영역은 색소 레이저가, 적외 선 영역은 다이오 드 레이저가 흔히 사용되고 있다. 시료의 다중 왕복 (mul tip le ―p ass) 을 통해 최소 홉 광도 는 10-5 정 도 까지도 가능하며, 홉 수 신호 를 증진시킬 수 있 는 또 다 른 방법으로 공진기 내부 확장 (int r a cavit y enhancement) , 레이저 빛의 진폭 및 진동수 변조 (modulati on ) 등이 있다 공진기 내부 확장 (In t racav ity enhancement) 은 용어대로 시료 를 레이저 공진기 안에 두어 홉 수 세기 를 증가시켜 주는데, 자세한 매커니즘을 논하기엔 너무 복잡하므로 증대시키는 요인만을 간단히 살펴 보기 로 하자. 첫 째 는 공진기 (cavit y) 안에 서 빛 의 진행이 여러 번 왕복되기 때문이다. 둘째 요인은 레이저가 문턱에 가깝게 작동되면 여분의 손실로 인해 문턱 이하로 떨어지므로 레이 저 방출이 감소된다. 방 출 세기는 문턱에서의 손실에 매우 민감하여 약한 흡수라도 레이저 세기의 큰 감소로 나타난다. 또한 시료의 홉수 선폭이 레이저의 이득띠 폭보다 좁다면, 공진기 안의 여러 모드 사이 의 경쟁이 흡수 영역 밖의 모드로 에너지를 효율적으로 전달하여 홉 수 파장에서의 방출 세기 를 감소시킨다. 기준 물질과 시료 를 각각 공 진기 안에 넣어 비교함으로써 높은 민감도 를 얻을 수 있으나 단점은 시료의 정량적인 분석이 어렵다는 것이 지적되고 있다.

변조 (modula ti on) 방법은 투과된 빛의 세기를 진동시켜 위상 _ 감지 (p hase-sens iti ve) 에 의해 홉수 신호를 얻는 방법이며 실험 장치의 큰 변화가 요구되지 않는 장점이 있다. 그림 6 .1은 납염(l ead salt) 다이 오드 레이저 변조 방법을 이용하여 측정한 적외선 흡수 스펙트럼이 다 [2]. 0.2 c m- , 범위의 c-c l/12 신축띠의 회전 미세 구조 를 잘 보여 주고 있으며, 파수 분 해능은 놀랍게도 0.0004 cm-1 이나 된다. 6.4 절에서 는 다이오 드 레이지 를 사용한 적외선 홉수 분광학의 원리 및 응용을 논하고자 한다. 6.3 레이저 홉수 분광학의 종류 약한 흡수, 즉 6 ] 가 lo 보다 매우 작을 경우에는 단순한 투과도 측 정보다는 지 금 까지 개발된 다양한 레이저 분광 기술을 이용하면 감 도가 뛰어난 측 정이 가능하다. 이러한 방법은 빛의 홉수에 수반되는 물리적 과정을 관 찰 하는 것에 기본을 두고 있다. 이 절에서는 빛의 홉수에 의하여 일어나는 시료의 전이에 대한 여러 가지 레이저 홉수 분광학의 방법 들을 논의하고자 한다. 6.3.l 들뜸 분광학 가시 광선이나 자외선의 홉수에 의해 들뜬 원자나 분자의 비활성 화 (dea cti va ti on) 과정 중에는 일반적으로 빛의 방출이 수반된다. 원 자일 경우에는 들뜬 에너지 준위로부터 직접 형광 방출이 일어난다. 분자의 경우에는 여러 소멸 경로가 있는데, 처음에 들뜬 전자 상태로 부터 스핀-허용된 형광이 가장 빠르고도 직접적인 소멸 경로이다. 그러나 비복사 소멸 과정이 형광 전에 일어나면 넓은 범위의 방출이

반)ii.~

서. 8612l 에[] 헌문 진-신C축C동 06F2+, F7 0 A1EF +1+ 참흡 팩(저스럼트 수고 이2A 레 66터+ 오드11,2 U8B A H:CNCB( R63) 2Z 77 333 3 E A, ,,FF 06 60 F F, ,+F21F+터1 F66 07 082+2F+ EA,A ,EF+++1F F+E2+E 96 A21A+1+F2+F .86 91268 .0 ) (1수파-mc c -c 2111신 의동진 축세 미전회 의식방주 여는보이 ·릅조 다구 ne abu6. 1 C 。 림그

01 온화

흡수 흡수 /\J\ rr (a) (b)

그립 6.2 분리된 에너지 준위 를 갖는 간단한 분자의 (a) 들뜸 분광학 및 (b) 이온 화 분광학의 에너지 준위 도표.

발생한댜 비록 특정 파장의 빛에 의해 들떴다 하더라도, 복잡한 구 조의 스펙트럼을 얻게 되는데, 이로부터 유용한 정보를 얻을 수 있 다. 이것이 형광 스팩트럼의 기본 원리이다. 그림 6.2(a) 는 원자 또는 분자의 여러 분리된 에너지 준위의 전이 과정에 의해 발생되는 형광 을 보여주고 있다. 레이저 유도형광 (laser-exc it ed fl uorescence) 이라 고도 불리 는 들뜸 분광학 (ex cit a ti on s p e ct rosco py)은 형 광의 스펙트 럼 구성이 아닌 전체 방출 세기의 들뛰움 파장의존도에 관심을 둔다. 들뜸 분광학의 감도는 바탕 신호가 없기 때문에 시료의 광자 홉수 에 의해 생성된 형광의 모든 광자를 광전중배관에 모으는 것이 중요 하다. 홉수된 모든 광자가 형광으로 방출된다면(양자 효율 1), 들뜸 스 펙트럼은 홉수 스펙트럼의 홉수선 위치나 세기를 반영해야 할 것이 다. 실제로 충돌 과정은 비복사 소멸 과정을 유발시켜 양자 효율을 낮추기 때문에, 기체 시료의 경우에는 기체의 압력을 낮추어야 한다.

또한 감지기의 양자 효율이 불 완전할 뿐만 아니라 감지기와는 다른 방향으로 방출된 형광은 감지하지 못한다는 점도 고려해야 한다 . 그 럼에도 불구하고 들뜸 분광학의 !:::. I/lo 는 약 l0-l 4 정도로 낮아 매우 민감한 홉수 분광학이라고 평가된다. 또한 들뜸 스펙트럼 은 기체 상 태의 순간 화학종 을 연 구하는 데 매우 유용하다. 예 를 들 어 Lip son 은 엑시머 레이저로 두 색소 레이저 를 동시에 펌프시켜 얻은 두 진동수 를 혼합하 여 진공자외선을 얻어 순간적 으 로 존재하는 X ei의 진동-회 전 미세 구조의 들뜸 스펙트럼을 발표하였다 [3]. 6.3.2 이온화 분광학 자의선/가시광선 영역의 홉수를 측정 하 는 또 다른 방법은 홉수에 의해 생기 는 전자적 들뜬 상태로부터의 이 온화를 이용하는 것이다. 이 과정은 그림 6 . 2(b ) 에 도시되 어 있다. 즉, 쪼여주는 빛의 파장의 함수로 이온 생성 률을 관찰하 여 스펙트럼을 얻는다 . 이온화 방법으 로는 다양한 방법 을 사용 할 수 있지만, 바닥 상태 를 이온화하지 않도 록 선택적이어야 한다. 이온화 한계에 가까운 들뜬 상태에 전기장을 가하거나 다른 원자나 분자의 충돌로 이온화 를 유발시킬 수도 있으 며, 이온화에 충분한 진동수의 레이저나 다 른 광원을 이용한 광이온 화 기술을 이용할 수도 있다. 생성된 이온 또 는 자유 전자는 전기장 을 걸어 감지할 수 있는데 그 효율은 거의 100% 에 가깝기 때문에 이 온화 분광학(i on i za ti on s p e ct rosco py)은 홉수를 감지 하는 방법 으로는 가장 민감한 것 중 하나이다 [4]. 레이저로 초기 들뜸 및 이온화하는 경우는 다광자 홉수 분광학 (multip h oto n absorp tion spectrosco py)에 속하므로, 다음 절에서 좀더 자세히 다루고자 한다.

6.3.3 열렌즈 분광학 열렌즈 분광학(t hermal lensin g sp e ct ro scop y) 및 다음 절의 광음향 분광학(p ho t oacous ti c s p e ct rosco py)은 가변 레 이 저 빔 의 홉수에 의 해 발생되는 열에 의한 영향을 측정한다. 전자적으로 들뜬 상태의 비복 사 소멸에 의한 초 기의 열발생을 광열 현상(p ho t o t hermal e ff ec t)이라 고 부 르 며, 열렌즈 분광학의 경우에 는 굴절 률 의 온도의존성을 이용 한댜 죽 흡수된 기체나 액체 를 레이저가 통과할 때의 레이저 빔 주 위의 불균일 굴절률을 측정 한다 . 열개화(t hermal bloomi ng ) 분광학이라고도 알려진 이런 종류의 분 광학 매커니 즘은 다 른 홉 수 분광학보다 더 복잡하다. 먼저 홉수에 의 한 열의 발생은 시료 분자의 이완반응속도론에 의존하며, 부분적인 온도 변화 는 시 료 전체 의 열용량뿐만 아니라 어느 정도는 열전도, 대 류에도 의 존 하기 때 문 에 결 과적으로는 액체가 기체보다 연구하는 데 더 많은 제약 을 받는다. 또한 레이저 빔의 특성도 중요한 역할을 하 고 있다 가우스 분포를 따르는 레이저 빔의 단면적 세기 분포는 굴절 률의 변조가 가능하므로, 레이저 빔을 그림 6.3(a) 와 같이 퍼지도록 해야 한댜 또한 레이저 빔을 주가적으로 단속 (cho ppi n g)하여 변조된 신호 를 감지하여 감도 를 증진시킨다. 열렌즈 분광학 장치에서 주의 를 요할 것은 레이저뿐만 아니라 시 료의 특 성을 충분히 고려하여 선택해야 한다는 점이다. 열이 직접 발 생하는 적외선 영역보다는 가시광선의 홉수가 적당하며, 가변 레이 저는 좋은 횡축 모드 구조를 가져야 하고, 단면적은 일정한 세기를 가져야 한다. 시료 부근에서 빔을 모아 시료에 빔이 균일하게 통과하 도록 해야 하며, 통과 길이룰 따라 신호의 세기가 비례하지 않는다는 것도 주의해야 한다. 또한 빛의 산란에 의해 잘못된 신호가 발생되지 않도록 해야 하며, 시료를 1 분당 1ml 정도 아주 느리게 순환시키지

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못할 바에야 아예 시료를 흘 리지 않는 것이 적당하다. 시료는 수용액 보다는 유기 용매에 있을 때가 좀더 민감하고 t::,.J/ Io 는 약 10 - 7 까지 감지가 가능하댜 이는 시료의 감지 한계가 약 10-11 M 에 해당되므로, 이 방법을 사용하면 비용이 적게 들면서도 민감한 분석을 할 수 있다. 6.3.4 광음향 분광학 광음향 분광학(p ho t oacous tic s p e ct rosco py)은 홉수에 의해 발생하 는 열효과 를 이용한다는 점에서 열렌즈 분광학과 유사하지만, 광음 향 분광학의 경우 열에 의한 압력 증가를 관찰한다. 시료에 입사하는 광원을 단속기 등으로 변조할 때 시료에서 발생하는 같은 진동수의 압력파(p ressure wave) 를 압전 검출기(pi ezoele ct r ic)나 마이크로폰으 로 감지한다 . 소리의 세기는 시료에서 발생하는 열의 양에 의존하므 로 홉수 정도 를 반영한다 . 따라서, 레이저 진동수나 파장에 대한 소 리의 세기 를 측 정하여 스펙트럼을 얻는다. 광음향 분광학 장치는 그림 6.3(b) 에 나타나 있다. 가시광선 또는 적외선 레이저 를 광원으로 사용하면 전자 또는 진동 스펙트럼을 얻 을 수 있다. 단속기 를 통해 변조된 레이저 빔이 시료를 통과시킬 때 생 기 는 음향 신호는 위 상-감지 신호중폭기 (ph ase sensit ive amp lifier ) 로 관찰하여 스팩트럼을 얻는다. 열렌즈 분광학과는 다르게 광음향 분광학은 액체 또는 기체 시료에 적용할 수 있으며, 고체 시료에도 적 합하댜 액 체 의 경 우 ^I/Io 는 약 10 - 7 까지 감지 가능하며, 특히 대 기 오염을 연구하는 데 적합하다(자세한 내용은 제 14 장에서 언급된다). 6.3.5 광유전기 분광학 광유전기 분광학 (o pt o g alvan i c s pect rosco py)은 광유전 효과에 기 본

을 둔 가변 레이저 를 이용한 홉수 분광법이다. 광유전 효과 (op to- ga lvanic e ff e ct)는 시료에 빛을 쪼여주었을 때 일어나는 가체 방전과 같은 전기적 특성 변화 를 일컫는다. 지금까지 설명한 방법과는 다르 게 분자보다는 원자나 이온에 대한 정보 를 제공해 주며, 전자적 바닥 상태가 아니더라도 분포 를 갖는 들뜬 상태의 광학 전이 룰 이용할 수 있댜 기체 방전의 전기적 전류는 원자의 이온화에 기인하며, 이 과 정의 효율은 원자가 갖는 에너지에 의존하므로 이온 연속 상태에 근 접한 들 뜬 상태에 있 을수록 더 효과적이다. 방전관의 전류는 원자의 이온화 를 일으키므로 이 과정의 효율은 원자 상태분포에 매우 민감 하고, 적당한 진동수의 빛이 존재 한다면 홉수에 의해 높은 에너지 상 태로의 원자 전이가 일어나고 방전의 상대적 전압 변화가 생긴다. 쪼 여주 는 진동수에 대해 방전 전압의 변화 를 도시하면 홉 수 스펙트럼 을 얻을 수 있다 . 방전 광유전 스펙트럼의 장치는 그림 6 .4( a) 에 나와 있다. 실제로 외부 저항의 전압 변화 를, 공동 음극 램프 (hollow cath o de lam p)의 방 전에 집적시킨 색소 레이저의 파장에 따라 관찰한다. 감도를 증가시 키기 위하여 , 레이저 출력을 단속기로 변조하여 신호 를 위상 감지 신 호증폭기(l ock - i n) 로 감지한다 . 정확한 스펙트럼을 아는 우라늄이나 토륨을 함유한 램프 를 사용하여 레이저 파장을 교정할 필요가 있으 며, 그림 6 .4 (b) 는 루비듐의 광유전 스팩트럼을 보여준다 [5]. 6.3.6 레이저 자기 공명 레 이 저 자기 공명 (las er mag ne ti c resonance) 은 Zeeman 효과라고 알려진 현상에 기본을 두고 있어서, 종종 레이저 Zeeman 분광학이라 고 부르며, 영구 자기 쌍극자를 갖는 분자에 사용될 수 있다. 영구 쌍극자는 전자 스핀, 전자적 궤도 각운동량 , 자기 스핀과 같은 각운

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동 모맨트나 분자의 회전 모멘트에 기인할 수 있다. 그러나 가장 큰 영향은 전자 스핀에 의한 것으로, 특히 짝짓지 않는 전자를 1 개 또는 그 이상 갖는 원자나 분자의 상자기성과 관계가 있다. 각운동량의 양 자수 J는 (2 J +1) 로 축퇴되어 있고, 방위 양자수 M J는 ―J부터 영을 포함한 J까지의 값을 갖는다. 정류 자기장을 가하면 이 (2J +1) 준위 는 다음과 같이 에너지가 달라진다. h.E = g µn M1 B (6.23) 여기서 g 는 Lande 인자로 각운동량에 의해 결정되며, µB 는 Bohr 마그네톤이며, B 는 자기 유도장을 의미한다. 이러한 에너지 변화는 가해주는 자기장에 비례하므로 자기장의 크기 를 변화시킴으로써 특 정 진동수에 홉수선을 공명시킬 수 있다. 예 를 들 어 2T 의 자기장은 1 cm - 1 의 공명 범위를 만들 수 있댜 레이저 자기 공명 장치는 매우 민감하기 때문에 종종 기체 시료를 사용할 수 있으며, 신호 를 증가시키기 위해 공진기 내부(i n t racav ity) 배치를 사용하며, 스펙트럼은 시료에 가해주는 자기장의 세기 함수로 레이저 출력을 관찰하여 얻는다. 좀더 좋은 민감도는 자기장을 변조시 켜 위상 감지 신호증폭기를 사용하여 얻을 수 있다. 이 방법은 짧은 시간 동안에 존재하는 상자기성 물질을 연구하는 데 적합하다. 마이크 로파 또는 화학반옹으로 생성된 라디칼과 같은 기체상의 불안정한 화 학종__예를 들어 광화학반옹으로 생성된 H02 나 플루오르화수소 원 자와 메탄의 반옹으로 생성된 CCH 라디칼一―을 연구할 수 있다 [6). 6.3.7 레이저 Sta r k 분광학 이 방법은 전기장으로 영구 쌍극자 모멘트를 갖고 있는 분자의 회 전 상태의 축퇴된 에너지를 변화시키는 효과인 Sta r k 효과에 기본을

두고 있다. 극성 분자에서는 전기장의 제곱에 따라 에너지가 달라지 는데 이 룰 2 차 Sta r k 효과라고 부른다. 0 이 아닌 궤도 각운동량을 갖 는 대칭 회전체나 선형 분자의 경우에는 전기장의 세기에 비례되는 또 다른 에너지 변화가 생기는데, 이것을 1 차 Sta r k 효과라고 부론다. 각 회전 상태의 성분 들 사이의 전이는 선택 규칙 스 M J =0, 士 1 이 적 용된다. 전기장이 없 는 경우에 회전 전이의 단일 홉수선은 전기장의 존재하에 여러 선으로 분리되는데, 진동수는 가해주는 전기장의 세 기에 의해 변화시 킬 수 있다는 것이 Sta r k 분광학의 기본 원리이다. 광원은 CO 또 는 CO2 레이저 를 사용하며, 실험 장치는 레이저 자 기 공명 장치와 기본적으로 같다. 자석 대신 전극을 시료 용기의 안 쪽에 넣어 레이저의 횡 축 방향으로 전기장을 만든다. 104V/ c m 의 자 기장을 쌍 극 자 모맨 트 가 2D 정도로 큰 분자에 가하더라도 0.3 c m-1 정도밖에는 에너지 분리가 일어나지 못하므로 최대한의 전기장을 가 해주는 것이 중요하다. 전기장은 전극판 사이의 거리에 반비례하므 로 가능한 가깝게 배치시켜야 하지만, 레이저의 진행을 간섭하지 않 도록 해야 하므로 수 mm 정도의 거리를 가지며, 이때 전기장은 104-105V/cm 정도가 일반적이다 이것도 불충분하면 별도 공진기 (extr a cavit y) 방법 을 사용하여 전극판을 더 가깝게 두거 나 또는 전기 장을 변조시킨다. 레이저 Sta r k 분광학은 극성 분자에 대하여 적용할 수 있으므로, 레이저 자기 공명보다 더 유용하게 쓰이고 있다 . 또한 분자의 쌍극자 모멘트 를 정량적으로 측정하는 방법으로도 충분하다. 예를 들어 Mi to 등은 CH :iC1 5N 분자의 l/ 4 띠의 Sta r k 스펙트럼을 측 정하였다 [7]. 6.3.8 포화 분광학 충돌 및 도플러 선폭 확대 효과를 제거시키는 방법으로, 분자살을

이용 할 수도 있으나 도 플 러 효과 를 갖는 홉 수띠의 중심 진동수 II0 를 측 정 하 는 데 포화 분광학 (sa t ura ti on s p e ct rosco py)을 이 용 할 수 있다 . 포화 분 광학의 원리 는 다음과 같다. 반대 방향으로 진행하는 같은 진 동수의 레이저 범 을 이용하여 시 료 의 홉 수가 포화되도록 한다. 만약 레이저 진동수가 공 명 진동수와 일 치한다면, 도플 러 이동에 의해 진 행 축 의 속 도 성 분 九가 0 인 분 자만이 여기된다 . 한 빔의 통과로 이 분 자의 바닥 상태 분 포 를 제거시키 는 데 충분 하다면 다 른 빔의 홉수 는 거의 일어나지 않 는 데 이때 를 포화 또 는 백색화 ( bleach i n g)가 일 어났다고 한댜 그러나 만약 레이 저 진 동 수가 공 명 진 동 수와 스 v 만 큼 다 르 다면, 한 범 은 축 방향의 속도 t1c= c 6 v/ 쩨t 갖는 분자들을 전 이시키고 반대 방향의 범 은 & =-c6 v /쩌룹 갖는 분자 를 전이시킨 댜 따라서 홉 수 는 레이저의 진 동 수가 홉 수띠의 중 앙과 일치 할 경우 에만 최소 화된다. 이러한 현 상 을 Lamb 의 오 목 합 (Lamb d ip)이라고 부 르 고 그림 6.5(a) 에 도 시되어 있다. 포 화 분 광학의 장치 는 그림 6.5(b) 와 같 이 서 로 반대 방향으 로 진행하 는 레이저 빔 을 이용한다. 두 레이저 빔 을 단 속 하여 , 두 합 성 진동 수 로 변 조 된 형광을 측 정하는 복잡한 기 술 도 있다 . 6.3.9 광학적 이중 공명 서로 다른 진동수의 레이저 빔 을 동시에 시료에 쪼여주는 것을 기 본으로 한다 광학 전이의 조합 을 이용한 다양한 방법이 있는데, 한 예가 그림 6 . 6 에 나타난 것처럼 두 홉 수 전이 를 이용하는 것이다. E1--. E 려 전이가 변조된 레이저에 의해 일어나면 두 에너지 준위의 분포 가 요동한다. 탐지 레이저 빔은 (a) 의 경우는 恥 준위 를 , (b) 의 경우 는 E2 준위의 전이 를 유발한다 . 두번째 전이의 초기에 요동된 상태는 들 뜸 레이저와 같은 변조 주기로 탐지 레이저의 홉수 를 유발한다. 위

(a) 흡수

LAMB DIP l'o 진동수

(b) 빔분 할기 단속 71 기 록 기

가변레이저 광감 X|7l

그립 6.5 (a) 서로 역방향으로 진행하는 같은 진동수 를 갖는 두 빔에 의해 생기는 흡수 띠 중 앙 부분 의 홉 수 감소, (b) Lamb- 오목함 분광학의 실험 장치.

E3E2 E3

E2 E1 E1 (a) {b)

그림 6.6 (a) 광학적 이 중 공명 (op tica l-op tica l double resonance) 의 흡 수 전이 배 치 도.

상 감지 신호증폭기 를 이용하여 이 효과 를 측 정하면 홉 수 전이를 민 감하게 관찰할 수 있다. 6.4 적의선 다이오드 레이저 흡수 분광학 6.4 .l 적외선 흡수선의 세기 적외선 영역의 홉 수 스팩트럼의 홉 광계수와 분자의 진동 상태 전 이 모맨트와의 관계식 을 살펴보면 다음과 같다. S= J a (v)dv= 占 JI n 今 dv sec -J cm- J mole- J lite r (6.24) S = 3l2: 젊 5T 111,,, I µ ,,,,12 sec -J cm - 1 mole -1 lite r (6.25) 진동 전이의 실험 적 연구에서 통상 진동수 v 대신에 cm- 1 단위 를 갖는 ; 를 다루므로, 戶에 의해 적 분된 홉 광계수 S 를 사용한댜 5 = 3h읽 ~ v,111 I µ ,,,,12 cm -2 mole -1 liter (6.26) 진동 상태 전이의 I µ 11111 을 구하는 데 필요한 이종핵 이원자 분자의 쌍극자 모맨트 롤 6 . 2 절 에서와 같이 구하면, 전이 모맨트 다음 식에 의해서 적분된 홉광계수 5 는 다음과 같다 . 5= 3c2( 10T 0N0 )µred '( d뿌q )! ~ o (6.' ll ) 실제로 식 (6.27) 은 측 정된 흡 수 세기로부터 유도 쌍극자 모멘트 를

얻고자 할 때 쓰인다. 예 를 들어 439 cm-1 에서 BrCI 의 기본적인 전이 에 대한 5 의 측정값은 Brooks 와 Cra wf ord 가 S=105 土 14 cm- 2 mole-1 l it er 로 보고하였다 [8]. 이 값과 4.lXlO 접g의 환산 질량으로 부터 계산하면 (겅} )q= O= 士 0.76x 10-10 esu 이다 . 비록 평형 거리 로부터 화학결합의 비 틀 림은 일반적으로 결합 원자에서 전자의 복잡 한 재분배에 의해 수반되지만, (고d旦q ) q = O 값으로부터 예상되는 크기 는 결합 원자에 일정한 전하 (8e) 를 가정함으로써 얻을 수 있다. 이 런 모델에서 결 합 쌍 극 자 모맨트는 µ=(8e)r 이댜 그리고 q= r-re 이므로 (겅 ~)r = r . ' = (김도 = 8e 이다. 이 결과는 (겅':)q = O 의 값 이 전자 전하 (4.8x 10- 10 esu) 와 같은 크기 차수 를 가져야 한다는 것을 의미하며, BrCl 에 대해 얻어진 실험 결과는 이러한 예상과 일치 한다. 6.4 .2 적외선 다이오드 레이저 흡수 분광학의 응용 반도체 다이오 드 레이저는 종류에 따라 0.8-30 µm 의 빛을 낼 수 있댜 그림 6.7 은 반도체의 구조와 특성을 보여주며, 작동 원리와 특 성은 제 2 장의 2.3 절에 논의되어 있다. 스팩트럼 분해능이 매우 높은 적외선 다이오드 레이저의 등장은 분자의 진동-회전 에너지 를 정확하게 측정할 수 있도록 하였다. 따 라서 다이오드 레이저 를 이용한 적의선 홉수 분광학은 분자 분광학 뿐만 아니라 화학 동역학 연구에도 널리 사용되고 있다. 다른 분광학 적 방법 인 레 이 저 유도형 광 (Laser Induced Fluorescence : LIF) 과 다 광자 이 온화 (Mul tip ho t on Ioniz a ti on : MPD 방법 은 분자의 진동-회 전 스펙트럼이 전자 상태의 전이에 따른 Frank-Condon 인자에 의해 결

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정된다. 따라서 대부분의 분자의 경우 모든 진동-회전 양자 준위에 대한 정보를 얻기가 어려울 뿐만 아니라 다원자 분자가 되면 스펙트 럼이 매우 복잡하여 분석하기 힘들어지므로 초음속 분자살 (su pe r­ sonic jet ) 등과 같은 실험 장치가 수반되어야 한다. 가변 적외선 레 이저 빛을 얻는 방법으로는, 다이오드 레이저의 사용 이의에 색중심 (color cent er ) 레이저의 사용, 비선형 결정을 이용한 진동수 혼합 방 법 둥이 있으나 , 스 펙트럼 분 해능 면에서는 다이오드 레이저가 이러 한 방법보다 우수하다 . 또한 FT- IR 분광기와 비교하여 신호 대 잡 음 (s ign al to nois e ) 비율과 스팩트럼 분해능 동이 더 뛰어나며 가격 이 싼 장점이 있다 . 이 절 에서는 다이오드 레이저를 사용한 최근의 연구들을 간략하게 소개하고자 한다 . ® 기체상의 분광학에의 응용 다이오드 레이저 는 대기 중에 미량으로 존재하는 물질의 성분(분 자 혹은 라디 칼 ) 분 석에 매우 유용하게 사용되고 있다 [10]. 적의선 홉 수 분광기의 한 예가 그림 6.8 에 나와 있다. 저온 장치인 헬륨 압축 기에 부착된 다이오드 레이저로부터 퍼져 나오는 복사선을 축이탈 포물선 거울 (o ff -ax i s- p arabola m irr or) 이나 렌즈를 사용하여 집적하 고, 시료 용기(예 : multip a ss cell) 를 통과시킨 후 단색화 장치를 거쳐 인듐안티 몬 (InSb) 적 외 선 감지 기 에 의 해 신호를 얻고 증폭시 킨다. 가 변 다이오드 레이저의 홉수 분광학 기술을 이용하여, 대기 중에 존재 하는 CO2, OCS, CI- Lt, Nz () 둥과 같은 분자들의 진동-회전의 미세 에 너지 준위의 측정 및 정량 분석이 활발히 진행되고 있다. 또한 광분 해에 의해 순간적으로 생기는 라디칼의 스펙트럼 및 농도를 측정할 수 있는데, 그림 6.8 의 (실험 장치의) 시료 용기에 시료의 광분해를 유 발시키는 레이저(예 : 엑시머 레이저)를 통과시키면 된다. 엑시머 레이 저 펄스에 의해 유발되는 적의선 다이오드 레이저의 투과 차이를 일

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. 도 략개 의기광분 저이래 드오 이다 변 가장파 .86 그림

정 시간 동안 적분하면서 레이저를 주사하면 라디칼의 스펙트럼을 얻을 수 있다 [ll]. 반데르발스 분자집단체의 분광학에도 적외선 다이오드 레이저는 사용되고 있는데, 분자가 다른 분자와 약하게 결합하여 분자집단체를 이룰 때 단일 분자의 진동-회전 스펙트럼의 미세한 변화를 측정할 수 있다 [12]. Haym a n [12(a)] 등은 He, Ne, Kr 과 같은 비활성 기체와 ocs 의 초음속 분자살을 이용한 반데르발스 복합체에 대해 연구하였다. ® 기체 상태 동역학 연구에의 응용 고분해능 을 갖 는 레이저 를 이용하면, 상태간 충돌 동역학에 대한 미시적 연구가 가능하다. C 아 분자와 빠르게 움직이는 수소(H) 원자 (hot H, H0) 의 충돌 에 의해 H 원자의 병진운동 에너지가 C 아로 전달 되는 과정을, C 아의 충 돌 전후 진동 - 회전 에너지 변화에 따른 4.3 µm 의 적외선 다이오 드 레이저의 홉수 변화를 측정함으로써 연구할 수 있다 [13]. 측 정 과정 을 간단히 나타내 면 다음과 같다. H2S+ h ! I( 193run, 20ns) - ► H• (230kJ /m ol)+HS (hot H 원자의 생성) H•+C02 (00°, ]', V') 一 H+C02( mnIp, J,v ) (충돌에 의한 에너지 전달) COz ( mn1P, J, V)+ h!I (4 .3 µ m) 一 C02( mnlp+ , J+ 1, v) (다이오드 레이저의 흡수) 여 기 서 m, n, Jr,큰 C 아의 진동방식 v 1(sym me tr ic str e tc h in g, 1337 cm· 1), v 2(bendin g, 667 cm- 1> , v a(anti sy m me tr ic str e tc h in g, 2349 cm · 1) 의 양자수이며, I 와 l 은 회전과 진동의 각운동량 (an gu lar momentu m ) 이 며 , 閃큰 CO2 의 속도이 다. 충돌 전 CO i 분자는 영 점

(00°0) 진동 수준에 있으며, 열적평형 분포를 갖는 각운동량과 속도 V’ 를 갖지만 W 와의 충돌에 의해 에너지 준위는 변화한다. 다이오드 레 이 저 를 이 용하여 00°0 준위 , 10°0 준위 , 0111 준위 , 00°1 준위 둥의 회전 에너지 및 병진운동 에너지 분포를 측정할 수 있다. 시간에 따 른 적외선 홉수 변화 를 측정하는 실험 장치는 그림 6 . 9(a) 에 나타나 있다 H2S 를 분해시켜 H* 원자 를 만드는 193run ArF 엑시머 레이저 와 lkHz 로 변조시킨 다이오드 레이저는 서로 평행하게 시료 용기 (약 l m 길이)를 통과하게 정렬하였다 . 적외선 감지기는 광전압 감지 기(p ho t ovol t a i c de t e ct or) 를 주로 많이 쓰는데, 1-5.6 µm 영역에서는 77K 에서 작동시키는 인듐안티몬 (InSb) 감지기가, 1 一 25 µm 영역에 서는 77K 에서 작동시키는 Hg C dTe 감지기가 널리 쓰인다 [l4] . 감지 기의 감응 시간은 나노초 영역이지만, 증폭기에 의해 감응 시간이 느 려져 약 수백 ns 정도가 되기 때문에 H* 와의 단일 충돌에 의한 CCh 의 에너지 분포를 얻기 위해서는, 적어도 30mTorr 이하의 기체 압력 을 사용해야 안전하다.

그림 6.9 (a) 시간분해 다이오드 레이저 흡수 스팩트럼 을 측 정하기 위한 실험 장 치와 (b) H 원자와의 충 돌 에 의해 둘 뜬 C02 <0 0°I) 의 진동수의 함수 및 (c) 시간의 합수로 나타낸 다이오드 레이저의 홉 수 스펙 트 럼 . (b) 는 다이 오드 레이저의 00°1-.00°2 R(41) 선의 도 폴 러 선폭 확대 홉 수 스팩트럼이 다. 193nm 레이저 펄스 후 720ns 에서 측 정하였고 FWHM(fu ll wid t h at half max i mum) 이 0.013cm - 1 인 가우스함수와 일치함 을 보여준다 . 점 선으로 표시된 흡수 스팩트럼은 실온에서의 도 풀- 러 선폭 확대 흡수 스팩 트럼이다. 이 데이터는 20 mTorr 에서 일대일 비율의 CO2 와 H2S 를 홈 려서 얻었다 . (c) 는 (b) 의 흡수 봉우리에서의 다이오드 레이저의 홉수가 시간에 따라 변화됨 을 보여준다. 엑시머 래이저 펄스가 시료 용기 를 통과 할 때가 t =O 이다. (d) 충돌에 의한 CO2 의 00°1 회전준위의 분포도. 모 든 데이터는 J =O 과 J= 60 사이의 선폭을 보정한 것이다(참고문헌 [12 ] 에서 발췌).

(a)

HV 시료용기 단색화 장치 H° + C02(00°0) 一 H + C02 (00° 1 ; J = 41 ; v)

642 6420

((b) (c) B(

可gB 또u

cW_+-印) 쇼 JO可)o

。 l

4).01 5- -0.0 1 0 --0.0 05.d 10 1(.0c 0m 0-1 ) 0.005 0.010 0.0 1 5 _wc-5 。 A5l 간 (µs) 10 15 4 톰 75 t= 720\ .n. s ., (d) 젊맵 50 ^^ .. 8 ^ : 0응 25 .. ^ ^^l \= Ons ^ A ^. 。 0 10 20 30 40 50 60 70 J

그림 6.9(b) 는 엑시머 레이저 펄스 후 720ns 에서의 00°1-+00 썽 R(41 ) 홉수선의 도플러 선폭 확대를 보여주며, 선폭(fu ll wi dt h at half max i mum) 으로부터 충돌에 의 해 C 아의 병 진운동 모드의 들뜬 정도를 알 수 있댜 그림 6 . 9(c) 는 그림 6.9(b) 의 봉우리에서의 홉수 신호를 보여주고 있는데, 엑시머 레이저 펄스에 따 른 홉수의 빠른 증 가는 H-C02 충돌에 의한 것으로, 적의선 감지기의 감응 시간인 700 ns 에 의해 제한받고 있다. 그 이후의 신호에서 느린 감소는 00°1 진 동준위의 회전 상태 이완에 의해 나타난다 . 이완이 되기 전 시간대인 700ns 에서 신호의 크기를 표준화함으로써 각 회전준위의 상대적 들 뜸 확률을 알 수 있다. 이것은 그림 6 . 9(d) 에 나와 있으며 이 실험 결 과와 이론적인 모델들을 비교함으로써 충돌 메커니 즘을 이해할 수 있댜 진동모드가 들뜬 분자, 죽 248nm 엑시머 레이저로 들뜨 게 한 피 라진(pyrazi ne)[l5] 및 벤젠 [16] 과 450 nm 의 빛 으로 들 뜨게 한 NOz 로부터 CO2, OCS, NzO 로의 에너지 전달 과정 을 같은 실험 장치 를 사용하여 측정 하였다 [17]. Park 등은 Cl+CsD12 - DCI+C6D11 반응의 생성물인 DCl( v = 2050cm - 1) 의 진동잡 1 전 에너지의 분포뿐만 아니라 병진운동 에너지 분포도 측정하여 연구하였다[1 8]. 1.31 5 µm 영역의 InGaAsP 다이오 드 레 이 저 를 이 용하여 iso -C3H1I, CH JI, ICN 의 광분해 에 의 해 생 기 는 l( 2P ltl.)(I.)와 I(2P 요)의 양자 효율에 대하여 적외선 홉수 전이 I(2 麟) + 1.31 5 µ m -+ Ic2 匠) 를 측정 한 결과도 발표되 었다 [19]: 또한 11. 3 µm 영역의 Cl 원자의 홉수 전이인 Cl(2P:v 2) +11 .3 µm-+ Cl(2PIn)(Cl.) 를 사용하여 S2Cl2, NOCI, PCb, Clz 등의 광분해에 의해 생기는 c1· 와 Cl 의 양자 효율뿐만 아니라 Cl 의 병진운동 에너지 분 포 를 측정하여 광분해 메커니즘도 보고되었다 [20].

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제 7 장 레이저 유도형광 박영동 7.1 서론 형광(fl uorescence) 이 란 빛이나 전자 충돌, 전기 에너지, 화학 에너 지 등의 여러 가지 방법에 의하여 들뜬 전자 상태로 변한 분자(원자 도 포함)가 더 낮은 전자 에너지 상태로 전이되면서 방출하는 빛을 말한다. 형 광은 스핀다중도 (s pi n mul tip l i c ity)가 같은 전자 상태간 전 이에 수반되는 발광을 말하며, 스핀다중도가 다른 전자 상태간 전이 에서 나오는 인광(p hos p horescence) 과는 구분되기도 하지만 많은 경 우, 특히 실용적인 측면에서 사용될 때는 이와 같은 구분이 중요하지 않을 수도 있고 또 구분하기도 쉽지 않기 때문에 광범위하게 형광, 인광 등의 발광 (lum i nescence) 을 모두 형광이라고 하기도 한다. 오늘 날 화학, 생화학, 생물리과학 분야에서 형광 분광학은 핵자기공명 (nuclear mag ne ti c resonance : NMR) 분광학 다음으로 가장 광범 위 하 게 옹용되고 있다 [l]. 형광 분광학의 응용은 학제간 연구 분야가 매우 많다. 유기화학자 들이 합성한 형광 소자들은 면역 분석(i mmunoassa y), 생체막 연구,

세포 분리 및 추적 조사 등 많은 분야에 사용된다. 다른 한편으로는 레이저, 발광 다이오드(lig h t emi tting dio d e : LED ), 광섬유, 비디오 카메라, 초고속 영상 기구 등과 유능한 소프트웨어들을 결합한 새로 운 방법들이 개발되어 형광 분광학의 상업적 응용성도 확장되어 가 고 있다. 레이저 유도형광(l aser ind uced fluo rescence : LIF) 은 처음 분자를 들뜬 전자 상태로 전이시킬 때 사용되는 광원으로 레이저 를 사용하 고, 높은 전자 에너지 상태로 전이된 분자가 낮은 전자 에너지 상태 로 전이하면서 방출하는 형광을 말한다. 이와 같은 형광을 검출, 분 석하면 분자의 성질과 변화에 관한 홍미로운 정보들을 이끌어 낼 수 있댜 레이저 유도형광의 특성은 그 선택성과 고감도, 공간과 시간에 대한 분해능 둥의 장점을 가지고 있다. 레이저 유도형광에서 레이저 는 단색성의 강력한 세기의 광원으로 사용되고 있지만, 레이저 광원의 또 다른 특 성인 공진성 (coherenc y) 이 사용되는 경우는 혼치 않다 . 따라서 이 론적 으로는 레이저가 아니 더라도 단위면적당 단색광을 충분한 세기로 낼 수만 있다면 비공진 성(i ncoheren t) 광원으로도 대부분의 실험이 가능하다. 그러나 기체 분자 분광학 둥의 고분해능 분광학이나 수마이크론 또는 그 이하의 시료 를 관찰하는 현미 형광 분광학 둥의 경우는 레이저가 아니면 현 실적으로 거의 불가능하다. 7.2 형광이 지니는 정보 레이저 유도형광으로 어떤 정보를 얻을 수 있을까? 이 를 알아보기 위해서 레이저 유도형광이 일어나는 과정을 다시 살펴보겠다. 그림 7 .1은 형광과 관계된 단계들을 보여주고 있다. 먼저 분자가 레이저

그립 7.1 형 광을 유 발 하 는 단계. 흡 수가 일어난 후 위쪽의 진동 상태는 빛의 방 출 없이 주 위에 에너지 를 전달하면서 전이한다. 그 다음 들 뜬 전자 상태에 서 바닥 상태 로 내려오면서 형광 을 방 출 한다 . (실재로 퍼텐셜 곡선은 진 동 에너지보다 10-100 배 정도 간격이 더 크다 . )

빛을 홉수하여 들 뜬 전자 상태로 전이한다 . 이 홉수 과정을 파장에 따라 관찰한다면 그림 7.2(a) 와 같이 될 것이다. 들뜬 전자 상태에서 분자는 짧은 시간 동안 머무르며 여러 과정을 겪는다. 이 과정에는 다른 분자와의 충돌이나 또는 같은 분자 내의 다른 진동방식나 회전

,Ib,`'` ’`'`, .,'

흡수 (a) ,- `` ` ·i’':,’'’ ‘~ ’ , ‘' .:'``\’ g ` ``` ,``'s ’ 형`,``'광` ` 皇 .` -- `- A •

그립 7.2 홉수 스펙트럼 (a) 는 들 뜬 전자 상태의 특 성 을 반영하고, 형광 스펙트럼 (b) 는 바닥 상태의 특 성 을 반영한다. 형광 스팩트럼 은 마치 홉수 스펙트 럼과 거울상 형태 를 지니며 더 낮은 에너지 쪽으 로 이 동 한다.

모드로 에너지를 전달하면서 에너지 준위 를 따라 내려온다. 분자는 이 전자 상태를 지나 더 낮은 전자 에너지 상태로 전이하면서 에너 지의 차이를 빛, 죽 형광으로 내기도 하며 (rad i a ti ve decay) , 빛을 내 지 않고 (non-rad i a ti ve decay) 다른 경로로 에너지 를 잃는다. 또는 전 자의 스핀이 바뀌면서 계간 전이(i n t ers y s t em cross i n g) 를 통해 다른 스핀다중도 전자 상태로 변한 다음 인광을 낼 수도 있다. 아래쪽으로 의 전자 전이는 프랑크-콘돈 (Franck-Condon) 원리에 따라 수직적 (ve rti cal) 으로 전이한다. 따라서 형광 스펙트럼은 바닥전자 상태의 진동 특성을 보인다. 0-0 홉수 전이와 아래로 내려오는 형광 전이는 항상 정확하게 일치하지 않는데 이는 바닥 상태와 들뜬 상태에서의 용질에 대한 용매 분자들의 상호작용이 같지 않기 때문이다. 전이 도 중에 용매 분자가 재배치될 시간이 없기 때문에 홉수 스펙트럼은 바 닥 상태의 용매화를 반영하지만, 형광 스펙트럼은 용매화된 들뜬 상 태의 분자 환경을 반영한다. 용액이나 고체 또는 분자간의 충돌이 있는 기체 시료로부터 형광 은 대개 입사광의 파장보다 더 장파장에서 시작하는데, 이는 약간의

진동 에너지가 주변으로 손실되었기 때문이다. 형광 색염료의 황홀 한 색은 그 들 이 자외선을 홉수하여 가시광선으로 방 출 하기 때문이 다 . 이와 같은 메커니즘으로 인해 형광의 세기는 분자의 전자 및 진 동 양자 를 받아 들 이 는 용매 분자의 능력에 의존한다. 이는 진동 에 너지 간격이 큰 분자들 이 형광을 소멸시키는 능력이 큰 이유 중의 하나이다 . 분자가 빛을 홉수하는 홉 광 (abso rpti on) 과정은 양자역 학 또는 분 광학 교과서에 잘 정리되어 있다. 들뜬 전자 상태의 분자는 대개 얼 마간 들뜬 전자 상태에 머무 르는 데, 들뜬 전자 상태에 머무르는 시간 은 형광수명(fl uorescence lifet i me , r )으로 표현할 수 있댜 형광은 들뜬 전자 상태의 분자 가 형광을 내어놓을 때까지의 모든 과정을 종 합하여 나타내기 때 문 에 들뜬 상테에 있을 때에 분자가 겪는 경험을 추정할 수 있다. 따라서 들뜬 상태에 머무르는 시간이 짧으면 비교적 정보의 해석이 쉬우나 그 정보의 양이 많지 않으며 시간이 길면 길 수록 많은 과정이 포함되 어 있기 때문에 많은 정보가 숨어 있으나 그 해석은 어려워진다 . 발광 과정은 홉-광 과정과 대칭되는 현상으로 바닥 및 들뜬 전자 상태에서의 분 자 구조 가 크게 다르지 않으면 그 분광 스펙트럼은 그 림 7 . 2 에서 보여주는 것과 같이 홉광 스펙트럼과 비슷한 내부 구조를 갖는댜 일반적으로 형광 분광학은 그 선택성이 라만, 적외선 분광학 둥의 다 른 분광학에 비하여 떨어지나 그 감도는 매우 좋아 극미량 분석 둥의 분석 방법으로 많이 응용된다. 형광 분광학의 감도가 좋은 이유 는 두 가지로 생각할 수 있다. 첫째, 형광을 발생하기 위한 첫번째 단계인 홉수 과정의 단면적이 분자들의 진동 또는 라만 분광에 대한 단면적보다 훨씬 크기 때문이다. 홉수 과정의 단면적은 진동이나 라 만 과정에 대한 단면적보다 103-106 배 정도 크다. 형광 분광학이 홉

D

A c lo s L

그립 7.3 형광 분광학 실험 장치의 개략 . 입사된 레이저 (L) 는 시료 (S) 를 통과하며 시료 분자 를 들 뜬 상태로 만 든 다. 둘 똔 상태의 분자 는 사방으로 형광을 방 출 하는데, 이 방 출 된 형광을 집광 장치 (C) 와 분석 장치 (A) 를 통해 검 출 기에 도착시키면 이 응 검 출 분석한다.

수 분광학보다 더욱 높은 감도로 측정 가능한 것은 형광을 측정하는 방식이 바탕 신호가 없는 조건에서 신호 를 측정하기 때문이다. 형광 스팩트럼은 그림 7.3 에 보인 것처럼 다음과 같이 개략적으로 측정한댜 들뜸 레이저가 시료를 비추면 빛의 진행 방향에 놓인 분자 들이 빛을 흡수하여 들뜨게 된다. 들뜬 상태의 분자들은 바닥 상태로 다시 전이되면서 형광을 사방으로 방출한다. 적절한 집광 장치를 통 해 형광을 광검출기에 모아 검출한다. 광검출기는 입사광을 직접 검 출하지 않기 때문에 분자의 홉수가 없을 때에는 산란 동에 의한 작 은 신호만 전달되게 되고 형광은 검출되지 않는다. 따라서 검출되는 형광 신호의 세기는 분자에 홉수된 빛의 양에 비례한다. 홉수되는 광 자의 최대 개수는 레이저의 세기를 최대로 하여 포화 상태로 만들 때 분자가 레이저 빔 안에 머무는 시간 Tr 과 분자가 들뜬 상태에 머

무르는 시간 ti에 1/2(Tr/m) 의 관계를 가진다. 따라서 발생되는 형 광 광자의 수는 1/2( rr/r;) y이다. 여기서 y는 형광 양자수율이 된다. 레이저의 세기가 분자를 광분해하지 않는 한도 내에서 그 세기를 증 가시킬 수 있으므로 검출 한계를 매우 크게 할 수 있다. 반면에 홉수 분광학에서는 광검출기에 검출되는 빛은 시료를 투과한 입사광(I)이 고, 홉광도는 시료에 홉수된 빛이 없을 때 (Io) 에 대한 비율(I/l o) 이기 때문에 레이저와의 세기를 증가시켜도 증가하지 않고 구별할 수 있 는 빛의 최소 단위는 검출기 및 들뜸 레이저 광의 세기를 종합한 기 구의 동역학적 구간에 의해 제한된다. 7.3 형광 분광학의 기본 방법 형광 분광학은 대부분 다음에서 설명하는 세 가지 기본 방식 중의 하나 또는 그 조합이다. 형광 들뜸 스펙트럼(fl uorescence exc itat i on s p ec t rum) 은 분자 를 들뜬 상태로 여기시키는 레이저의 파장을 변화 시키면서 그때 방출되는 형광을 전 파장에서 수집 검출하여 들뜸 레 이저 파장에 대한 형광의 세기를 관찰하는 것으로, 관찰된 형광의 세 기는 시료의 홉광계수와 형광 양자수율의 곱이 된다. 형광 양자수율 이 일정하다고 하면 얻어지는 스팩트럼은 본질적으로 홉수 스펙트럼 과 같게 된다. 그러나 이 경우 스펙트럼의 분해능은 레이저의 분광분 해능과 같으므로 고분해능 고감도 홉수 스펙트럼을 얻을 수 있다. 이 와 같은 형광 들뜸 스팩트럼은 들뜬 전자 상태에서의 진동 에너지 준위를 확인하는 데 매우 유용하다. 분산 형광 스펙트럼 (d i s p ersed fluo rescence s p e ct rum) 은 들뜸 레이 저를 특정한 파장에 고정시켰을 때 방출되는 형광을 단색광 분광기 를 사용하여 방출광의 파장과 세기를 관찰하는 것이다. 관찰되는 각

파장에서의 형광 세기는 들뜬 전자 상태에서 바닥전자 상태로 전이 할 때 동반되는 광자에 해당되고, 들뜸 레이저의 파장을 알고 있으므 로 특정한 들뜬 상태에서 전이하는 최종 상태에 대한 정보, 죽 낮은 에너지 전자 상태에서의 진동 에너지 준위 들 을 확인 할 수 있다. 이때 의 스펙트럼 분해능은 레이저의 형광 들 뜸 스펙트럼에서와는 달리 단색광 분광기의 색분해능에 의존한다 . 시 간분해 형 광 분광학(ti me resolved fluo rescence s p e ct rosco py)은 빛의 홉수로부터 형광이 방출될 때까지의 시간에 대한 형광의 세기 를 관찰하는 것이다. 이러한 분광학에서 분자의 성 질은 형광수명 r 로써 그 분자의 특성 을 표시한다 . 이 형광수명은 발 광하 는 분 자와 분 자의 환경에 의해 크게 달라 질 수 있다. 7.4 레이저 유도형광 분광학의 기기 장치 레이저 유도형광 분광학에서 사용되는 기기 장치 는 광원으로 사용 되는 레이저, 분자에서 발생하는 형광 을 검 출 하는 검 출 기 및 형광의 특 성을 분석하는 분석 장치 동으로 나눌 수 있다. 레이저에 관해서는 제 2 장에, 관련 장비에 관해서는 제 3 장에 자세히 논의되어 있다. 여 기서는 집광 장치와 분광 장치에 관하여 간단히 살펴보고자 한다. 7.4 .1 집광 장치 형광은 대개 특정한 방향으로 나오지 않는다 . 또한 형광의 세기가 크지 않기 때문에 될 수 있으면 많은 형광이 검출기에 도달하도록 여 러 방향으로 나오는 빛을 모을 필요가 있다. 이 런 구실을 하는 장 치로 렌즈 또는 거울을 사용한다. 렌즈를 사용하여 집광할 때의 장점

은 렌즈를 통과한 빛이 거의 위상과 편광면을 유지한다는 것이다. 단 점은 자의선 영역의 빛을 통과하는 물질이 제한된다는 것이다 . 거울 을 사용하여 집광하는 경우, 거울이 지나간 뒤에서의 편광면을 보존 하기는 쉽지 않다 . 따라서 편광을 분석하기 위해서는 거울 전단에서 분석하는 것이 바람직하다. 7.4 .2 분광 장치 분광 장치 로 는 격 자판(grati n g)을 사용하여 빛을 파장에 따라 분산 하는 단색광 분광기 (s p ec t rome t er) 가 매우 보편적으로 사용된다. 단색 광 분광기의 성 능 은 격자판의 격자 밀도(보통 gr oov e/ mm 로 표시, 예 : 1200g roo ve /m m), 격 자판의 크기, 집광 능력(보통 F/number 로 표시, 예 :F/5 , F/ 12 등. / 밑 의 숫자가 작을수록 가능 집광 능력이 좋음, 숫자의 제곱에 반바례함) , 격 자판과 상( 출 구 슬릿이 위치하는 곳)과의 거리, 슬 릿의 크기와 조 절 능 력 및 회절발의 각도를 조절하는 경우 각도 조 절 능력 등의 사양이 결정된다 . 많은 형광 실험에서는 형광이 특정 파장에서만 나타나기 때문에 복잡한 단색광 분광기 를 사용하는 대신 색 필터와 띠 필터 또는 간 섭 필터를 사용하여 특정 파장의 빛을 선테적으로 검출할 수 있다. 장점은 투과율이 단색광 분광기에 비해 높고 가격이 저렴하며 간편 하다. 그러나 투과 파장의 변화가 어렵고 파장분해능이 떨어지는 것 이 단점이다. 또한 자의선 영역에서 적절한 필터를 구하기 어렵다. 7.5 형광 분광학의 응용 형광 분광학은 매우 광범위한 분야에서 응용되고 있고 그 범위는

너무 넓고 다양하며 매우 발전적이다. 다음은 그 중의 몇 가지 작은 예들이다. 7.5.l 극미량 분석 형광 분광을 이용한 분석의 응용은 매우 광범위하다. 특별히 형광 분광법은 생화학적 분석에 많이 이용되고 있는데 이 는 생체 내에서 의 분자들의 조성이 복잡하고 성분 농도들이 매우 낮아 선택성과 감 도가 좋은 분석법이 요구되기 때문이다 . 레이저 유도형광 분석법을 이용하는 생화학물의 분석은 면역 분석(i mmunoassa y), 사이토매트리 (cy tom etr y), 크로마토그래피 등이 있댜 이런 방법에서 검출할 수 있 는 형광 분자의 검출 한계는 103 _ 106 개 정도이고 [2, 3], 자동화된 핵산 염기 서열 결정에서는 검출 한계가 106 _ 107 개 정도이다 [4, 5]. 현재 레 이저 유도형광으로 검출할 수 있는 검출 한계는 기체 상태에 있는 하나의 원자 [6] 또는 이온 [7] 뿐만 아니라 용액 중에서의 한 분자 [8-11] 까지도 검출할 수 있게 되었다. 7.5.2 초음속 분광학을 이용한 분자 구조 결정 초음속 분자살 (su p erson i c molecular beam) 또는 초음속 자유 제트 (sup ers onic free j e t)는 기체 상태의 분자 연구 를 하는 분자 분광학, 광물리 및 광화학 분야에서 매우 중요한 방법 중 하나이 다[1 2]. 이 방법을 이용하여 분자의 에너지 준위 연구, 구조 결정, 홉광 및 발광 연구, 분자간반응, 저결합 에너지 분자 연구, 광화학, 광물리 둥에 매 우 유용하게 쓰이고 있다. 또한 이 방법은 원칙적으로 고립된 단분자 로부터 시작하여 조절된 응집 과정을 이용하여 작은 결합 에너지로 모여진 여러 분자들의 모임(이것을 연장하면 액체 또는 고체가 된다)을

연구할 수 있는 한 방법이다. 이러한 초음속 분자살을 이용한 레이저 유도형광 분광학의 한 예로 페닐테트라진(p hen y l t e t raz i ne) 의 전자 분 광 스펙트럼과 이와 동반된 회전 분광학을 이용한 분자의 구조 결정 을 살펴보겠다 [13). 그림 7.4(a) 는 페닐테트라진의 1B2 -1A1 전자 전이에 대한 형광 들뜸 스펙트럼이다. 먼저 이 스펙트럼에서 주목할 것은 스팩트럼의 간결성이다 . 일반적으로 상온에서 페닐테트라진 정도의 비교적 큰 분자의 스팩트럼은 열적평형 에 의한 많은 바닥 상태와 분자 간의 충 돌에 의한 스펙트립의 퍼짐으로 인하여 매우 복잡하나, 초음속 분자 살을 이용한 분광 스펙트 럼은 매우 간단하다. 그림 7 .4 (b) 에서와 같이 기체 상태로 가열하여 측 정한 페닐테트라진 분자의 흡수 스펙트럼은 초음속 분광학으로 측 정 한 그림 7 .4 (a) 와는 매우 대조적 이 다. 보통의 방 법으로 측정된 스팩트럼 에서 분자의 전자 전이 원점을 찾기는 매우 어 렵다. 그러나 그림 7 .4 (a) 의 초음속 제트를 이용한 스팩트럼으로 분자의 전자 전이 를 결 정하 는 것은 매우 쉽고 정확하다. 분자의 전자 전이 원 점은 실험학자 들 뿐만 아니라 분자의 파동함수를 계산하는 이론 화학자 둘이 그 이 론 의 타당성을 겁증할 때 매우 중요한 자료로 사용된다. 레이저 분광학 방법으로 페닐테트라진의 바닥 및 들뜬 전자 상태 에서의 진동준위뿐만 아니라 분자의 구조도 밝힐 수 있다. 이는 초음 속 분광학을 이용하여 열퍼짐과 도플러 효과를 줄일 수 있고 강력한 단일 모드 레이저 를 구성할 수 있기 때문에 가능한 것이다. 그림 7.5 는 고분해능 형광 들뜸 분광학을 이용하여 측정한 페닐테트라진의 형광 들뜸 스팩트럼과 이론적으로 계산된 스팩트럼을 비교하고 있다 . 이 그림에서 보인 바와 같이 분자의 구조도 밝힐 수 있다. 이와 같은 방법으로 분자의 구조와 진동주기 를 결정할 수 있다면 이론적으로 기체 상태 분자의 거시적인 성질, 죽 열역학적 성질을 모두 결정할 수 있다.

(a)

헬 륨 속에 있는 패닐테트라진 17617.8 cm 기 o: 6a~ 6a~ 1OI 8.3 11 a1 19500 19000 18500 18000 에너지 (cm-1)

초음속 분자살 을 이용한 레이저 분광학

(b) 0.2 페닐테트라진 (370 K} 0.1 \ / \ 、 l'I . 0.0 \ -- _` 500 55’I’’ 0 600 파장 (nm)

그림 7.4 (a) 초음속 자유 제트 를 이용한 패닐테트라진의 형광 들 뜸 스팩트럼 . 패 닐테트라진 분자는 헬 륨 운반 기체 중에서 4 기압의 압력으로 100 µm 구 멍 을 통하여 진공 중으로 분사되었고 레이저는 이와 직각된 방향에서 분 자 릅 들 뜨게 하였다. 들 뜬 분자에서 나오는 형광은 광전중배관으로 측 정 하였다. (b) 370 K 로 가열된 페닐테트라진 기체의 가시광선 영역 스펙트럼

페닐테트라진 야 띠 회전 스팩트럼

-1.5 -1. 0 -0.5 V 0.5 에너지 (cm-1)

그립 7.5 고분해능 형광 들뜸 스팩트럼 페닐테트라진 분자는 헬륨 운반 기체 중 에서 4 기압의 압력으로 100 µm 구멍을 통하여 진공 중으로 분사되었고 레이저는 이와 직각된 방향에서 분자 를 들 뜨게 하였다. 들뜬 분자에서 나오 는 형광은 광전중배관으로 측정하였다.

7.5.3 형광 스펙트럼 축소 분광학 형광 스펙트럼 축소 분광학 (Fluorescence Lin e Narrowin g : FLN) (14,15] 에서는 형광체 용액을 4-lOK 로 얼려서 분자의 용매 자리의 하나에 해당되는 부분에 대해.형광 들뜸 스펙트럼을 고분해능으로 얻는다. 낮은 온도로 얼리면 용매 자리에 해당하는 선 스펙트럼의 넓 어짐이 없어져 각각의 전이를 관찰할 수 있다. 좁은 선으로 들뜨게 할 때 나오는 발광은 넓게 퍼진 발광 스펙트럼이 아닌 좁은 선에 격

자운동(p honon) 날개라고 불리는 구조를 하게 된다. 이 격자운동 구 조는 형광체의 전자 전이가 용매 격자의 진동과 결합하여 발생한다. 무격자운동 (zero ph onon) 선은 순전한 전자 전이의 결과로 인한 것이 댜 대부분의 용매에서 온도가 lOK 보다 높을 때 격자운동 날개는 무 격자운동 전이에 비해 넓다 . 온도가 증가하면 격자운동 날개의 세기 는 증가하고 무격자운동 선은 줄어 들 어 넓은 띠가 된다. 일반적으로 30 一 50K 이상에서는 좁은 선을 얻을 수 없댜 용매가 투명한 유리 구 조 를 이루어 들 뜸과 발광으로 인한 산란이 적게 되는 것이 바람직하 댜 흔히 사용되는 용매로는 3- 메틸펜탄, 2 - 메틸테트라하이 드 로퓨란, 에탄올, 매탄올, 에탄올 ― 이소펜탄 - 디에틸에테르 혼합 용매, 글 리세롤­ 물-에탄올 둥이 있다 . 형광 스팩트럼 축소 분광학으로 많은 물 질 들 이 연구되었다. 자리 선택성은 이 방법이 본질적으로 가지고 있는 장점으 로 핵산에 다중 고리 방향족 탄화수소로 된 발암물질을 첨가할 때 발생되는 손상의 자리 들 을 성공적으로 확인할 수 있었다 [16]. 7.5.4 Shp ol 's k ii 분광학 1952 년 Sh p o l' sk ii는 몇 가지 방향족 화합물과 기타 화합물을 n - 알 칸에 얼렀을 때 낮은 온도에서 좁은 선을 가진 방출 스팩트럼을 관 찰할 수 있었다 [17]. 이같은 현상은 n ― 알칸을 얼릴 때 생기는 다결정 고체 매트릭스가 보다 균일한 환경을 조성하는 매트릭스 유발 효과 로 인하여 좁은 선의 스펙트럼을 만드는 것이다 . 보통 이 경우의 스 펙트럼 선의 폭은 온도에 따라 다르지만 1-10cm-1 정도가 된다. 주인­ 손님 분자간의 전자-격자운동 결합이 약하기 때문에 77K 정도의 온 도에서도 잘 분해된 스펙트럼을 얻을 수 있다. Shp o l's k ii 분광학의 필요 조건은 시료가 n- 알칸에 대한 용해도가 있어야 한다는 것이다.

이런 제약이 있기는 하지만 시료를 다론 용매에 일단 용해한 후 다 시 n 一알칸에 희석하는 방법으로 이런 제약을 피할 수 있다 [18]. 시료 는 액체질소나 헬륨에 담구거나 헬륨냉각기를 사용해 빠르게 냉각한 다 . 매트릭스는 반투명하여 산란이 강하지만, 시료를 o-o 전이로 들 뜨게 할 필요가 없기 때문에 산란광을 필터로 여과하면 잘 분해된 발광 스펙트럼을 얻을 수 있다 . Shp o l's k ii 효과 를 통해 잘 분해된 스 펙트럼을 얻을 수 있 는 화합물 둥이 많지 않아 아직은 이 방법을 이 용한 분석적인 응용이 넓지 못하다. 7.5.5 매트릭스 고립 분광학 매트릭스 고립 (Ma t r i x Isolati on ) 분광학은 형광체를 기화시켜 과량 의 비활성 기체(매트릭스 기체)에 혼합하여 15K 이하의 극저온 표면 에 흡착시켜 사용한다 [19 - 2 1]. 네온, 아르곤, 제논, 질소, n- 알칸, n- 사플루오르알칸 등 의 바 활 성 기체가 매트릭스 기체로 사용된다. 매 트릭스 기체 는 용질 분자들의 엉김을 방지하기 위해서 사용된다. 이 방법은 시료가 열에 비교적 안정하여 쉽게 기화할 수 있을 때 가능 하기 때문에 기화시켜 분해되는 화합물에는 사용하기 어렵다. 참고문헌 [1] 0. S. Wolfb e is 0. S. ed., Fluorescence Spe c tr o scopy (Sp ri n g e r-Verlag, Berlin , 1993) [2] K. H. Mi lby and R. N. Zare, Am. Clin. Prod Rev. 3, 14 (19 84) [3] K. A. Muir h ead, P. K. Horean, and G. Poste , Bio / Technology , 3, 337 (19 85)

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제 8 장 극초단의 중적의선 레이저 펄스를 이용한 분자 전동 분광학 김용록 8.1 서론 펄스 레이저의 개발과 그 응용이 활발해짐에 따라 이룰 이용한 많 은 중요한 연구 들 이 화학 분야에서도 이용되고 있다. 특히 최근에 극 초단(1 0 - 12_10 - 1ss) 펄스 레이저를 이용한 빠른 분자운동 상태 혹은 분자반응 등에 관한 연구들이 이루어지고 있다 [1-5]. 이러한 여러 기 본 분자운동 상태 들 이 어떤 시간상에서 이루어지고 있는가에 관한 대략적인 기술이 그림 8 .1에 나타나 있다 [6]. 현재까지 이러한 빠른 분자운동 상태들이 주로 연구되고 있는 에 너지 영역은 자외선, 가시광선 및 적외선 파장 영역이다. 극초단의 자외선 혹은 가시광선 레이저 펄스를 이용한 팸토초의 시간분해능으 로 많은 연구들이 화학, 물리, 생물학 등의 분야에서 이루어지고 있 으며 최근에는 레이저 기술과 응용 기술 개발로 인해 중적의선 (mi d- in fra red) 영역에서 일어나는 분자운동 상태, 특히 분자 진동운 동 상태 (v i bra ti onal molecular dyn am i cs) 에 관한 연구들도 팸토초의 시간대에서 직접적으로 중적외선 레이저 펄스를 이용하여 활발히 진

액체상의충돌시간

분자회전운동 용매이완작용 액체상의 전자위상 진동위상공진성이완 공진성이완 진동이완 진동운동 전자이완 10에합 -성 너 1 5 지回전 이서 10-1 1 4 —광이분1온0자-화 1 내3 현양상성 자전1이0 기l 甘l 2 二 ] _ 광10합- 1성 1단 계백에질서 내의부 1운0동- 1 0 10-9 분자간양성자전이 광겨의·· 전자전이 상자 재결합 | ――二門리亡二 二二\ 광화학적 이성질화

그립 8.1 화학적 혹은 생 물학적 분자계에서 일어나는 기본 분자 상태 들 의 대략적 인 시간 법위 : lns 보다 느 린 시간대의 반응 들 은 열려진 괄 호 안에 나타 나 있다.

행되고 있다[1. 7.8]. 이 장에서는 주로 피코/펨토초의 중적외선 레이저 펄스 혹은 연속 출력 중적외선 레이저를 이용하여 극초단의 시간대 no - 11-10-13s) 에서 최근에 진행중인 분자 진동운동 상태에 관한 연구들 중 몇 가지 연 구 실례와 그것에 사용된 레이저 실험 장치들에 관해 살펴보고자 한다.

8.2 극초단의 적의선 펄스의 발생 원리 원하는 파장의 극초단 적외선 펄스를 얻는 방법에 관해 간략히 알 아보면 다음과 같다. 연속 출력 적외선 레이저에는 전기적 방전을 통 한 기체 분자 들 의 들 뜬 상태 를 이용한 기체 레이저 (CO, CO2 등)들과 반도체 다이오 드 레이저 들 이 있으나 이 레이저 들 로는 극초단의 적의 선 펄스를 얻어낼 수 없다 . 피코초/팸토초의 적외선 펄스 를 얻기 위 해서는 파라메 트 릭 상호작용(p arame t ric i n t era cti on) 이 란 현상을 이용 하여야 한다. 이 현상은 비선형 광학 특성을 가진 물질에 최고 출력 (pea k p ower) 의 레이저 펄 스를 투과시켰을 때 발생되며, 이러한 성질 을 가진 물질로는 현재 Lil 0 3. KTP, Ag G aS2, Li Nb 야 등의 결정체 들 이 있고, 최 근 들 어 이 들 을 대체할 수 있는 물질에 관한 연구가 고 분자 분야에서 활발 히 진행되고 있다. 이러한 비선형 광학 특 성 을 가진 물질( 특 히 앞에서 기술된 결정체)들 을 이용하여 극초 단의 적외선 펄스를 만드는 방법들에는 크게 두 가 지로 구분 할 수 있다 [9]. 첫번째 방법으로, 하나의 강한 파장((J)J)의 레이저 펄스 를 비선형 물질에 투과하면서 위상일치 각도(L:::,. k=O) 를 원하는 파장((J) 1 = (J) 2+ (J) 3) 에 맞추면 두 가지 다른 파장의 약한 빛들 ((JJ2 , (J) 3) 이 발생한다. 이렇게 얻어진 파장의 빛들을 연속적으로 위상 일치 조건이 조절된 여러 개의 결정체들에 통과시키면 원하는 파장 의 적외선을 증폭 할 수 있다. 두번째 방법으로, 두 개의 다른 파장의 펄스들((J) I, (J) 2) 을 이용한 것으로 일반적으로 진동수 차이 혼합 (dif fer ence freq u ency mi xi n g ) 이 라고 한다. 이 경 우 두 개 의 다른 파 장의 차이에 해당되는 파장의 펄스((J) 3= (J) 1- (J) 2) 를 그 파장들을 모두 만족하는 위상일치 조건(L:::,. k=k1-k2_ka=O) 하에서 얻을 수 있다. 이 두 가지 방법들에는 각각의 장단점들이 있다. 이렇게 생성된 적외선 펄스의 스펙트럼 선폭과 펄스 폭은 주로 입

사되는 펄스들에 의존하지만 매개체의 두께, 위상일치 조건 혹은 매 개체 안에서의 두 펄스들의 공간적 일치성 (s p ac i al overlap) 등에 의 해서도 영향을 받는다. 특 히 팸토초의 시간대에서는 단체속도 확산 (grou p velocit y dis p e rsio n ) 현상으로 입사 펄스간의 파장 차이로 인 한 시간차가 형성되며, 그로 인하여 발 생되는 펄스에 시간적인 확산 현상이 형성된다 . 그러므로 원하는 시간 해석 능 력 에 따라 적절한 매 개체의 두께 룰 이용하는 것이 중요하며, 이러한 굴절률 이 높은 매개 체 안에서 형성되는 다 른 파장의 빛 들 간에 일시경과 시간(t rans it ti me) 의 차이는 다음 식으로부터 계산된다 [l0 , l1]. ^ tE : [ ( n+ (J}d n/d(J} ) i 一 ( ndn+ (J}d n/d(J });] l/c (8.1 ) 여기서 l은 매개체의 두께 를 나타내며 두 개의 괄 호 속 의 항 들 은 매 개체 를 통과하는 두 개의 다 른 파장의 빛 들 의 특 성 을 의미한다 . 8.3 액체 용액 상태에서 극초단의 적의선 분광학 8.3.1 극초단 적외선 분광학의 필요성 극초단 레이저 펄스의 개발이 적외선 영역에 도달함에 따라 분자 진동운동에 관한 연구가 활 기 를 띠고 있다. 지난 반 세기 를 넘어 이 에너지 영역에 해당되는 분자운동에 관한 연구는 주로 FT- IR , 라만, 혹은 초음파 (ul t rason i c wave)[l2] 등의 실험을 통하여 이루어져 왔으 나, 저압력의 기체 상태나 저온의 고체 상태와는 달리 액체 상태에서 의 분자 진동 에너지 전이는 분자 들 간의 복잡한 충돌 현상으로 기인 한 복잡성으로 인하여 정확한 이해가 크게 부족한 분야이다. 액체 상

태에서의 분자운동은 간단한 이중 (b i n ary) 이론 [13] 으로 설명하기에 는 너무 많은 충 돌 과정을 겪으며, 또한 조화 격자운동 근사법 (har­ monic ph onon a pp rox i ma ti on) 으로 이해하기에도 분자 상태가 너무 무질서하고 비조화적 (anharmon ic)이다. 이러한 복잡한 액체 상태에서 의 분자 진동운동으로 인하여 고전적 진동운동 연구 방법 들 로는 액 체 상태의 분자 진동운동에 관한 많은 이해 를 얻기 어렵다 . 몇 가지 예를 들 면 FT - IR 이나 라만의 방법 들을 이용하면 분자 내 결합 진동 에너지 위치와 스펙트럼 선폭을 알 수 있다. 이 두 가지 특성 안에 분자운동 상태 를 이해하기 위해 필요한 모든 정보가 들어 있다. 하지 만 앞에서 설 명된 이유 들로 인해 액체 상태에서의 분자 진동운동은 이 두 가지 정보 들 로는 이해하기 어렵다. 특히 액체 상태에서의 스팩 트럼 선폭은 대 부분 로 렌츠함수 (Lorenz i an) 형 태가 아니다. 다시 말 해 불균일 선폭 확대 때문에 비탄성 충돌 현상으로 인한 분자운동 이완 과정 시간 (T1) 이나 탄성 충돌 현상으로 인한 분자 진동공진성 이 완 (coherence loss, T/) 에 관한 올바론 자료 를 얻을 수 없다. 액 체 상태의 분자 진동공진성 이완은 매우 빠르기 떄문에 현재의 적외선 레이저 펄스의 기술로도 직접적으로 연구되지 못하지만, 이보다 비 교적 느린 시간대 (100 fs - 100PS) 에서 일어나는 액체 용액 상태에서의 분자 진동 에너지 흐름 (T!) 에 관한 연구는 활발히 이루어지고 있다. 음향파 홉수 스팩트럼 연구를 통하여 전반적인 분자 진동운동 이완 현상을 연구할 수 있지만, 이 방법으로는 특정 분자 진동운동을 연구 할 수 없으며 나노초의 시간대보다 빠르게 발생되는 동역학에 대해 서는 연구되어질 수 없다. 다른 한편으로 극초단 레이저 펄스 를 이용한 유도 라만 들뜸 (sti m ulate d Raman exc it a ti on)/ 비공진성 라만 탐지(in coherence Raman pro be), 혹은 형광 탐지, 공명 적의선 들뜸 (resonan t infra red p um p)/적외선 탐지(inf rared pro be) 둥의 방법을 이용하면 각기 원하

는 특정적인 에너지 상태에서 일어나는 분자 진동 상태를 빠른 시간 대에서 이해할 수 있다 [14]. 이 중에서도 피코초 혹은 펨토초 시간대 의 적외선 레이저 펄스 를 사용한 순간 홉수 분광학(t rans i en t ab- sor ption s p e ct rosco py)이 다 른 방법 들 보다 더 많은 장점을 갖는다. 원 하는 특정 분자 진동운동 들 뜬 상태 를 만든 후 여러 운동 상태들에 해당되는 파장의 적외선 레이저 펄스로 관 찰 할 수 있다. 적외선 펄스 의 직접 홉수로 인해 전이 쌍극자 모멘트의 크기가 라만의 경우보다 몇 십배 크기 떄문에 큰 신호 를 얻어낼 수 있어 매우 붉은 용액 상 태에서의 분자운동도 측정 할 수 있다. 분자의 적외선 홉 수는 라만 현 상과는 달리 1 차 현상이므 로 비교적 쉽게 해석 할 수 있다. 이외에도 극 초단 레이저 펄 스 를 이용한 펨토 초 의 가시광선으로 인 한 들 뜸 상태의 발 생과 이에 따 른 연 속 파형의 적외선 탐지 방법은 가시광선을 홉 수하여 분자전이 상태(이성 질 화 , 양성자 이 동 , 광분해 등) 를 갖는 분자들에 많이 응용되고 있다 [15, 16]. 이 방법 을 간략히 설 명하면 다음과 같다. 연구하고자 하 는 결 합에 해당되 는 에너지의 파 장을 포함하는 연속 파형 (con ti nuum) 의 적외선 레이저 를 그 들 뜸 현 상을 발 생시킨 극초단의 가시광선 레이저 펄스와 같이 용액 안에서 공간적 시간적으로 일치시켰을 때 특 정 결합이 형성 혹은 분리된다. 이에 따라 그 결합에 해당되는 적외선 레이저 파장이 홉수되거나 투 과되어 적의선 레이저에 그 흔적이 남는다. 물질을 통과한 후 홉수 혹은 투과 흔적을 간직한 적외선 광선이 또 다른 극초단의 탐지용 가시광선과 비선형 결정체 (L i Oa, KTP, BBO 등) 안에서 섞이면서 다 른 파장의 빛을 만 들 수 있다 . 여기서 극초단 탐지용 가시광선 펄스 룰 시간적으로 조절하면 적외선에 새겨진 혼적을 시간상에서 관찰할 수 있어 동역학적 정보 를 얻을 수 있다. 또한 레이저 펄스의 파장을 변환시키면 에너지상에서의 정보도 얻어낼 수 있다 . 레이저 펄스의 편광(p ol ari za ti on) 특성이 앞에서 논한 모든 방법들

에서는 생략되지만 편광 특성을 얻고자 하는 실험에서는 그에 맞게 조절되어야 한다. 자의선이나 가시광선의 경우 이분파판 (hal f wave pla te ) 혹은 사분파판(q ua t er wave pla te ) 등을 사용하여 바꾸어줄 수 있지만, 적외선의 경우는 장파장 특성으로 인해 간단하지 않다. 대신 두 적외선 반사경(p e ri sco p e) 을 이용하는 경우가 많다. 편광 특성을 잘 이용하면 적외선 바동방성(infrar ed an i so t ro py)을 측정할 수 있으 며, 비등방성(r(t))은 상관함수(〈 Pi[µtnm ,p( O ) . µpro1,c(t)]〉)와 관계가 있 댜 여기서 µp um p (O) 는 들 뜸 과정에서 형성된 전이 모맨트를, µpro1,c(t) 는 탐지 과정에서 형성된 전이 모멘트를 나타낸다. 특히 적외선 펄스 실험에서 이러한 편광 특성을 이용하는 실험은 큰 장점을 가지고 있 댜 아무리 복잡한 분자라 할지라도 적외선 전이 쌍극자 모멘트는 잘 알려진 화학결합선상에 있으므로 쉽게 이해될 수 있어, 분자의 부분 적 혹은 전체 운동 상태 혹은 반응물과 생성물의 구조적 변환에 대 한 동역학적 정보 를 얻을 수 있다 . 8.3.2 극초단의 적외선 레이저 펄스를 이용한 실험 장치 및 그 0 __R 0 0 앞 절에서 논의된 두 가지 방법 중 진동수 차이 혼합법 (d iff erence freq u ency m i x ing)을 이용하여 얻어진 극초단의 적외선 펄스를 사용 한 적외선 들뜸/적외선 탐지 측정 방법과 이를 이용해 얻은 희석된 용액 속에서의 작은 이온 (N3 - ) 의 진동 에너지 흐름 상태에 관해 살펴 보겠다 [7]. 이 실험에서 응용된 두 개의 다른 파장들의 극초단 적외 선 둘뜸/연속 파형의 적외선 탐지 측정 방식에 사용된 레이저 장치 는 다음과 같다. 모드一잠금 (mode-locked) Nd : YLF 레이저가 주레이저로 사용되었 다. 이 주레이저에서 얻어지는 1.05 µm 의 근적외선을 비선형 결정체

(KTP) 를 이용해 진동수 배가(fr e q uenc y doubl ing)를 시켰으며, 보다 안정된 파워를 얻기 위해 진폭 안정 장치 (am plit ude s t ab ili zer) 를 사 용하였다. 이렇게 얻어진 녹색의 레이저 광 (527run, 60p s FWHM) 을 펨토초 이중 제 트 색소 레이저의 광원으로 사용하였다. 진동수 배가 후 남은 1.05 µ m 의 레 이 저 광은 재 생 증폭기 (reg e nerati ve amp li fi er) 에 씨앗 (seed) 펄스로 사용되었다. 이 재생증폭기로부터 527nm, 1m J, 50 p s 의 레이저 펄스를 lkHz 의 반복률로 얻어낼 수 있으며 이 원리 는 참고문현 [17] 에 자세히 설명되어 있다. 이 실험에 사용된 펨토초 색소 레이저는 그림 8.2 에 나타나 있다. 이 색소 레이저는 Dawson 둥에 의해 처음 설계되었으며[1 8, 19], 펨토초 형광 단파장 변환 (up c onversio n ) 실험들에 사용되었다 [4]. 간략히 설명하면 이 색소 레 이저는 일명 혼합 모드 - 잠금 분산 방지 색소 레이저 (h y b ri dl y mode-locked dis p e r sio n comp e nsate d dy e laser) 라 불 리며, 이 실험에 서는 로다민 590(Rhodami ne 590) 을 수율 제트 색소(g a i n jet dy e) 로

둘 뜸광

--- --…… … --- 多 - --- -- ---- ~ -- - -- - - - - - -- - - ----~ -- -- \ -\ !’’ 포화흡수제 1-- -- - ► 발생광 슬릿 프리즘

그림 8.2 팹토초 혼합 모드-잠김 색소 레이저 : 공진기 안에 있는 슬 릿은 파장 조 절을 위한 것이며 한 쌍의 프리즘들과 하나의 반사경은 공진기 내에서의 단체속도 확산(gr ou p veloc ity d i s pe rs i on) 에 대한 보정 작용 을 한다 .

사용했고 2/3 비율의 DODC I/DQO CI 를 포화홉수제 (sa t urable absorber) 로 이용했다. 수 동적 모드-잠금 작용을 하는 이 포화 홉 수제의 비선 형 특 성 을 이용하 면 극초 단의 레이저 펄스 를 얻어낼 수 있다. 이렇 듯 시간상에서 짧아진 펄 스 는 공명기 안에서 제트 들 과 반사경 들 로부터 단체 속도 확 산 현 상 ( gr ou p veloc ity d i s p ers i on) 을 겪어 다시 시간적으 로 넓어 지 며 불 안정해 진 다. 이러한 현상 을 방지하기 위해 한 쌍의 프 리 즘과 하나의 반사 경 을 사용하여 분산 방지 (dis p e rsio n comp e nsa- ti on) 를 시 켜주었 댜 이 러 한 현상 을 색 소 레이저의 특 징인 파장 가변 을 위해 슬 릿 ( sl it )의 폭을 잘 조절 하면 불 확정성의 원리 ( 6 v 6 t = 상수) 에 따라 색소 레이 저 펄스 의 파장 선 폭 과 펄스 폭 을 조절 할 수 있다. 아래 실험 에서 사 용된 로 다민 590 을 색소 로, DODCJ / DQ OCI 를 포화 홉수제 로 이 용한 색소 레이저 로부 터 0.5n J, 300f s, 76MHz 펄스 를 582 - 539nm 의 파장 영역에서 얻어 낼 수 있다. 이 색소 레이저 펄 스와 재생 증폭기 에서 발 생되 는 강한 527nm 의 레이저 펄스 를 Li야 단결정 에서 비 선형 혼합하면 1800-2100cm- , 영역의 펨토초 적의선 펄스 를 얻어 낼 수 있 다. 이 렇 게 얻어진 350 f s 의 적의선 펄스가 그림 8.3 에 나타나 있다 . 이 실험 에서 는 N 3 - 의 비대칭 신축 진동 홉수선과 더욱 일치시키기 위해 0.5nm 띠투과 필터 (band pa ss filt er) 를 사용하였으 며, 그 결과로 얻어 진 l.5 p s 의 적외선 펄스 를 실 험에 사용하였다. 색 소 레이저 펄 스 를 재생증폭기에서 얻어진 5 업 run 레이저 펄스의 여 분과 흐 름 색 소 시 료 용기 (flow dy e cell) 를 사용하는 두 단계 증폭 장치 를 통 해 10-12 µJ의 높은 에너지 적외선 펄스 를 얻을 수 있다. 앞에서 설 명한 바와 같이 증폭된 색소 레이저 펄스와 펄스 증폭에 사용되지 않은 여분의 527nm 펄스 를 Li야에서 일치시켜 극초단의 적외선 펄 스(1. 5 p s, 150nJ, 4.9 µm) 를 얻어내 들 뜸 펄스로 사용하였 다. 탐지용 적의선 펄 스로는 연속 파형의 적외선 다이오드 레이저 룰 사용하였다 이 두 가지의 다 른 적외선 들 을 시료 (N3 ~ /Hi), Di),

4.0 0

어 JKBu可)Jo守l+R(l 0132....7531 2468 .•• •• • • • • • • • .• • • • • • •. . •• ...... ..... --0.1 0 -1.0 0 -0.6 0 ---0.2 0 시간(p s) 0.2 0 0.6 0 1.00

그립 8.3 350 f s(FWHM) 의 중적외선 펄스 를 나타내 는 가시광선과 적외선 펄스 간의 교차상관.

CH :iOH , C2HsOH) 내에서 일치시킨 후 탐지용 적외선과 피코초의 색 소 레이저 펄스를 또 다른 Lil0 3 결정 안에서 섞어 얻어진 차이 진동 수 (667nm) 의 펄스를 광전증배관 (PMT) 을 이용하여 검출하였댜 이 러한 방법을 전동수 장파장 변환 과정(fr e q uenc y down- co nversio n p rocess) 이라 하며 그림 8.4 에서 설명하였다 [20] . 진동 에너지 준위의 변화에 따른 신호 를 바탕 신호로부터 구분하기 위해 다음과 같은 방 법이 사용되었다. 이 방법은 두 가지 다른 동시화된 (s yn chron i zed) 반 복률을 사용한 것으로 들뜸용 적외선을 500Hz 로, 광학적 신호처리 (op tica l g a ti n g)에 사용되는 피코초 색소 레이저 펄스를 1kHz 로 동 시화하였다 . 그러므로 시료로부터 얻어지는 신호는 500Hz 로, 바탕 신호는 1kHz 로 검출되며, 이러한 광전중배관으로부터 얻어지는 신 호 를 두 개의 위상 감지 신호중폭기(p hase lock-in am p l ifi er) 를 이용 하여 두 개의 신호들로 분리시킨 후 홉광도 차이를 관찰할 수 있다.

지 탐 __ ___ _A_1 +2((JJ)) 필터L 3IOi 층폭감기상 호지위신 J------, -- ,'',’ -,`,- `』、 ’’ II ’’[ ,: : ,T .. Al료

표 시

• .

광 ,J)( 지광 탐 W2I J(J 뜸

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.법방 험실 의지탐/ 시표 .48 립그

전반적인 레이저 장치의 개략도가 그림 8.5 에 나와 있다. 이 두 가지의 적의선 펄스 를 사용하여 N3 - 의 진동 입자수 이완 시 간( TI) 측정 결과가 그림 8.6 에 나와 있으며 이 러 한 진동 입자수 이 완 시간을 가지는 분자의 진동 에너지 준위와 들뜸 파장과 탐지 파 장 들 이 그림 8.7 에 나와 있다. 또한 순간 홉수 스펙트럼을 얻기 위해 탐지용 적외선 파장을 바꾸어 얻어진 실 험 결과가 그림 8.8 에 나와 있댜 이 실험은 분자 진동운동 역학 연 구 에서 극 초 단의 적외선 펄스 들 뜸/연속파 적외선 탐지 방법의 중요성 을 잘 나타내주고 있다 . 특히 이 방법에서 적외선 파장 들을 각기 독립 적 으 로 변화시킬 수 있다는 사실은 극초단의 적외선 펄스 들 뜸에 따라 형성 된 진 동 순간 홉수 (vib r ati on al tra nsie n t abso rpti on) 의 이완 상태 를 이해하 는 데 매우 중 요하댜 분자 내의 특 정 진동방식 에너지 는 주 로 동 일 분 자 내에 형성되는 페르미 (Ferm i) 공명 모드 를 통해 이완되 는 것 으로 알려져 왔다. 따라 서 위 실험의 목적은 N3 - 와 같은 작은 이온의 부 근 에서 페르미 공명 모드가 존재하지 않는 특정적인 진동방식에 에너지 를 주입시켰을 때 진동 에너지의 이동 동역학을 이해하는 데 있다. 위의 그림들에 나타 나 있듯이 진동 에너지 이완 시간은 예상과는 달리 상당히 빠른 3p s 로 측 정되었다. 이와 비슷한 실험으로 Heil w eil 등이 CN- 이 온을 대 상으로 했지만 (21], 레이저 기술상의 문제로 인해 상당히 높은 농도 의 용액을 사용했기 때문에 근거리 용질-용질 간의 에너지 섞임 현 상의 가능성을 배제할 수 없었다. 실험 결과에서 알 수 있듯이 m 시 간 (3 p s) 은 용매의 종류와 농도에 전혀 영향을 받지 않아 근거리 N3- 이온간의 에너지 이완 현상을 배제할 수 있다. 실험 결과 들 을 종합해 볼 때 진동 에너지 이완은 근처에 있는 용매 분자 들 과의 강한 에너 지적인 섞임 현상을 통해 일어난다고 설명된다 . N3- 이 온 분자 내의 가운데 질소 원자는 전기적인 양전하 를 가지고 있으므로, 이런 전기

토색초레소이팹간시장 연지치: LF YNd레이 저 층생재 광기폭 ,mnu J0 50 752 쪽1재증 생7 m,m n J752 1 J5o.m------- -----t----t----------- -----;'----- 적 레다드 오이저외이선 -----------l-------- ----,----------I---- --------·'-;入广 ', ’ ` ’’ ,二J53 --? W,~P ,L-Ln〔P0:;,;J; 『료w9,, 기편광: ’, |1 ’ 적뜸들 외선---------,----------’ nJ, mu .94 01S B 53 0IU

정 측 T 1 한

o)rbep 터.필 /ifnpp aderrmu , 섭터간필1 F: edrnrfia eisnattnr 주 고 단절파PWL : 법탐 지(분할,기외선빔 : 뜸/적 B C 둘 선 .치장 외험적실 기저도이 과레 5.8

(a-1) 홉閩 00000.....00000 44455 48026 ... . •·• - •- `.`. ` `• ` ` 、‘ ` `•\ 누 ` `. .` · -.‘ , « • , . , -., •, ‘ ”· -··. .._._ .:~. ....- ~-_- .. . ,. ... .

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그립 8.6 여러 농도와 용액 들 상에서의 azid e 이온 (N3 - ) 의 비대칭 신축 진동방식 에 대한 과도기 적외선 흡수 감소 실험 결과(t rans i en t infrared absor p- tion decay data ). (a-1) N3- 麟, 0.0 3 M ; (a-2) N3-/D :i(), 0.1 M ; (a-3) Na-/ D. -0, 0.3 M ; (b) N3 -/C I- h()H, 0.1 M ; (c) N3 -/다 Js()H, 0.2 M ;

(b) i: 00000.....00000 67665 18852 •·• · • .C ` . ` . ` 노` ``. ` `. ` \• ` .` '’. ,, , `,,. , ,·. ' , .,‘,. -. _ ·-, _ .、,.--• ·오 .,오 •.. _ .~-•

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(d) N3-/H ,zO, 0.3M. 점들은 측 정된 신호를 나타내며 끈어진 선들은 비 선형 최소제곱법 분석 방법 을 이용하여 얻어진 계산된 선둘이며 3 p s 의 T1 시간을 나타내고 있다.

5000

,1pE 3)4_30X000H00 0 00 2 032’‘0 0’ , 0 /3 ‘ / / ‘ / ,004 012 3111 12112131 언000' , ,,’ ,'2’ ’0’ ’1 /12J 1 1 230000 1000 020 100 。 000

그립 8.7 1 5 cm - 1 의 비조화 진동 상수 (anhannon icity)값 을 이용하여 계산된 azid e 이온의 에너지 상태의 개 략도 .

1.2 0

효干Ic吉_)R(YJ u · - -00。。..48 4 。 00 。。 fF.-. c- T-- - .---~- ? f .---.-- . .l. c-c ·-2. -...-.. . . - •?. < ,. .,. IT -....•4 .-,iT• r- ,. .1 • ._上논 Fi -·,. tTi .'., . E1I‘一 ; `.l /. ‘. ..4`.. -. .`- ...- ` ....• 4\` _ I .•.- • g•\ • •-•• • •`• ` ..` .1 ..` “ .(,,.. .• g • . , .,. . ,`... . , . `. ,. .`.- , ’ f..`...'..`.. ` .` . `..... . `.. .`..- ` .` . ~: ·i`..l `. -/ ...` iI - ` ·- ` ’下i? . •k• I_· I 푸'_' 1950 1970 1990 2010 2030 2050 2070 2090 에너지 (cm 키 ) -------· 0-1 -------· 1-2 …………· LtO D • 측정치

그림 8.8 0 . 3M 의 DO 용액상에서의 azid e 이온의 과도기 흡수 스펙트럼. 접 둘 은 측 정 결과릅 나타내며 점선은 바닥 상태 순간 백색화와 들뜬 상태 순간 흡수릅 보여주며, 끊어진 선은 이 접선과 합한 것으로서 기대되는 순간 신호의 상태릅 나타내고 있다 .

그림 8.9 물 분 자 들 상에 있는 azid e 이온.

적인 양전하 를 띠 는 질 소 원자가 전기적인 음전하를 띠는 산소 원자 를 가지고 있 는 근 처의 용매 분자들과 강한 정전기적 상호작용을 하 여 비대칭 신 축 진동방식에 있는 에너지가 용매 분자에 전달 소멸된 다는 모델이 제시 되 었다(그림 8.9 ). 8.4 극초단 적의선 분광학의 표면 화학에의 응용 지난 30 년 동안 많은 기초 연구가 표면 과학의 분야에서 활발히 이루어졌다. 표면 위에서의 가스 흡착 상태, 금속 혹은 반도체, 비전 도체 표면의 특성이 저에너지 전자 회절 (LEED), AUGER, X 선 광전 자 분광학 (XPS), 주사 터 널식 현미 경 (STM) 등의 표면 분석 기 들 을

사용하여 많이 연구되었다. 이러한 초저압력의 기체 분자들의 동역 학에 대해서는 많이 알려지지 않았으며, 특히 금속상에 화학 흡착된 기체 분자들의 경우 이 분자들이 금속 표면에서의 전자-홀 쌍으로 인 한 에 너 지 이 완 과정 (elect ro n-hole pa ir ind uced damp ing ) 동을 겪 고 그 시간대가 극초단 시간대의 영역에 들어감에 따라 이에 맞는 적외선 레이저 펄스 를 이용한 실험들이 필요하게 되었다 . 이러한 극 초단의 적외선 펄스 를 사용하여 펨토/피코초의 시간대에서 일어나는 흡착된 기체 분자의 진동운동에 관한 연구가 단분자층 (submono­ laye r) 이하에서 이루어지기 시작하였다. 예 를 들 어 극초단의 중적외 선 펄스들을 이용한 들 뜸/탐지 실험 들 이 분자 진동운동 에너지의 이 완 시 간( T1) 을 얻기 위 해 CH :iS/ Ag (11 1)[22], CO/Pt (1 11 )[2 3, 24], CO/Cu(100)[25] 등을 대상으로 이루어졌다. 이러한 표면에 홉착된 기 체 분자 들 의 동역학을 정확히 이해하기 위해서는 분자 진동 에너지 이 완 시 간뿐 아니 라 공진성 이 완율 (coherence relaxati on rate s , Ti' : pu re deph asin g tim e, T2 : tot a l dep h asin g ti me) 을 얻어내야 한댜 l/T2 =l /(2 X T1) +1/T2 (8.2) 이러한 공진성 이완 과정 (coherence relaxa ti ons) 에 관한 실험이 반도 체 표면에 흡착된 수소 분자 (WS i (1l1) )에서 유도 자기 자유 감쇠 (free ind uc tion decay) 및 광매아리(p ho t on echo) 실험 방법들을 이용 하여 이루어졌으며 [26], 이보다 빠른 시간대에서 이루어지는 금속 (Cu(lll)) 표면에서 흡착된 기 체 분자 (CO) 의 공진성 손실 (coherence loss) 에 관한 실험이 최근에 발표되었다. 이 실험에서 사용된 적외선 레이저 펄스의 시간대가 지금까지 보고된 적외선 레이저 펄스를 이 용한 금속 표면에 실행되어진 실험들 중에서 가장 빠른 것이었다. 다 음 절에서 이에 관해 보다 자세히 살펴보고자 한다.

8.4 .1 CuOll) 금속상에 흡착된 CO 분자에 관한 펨토초 시간 대의 공진성 순간 적의선 분광학 [8] Cu(lll) 표면에 화학 홉착된 CO 분자의 진동운동을 연구하기 위 해 유도 자기 자유 감쇠 측정이라는 실험 원리를 사용하여 분자 진 동운동의 T2, 죽 전체 진동이완 (v i bra ti onal tot a l dep h asin g ) 시간을 측정하였으며, 또한 높은 파장분해능을 가진 적의선 펄스들을 사용 하여 금속 표면에 홉착된 CO 기체의 홉수 스펙트럼을 여러 가지 홉 착 농도에서 얻었다. 이와 같은 실험에는 여러 가지 실험 장치, 특히 검출 방법 들을 사용 할 수 있지만 이 실험에서는 금속 표면에 홉착된 CO 기 체 분자 들 로 인한 합진동수 발생 (sum freq u ency ge nerati on : SFG) 의 현상을 [27] 이 용하여 원하는 파장의 빛을 다른 파장들로부터 분리시켰으며 게이트(g a t ed) 광자 계수 방법을 이용하여 신호를 얻어 냈댜 또한 표면의 기체 분자들의 홉착 상태를 알아보기 위해 금속 표면의 비선형 광학 현상으로 인해 발생되는 이차 조화 진동자 발생 (second harmonic ge nerati on : SHG) 이라는 현상을 [27, 28] 이용하였 다. 이차 조화 진동자 발생의 효율은 금속 표면의 상태에 의존하며 그 한 예가 그림 8 .1 0 에 있다. 이와 같은 유도 자기 자유 감쇠 현상과 선형 흡수 또한 표면덮힘률에 관한 데이터를 얻기 위해 사용된 합진 동수 발생 현상, 그리고 이차 조화 진동자 발생들을 얻기 위한 레이 저 실험 장치 를 살펴보면 다음과 같다. CO/Cu (l ll) 의 분자계를 연구 하기 위해 초진공 장치 (1x10 - 10 t orr) 가 펨토초의 레이저 장치와 연결 되어 사용되었으며 간략한 실험 장치가 그림 8.11 에 나타나 있다. 이 초진공 장치에는 금속 표면의 상태 를 알아보기 위한 AUGER 장치 와 표면에 흡착된 기체 분자 상태를 확인하기 위해 저에너지 전자 회절 (LEED) 이 부착되어 있으며, 또한 금속 표면을 처리하기 위한 장치들이 연결되어 있다. 모든 실험을 93K 에서 행하였으며 극초단

32

u

J

B可 어) Z

J8 H

S

。 0.0 0.2 0. 4 0.6 0.8 1.0 1.2 노 출 량 (L)

그림 8.10 co 표면덮험 률 (l L = 1 x 10 - 6 Torr sec) 과 Cu(lll) 표면에서 얻어진 SHG 신호 (295 nm) 의 변화 관계. 화살표는 0.4 5 L( V3 x {3:)의 CO 덮힘률 을 나타낸다.

의 적외선 레이저 펄스 를 얻기 위한 레이저 장치는 앞에서 기술한 바와 같댜 다만 이 실험에서 사용된 380 f s 의 중적외선 레이저 펄스 를 얻기 위해 입사 레이저 광들의 파장에 대하여 위상일치된 두께 l mm 의 엷은 LiI OJ 결정을 적외선 발생에 사용하였댜 이렇게 하여 얻 어진 극초단의 적외선 펄스 (5n J)로 금속 표면에 흡착된 CO 기체 분 자들을 특정 진동 상태로 들뜨게 한 후 극초단 시간대의 가시광선 레이저 펄스 (280 fs)를 표면 위에서 이와 일치시켜 발생되는 합전동 수 펄스의 레이저 광을 게이트(g a t ed) 단일 광자수 측정 장치 를 통해 검출함으로써 유도 자기 자유 감쇠 를 측정하였다. 이차 조화 (second harmon ic)의 레이저 광을 얻기 위해서는 단지 펨토초의 가시광선 레 이저 펄스만을 사용하였으며 발생된 이차 조화 진동수 (second har-

연속선 상잠금 YLF 레이저

591 nm 조화 들 뜸색소레이저 재생증폭기 단생광기 L 적외선 초고진공장치

그림 8.1 1 Cu( lll) 금속 표면에 화학 흡 착된 co의 유도 자기 자유 상쇄와 표면 합 파장 발생 현상의 측 정에 사용된 개략적인 래이저 실험 장치. PDA : 펄 스 색소 레이저 중 폭 셀, L: 렌즈, MC: 단색광기, PMT: 광전중배 관, AES:Aug e r 전자 분광기, LEED: 저에너지 전자 회 절 , QM S:4 극관 질량 분석기 .

monic fr e q uenc y)의 레이저 광을 모드 - 잠금법을 이용한 검출 장치를 통해 얻어냈다. 이 연구에서 사용한 유도 자기 자유 감쇠 현상의 간 략한 원리 는 다음과 같다 . 분자가 순간적인 빛에너지 를 받았을 때 그 빛에너지에 따라 분극화하 는 특성(p olar i zab il ity)을 보여주며 이는 시 간이 지남에 따라 이완하는데 이 룰 유도 자기 자유 감쇠 현상이라고 한다 . 또한 이 실험에 웅용된 합진동수 발생이라는 현상은 입사되는 적외선(E<.(JJ ,r)) 과 가시광선 (E( (JJ V IS)) 의 비선형 상호작용으로 인해 발 생되는 비선형 분극 (nonl in ear po lar iza ti on , P2 ) )에 의 존 한다. P2) = x (2) ( (JJs u m= (JJ ir+ (JJ uis ) R (JJ ir )R (JJ vis) (8.3 ) 여 기 서 x ( 2) 를 비 선 형 이 차 감응 률 (susce pti b ility) 이 라 하며 CO! Cu(lll) 상에서의 x(2 ) 는 다음과 같이 나타낼 수 있다 . x (2) = x ,Ir(2 ) + x r(2 ) (8.4 ) x ,Ir( 2 )( x ;2)) 는 전체 감응 률 (susce pti b ility)에 대 한 비공명(공명) (nonresonan t (resonan t))의 항들이다. 그러므로 CO/CuOll) 으로부터의 신호 (SFG) 는 IJg ex: | P | 2 ex: | x(2) | 2 와 같댜 이와 같 은 결과 분석 이론을 그림 8 .1 2 에 나타나 있는 진동 홉수 스펙트럼의 분석에 사용 하였댜 극초단의 중적외선 레이저 펄스 (380 f s) 를 이용한 진동공진성 (vib r ati on al coherence) 의 유도 자기 자유 감쇠 측 정으로부터 전체 위 상공진성 이완(t o t al de p has i n g)에 관한 이해 를 얻기 위해 다음과 갇 은 분석 과정의 이론이 사용되었다 . 파장 영역에서 응용된 바와 같이 이 실험에서 사용된 전기장 E<.t r) 을 형성시킨다. 일반적으로 이 Rt , r )는 다음과 같이 나타낼 수 있다. P(t, r )= f~-o0o0 d t1 . f , -~o0o0 d t2 R (t1 t 2 ) E( t-t1.r ) E( t-t2.r ) (8.5 )

12

。 10 8 § ((!)/u). 6 • 4 2 。 2055 2065 2075 2085 2095 에너지 (cm - 1)

그림 8.1 2 93 K 온도 에서 0.01 L 와 0.4 5 L 표면덮힙률의 CO/Cu (l ll) 에 의한 표 면 SFG 확장과 적외선 진동수의 관계. 점 들 은 측정 결과 를 나타내고 , 선 둘 은 최소자승법 분석으로부터 얻어진 결과 분석을 보여주고 있다.

그러므 로 이와 같은 레이저 장치에 사용된 느린 반옹 시간의 squ are- la w de t e ct or( 예 : PMT) 를 이용하였을 때 얻어지는 신호는 일 반적인 형태로 다음과 같이 쓸 수 있다. S(r)= f:00d ~P (t,r) I (8.6) 이와 같은 이 론들을 실험 데이터 분석에 응용하여 그림 8 .1 3 에 있는 것과 같이 2 p s 의 위상공진성 이완 시간을 얻어냈다. 또한 파장 스펙 트럼으로부터 이 분자계의 공명과 비공명 이차 감옹률의 상대적인 상과 그 크기 들을 얻어낼 수 있었고, 금속의 비공명 감옹률은 표면이 아닌 금속 Cu 내부 속에서 발생된다고 이해하였다.

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그립 8.13 380f s 적외선 펄스와 280f s 가시광선 펄스들을 이용하여 얻어진 표면 SFG 로부터 측정된 진동공진성 순간 소 멸 결 과 . 점 들은 측 정 결 과 를 나 타내고, 끊어진 선 둘 은 2 p s 의 T2 를 나타내 는 개산값이다. 이 실험에서 사용된 가시광선 펄스와 적외선 펄 스 간의 교차상관이 빈 원으로 된 점 들 로 나타나 있다.

8.5 결론 피코/팸토초 시간대의 중적외선 레이저 펄스 를 이용하는 이같은 실험들은 중적외선의 에너지 영역에 속해 있는 많은 분자 진동운동 상태들에 관한 새로운 사실들을 밝혀주고 있고, 이러한 실험 기술을 옹용하면 분자의 회전운동 연구에도 큰 도움을 줄 수 있다. 그 동안 주로 분자의 회전운동 상태는 전자 전이 쌍극자 모맨트 를 이용한 비 동방성 측정에 의존하여 연구되어 왔지만 이 실험방법으로는 시료에 따라 어려움이 따르기도 한다. 주로 분자 내에서의 전이 쌍극자 모맨

트 위치의 불확 실성 혹은 용매와 용질 분자들 간의 상호이완작용에 따른 시간의존성 스 톡 스 이동 둥의 현상 들 에 기인하기 때문이다. 앞 에서 언급한 바와 같이 분극화된 중적외선 펄스 를 이용하면 이러한 문제점 들을 해 결할 수 있지만 분자 구조 상태가 너무 복잡한 분자 들 에 있어서는 적 용하기 어 렵 다. 그러나 비교적 간단한 분자 구조 를 가 지고 있 는 혹 은 복잡 한 구 조의 분자의 경우에도 연구하고자 하는 특 정한 결 합의 분 자 구 조적 위치가 알려진 물 질 들 에는 이 중적의선을 이용한 실험 방 법 이 매우 유용하다. 극초단의 중적 외선 레이저 펄스를 차이 진동수 혼합법의 원리 를 통해 얻기 위 한 극초단 의 가시광선 레이저 펄스는 여러 가지 레이저 장치 들 에서 얻 어 낼 수 있으나, 특 히 충 돌 펄 스 모드 _ 잠김 링색소 (collid i n g pu lse mode- lo cked rin g dy e : CPM) 레 이 저 를 이 용하여 이 동파 증폭 자 발직 발 광 ( t ravel i n g - wave amp lified spo nta n eous emi s- s i on) 을 통 해 얻 어낸 극초 단 가시광선 레이저 펄스 를 사용하는 중적 외선의 펄스 발 생 방법이 최근 에 이용되고 있다 . 이 실험 장치는 CPM 레이 지로부 터 는 얻 을 수 없 는 파장 변환 능력을 쉽게 가질 수 있다 는 장 점 이 있다 . 이와 같 이 새 로 운 그리고 보다 효율적인 극초단의 중적외선 레이 저 펄스를 발 생시키 는 방법 들 이 점차적으로 개발되고 있으며 더 나 은 파장 변 환 효 율 , 높 은 손상 문턱 값 (dama g e thr eshold) 및 낮은 가 격의 비선형 물질 에 관한 연구가 활 발히 진행됨에 따라 앞으로 중 적외선의 에너지 영역에서의 연구가 더 활발히 이 루 어질 것이 기대 된댜

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제 9 장 레이저 라만 산란 허영덕 9.1 서론 1928 년에 C. V. Raman 에 의해서 처음 그 효과가 밝혀진 이래 라 만 분광범은 분자의 구조 및 운동을 연구할 수 있는 좋은 방법으로 이용되어 왔다. 분자에 단색광을 쪼여주면 분자의 진동 및 회전에 의 해서 변조된 빛이 산란되어 나오므로, 이 산란광을 분석하면 분자의 진동 및 회전에 관한 정보 를 얻을 수 있고, 따라서 분자의 구조 및 운동을 이해할 수 있다. 이때 라만 산란의 선택 규칙은 진동 및 회전 에 의 한 분자들의 분극률(p olar i zab ility)의 변화에 따른다. 특히 라만 분광법과 적외선 홉수 분광법의 선택 규칙이 다르므로 적의선 분광 법으로 측정할 수 없는 동핵 이원자 분자의 진동운동과 대칭성 분자 의 특정 진동운동들을 라만 분광법으로 조사할 수 있다. 따라서 라만 분광법은 적외선 분광법을 보완하면서 분자의 진동, 회전운동 및 분 자 구조를 관찰할 수 있는 유용한 방법이다. 그러나 라만 분광법은 산란광의 세기가 매우 낮은 실험상의 문제점 때문에 오랫동안 실용 화되지 못했다.

1960 년대부터 라만 분광법은 레이저의 개발에 힘입어 커다란 발전 을 하였다. 높은 광학적 출력 밀도를 가진 레이저를 사용함으로써 라 만 분광기의 감도 를 증가시켰을 뿐만 아니라 기존의 라만 분광기로 측정할 수 없었던 여러 종류의 실험들이 가능하게 되었다. 레이저 라 만 분광학은 크게 선형(또는 자발적) 라만 분광학과 비선형 라만 분광 학으로 나눌 수 있다. 선형 라만 분광학에는 정규 라만, 공명 라만, 표면 강화 라만 (Su rf ace Enchanced Raman Scatt er i ng : SERS) 등을 들 수 있다 [1-71 비선형 라만 분광학에는 유도 라만 분광학 (Sti m ulate d Raman Sp ectro scop y), 고차 라만 분광학 (H yp er Raman Sp e ct ro scop y), 공진성 반스톡스 라만 분광학 (Coheren t Anti -S to k es Raman Sp e ct ro scop y : CARS) 둥이 있다 [8-12]. 이 장에서는 레이저 라만 산란 분광학의 기본 원리와 비선형 라만 분광학에 대해서 간단히 소개하고자 한다. 특 히 비선형 라만 분광학 에서 가장 많이 활용되어 온 공진성 반스톡스 분광범을 중심으로 설 명하고자 한다. 9.2 라만 분광법의 원리 광자와 분자가 탄성 충돌하면 각각의 에너지는 변함없고 광자의 진행 방향만 달라질 것이다. 이를 Ray le ig h 산란이라고 한다. 반면에 라만 산란은 광자 (h II )와 분자와의 비 탄성 충돌로 간주할 수 있다. 비탄성 충돌 중에 광자와 분자 사이에 에너지 교환이 일어날 수 있 다. 이런 비탄성 충돌에서 분자는 초기 상태 에너지 준위 (E; )와 최종 상태 에너지 준위 (Ej )의 차이에 해당되는 에너지를 잃거나 얻을 수 있다. 이때 에너지 준위차, 죽 .6E= I E1-E; I 는 분자의 진동 또는 회전 에너지의 변화량에 해당된다. 분자가 충돌 중 에너지룰 얻으면

산란광의 광자는 (h11- l::;. E) 의 에너지를 갖게 되고, 이에 해당되는 산란을 스톡스 산란이라 한다. 반대로 충돌 중 분자가 에너지를 잃으 면 산란광의 광자는 (hII + 6- E) 의 에너지롤 갖게 되고, 이에 해당되 는 산란을 반스톡스 산란이라 한다. 그림 9 .1은 라만 산란의 개략적 인 에너지 준위 그림을 나타내고 있다. 그림 9 .l (b) 에서 보듯이 산란 과정의 중간 상태는 일반적으로 분자의 가상 상태 (v irt ual s t a t e) 에 해 당된다. 만약 중간 상태가 분자의 실제 고유 상태 (e ig ens t a t e) 와 일치 되면 공명 라만 산란 (Resonance Raman Sca tt er i n g)이라고 한다. 이때 의 라만 산란광의 세기는 중간 상태가 가상 상태인 경우보다 약 백 만 배까지 증폭되므로, 공명 라만 분광법은 생화학 물질의 분자 구조 확인 등에 널리 응용되고 있다. 라만 효과와 관련된 분자의 분극 현상에 대한 고전적 이론은 다음 식에서 출발된 다. p= µ + aE (9.1 ) 이때 p 는 분자 의 쌍극자 모맨트이고, 첫번째 항인 µ는 분자의 영구 쌍극자 모맨트이다. 반면에 두번째 항인 aE 는 분자의 유도 쌍극자 모맨트에 해당된다. 따라서 유도 쌍극자 모맨트는 외부 전기장의 세 기 E 와 분자의 분극률 (p ol ari zab i l ity) a 에 비례한다. 예를 들어 진동 수 V vi b 로 진동하는 분자에 진동수가 V 인 빛을 쬐어주는 경우의 라 만 효과를 고려해 보자. 진동수가 v 인 빛이 시간에 따라 변하는 전 기장은 다음과 같다. E= E 。 sin 2 1Cvt (9.2) 또한 분자의 분극률 a 도 다음과 같이 표현할 수 있다. a= a 。 + {3s in 27CVvib t (9.3)

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. 위 준 지너에 인적 략개 과 현 표 의 란산 만 라19. 립그

여기서 ao 는 평 형 분극률 (e qu ili b ri um po l ari zab ility)이며 /3 는 진동 에 따른 분극률의 최대 변화량을 의미한다. 앞에서 언급한 바와 같이 유도 쌍극자 모맨트는 외부 전기장의 세기와 분자의 분극률에 비례 하므로 유도 쌍극자 모멘트를 아래와 같이 표현할 수 있다. Pin d = aE= (a 。 + {Js in 2w vib t) E osin 2 JC 1 1t = a 。 E 。 sin 2JC 1 1t + 강 {JE 。 { cos 2;r{ 11-11 vib ) t-co s 2 짜 II+ II vib ) t} (9.4 ) 따라서 진동하는 유 도 쌍극자에 의한 산란광은 입사광의 진동수인 u 뿐만 아니 라 II + II v i b 와 II - ll v i b 에 해 당되 는 진동수를 갖는다. 산 란광의 진동수가 입사광의 진동수와 같은 경우는 광자들이 분자들과 의 탄성 충 돌 하 는 Ray leig h 산란에 해당된다. 반면에 진동에 의한 산 란광의 진동수가 입사광의 진동수와 달리 II - IIv i b 인 경우는 스톡스 산란에 해당되며, II + IIv i b 인 경우는 반스톡스 산란에 해당된다. 비록 고전 적 이 론 으 로는 라만 산란의 진동수 l/ ± IIv i b 의 위치 를 정확히 설 명할 수 는 있으나, 라만 세기의 정확한 설명은 양자역학적 이론으로 설명해야만 한다. 9.3 비선형 라만 분광학 펄스 레이저와 같이 광학적 출력 밀도가 큰 빛이 시료에 조사될 때 유도 쌍극자 모맨트는 다음과 같다. Pin d = aE 나 /3E 탸 · 검 rE3 + … (9.5) 여기서 E 는 외부 전기장의 세기이고, a 는 분자의 분극률이며 f3와

r 는 각각 1 차, 2 차 초분극률 (h yp er- p olar i zab ility)에 해당된다. 보통 연속 출력 레이저를 사용하는 라만 분광학의 경우는 a~ /3 ~r 이므 로 유도 쌍극자 모맨트에 /3와 r 항의 기여는 무시할 수 있다. 따라 서 앞에서 언급한 바와 같이 보통 라만 현상에서는 유도 쌍극자 모 멘트가 외부 전기장의 세기 E( 레이저 빛의 세기)와 분자의 분극률 a 에 비례함을 알 수 있다. 그러나 Q-전환 루비 또는 Nd:YAG 레이 저와 같이 외부 전기장의 세기가 큰 빛이 조사될 때는 /3와 r 항에 서 기여되는 유도 쌍극자 모멘트를 더 이상 무시할 수 없다. 따라서 높은 광학적 출력 밀도를 가진 레이저를 사용합으로써 비선형 라만 분광학을 연구할 수 있다. 9.4 유도 라만 분광학 들뜸 레이저 세기가 매우 큰 경우는 많은 수의 분자들이 전이할 것이며, 라만 산란광의 세기도 매우 클 것이다. 이러한 조건하에서는 들뜸 레이저 광과 스톡스광의 전자기파와 분자들 사이에서 동시에 일어나는 상호작용이 가능하다. 두 개의 광이 분자의 진동에 의해 짝 지음이 일어나면 들뜸광과 스톡스광(또는 반스톡스광) 사이에 에너지 교환이 일어나며, 이 결과로 매우 강하고 방향성을 지닌 라만광이 발 생한다. 이러한 현상을 유도 라만 산란이라 한다. 유도 라만 분광학 은 산란광이 들뜸광과 동일한 방향으로 진행하므로 보통 라만 분광 법과 실험적인 방법에 큰 차이가 있다. 벤젠 시료에 Q-전환 Nd:YAG 레이저의 2 차 조화파를 조사한 후 전방 산란된 광을 칼라 사진 필름으로 검출하면 동심원형 고리를 관 찰할 수 있다. 중심부의 진한 붉은색으로부터 외곽의 청색까지 관찰 되는데, 각 고리에 해당되는 진동수는 각각 l/ 0 士 n111 에 해당된다.

즉, 532 nm 의 Nd : YAG 레 이 저 를 벤젠 시 료에 조사하면 산란광으로 532 run( 110) 뿐만 아니 라, 스톡스광으로 561 .6 run( 110 -111), 594.8 nm ( 110-2111), 632. l nm( 110-3111), 674.4 nm( v 。 _4111) 이 나타나며, 반스톡 스광으로 505.3 nm( 110+ 마, 481 .2 nm( 110+2111), 459.3 nm( 110+3111) 등 이 나타난댜 II 1 은 진동수가 992 cm-1 인 벤젠의 진동모드 (r i n g­ breath i ng v i bra ti on) 이며 n=0-4 이댜 진동수 II0 의 들뜸광을 벤젠 분 자에 조사하면 가상 상태를 거쳐 v=l 인 준위로 떨어지게 된다. 이때 의 진동수 ( 110- 111) 의 스톡스광의 전방 산란의 세기는 들뜸광의 약 50% 까지 된댜 따라서 스톡스광이 다시 다른 벤젠 분자의 가상 상태 롤 거쳐서 (vo - 2111) 의 또 다른 스톡스광을 만들어낸다. 계속 진행 되어서 (110 - 4111) 의 스톡스광뿐만 아니라, (110+3111) 의 반스톡스광 까지 의 다른 파수의 광을 만들어 낸다. 그림 9.2(a) 는 유도 라만의 개 략적인 에너지 준위 를 보여준다. 이와 같이 유도 라만 효과에 대한 스톡스광 또는 반스톡스광으로의 높은 전환 효율은 단색 펄스 레이 저로부터 여러 파장의 레이저를 만들어낼 수도 있다. H2 라만 이동 기는 유도 라만 분광학의 대표적이고 실용적인 예이다. 유도 라만 효과는 진동준위의 수명을 측정하는 방법으로 널리 응 용되고 있다. 유도 라만 효과를 통해서 v=l 또는 그 이상의 진동 에 너지 준위로 분자롤 전이시킬 수 있다. 만약 전이에 걸리는 시간이 관심의 대상인 진동 에너지 준위의 이완 시간보다 매우 짧다고 가정 하면, 전이된 진동 에너지 준위에 있는 분자수의 감소는 반스톡스 라 만의 세기를 관찰하여 확인할 수 있다. 이때 감지하는 반스톡스 라만 의 입사 진동수( ub) 는 가능하면 유도 라만 효과의 입사 진동수( 110) 와 다른 진동수로 사용하고, 유도 라만 산란 효과의 문턱보다 낮은 레이저 세기를 사용하는 것이 바람직하다. 이와 같은 방법으로 25 기 압, 300K 에서 H 려 v=l 준위의 수명을 측정한 결과 10-5 s 정도임을

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. 위준 지너에 인적략개 의 S RA C c() 만, 라 차)(b 고 , 만라 도유(a ) 29. 립그

확인하였다. 그러나 액체상에서의 진동운동 이완 현상은 기체상보다 매우 빠르므로, 액체상에서의 진동준위의 수명을 측정하기 위해서는 피코초 이하의 극초단 펄스 레이저를 사용해야 한다. 9.5 고차 라만 분광학 비선형 라만 분광학에서 앞에서 언급한 바와 같이 유도 쌍극자 모 맨트가 외부 전기장의 제곱에 비례하는 항을 고려해 보자. P i nd(2)=½ 産 (9.6) 이때 E=E0cosw 。t, /3=/3。+(易)。Q, Q=Q0 cos(J J vib f (9.7) 인 경우 를 고려하면 유도 쌍극자 모맨트는 다음과 같다. PInd(2 )= i /3。꽈+ i /3。腐 cos2 (JJ。t + 강 률 )。Q。腐{ cos(2 (JJ。+ (JJ vib )f+ COS(2 (JJ。 _(JJ vib )f} 냐롤)。Q。퍄 cos (JJ vib f (9.8) 이 경우 2(JJ o 진동수에서 산란광이 나오는 경우를 고차 Rayl e ig h 산란이 라고 한다. 마찬가지로 2(J Jo _ (JJ v i b 와 2(J Jo + (JJ v i b 를 각각 스톡스 고차 라만 (S t okes hy pe r Raman) 과 반스톡스 고차 라만 (an ti -S t okes hy per Raman) 이 라고 한다.

그림 9.2(b) 는 고차 라만의 개략적인 에너지 준위를 그린 것이다. 고차 Ray le ig h 산란은 결정에서의 진동수 배가(fr e q uenc y doubli ng ) 의 요인이 된다. 이때 ('8) 。 계수는 매우 작아서 입사되는 레이저 빔의 10-12 정도가 고차 라만 신호로 전환되므로 고차 라만 산란을 관찰하기 위해서는 외부 전기장의 세기(레이저 빔의 세기)가 매우 큰 것을 사용해야만 한다. 고차 라만 실험은 이런 실험상의 어려움에도 불구하고 정규 라만 분광학과 선택 규칙이 다르므로 여러 종류의 중 요한 분광학적 정보 를 제공할 수 있다. 선형 라만 산란의 경우 분자 진동시 분극률 a 의 변화가 생기면( ('$)。 *O) 라만 활성인 것과 마찬가지로 고차 라만 산란의 경우도 분자 진동시 초분극률 8 의 변 화가 생기면( (§감)。렌) 고차 라만 활성이댜 벤젠(D 6h) 의 진동모드 인 B1u, B2u, E2u 모드는 적외선과 라만 비활성이나 고차 라만 활성이 며, 또한 라만 활성인 E1g , E2g 모드는 고차 라만 비활성이나 적외선 활성인 A2u 와 E1u 모드는 고차 라만 활성이다 따라서 고차 라만 스 펙트럼으로부터 선형 라만 또는 적외선 분광학에서 확인할 수 없는 특정 진동 스펙트럼을 얻을 수 있으며 이 들 에 대한 분광학적인 정보 를 얻을 수 있다. 그러나 고차 라만 산란의 신호가 매우 약하므로 고 출력의 펄스 레이저를 사용해야 하며, 적당한 신호 를 얻기 위해서는 수천 번의 신호를 평균 처리해야 하는 등의 실험상의 번거로움 때문 에 현재까지 널리 활용되고 있지 않다.

9.6 공진성 반스독스 라만 분광법 CARS 는 4 파 상호작용을 이용한 것으로 3 개의 파 를 시료에 쪼여 3 개의 파와 신호에 해당되는 반스톡스빔을 얻는다. 그림 9.2(c) 는 CARS 와 관련된 에너지 준위 를 그린 것이다. 그림의 (I)1 , (I)2 , (I) o 는 각각 들뜸범 , 스톡스빔, 반스톡스빔의 진동수이다. 일반적으로 CARS 실험에서 는 시료에 쪼여주는 3 개의 파 중 2 개는 들 뜸빔으로서 파장 이 고정된 Nd : YAG 레이저의 제 2 조화파인 532nm 를 사용하고, 다 른 하나의 파는 스톡스범으로 색소 레이저로부터 얻은 550-650nm 근처 의 파장을 변화시킬 수 있 는 빔이다. 신호에 해당되는 반스톡스 빔의 진동수((LJ o) 는 [2 (I) I - (I) 2 ]=[ (I) 1+( (L) I_ (L) 2 ) ]가 된다. 이때 들 뜸빔 과 스톡스범 의 진동수 차이가 분자의 두 양자 상태의 에너지 준위의 차이에 해당되 는 진동수( (L) r g)와 똑같은 경우는, (I)I -(I)2 = (I)rg 신호에 해당되 는 반스톡스빔이 강하게 나타난다. 이와 반대로 (I)1 -(I) 2 =\= (I)rg 인 경우는 매우 미약한 배경 복사가 나타난다. CARS 실험은 들뜸빔 과 스톡스빔을 시료에 동시에 쪼여 줄 때 스톡스범의 진동수 를 변화 시켜 주면서 신호 를 감지하면 CARS 의 스펙트럼을 얻을 수 있다. CARS 의 선택 규칙은 기존의 라만 분광법과 동일하므로 라만 분광 학에서 얻 을 수 있 는 동일한 정보 를 CARS 방법으로 얻을 수 있다. 뿐만 아니라 CARS 신호인 반스톡스빔은 보통 라만 산란과 달리 공 진성 (coheren t)을 가지며 평행 (co lli ma t e) 하므로 마치 레이저 빔처럼 나온다. 따라서 신호가 매우 강할 뿐 아니라 들뜸벨 스톡스빔과 시료 의 레이저 유도형광 등을 쉽게 신호인 반스톡스범과 분리시킬 수 있다. 레이저와 같이 광학적 출력 밀도가 큰 빛이 시료에 조사될 때 유 도 편광 밀도 P 는 다음과 같다. P =x(I)E+x(2)E2+x(3)E 탸 ... (9.9 )

여기서 x(I) 은 선형 텐서 계수이고, X (2) ,X(3) 는 각각 2 차, 3 차 텐서이 며 비선형 감응률이라 불린다. CARS 와 같이 4 파 상호작용을 할 때 는 x(3) 을 포함한 항을 고려해야 하고 CARS 의 신호는 x(3) 에 의존 한다. 즉 CARS 신호의 세기는 다음과 같다. I CARs=Io( z ) = 言 ::;::4 | x 앙 ~RS 121r 12 z[ 후짱언컵~ ] (9.1 0) 여기서 c 는 광속이며, 11, h 는 각각 들뜸범과 스톡스빔의 세기이고, ni, n2, no 는 각각 (I)1 , (I)2 , (I) o 에서의 시료의 굴절률이며, z 는 시료의 두께이댜 ^底즌 CARS 의 위상일치 조건으로 6k=2 ki― k2- 如이며, 이때 싸 k2, kJ는 각각 (I)1 , (I)2 , (I) o 에서의 레이저의 파동 벡터이다 . 이때 k;=((l) i n i )/c 이며 x 앙 ~RS 는 시료의 3 차 비선형 감응률이다. 즉 CARS 의 신호 세기는 들뜸빔의 세기의 제곱에 비례하고 스톡스범의 세기에 비 례하며, 또한 I x(tk Rs I 의 제곱에 비 례한다. CARS 의 공진 성을 가진 신호는 위상일치 조건을 만족시키는 ^k=O 인 경우에 가 장 강하게 나오므로 CARS 실험을 할 때는 위상일치 조건에 유의해 야한다. 시료가 낮은 압력의 기체인 경우는 평행 (co lli near) 방식의 CARS 기법을 주로 사용한다. 그 이유는 평행 방식의 CARS 실험 장치를 만들기 쉬울 뿐 아니라 낮은 압력의 기체 시료인 경우는 시료의 굴 k절2률— k이u ex진 (동2(수l )1 에_ (l)거2 _의 (l ) o변)=하O지 이 않된다으.므 로따 라n서1= n위2=상no일 이치 각되을고 6고k려=할2 k i필一 요없이 들뜸빔과 스톡스빔을 평행하게 시료에 쪼이면 된다. 이와 같 이 평행 CARS 의 위상일치 조건은 아래와 같다.

k1 k1

• • • kz ko

그러나 시료가 응축상이거나 높은 압력의 기체인 경우는 시료의 굴 절률이 진동수에 따라서 변하므로 그림 9.3 과 같이 위상일치 조건 을 고려해 주어야 한다. 앞에서 언급한 바와 같이 CARS 의 신호는 I x(tk Rs | 의 제곱에 비례한다. X( t ~RS 는 다음과 같다. x'c(3A) Rs =XNR+x·, + i•x ” (9.11) 여기서 XNR 은 시료 또는 다른 물질(용매, 불순물, 다른 성분의 기체) 둥 에 의해서 진동수에 무관하게 x(3) 에 기여하는 비공명 (nonresonan t) 항이 고, x· 와 x' ' 는 x(3) 의 공명 (resonan t)항으로서 XNR 와 달리 진 동수에 크게 영향을 받는다. Q-가지 전이(Q -branch t rans iti on) 의 경 우 x' 와 x 는 다음과 같다.

k2

그립 9.3 CARS 의 위상일치 조건. k1, k2, ko 는 각각 들 뜸빔, 스록스빔, 반스목스 빔의 파동 벡터이다 . O 는 위상일치각이다.

X,=[ ^나Nc4 ][~dfi]Jx X ~나(L)노( 접(L) 1-] 갑] ~ (9.12) x= [쇼나] [d흐Q J] X ~x~ 玉)사 다- 2(+L I)' 2): 다 -~ (9.1 3 ) 여기서 d8/dQ , (t}屯 , rrg 은 각각 진동 Q-가지 라만 전이(vi bra ti onal Q- br anch Raman t rans iti on) 의 산란단면적, 진동수, 선폭이댜 그리고 6N =N(v, ])- N (v+l, J )이므로 두 양자 준 위 상태의 분자수 차이 가 된다. 죽 CARS 신호는 | x 언 ~RS I 2 =[(X•) 2+ (X,.)2 + (XNR) 탸 2x'XNR] 에 비 례하게 된다. 따라서 XNR * O 인 경우 는 2x'XNR 때문에 CARS 선모양이 비대칭이 된다 . 그림 9.4 는 X N R * O 인 경우에 나타나 는 전형적인 CARS 의 선모양을 라만 공명 근 처에서 보여준 그림이 다. 그림 9 . 4 에서 CARS 신호 는 라만 신호처 럼 대칭성 을 가지고 있지 않을 뿐만 아니라 XNR. x•, X'’ 에 있 는 여러 가지 요인에 의존하므 로 CARS 신호로부터 쉽게 시료 분자의 각 양자 준위의 분자수 를 계 산할 수가 없댜 따라서 분자수 를 구하기 위해서는 컴퓨터 모사 를 해 야 한다. 또한 x' 와 x 이 XNR 에 비해서 작 을 경우 는 I x(&Rs I 2= (XNR )2 +2x'XNR 이 된다. 이때 (XNR)2 의 잡음이 2x'XNR 보다 큰 경 우가 생기면 스팩트럼상 신호 대 잡음 비율이 매우 낮게 되므로 신 호 를 감지하는 데 제약을 받는다. 일반적으로 CARS 의 실험상 제약 조건은 시료의 절대 농도보다는 상대 농도에 의해서 제약을 받는다. 일반적으로 CARS 의 신호 감지 한계는, 절대 압력 10 - 3 t orr 이며, 상대 농도는 약 100 pp m 이다. 따라서 여러 혼합 시료 중 미량의 시료 를 분 석하는 데는 CARS 를 유용하게 쓸 수 없다. 이와 같이 XNR 에 의해

5.0

> 3.0 1.0 10 5 。 -5 -10

그립 9.4 라만 공 명 근 처에서 xIXNH 의 변화에 따 른 | x(tk ,{s I 2 음 나타낸다 .

서 생기 는 바탕 신호는 갔t ~RS 의 공명항과 비공명항이 각각 다른 편 광 현상 을 나타냄을 이용하여 신호와 배경 신호 를 분리시키는 방법 을 이용하여 해결한다. 이 방법을 공진성 반스 톡 스 라만 타원 분광법 (Coherent Anti -S to k es Raman Ell ipso metr y : CARE) 이 라 부 른 다. 그

림 9.5 는 CARE 의 전기장 편광을 나타내고 있다. 이때 들뜸빔과 스 톡스빔의 전기장 백터 를 잘 조절하면 반스톡스빔의 공명항 (x' ,x) 과 비공명항 (XNR) 의 전기장 벡터가 서로 수직이 된다. 따라서 편광 분석기 를 이용하여 공명항만 선택하면 비공명항 때문에 생기는 배경 신호 를 크게 줄일 수 있고 신호 대 잡음 비율이 크게 된다. 실험상으 로는 스톡스빔에 가변 편광 회전기 를 붙여서 들뜸빔과 전기장 벡터 가 적당한 각도 를 갖도록 한 후에 반스톡스빔에 편광 분석기를 붙여

E(o1)

탄?({J) o) 탄펙(J) o)

그립 9.5 CARE 의 전기적 편광 (ele ctri c fiel d pola r iza ti on dia g ram). ER( (J)。)와 ENR( (J)。)는 반스 톡 스 신호의 공명항과 비공명항이다.

서 반스톡스빔의 공명항만을 통과할 수 있도록 조절하면 된다. 이와 같은 방법으로 배경 신호를 1/ 1 어 정도까지 줄일 수 있으므로 매우 약한 공명 신호도 측정할 수 있다. 앞에서 언급한 CARS 의 장점과 단점을 요약하면 다음과 같다. XcE cr:4, 1 기존의 라만 분광법보다 매우 큰 신호의 세기 를 얻을 수 있다. 2 CARS 의 신호는 유사 레이저 빔이므로 신호 를 쉽게 검출기로 모을 수 있다. 따라서 기존의 라만 산란의 신호 를 검출하는 것보다 매우 간단하 고 높은 효율을 보인다. 3 CARS 의 신호인 반스톡스빔은 들 뜸범과 스톡스빔의 진동수 차이가 크 므로 이색 거울이나 간단한 단색화 장치 를 사용해서 신호 를 다른 빔과 쉽게 분리 할 수 있으며 그림 9 . 3 과 같이 둘뜸빔과 스톡스빔이 교차되어 서 쪼여지 는 경우에는 신호인 반스톡스빔은 두 빔과 다른 방향으로 나 오므로 단색화 장치가 없어도 신호 를 직접 검출기로 보낼 수 있다 . 4 CARS 의 신호는 공진성을 가지므로 불꽃, 폴라즈마, 연소 상태에서 라 만 분광법을 사용할 때 문제가 되는 레이저 유도형광 및 자발 형광에 의한 간섭 현상을 쉽게 해결할 수 있다. 따라서 CARS 는 불꽃, 플라즈 마, 연소 과정의 연구에 많이 사용되고 있다. 5 CARS 는 주로 펄스 레이저 를 사용하므로 광화학, 반응 동역학, 시간분 해 분광학에 유용하게 쓰인다 . 단점 1 CARS 의 신호는 (xNR) 에 의해서 생기는 바탕 신호 때문에 기체인 경 우는 lOO ppm 정도 가능하고 수용액에서는 1% 정도까지만 가능하므 로 상대적 농도가 낮은 시료의 분석이 쉽지 않다.

2 CARS 의 신호는 레이저 출력, 선폭, 시료의 밀도에 크게 의존한다. 뿐 만 아니라 여러 요소가 복합적으로 신호에 영향을 미치므로 CARS 신 호로부터 쉽게 분자의 양자 준위에서의 분자수 를 계산하기 어렵다. 3 CARS 는 레이저 광이 시료 내에서 많이 홉수되는 경우 사용할 수 없다. CARS 는 주로 펄스 레이저를 사용하므로 l0 - 8 초 이내의 빠른 시간 의 시간분해능도 가질 뿐 아니라 1mm 이하의 아주 우수한 공간분 해능을 가지므로 여러 분야에서 CARS 의 기법이 응용되고 있다. 또 한 CARS 의 신호에 해당되는 반스톡스빔이 유사 레이저 빔이므로 CARS 기법이 불꽃, 플라즈마, 연소 진단 기술 분야에 활발히 응용 되고 있다 [13-15]. 불꽃, 폴라즈마, 연소 과정에서는 레이저의 유도형 광과 발광에 의해서 기존의 라만 분광학으로 연구할 수 없다. 그러나 CARS 의 경우에는 신호가 유사 레이저 빔이므로 레이저 유도형광과 시료의 발광에 의한 간섭 현상을 쉽게 제거할 수 있다. 또한 CARS 기법은 훌륭한 공간분해능을 가지므로 불꽃, 플라즈마, 연소 상태의 연구에서 매우 각광받고 있다. 기존의 접촉식 온도계는 연소 상태의 고온 기체의 온도 측정시 부정확할 뿐만 아니라 온도계가 기체의 유 동에 영향을 미쳐서 연소 상태 온도 진단에 어려움이 있었다. 그러나 CARS 기법은 접촉식이 아닌 방법으로 기체의 유동에 영향을 미치 지 않고 연소 상태에서의 고온을 매우 정확히 측정할 수 있다. 뿐만 아니라 연소 과정에서 생기는 여러 화합물을 분석할 수도 있다. 특히 순간적으로 존재하는 C2, OH, NH, CH, NO, CO 와 같은 중간체 화 합물도 분석할 수 있으므로 연소 과정의 반응 메커니즘을 연구하는 데 큰 공헌을 한댜 그림 9.6 은 CARS 기법을 이용해서 천연가스 불 꽃의 여러 위치에서 수소 기체 농도 분포를 측정한 그림이다 [16]. 또한 CARS 는 시간분해 분광학, 화학반응 동역학, 분자의 에너지 전이의 연구에 옹용되고 있다 [17-20]. 그림 9.7 은 오존의 가시광선 광

2000 Z(mm)

/ 24.5 1000 。 -8 _6 --4 -2 。 2 4 6 8 R(mm) // 복‘그大고 -포, ―—구/

그립 9.6 수평 가 스 붕꽃 (hor i zon t al natu r al ga s fl ame) 에서 H2 농도 분포(pp m) 를 CARS 로 측정 했댜 R 은 버너 축 으로부터 수직인 거리이고, Z 는 버너 축을 따라서 올 라가 는 거리이다.

0(45) v= 3 0(17) 0(49) V=1 0(25)

l 1 1 1 | l lll1l1l11 l 1 l l l 1 l l1111l 티Q (41) v= 4 Q( 15) 0(43) v=2 0(23) 0(53) v=O 0(27) ’r』 1 l l 1 1 ll1lll111 I l ll 11lllll l l l 1 1 l 1 l111 l11 1440 1460 1480 1500 1520 1540 1560 라만이동 (cm - ')

그립 9.7 0 리 가시광선 광분해로 생성된 Q휴의 무충돌 CARS 스팩트럼. 윗부분에 는 스 톡 스 래이저 애탈론 줄무 늬 들 (2.892cm · 1 자유 스펙트럼 법위)이 보 이고 숫자는 Q-가지 전이의 진동과 회전 상태 를 나타낸다.

분해에 의해서 생성된 02 의 CARS 의 Q-가지 스펙트럼을 보여준다 (21 ]. 이 때 광분해 가시 광선, 아 생성 물을 감지 하는 CARS 의 들뜸, 스 톡스빔 사이의 시간을 매우 짧게 조절하면 무충돌 (co lli s i on- fr ee) 조 건을 만족시킨댜 따라서 광분해생성물인 아의 초기 회전-진동 스펙 트럼을 얻었으므로 아의 가시광선 광분해의 반응 동역학적 결과를 얻을 수 있댜 또한 H+HR- H2(v', ]')+R 반옹도 이와 유사한 방 법으로 연구되었다 [22]. 반응물인 H 원자는 HI 를 자외선 (266nm) 으 로 광분해시켜서 얻었으며 H 원자의 운동 에너지 를 정확히 알 수 있 으므로 초기 충돌 에너지 를 조절할 수 있다. 이때 큰 병진운동 에너 지 를 가진 H 원자가 주변의 알칸과 반응하여 생성물인 H2 분자와 알킬 라디칼이 생성된다. 생성 물 인 H2(v', J')는 CARS 를 이용하여 각 양자 준위에서 분포도 를 얻을 수 있으므로 생성물의 에너지 분포 를 정확히 알 수 있다. 따라서 반옹 초기 조건과 반응 후의 조건을 양자 상태별로 정확히 측정 합으로써 반옹 전이 상태 를 예측할 수 있 다 . 또한 광분해범과 CARS 빔 사이의 시간 을 변화시키면서 생성물 의 에너지 분포의 변화 를 관찰하면 생성물의 또 다 른 충돌에 의한 에너지 전이와 회전 - 진동이완에 관한 정보도 얻게 된다. 이와 유사 한 방법으로 최근에는 CARS 를 이용한 광화학반응에 관한 연구가 활발히 진행중이다. CARS 는 분자빔에서의 이완과 분자집단체 (clus t er) 분석에 관한 연 구에도 응용되고 있다 [23-26]. 고분해능 CARS 를 이용하면 분자빔에 서의 분자의 도플러 선폭과 병진 온도 및 빔속도 등을 알 수 있다. 그리고 CARS 를 이용하여 분자빔에 의해서 형성된 반데르발스 분자 집단체에 관한 연구도 활발히 진행중이다. 이와 같이 최근에는 CARS 기법이 레이저 유도형광 (LIF) 과 공명 확대 다광자 이온화 (REMPI) 기법과 함께 레이저 분광법으로 가장 널리 응용되고 있다.

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제 10 장 분자빔 내에서의 화학반응 동역학 최영식 10.1 레이저, 분자빔 및 반응 동역학 화학반웅속도 론 (chem i cal k i ne ti cs) 에서는 열평형에 있는 반옹계의 반응속도 를 측 정하고 이에 영향을 미치는 여러 가지 인자들을 규명 하여 전체 반응의 매커니즘을 제시한다. 화학반웅에 대한 속도론적 연구 는 , 여러 가지 현대적 분석기기의 발달에 힘입어 반응의 산물(주 생성 물 , 부산 물 및 수명이 비교적 긴 중간체)들을 검출, 정량해 냄으로써 전체 반응의 메커니즘을 보다 정확하게 기술할 수 있도록 하였으며, 반응 관련 물 질의 농도, 촉매 혹은 온도의 변화에 따른 반응속도의 변화 를 정확히 예측할 수 있도록 하였다. 그러나 반응 혼합물에서 특 정 분자만을 선택적으로 반옹시키거나, 한 분자 내의 특정 화학결합 만을 깨뜨리고, 에너지적으로 불리한 반옹을 주로 일으키는 둥 화학 반응의 조절을 추구하는 화학자의 꿈 [1] 은 화학반응이라는 미시적 현 상에 대한 보다 완전한 이해 를 필요로 한다. 이 를 충족시키기 위해서 는 반응물에서 중간체(혹은 전이 상태) 를 거쳐 생성물에 이르는 전 영 역 의 위 치 에 너 지 곡면 (po te n ti al energy surf ac e : PES) 의 정 확한 모양

이 밝혀져야 한다 . 이 위치에너지곡면의 모양을 알기 위해서는 모든 반응생성 물 은 물론 , 반응하는 분자의 초기 상태 및 반응이 일어나고 있 는 들 뜬 분자에 관한 분광학적 정보, 반응하는 분자계 내에서의 에 너지 흐 름 등이 알려져야 하며 , 반웅 직후 생성된 반응산물의 병진운 동, 회전, 진동 및 전자 에너지 상태분포와 여러 가지 백터량(전이 쌍 극 자 모멘트, 속 도, 각운동량) 들 의 상관관계 등이 밝혀져야 한다 . 이러 한 양 들 은 분자간 충 돌 에 의한 열평형 상태의 반응계 를 다 루 는 반응 속도 론 으로부터는 얻을 수 없기 때문에, 화학반응에 대한 보다 미시 적인 동역학적 정보 를 추구하는 새로운 연구 분야가 대두되었는데 이 를 화학반응 동역학 (chem i cal reacti on dyn am i cs) 이라 부 른 댜 화학반옹 동역학은 레이저의 발 전과 더 불 어 급 속한 성장 을 이룩하 였다 . 최근의 레이저 및 파장 전환 기 술 의 발달 은 20 여 년 전만하여 도 불 가 능 하던 실험 들을 가 능 하게 하였으며 이 들을 이용하여 화학반 응을 보다 깊이 이해하려 는 노 력 을 부추겼다. 기 존 의 방법으 로 측 정 이 불 가능했던 빠 른 반응 들 의 속도가 직접 측 정되었고 , 매우 짧은 수 명을 가진 반응중간체 들 을 검 출 확인하였으며, 중간체와 들뜬 분자 들 의 스팩트럼을 얻었다. 또한 반응 전 반응 물 의 상태, 반웅 후 생긴 생성물, 그 들 의 상태분포와 반응에 관련된 여러 가지 벡터량 들 의 상 관관계 동도 얻을 수 있었다. 이 자료 들 은 그 전에 는 알려지지 않았 던 화학반응의 많은 미시적 현상들을 밝혀주었다. 지난 20 여 년간의 활발한 연구 결과로 비교적 작은 분자 들 이 관여된 반응 들 이 이해되 기 시작하였으며 이 를 바탕으로 보다 큰 분자 들 이 관여된 복잡한 반 옹에 대해서도 연구가 시도되고 있다. 레이저에 못지 않게 반응 동역학의 발전을 뒷받침한 것이 분자빔 (molecular beam)[2] 이다. 분자빔은 기본적으로 반응에 참여하는 원 자나 분자 를 높은 압력의 운반 기체 (c arri er g as) 와 혼합하여 작은 구 멍을 통하여 진공으로 팽창시키는 장치이다. 화학 분야에 도입된 초

기 에 는 교차분자빔 (crossed molecular beam) 장치 에 이 용되 어 이 분자 반응을 연구하는 데 많은 기여 를 하였고, 이 를 이용해 반옹 동역학을 연구한 공로로 1986 년 Lee, Herschbach, Polany i 둥이 노벨상을 수상 하였댜 오 늘 날에는 용도에 따라 짧은 시간 동안만 동작하는 펄스형 이나 슬 릿 모양의 노 줄 등으로 변형하여 사용하고 있으며 특 히 분자 의 고분해 능 분 광학, 광분해반옹 및 분자집단체 (molecular clus t ers) 를 연구하 는 필수 장비가 되었다 [3]. 분자빔은 기존의 정지반응기 (s t a ti c rea ct or) 나 흐 름 반응기(fl ow rea ct or) 에 비하여 다음과 같은 장점을 가 지고 있다 . 첫 째 , 용기의 벽이나 분자 들 간의 충돌을 제거할 수 있다. 충 돌을 제거합으 로 써 들뜬 분자의 초기 상태 를 반응이 일어날 때까 지 유지 할 수 있으며 동시에 반웅에서 생성된 생성물 들 에 관한 정보 들 ( 병진운동, 진동, 회 전 및 전 자 에너지, 선형 및 각운동량의 방향 둥)이 검출 장치에 의해 측 정 될 때까지 유지되고 보존된다. 화학자 들 은 반 응하 는 분 자 들 의 초기 상태와 생성 물 에 관한 정보 들 로부터 일어나는 반응의 자 세 한 동 역학 을 알아내는데, 충돌은 반응물과 생성물의 상 태 를 변화시 켜 그릇 된 정보 를 제공하거나 연구 대상 계 를 충돌이 없 는 경 우보다 훨 씬 복잡하게 만 들 어 반옹의 이해 를 방해한다. 둘째, 분자 들 의 회 전 및 진동 에너지 를 제거하여 연구 대상 분자 를 극저온 으 로 냉각한다. 만일 반응하 는 분자 들 이 모두 한 개 혹은 소수의 알 려진 양자 상태에 있다면 실험 결과 를 해석하거나 이론적인 계산을 통 한 예 측 이 매우 쉬울 것이다 . 그러나 상온에 존재하는 다원자 분자 들 의 양자 상태는 많은 회전 및 진동준위들에 분포되어 있어서 그 홉 수 스팩트 럼 은 매우 복잡하다. 따라서 비록 좁은 선폭의 레이저 를 이용하여 반응할 분자 들 을 들 뜨게 한다 하더라도 많은 양자 상태 를 한꺼번에 둘 뜨게 하고 또 들 뜬 상태의 정확한 양자수 들 을 알지 못한 다. 그러나 분자빔 속의 분자 들 은 진동 및 회전 에너지가 팽창 과정 에서 제거되어 극히 낮은(분자빔에 따라 다르지만 수 K) 회전 온도

(rota t i on al t em p era t ure) 를 가지며, 진동 온도도 회전 온도보다는 덜 낮아지지만 역시 낮은 값을 가진다. 이러한 낮은 회전 및 진동 온도 는 분자 를 단지 몇 개의 양자 상태에만 존재하게 만들고 그 결과 홉 수 스팩트럼이 놀랄만큼 간단해진다. 따라서 레이저를 이용하여 특 정 양자 상태만 들뜨게 할 수 있고 그 상태의 양자수 를 쉽게 알 수 있댜 앞에서 언급한 대로 초기 상태에 관한 정확한 정보는 반웅 동 역학의 이해에 필수적인 것이다. 셋째, 분자빔을 이용하면 상온에서 는 존재하지 않는 분자집단체 를 쉽게 만들 수 있다. 분자집단체는 반 응하는 분자간의 상호작용을 이해하는 데 중요한 정보 를 제공할 뿐 만 아니라 그 자체가 새로운 물질로서 많은 연구의 대상이 되고 있 댜 분자집단체는 분자 들 이 약한 비결합 인력으로 결합하기 때문에 상온에서는 존재할 수 없으나 극저온의 분자빔에서는 안정한 형태로 존재한댜 현재까지 사용해 온 다양한 종류의 분자빔 장치의 구조, 특성, 분광학 및 반응 동역학에의 응용 등에 관한 자세한 내용은 참 고문헌 [3] 을 참조하기 바란다. 화학반응 동역학은 레이저의 발전과 분자빔에 힘입어 〈화학반응이 어떻게 일어나는가〉라는 의문에 대하여 많은 해답의 실마리를 제공 해 왔으며 앞으로 화학반응을 완전히 이해하는 데 결정적인 기여를 할 것으로 예상된다 . 이 장에서는 레이저 분광법과 분자빔을 이용한 최근의 반응 동역학 연구 들 중 대표적인 것 들을 소개하고 새로운 연 구 방법과 결과들을 소개하고자 한다. 그러나 가능한 한 개별 연구에 서 추구하는 반응 동역학 자체의 자세한 언급은 피하고 레이저 분광 학을 이용한 새로운 연구 방법들과 응용 예 를 소개하는 데 주안점을 두었으므로 여러 가지 레이저 분광법 자체에 대한 자세한 내용 [4] 과 광분해반응 동역학에 대해서는 참고문헌 [5] 를 참고하기 바란다. 10.2 절에서는 반옹하는 들뜬 분자 혹은 전이 상태(t rans iti on sta t e : TS) 와 들뜬 분자 내의 에너지 준위들의 상호작용 등에 관한 분광학

적 연구들을 소개하며, 10.3 절에서는 짧은 펄스 폭(p ulse dura ti on) 을 가진 레이저 를 이용한 직접적인 반응속도 상수의 측정 예 들 을 다 루 었다 . 10 .4 절 에서는 〈반옹 후 남는 에너지들이 반응생성 물들 의 각 자 유도에 어떻게 분포되는가〉라는 의문에 관한 연구 둘을 소개한다 . 10.5 절 에서 는 광분해반응에서 반응물의 전이 쌍극자 모맨트의 방향 과 , 분해산 물들 의 속도 및 각운동량 백터 들 의 상관관계 를 다 루 었으 며 , 10.6 절 에서 는 화학자 들 의 오랜 꿈인 결합 선택적 반응과 화학반 응의 조절 에 관 한 최근의 시도 들 을 알아보았다. 10.2 반응하는 분자의 분광학 단 분 자반 웅 이나 이 분 자반응의 위치에너지곡면의 안장 점 에 해당하 는 전 이 상태(t rans iti on s t a t e)[6 - 8] 의 존 재는 오렛동안 가정되어 왔 고 그로부 터 유 도된 이분자반응의 전이 상태 이론(t rans iti on sta t e the or y)[ 8 ] 이 나 단 분 자반응의 RRKM(Ri ce -Ramsp erg e r-Kassel-Marcus) 이 론 [6 , 7) 등은 여러 반응의 속도 를 설명하고 예측하는 데 매우 유용 하게 이용되었다 . 그 러나 최근까지도 이 전이 상태의 구조(전이 상태 주 위의 위 치 에너지 곡 면의 모양) 및 수명 둥에 관한 많은 가설 들 을 확인 할 직접적 인 실 험이 시 도 되지 못했는데 그 근본적인 이유는 이 상태 들 의 수명이 극 히 짧기 때문이었다 . 음이 온의 광전자 분 광학(p ho t oele ct ron sp e c tro scop y on neg a ti ve i ons)[9] 이라 불 리는 새로운 방법이 이같은 어려움을 극복하여 전이 상태의 스펙트럼을 제공하기 시작하였다. 실제로 광전자 분광학은 비교적 긴 역사 를 가진 방법으로 [10) 안정한 분자 혹은 이온 들 의 전 자 상태의 위치 를 알아내는 유용한 것이었으나 기술이 발달하면서 전자 분광학의 분해능이 증가하고 전통적으로 사용해 오던 램프 대

신 높은 출 력의 레이저가 광원으로 사용됨으로써 그 응용 영역이 크 게 확대되었다 . 이러한 발전에 힘입어 L in eber g er 와 Neumark 등은 이 방법을 반응의 전이 상태 를 연구하는 데 이용하여 큰 성공을 이 루 었다 . 그들은 전이 상태는 매우 불안정하지만 그 음이온은 전이 상 태와 유사한 구조 를 가 질 뿐만 아니라 충돌이 없는 상태에서 충분히 긴 수명을 가질 만큼 안정하다는 데 착안하였다 . 먼저 전이 상태와 유사한 구조 를 갖는 음이온의 분자빔을 만 들 고 이 음이온에 대하여 광전자 분광법을 사용하여 전이 상태에 관한 정보 를 얻었댜 이 방법을 이용하여 Neumark 그 룹 은 I+HI, Cl+HCl, Br+HBr, Br+HI, Cl+ HI 및 F+HI 등 여러 이 분 자반응의 전이 상태의 구 조 , 전 이 상태 주 변의 위치에너지곡면의 자세한 모양, 몇 가지 진동방식의 진동수, 최 소 수명 등을 알아내어 학계 를 놀라게 하였다 [11 , 12]. 이 결 과 중 일 부 를 그림 10 .1에 소개하였다. 이 들 은 또 산란 실 험에서 관찰 된 공명 현상을 설명할 수 있 는 긴 수명을 가진 공명 상태 (resonance sta t e ) 를 발견하였다. 이보다 앞서 Line berge r 둥은 CH2 C 이온에 거의 같은 방법을 써서 단 분 자 이성질화반응인 CH2C :-CH CH 반응을 연구하여 이성질화 반응속도의 상한을 예 측 하였고, 불 안정 화학종 인 CH2C : 라디 칼의 두 진동방식 들의 진동수 를 알아냈으며 [13] 보다 최근에는 FHC=C : -FC 三 CH 반응에 대해서도 같은 연구 를 행하 였다 [14]. 에너지에 따른 단분자반응의 속도 를 측정하여 간접적으로 전이 상 태의 기준 진동수 를 얻을 수도 있다 . RRKM 이 론 에 의하면 단분자 반응의 속도는 주어진 에너지에서 전이 상태가 가질 수 있는 상태의 수에 비례한다 [6, 7]. 전이 상태의 영점 에너지 근처에서는 전이 상태 의 진동준위의 수가 많지 않기 때문에 분자의 에너지가 새로운 진동 준위에 도달할 때마다 반응속도는 계단식으로 증가하게 된다. 따라 서 에너지를 조금씩 변화시키면서 반응의 속도 를 측정하면 이 계단

1.0 。

1 ,’' ’,, '' c、hl―fH .`’ ,, .,', ` `’ ’ ’, ’ `’ '’ ', ’ · ,’’' , .'`^’ ’ ‘ , ,,',' ,L'’,''.,’ ' , ` ',' 어 '`, `., , '’ ’' ‘ ,',, '.',,,,`5' ',' , ,'n' '4,' 설 I l` '·,n '',u l’, 2 '3 ,`'’ , ,`F’.’ ’ ’,, ,''’'’'’ ’ ’ ,,,'',`'` ’ ``' ’ ; , ,.,‘'. ‘' ,' ',',`.’’, ’ ``’`' ` ` ,` ` ' ` `、 `` 0.0 I `、 `` } `_ 0.0 1.0 2.0 3.0

0,','

1.0 吉(R_一Y一 ', 니`,''` ,’w` ’`•,•'‘`'I · ’I ’ ,' ,','I' ,, ..,' , ,y’' , ` .4k,、 ’ 사·`', u~曺R ••• , , `'`6',、 ``'· , T '‘i4 r, `.,, ’' 2’`` ` ’ ,,' ,’,: '',` I:'`` ' `'’.. ' , ,,`,,','`, ', '` ' ` '`' ` `` ` `` ` ` ` ` ` 0.0 0 .0 1.0 2.0 、` `` `` -- 、` 3.0 전자의 운동 에너지 (eV)

그립 10.1 음이온 전자 분광학으로 얻은 Br … H···I( 위) 및 Br···D···I( 아래)의 스팩 트럼(접선). 실선은 계산에서 얻어진 스팩트럼의 위치이다(참고문헌 [1 2] 에서 전재).

의 위치 를 알아낼 수 있는데, 이 계단의 위치는 바로 전이 상태의 진 동 에너지 준위의 위치 를 나타내므로 전이 상태의 기준 진동수를 얻 을 수 있댜 Moore 등은 이 방법을 처음 사용하여 삼중항 위치에너 지곡면상에서 분해하는 CH2CO 와 CDzCO 분자의 전이 상태에 대한 분광학적 정 보 를 얻었다[1 5, 16). 그들은 들뜸 레 이 저 의 파장을 조금 씩 변화시키면서 분해산물인 co 의 생성속도 를 측정하여 RRKM 이 론에서 예 측 된 계단을 발견하였고 이 계단의 위치로부터 전이 상태 의 기준 진동수 를 얻었다. 그림 10.2 의 이 방법은 N02 의 단분자 분해 반응 [17] 과 S1 상태에서 옥타테트라엔의 이성질화반웅[1 8] 에도 이용 되었댜 전자적으로 둘 뜬 상태에서 분해하는 분자 들 에서 방 출 되는 라만 산 란의 파장 분포 를 측정하여 분해하는 분자 들 에 관한 정보 를 얻을 수 있다. Ki ns ey 등은 나노초의 펄스 길 이 를 갖 는 266nm 의 레이저 광 에 의하여 들 뜬 CH 산가 내는 라만 산란의 분광 스팩 트 럼의 세기 분 포로부터 분해하는 분자가 따라가는 들 뜬 상태의 위치에너지곡면에 관한 정보 를 얻었으며, 그림 10.3 의 이 방법 을 야의 광분해에도 응용 하였다 [19). Butl er 등은 같은 방법으로 193.3nm 의 빛에 의해서 들뜬 H2S 의 분해 과정을 연구하였다 [20). 이 분광법은 나노초 레이저를 이 용하여 펨토초 시간 영역의 동역학을 관찰할 수 있 는 유용한 방법으 로, 들 뜬 상태에서 매우 짧은 시간 내에 분해하는 많은 분자에 응용 되었다 이 방법에 대한 이론적 취급 및 더 많은 응용 예 들 은 Ki ns ey 등이 발표한 최근의 총설 [21] 에 자세히 소개되어 있다. 또 노벨상 수 상자인 Polan yi와 그의 동료 들 은 전자적으로 들 뜬 Nal* 가 Na*+I 로 분해하는 도중에 내는 형광을 측정하여 분해 과정의 근사적 위치에 너지곡면을 얻었다 [22). 전이 상태에 대한 최근의 연구 를 더 자세히 살펴보려는 이에게는 Polan yi와 Zewa il 이 공저한 최근의 총설 [23] 이 큰 도움이 될 것이다.

30 80

20 g3•앙• □ &흙 8 60 ' s s(l0~ )(13 )。>/ 어ivX3 .0:lH d 40 。 20 。 28200 28400 28600 에너지 (cm - 1)

그립 10.2 에너지에 따 른 CH2CO 의 단분자 분해속도 상수. RRKM 이론에서 예 측 된 대로 분해속도가 계단으로 증가하고 있으며 각 계단의 위치는 전 이 상태의 진동준위 를 나타낸다(참고문헌 [1 5] 에서 전재).

단분자반응을 일으키는 들뜬 분자(특히 진동 에너지에 의해서) 내에 서 진동 에너지들이 각 진동방식들간을 자유롭게 이동하는가에 관한 의문은 이분자반응에서 전이 상태의 존재만큼이나 오랜 논란의 대상 이 되어왔다 [24]. 각 진동방식간의 자유로운 에너지 흐름의 가정 위 에 유도된 RRKM 이론이 많은 분자들의 열분해반옹을 성공적으로

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그립 10.3 분해하 는 분 자에 대한 라만 분광 법의 개념도. CH31 의 광 분 해 를 예로 듈 었다(참고문헌 [21] 에서 전제) .

설명하였기 때문에, 또 실험적으로 이를 확인할 방법의 부재로 이 논 란은 한동안 누그러지는 듯했다 . 실험적 난점의 핵심은 다원자 분자 (원자수 4 개 이상)들이 많은 진동방식을 가지고 있어서 반옹이 일어날 정도의 높은 에너지에서는 진동준위의 밀도가 매우 높아 각 준위 를 분리할 수 없고 또 특정 진동준위를 확인할 수 없다는 점이었다 [7]. 따라서 한 분자 를 들 뜨게 하였을 때 실제로 에너지가 들 어 있는 진 동방식을 확인 할 수 없을 뿐만 아니라 그 에너지가 흘 러 들 어간 진 동방식을 확인할 수 없었다. 그러나 최근 좁은 선폭의 레이저와 분자 빔을 이용하여 , 반응이 일어나는 에너지에서 진동준위 밀도 (dens ity of s t a t e) 가 1,0 0 0sta t e s /c m -1 이하인 비교적 작은 분자들에 대하여 활 발한 연구가 진행중이며 홍미 있는 결과들이 쏟아져 나오고 있다. 이 연구 들 의 대부분은 진동 에너지 들 의 상호작용을 진동수 영역의 분광 학을 이용하여 알아내고 그 결과로부터 시간 영역의 분자 동역학을 이해하 는 것이다. Moore 등 은 기존의 분광학적 방법의 한계를 극복한 Sta r k 준위 교 차 분광 법 (St ar k level-c rossin g s p e ct rosco py )[25] 을 이 용하여 반응하 는 바닥전자 상태 (So) 의 DzCO 분자 내의 에너지 흐름과 반옹속도에 관하여 연구하였다 [26-29]. 이 들 은 분자에 가해지는 전기장의 세기에 따라 들 뜬 상태 (S!) 의 형광수명이 변하는 현상을 이용하여 28,000cm-1 근처의 DzCO 분자 스펙트럼을 5X lQ궁 cm-1 정도의 초고분해능으로 얻었다. 이 스팩트럼은 이 에너지에서 각 진동준위들이 서로 강하게 상호작용하여 통계적인 동역학을 나타냄을 보였다. 그러나 각 고유 상태의 반옹속도는 수백 배까지 변화함을 보였는데, 이는 완전히 혼 합되어 있는 각 고유 상태 (e ig ens t a t es) 의 물리적 성질이 같지 않고 이론적으로 예 측 된 바와 같이 통계적 변이 (s t a ti s ti cal fl u ct ua ti on) 를 가지는 것으로 설명되었으며 [28] 이와 같은 변이의 정도는 분자 내의 진동방식의 수가 증가할수록 감소한다. 실제로 이 분자의 평균 반옹

속도 는 , 이 실험에서 측 정된 준위 밀도와 ab ini t io 계산에서 얻어진 [30] 분해 언덕의 높이 를 이용하여 계산된 RRKM 속도와 매우 잘 일치하였댜 이중 공명법 (double resonance) 의 한 변형인 유도발광 들 뜸 (s ti mu­ late d emi ss io n pu mp ing : SEP ) [31] 을 이 용하여 얻은 HFCO 분자의 스 펙트 럼 은 HFCO 의 분 자 동 역학이 ~co 분 자와 는 판이하게 다름을 보여주었다 [32, 33]. 우선 D 2 CO 에서와 달 리 SEP 스펙트 럼에 나타난 HFCO 의 진 동 에너지 준 위 들 은 주변의 에너지 준 위 들 과 강한 상호작 용 을 하지 않 는 댜 뿐 만 아니라 그 림 10 .4에서 보 는 바와 같 이 평면의 굽힘 진동 방식 (ou t - o f pla ne bend mode) 에 더 많 은 에너지 를 넣 어줌에 (따라서 분 자 내 총 에너 지도 동 시에 증 가) 따라 주 변의 준 위 들 과의 상호 작용이 약해지며 몇몇 준 위 는 다 른 준 위 들 과 전 혀 상 호 작용 을 하지 않음 을 보였댜 이러한 현상은 에너지가 증 가하면 위치에너지 곡 면의 비조화성이 증가하며 그 결 과 는 진동 방 식간 의 상 호작 용이 증가한다 는 일반화된 통 념과 상반 된 것 이었다 . 이러한 경 우 진동모드- 선택적 (mode-s p e c if ic) , 비에 르 고딕 (non - er g od ic) 또 는 바 통 계 적 (non - s t a ti s ti cal) 동역학을 보인다고 한댜 또 다 른 홍 미 있 는 결과는 D 2 CO 와 HFCO 의 진동준위의 스펙 트럼 으 로부 터 계산된 분 해 언 덕 주 변의 준 위 밀도가 놀 랍게도 RRKM 계산에 흔 히 사용되 는 비 조 화 직접 계수법 (anhannon i c dir e ct coun ting)으로 얻어진 값보다 5 - 7 배 정 도 높 다 는 사실이다. 이 러한 차이는 Fie l d 등에 의해서 얻어진 27000cm- 1 정도의 진동 에너 지 를 갖는 HCCH 의 유도발광 들 뜸 스팩 트 럼에서도 관 찰 되었다 [34]. 이 결과 들 은 비교 적 조화적인 낮은 위치 에너지 영역에서 얻어진 비 조화 상수 (anharmon icity cons t an t s) 들을 이 용하여 반옹하는 에 너 지 영역의 준위 밀 도 를 계산하는 것이, 비교 적 작은 분자에서는 정확하 지 않음을 시사하는 것이며 따라서 보다 정확한 계산 방법이 요구되 고 있다 .

。 11, It1 E.=1—8224 cm- 1

20 221 40 619 60 2,6,1 )서8(談 40 Ev==18089 cm 기 向R 60 20 40 22615 Ev=17957 cm- 1 0000 123 23613 E,= 1 7823 cm- 1 .. 。 2 4 6 8 10 12 띠 중십에서의 멀어짐 (cm ~ ’)

그립 10.4 HFCO 의 SEP 스팩트럽의 일부. 평면외 굽힘진동방식( IIG) 에 더 많은 에너지가 들 어갈수 록 준위간 혼합이 감소하여 스팩트럽이 단순해진다 (참고문헌 [33] 에서 전재) .

유도발광들뜸이 분자 를 상태 선택적으로 들뜨게 하고 단분자반옹 의 동역학을 연구하는 데 매우 유용한 들뜸 방법이지만, 대부분의 분 자 들 에서는 프랑크-콘돈 (Franck-Condon) 인자의 분포가 HFCO 에서 처럼 넓지 않다. 따라서 분해반옹을 할 수 있는 에너지 준위에 분자 를 들 뜨게 하기 어렵기 때문에 유도발광들뜸을 반응하는 분자를 연 구하는 데 이용한 예는 그리 많지 않다. HFCO 를 포함하여 HC0[35], CI- b0 [36], CH2CH0[37] 라디칼 등이 대표적인 것 들 이다. Riz z o 둥은 적외선과 가시광선의 두 레이저 광을 사용하는 이중 공명법 (double resonance) 을 이용하여 0- H 뻗힘 진동방식의 높은 배 진동 (ove rt one) 준위들의 분자 내 진동 에너지 흐름(에너지 준위간의 상호작용과 같은 의미)과 단분자반응을 연구하였다 [38]. 이들은 먼저 13,300cm - 1 의 가시광선을 사용하여 분자들을 0- H 뻗힘 진동방식의 v=4 또는 5 준위 에 들 뜨게 한 후 OPO(op tica l pa rametr i c oscil lato r ) 에서 만든 가변 파장의 적외선을 사용하여 v= 5 또는 6 준위로 들뜨 게 하였다. 들뜬 분자는 (OH+N02) 로 분해하는데 분해산물인 OH 를 레이저 유도형광법(l aser- i nduced fluo rescence : LIF) 으로 검출하였댜 v=4 또는 5 준위의 스펙트럼은 OH 라디칼의 LIF 의 세기를 측정하 면서 적외선 레이저의 파장을 변화시켜 얻었다. 이 연구에서 이들은 0 차 상태 (zero t h-order s t a t e) 인 v = 4 와 v=5 준위는 주위의 다른 준위 들과 심하게 혼합 (m ixi n g)되어 있어서 실제로 v = 4 와 v=5 준위의 특성은 거의 가지고 있지 않음을 밝혔다. 그런데 이보다 작은 분자인 HOOH 에 대한 같은 실험을 통하여 HOOH 분자의 v=4 인 0 차 상태 는 실제로도 거의 순수한 (85% 이상) v=4 준위임을 알아내어 [39] 들 똔 준위들간의 상호작용이 분자의 크기(더 정확히 말하면 준위 밀도)와 중요한 상관관계가 있음을 밝혔다.

10.3 빠른 반응속도 측정 반응속도 연구 분야의 오랜 꿈 중의 하나는 〈빠른 반응들의 속도 를 직접적인 방법으로 측정하는 것〉이었는데, 이 꿈은 짧은 펄스 폭 (pu lse dura ti on) 을 가진 레이저의 발달로 실현되었다. 이 분야는 수 PS 혹은 그 이하의 짧은 펄스 폭 레이저 를 이용하는 초고속 현상 측 정 기 술 에 관한 다 른 장에서 자세히 언급될 것이므로 여기서는 기체 상 혹은 분 자빔 을 이용한 몇몇 홍미 있는 연구 결과만을 소개한다. 매우 빠 른 단 분 자반응 을 하는 예로 ICN 분자가 있다. 자외선 파장의 빛을 홉 수한 ICN 분 자는 반발 위치에너지곡면 (re p uls i ve PES) 을 따 라 (I+ CN) 으 로 분 해 된 다. 일반적으로 ICN 처럼 반발 위치에너지곡 면으 로 들 뜬 분 자 들 은 빠 른 속도로 분해된다. Zewail 등은 펨토초 레 이저 를 이용하여 반 발 위치에너지곡면으로 들뜬 ICN 의 분해속도 를 측 정하였다 [40]. 먼저 자외선 파장의 팸토초 레이저로 ICN 을 반발 위치에너지 곡면 위에 들 뜨게 한 후 분해산물인 CN 을 파장 가변의 또 다 른 펨토초 레이저 를 사용한 LIF 법으로 검 출 하였다 . 두 펄스간 의 시 간 간격을 변화시킴으로써 ICN 의 분해속도 를 측정하여 ICN 분 자가 ( I+ CN) 으로 완전히 분해하는 데 약 205 f s 가 걸림을 밝혔다 . 또 탐지 레이저의 파장을 변화시켜서 I 와 CN이 완전히 분리되지 않은 중간체 들 의 시간에 따 른 변화도 측정하였다. Nal 분자의 광분해반웅 속도 측 정 [41] 은 또 다른 홍미 있는 예이다. 바닥 상태의 Nal 분자는 짧은 펄 스 폭의 레이저에 의하여 공유결합성의 상태로 들뜬 후 이 상태의 위치에너지곡선을 따라 분해된다. 그런데 놀랍게도 분해반응 이 시 간에 따라 진동하는 현상이 관찰되 었는데 [41], 이 것은 짧은 펄 스의 레 이 저 광에 의 해 들뜬 상태 에 만들어 진 파동뭉치 (wavepa cket) 가 바로 공유결합성 위치에너지곡선을 따라 움직이다가 이온성인 바 닥 상태의 위치에너지곡선과의 교차점에서 일부만 분해되고 나머지

는 되돌아가 마치 위치 에너지 우물에 갇힌 상태가 되기 때문으로 설명되었다. 즉, 갇힌 파동뭉치가 진동하다가 두 에너지곡선의 교차 점(두 핵의 거리가 6.9 A 인 위치)에 도달할 때마다 일부가 분해하며 그 결과 분해반웅은 주기 를 가지고 반복됨을 그림 10.5 에서 보여주고 있 다. Zewail 그룹은 또 NCN0[42], HOOH[43] 및 CH2 C0 [44] 분자 등 의 단분자 분해반응의 속도 를 측 정하여 반응속도 를 예측하는 여러 가지 이론 들 과 비교하였다 . 충 돌 이 없는 상태의 이 분 자반응의 속도 를 실시간으로 측 정하는 것 은 단분자반응에 비하여 더 많은 어려움 을 가지고 있다 . 정확한 속도 를 측 정하기 위해서 는 반응 시간보다 짧은 시간 내에 반응물 들 을 서 로 충 돌 시켜야 하 는 데 동시에 다 론 분자 들 과의 충 돌 은 없어야 한다. Zewail 그 룹 은 Wi ttig 등 이 처음 사용한 반데 르 발 스 전구체(p recur­ sor) 분자 를 이용하여 이러한 난점 을 극 복하고 H+oco-OH+co 반응의 속도 를 직접 측 정하였다 [45]. HI 와 CO2 의 혼 합 물을 펄스형 초음속 제트 를 통하여 팽창시켜 전 구 체 분자인 IH···OCO 반데르발 스 분자집단체 를 만든 후 피코초의 펄스 길 이 를 가진 자외선 레이저 광으로 HI 를 광분해하였다 . 분해된 H 원자는 oco 와 충 돌 하여 (HOCO)* 중간체 를 거쳐 OH+CO 로 분해되 는 데, 이 반응에서 생성 된 OH 라디칼 을 또 다른 PS 레이저로 실시간 측 정하였다. 두 레이저 펄스간의 시 간차에 따른 OH 양의 변화로부터 (HOCO)· 의 수명 이 약 5 p s 임을 밝혔다 . 최 근 에는 반데르 발 스 분자집단체 를 이용한 반응속 도 측 정을 펨토초 영역으로 확대한 연구도 보고되었다. 이 연구에서 Vi st i co t 등은 Xe .. ·Cl2 반데르발스 분자집단체가 2 광자 홉 수 를 통하 여 들 뜬 후 XeCHB)+Cl 로 분해하는 반옹속도 를 측 정하였다 [46]. Bernste i n 그 룹 에 의해 정렬된 CH iI 분자의 편광된 레이저 광에 의한 분해반옹의 연구는 [47] 반응속도 를 직접 측정한 예는 아니지만 방법과 결과가 홍미로우므로 간단히 소개한다. CH 산 분자 를 정전기

(a) 위치 에너지곡면

®O ®巳) 。 仁) 이온 결합성: Na• + 1- 1

_

xH 공유결합성: Na+I p

_모

一 [Na••·l ]” 一 Na+1+E,mns 。 5 R, r-6. 93핵A . 간1거0 리 (A.) 15 20

(b) 실험 결과

8 d/。/, 써 R

': ':': -2 -1 。 2 3 4 5 6 7 8 지연 시간(p s)

그림 10.5 Nal 의 위치에너지곡선 및 광분해반응 동역학. 레이저 광에 의해 들 뜬 상태에 만 들 어진 파동뭉치 (wave p acke t)가 바로 공유결합성 위치에너 지곡선을 따라 움직이다가 이온성인 바닥 상태의 위치에너지곡선과의 교차점에서 일부만 분해되고 나머지는 되 돌 아가기 때문에 분해반옹은 주기 를 가지고 반복된다(A. H. Zewail, ]. Phys . Chem . 100, l'l:1 0 1 (1 996) 에서 전제).

적 육극자 (elect ros t a tic hexa p ole) 와 직류 전기장을 이용하여 특정 회 전준위 를 선택한 후 전기장에 대하여 정렬시킨다. 분자의 정렬 방향 과 평행한 방향으로 편광된 레이저 광으로 CH 산 분자 를 CH3+I 로 광분해하고 생성 물 인 I 원자 를 다른 레이저 를 이용하여 이온화하여 비행 시간 - 질량 분광계(ti me-o f-flig h t mass s pect rome t er) 로 측정하 였댜 이때 I 원자가 검출기 방향으로 떨어져 나가 느 냐 그 반대 방향 으로 가 느 냐에 따라 검 출 기에 도착하 는 시간이 달라진다. 만일 분자 가 분해 전에 완전한 회전을 한다면 반응 전의 정 렬 상태가 파괴되 어 두 방향(위와 아래)으로 떨 어져가 는 확 률 이 거의 같 아야 하며 분해 하는 데 걸리는 시간이 분자의 회전 주기보다 짧다면 초기 정렬 상 태가 보존되어 두 방향으 로 가 는 확 률 이 달 라야 한다. 그 들 은 몇 가 지 요오 드 화 알칸 들 에서 현저한 비대칭성 을 발견 하였으며 들 뜬 CI- bl 는 1p s 이내에 분해합 을 밝혔 는 데 , 이 는 Zewail 그룹 의 직접적인 측 정(0.4p s 이하)에 의하여 확인되었다 [48]. 반응속도 연구 분야의 오랜 의문 중의 하나 는 〈에너지 외에 반응 속도에 영향을 주는 다 른 동역학적인 인자 들 이 있 는 가 〉 라는 것이었 다. 몇몇 예의는 있지만 일반적으로 반응 물 의 에너지가 증가하면(열 평형에 있 는 계에서 는 반옹계의 온도가 올 라가 면 ) 반응 속 도가 증가한다 . 그러나 많은 사람 들 은 반응속도 를 결 정하 는 인자가 에너지뿐인가에 회의 를 품어왔고 에너지 외에 반응속도에 영향 을 주 는 인자 들 을 찾 으려고 시도하였다. 이러한 시도는 좁은 선폭 (bandw i d t h) 을 가진 레 이저의 개발로 낱개의 양자 상태 들 의 반웅속도 들 이 측 정되면서 실질 적인 결실 을 맺기 시작하였다. 어떤 반응에서는 에너지뿐만 아니라 반옹하는 분자의 각운동량이나 분자 내의 에너지 위치 둥이 반옹의 속도 를 크게 좌우한다는 것이 알려졌다. Moore 등은 유도발광 들 뜸을 이용하여 HFCO 분자 를 바닥전자 상태의 특정 양자 상태로 들뜨게 하 고 단분자반응을 통하여 HF+CO 로 분해하~근 속도 를 측정하였다 [49].

표 10.1 HFCO 21615 전동 준 위의 만분자 분 해반응속도

회전준위 r (ns) log (k d) J Ka Kc 。。 。 650 6.19 1 。 1 190 6.72 1 1 1 130 6.89 2 1 1 16 7.80 2 2 1 9. 00

• 같은 진동 준 위의 회전준 위 둘 이 지 만 분 해반옹 속 도가 현저히 다 르 다 . 참 고 문헌 [49 ] 에 서 발췌 .

이 들은 반응 하 는 HFCO 분 자의 진동 및 회전 양자수 를 변화시키면 서 속 도의 변 화 를 관찰 하였 는 데, 표 10 .l에서 보 는 것과 같이 같은 진 동준 위에 있 는 ( 따라서 같 은 진 동 에너지 를 갖는) 분자의 회전 양자수 에 따라 분 해 속도가 100 배 이상 변화하는 것을 발견하였다. 회전준위 에 따 른 회 진 에너 지 의 차는 겨우 20cm - 1 였으며 진동 에너지는 약 14,000 - 16 , 000cm - i이었기 때문에 HFCO 의 회전 에너지에 따른 커다 란 반 응 속도 의 변화 는 통 계 적 인 반응속도론(예 를 들 면 RRKM 등)으 로 는 설 명이 불 가 능 하였다. 이 들 은 또 회전을 하지 않는(J=O) 거의 같은 에너지 를 가진 HFCO 분자 들 의 분해속도 를 진동 양자수를 변 화시키면서 속도를 측 정하였는데, 분자 평면 내 움직임에 대한 반옹 좌표 (rea cti on coord i na t e) 와 수직인 평면외 굽힘진동에 더 많은 에너 지 가 들 어 있는 경 우의 분해속도가 느림을 밝혔다. Fie l d 둥 [35] 과 Housto n 등 [50] 은 비 교적 작은 분자인 HCO 라디 칼의 바닥전자 상태 에서의 분해반응 (H+CO) 의 속도 를 SEP 스팩트럼의 선폭으로부터 구하였다 . 이 결과 룰 표 10.2 에 소개하였다 . 이들은 진동 에너지가 C-H 뻗힘 진동방식에 들 어 있는 진동준위가 다른 방식 들 에 모든 에

표 10.2 전동준위 에 따 른 바닥전자 상태의 HCO 의 선폭 변화

진동준위 에너지 (cm · 1) 선폭 (cm - 1) (0, 6, 0) 10879.6 0.6 (0, 5, 2) ~11215 >15 (0, 6, 1) 11936 5.5 (0, 7, 0) 12597.3 0.9 (0, 6, 2) 12963 13.5 (0, 7, 1) 13645.7 9.0 (0, 8, 0) 14287.6 1.3 (0, 9, 0) 15958.5 0.5

* 갇은 5o,s 회 전준위 를 측정한 것이며 선폭은 분해반응속도를 나타낸다 . 참고문헌 (50] 에서 발췌

너지 를 가진 준위보다 훨씬 빨리 분 해함 을 밝혔다. 이러한 현상들은 어떤 분자들의 반응에서는 분자의 총 에너지뿐만 아니라 각운동량이 나 반응 분자의 진동 양자수 등도 반응속도 를 결정하는 중요한 인자 임을 보여주는 좋 은 실험적 증거이다. 10.4 남는 에너지의 분배 반응 후 남는 에너지들에 대한 반응생성물의 자유도 사이의 분배 에 관한 연구는 반옹 동역학의 여러 분야 중에서 가장 많은 결과들 울 내고 있는 분야이다. 그 이유는 레이저와 분자빔의 이용으로 실험 의 기술적 난점들이 거의 제거되었고, 또 얻어진 실험 결과들이 전이 상태의 구조, 전이 상태에서 원자들의 움직임 및 전이 상태와 생성물

간의 위치에너지곡면의 모양 둥 중요한 미시적 정보 를 제공하기 때 문이댜 실험적 편이성 때문에 현재까지 보고된 대부분의 연구 들 은 레이저 광에 의해서 들뜬 분자들의 단분자 분해반응에 관한 것이었 으나, 최근 이분자반웅에 관한 연구 들 이 늘어나고 있다. 보고된 결과 의 방대함 때문에 극히 일부의 홍미 있는 연구 들 만 소개한다. 단분자반응에서의 남는 에너지 분배에 관한 연구의 대표적인 예로 는 H2CO 의 분해반응이 있다 . Moore 그룹은 H2 와 co 분해생성 물 의 진동 및 회전 에너지 분포 를 진공자외선을 이용한 LIF 법으로 측정 하였고 [51, 52], 이보다 앞서 총 가용 에너지 (ava il able ener gy)의 65% 가 H 2 와 co 의 병진운 동 에너지로 분배된다는 것을 분자빔-비행 시 간 (molecular beam tim e-of- fligh t) 분광법 을 이 용하여 밝혔 다 [53]. 최 근에는 CO 와 H2 분 자의 상태분포간의 상관관계 를 조사하여 H2CO 분자의 단분 자 분 해반응의 미시적 과정을 밝혔다. CO 분자의 회전 에너지(J) 분 포 는 J = 42 에서 최대치 를 갖고 폭이 약 20(J 단위로)의 종모양의 분 포 를 보이 는 데, 이같은 비통계적 분포는 분해하는 H2CO 분자가 전 이 상태 를 지난 후 경사가 심한 반발 위치에너지곡면을 따 라 짧은 시 간 내에 분 해하기 때문으로 밝혀졌다. 이와는 달리 308run 의 레이저에 의해서 들 뜬 CH2CO 분자는 반응 분자와 생성물 간에 반옹 언덕이 없 는 단일항 (s i n g le t) 위치에너지곡면을 따라 분해하는 데 여기서 생성된 CO 분자 들 의 회전 에너지 분포는 통계적 이론들 에 의해서 예 측 된 분포 를 나타낸다 [54]. Moore 그룹은 PHOFEX 라 불리는 독특 한 방법을 사용하여 CH2CO 분자의 분해 과정을 자세히 밝혀 분해 언덕을 넘지 않고 분해하는 분자들의 일반적 동역학을 제 시하였다 [55]. Wi ttig 그 룹 이 연구해 온 NCNO 분자도 그 분해생성 물 들 의 전자, 진동, 회전 및 병진 운동 에너지가 모두 측 정된 드문 분자 중의 하나이 다 [56, 57]. 그 들 은 특 히 광분해 레 이 저 의 파장을 변 화시켜 가며 가용 에너지의 변화에 따른 동역학의 변화 를 조사하였

댜 거의 같은 에너지 를 가진 서로 다른 초기 상태들이 현저히 다른 에너지 분포 를 나타내는 분자, 예 를 들 어 H2C0[58] 와 HFC0[59] 등 이 알려졌는데 아직 그 동역학적 원인은 정확히 밝혀지지 않았다 . 이 의에도 수많은 단분자 분해반응 들 이 연구되었으며 그 결과들은 최근 의 해 설들 에 잘 요약되어 있다 [57, 60, 61] . 병진운동 에너지 분포는 내부 에너지 분포와 마찬가지로 분해 과 정의 위치에너지곡면의 모양에 관한 정 보를 제공하며 결합이 끊어지 는 반응의 경우에 는 최대 운동 에너지로 부 터 그 결 합의 강도 를 결정 할 수 있다. 오랫동안 단분자 분해반응 혹 은 이 분 자반응의 생성물 들 의 병진운 동 에너지 는 H 2 CO 의 예에서처 럼 주 로 비행 시 간을 측정합 으로써 얻어왔으나 , 최 근 좁 은 선 폭의 레이저의 발 달로 도플 러 이동 을 이용하 는 방법 들 의 사용이 급증 하고 있다 . 반응의 생성 물 중 검출 하 는 레이저 광의 진행 방향과 평행한 속도 성 분을 가 진 분자 들 은 흡 수 파장에서 도 플 러 이 동을 나타내며 따라서 이 분 자 들 의 홉 수선 의 폭이 넓어진다. 도 플 러 이동의 크기, 즉 6 v = vov l c 로 주어지는 데 여기서 v 는 분자의 속 도 , II0 는 생성 물 의 흡 수 진 동 수 , c 는 빛의 속도이댜 생성된 분자의 특 정 전이선의 선 폭을 측 정하여 분자의 속 도 를 구하고 그로부터 병진운동 에너지 를 계산한다 . 모분자(p aren t molecule) 의 속도 분 포와 레이저의 선폭이 정확한 도 플 러 이동의 측정 을 방해하므로, 분자빔 장치에 스키머 (sk i mmer) 를 부착하여 모분자 의 속도분포 를 줄이고 레이저의 선폭을 줄 이거나 좁은 선폭의 레이 저 를 사용하여야 한다. 이 도 플 러 분광법은 비행 시간 측정법보다 장 치가 간단하며 내부 에너지 를 측 정하는 장치 및 레이저 들 을 그대로 사용할 수 있고 또 측정되는 생성물의 양자 상태(진동 및 회전 양자수) 룰 알 수 있는 장점을 가지고 있다. Moore 등은 H2CO 의 광분해에서 생성된 H 켜 속도 를 이 방법을 써서 앞에서 소개한 비행 시간 측정법보다 더 높은 정확도로 측정하

였을 뿐만 아니라 각 진동 및 회전준위의 H2 분자의 속도 를 측정하 였는데(그림 10.6)[52] 이러한 상태 선택은 전통적인 비행 시간법으로 는 불가능하였다. Wi ttig 등은 193 . 3nm 에서 들뜬 HCCH의 광분해에 서 생성된 H 원자의 최대 운동 에너지 를 최대 도 플 러 이동으로부터 구하고 그 값으로부터 C-H 의 결합 에너지(1 27kcaVmol) 를 얻었다 [62]. 또 이 들 은 속도정 렬 (veloc ity -al ign ed) 도플러 분광법 이 라는 새 로운 방법을 개발하였는데 [63], 이 방법은 비교적 큰 운동 에너지 를 가진(또 는 가벼 운 ) 생성 물들 의 병진운동 에너지 를 좋 은 분해능으로 측 정할 수 있 는 방법이다. 이 들 은 이 방법을 HI, H2 S 및 NH J의 분해 반응에 응용하여 그 유용성 을 보였다 [63]. 레이저 를 이용하여 생성된 원자 를 이 온 화 에너지에 매우 가까운 Ry d berg 상태로 들 뜨게 하고 이 원자 들 이 전 자 증 배관 (elect ron mul tipli er) 에 도착하는 시간을 측정 하 는 , 매우 분 해능이 높 은 새로운 바행 시간 분광법이 Welge 등에 의 하여 개 발 되 어 H2S 및 H z()의 분해 반응에 이 용되 었으며 [64] 이 에 관한 것 이 그림 10 . 7 에 나와 있다. Ry d berg 상태의 원자들은 전자중 배관에 도 착하기 직전 증배관의 전기장에 의하여 이온화되어 검출된 다(최 근 에 는 마이 크로 채 널 판 검 출 기 를 많이 사용하고 있다). Wi ttig 둥은 이 방법 을 193.3nm 에서 광분해하는 HCCH 계에 사용하여 C-H 결합 에너지가 131 .8 kcaVmol 이하임을 밝혔고 동시에 C 沮 조각(frag men t) 의 굽힘진동 에너지 분포로부터 HCCH 분해의 전이 상태가 트랜스­ 굽힘(t ra1 is- ben t)일 것으로 추정하였다 [65]. 분해능은 떨어지지만 단 순히 병진운 동 에너지 분포만을 측 정하는 데는 반응 영역에서 곧바 로 생성 물 을 REMPI 로 이온화한 후 검출기까지의 비행 시간을 측정 하는 방법 (MPI-TOF) 도 많이 사용되 어 왔다 [66]. 반옹생성물의 속도 및 속도의 각분포 를 동시에 측정하는 독 특 한 방법 인 2 차원 영 상법 [67] 은 Chandler 와 Hous t on 에 의 하여 개 발되 었 댜 이 방법에서는 분자빔 내의 분자 를 광분해하고 그 생성물을 공명

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nLL一( -8 一 4 。 4 8 도퓰러 이동 (cm-1)

그림 10.6 H2CO 의 광분해에서 생성된 H2 의 도 폴 러 스팩트럼. 위로부터 H2(v=O, J=O), H2(v=l , J=O), H2(v=3, J =O) 의 도 풀 러 선모양이며 선폭으로 부터 각각 16,600 mis, 15,500 mis, 12,800 mi s 의 속력으로 날아감을 알 수 있다(참고문헌 [52] 에서 전제).

OH(A2I: •)

1.0 I l2I0 1 | I|l | II I IIII11 0III I0II NI I I | I | I l 1 | I I I I I | I l l | I I I I | I I I I IO I |H | |(|X II2I|n I|) 50 40 30 20 10 1 N 0.8 0.6 >-어―c ZJ0.4 0.2 0.0 10000 20000 30000 40000 방 충 된 충 운동 에너지 (cm - 1)

그림 10.7 HzO 의 121 .6 run 광분 해에서 생성된 H 원자 를 Ry d berg 상태로 들 뜨 게 한 후 비행 시간 을 측 정하여 얻은 H 원자의 비행 시간 스팩트럽 . 높은 시간 분 해 능 으 로 상대 분 해산 물 인 OH 라디칼의 전자 상태뿐만 아 니라 회 전 준위도 분리되어 나타났다(참고문헌 [64) (b) 에서 전재).

확대 다광자 이 온화 (resonan tly enhanced multip h oto n ion iz a ti on : REMPI) 로 이온화한 후 일정 거리 를 비행하게 한다. 각 생성물들은 각각의 속도로 분자빔으로부터 멀어지게 되는데, 이 이동한 거리의 분포 를 2 차원의 위치 검 출 기로 측정하여 생성물의 운동 에너지 분포 룰 얻는다 . 이 검 출 기는 마이크로채널판 (m i crochannel p la t e) 과 CCD 카메라로 이 루 어져 있음을 그림 10.8 에서 볼 수 있다. 이 방법은 생 성물 들 의 병진운동 에너지(속도분포)뿐만 아니라 10.5 절에서 언급할 속도의 각분포도 동시 에 측정 할 수 있는 장점 이 있다 [68]. Wodtk e 등은 이 2D 영상법으로 야의 광분해에서 생성된 0( 3 p)의 병진운동

.900 저광I편이 - -► 3.00 006. EXIPL 수 브

펄스

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H3C디 라수재) .공 된교 서생성에 oHu(tsno 해다 분준광여 n66m2CH의3I art)yoiopsn을보 스트영럼펙 상 t성방등p(sa ail 의비초최 적간 와공 치 장한명상분영 , 물성으로상생영 광분해원차2 0.1 8 립그

에너지 분포 를 측정하여 오존의 광분해에서 높은 진동준위로 들뜬 02(V~26) 분자가 생성됨을 보여 오존 결손 문제의 해답을 제시하였 다 [69]. 국내에서는 정경훈 교수팀이 이 방법을 사용하여 CF3I 둥의 광분해반응 동역학을 연구하고 있다 [70]. 이 방법은 Ar+N0[71], H +Hl [72 ] 및 H+~[73] 등 이분자반옹에도 이용되었고 그 응용 영역 이 날로 확대되고 있다 . 이 분자반응에 서 의 에 너 지 분배 에 관한 연구로는 우선 Zare 그룹에 의한 H+D2 --->H D+D 반응이 있다 [74]. 이 들 은 HX(X=Br 또는 I) 를 자외선 레이저로 광분해하여 원하는 병진운동 에너지를 가진 H 원 자 를 만 들 고 이것을 E 와 반응시켜 생긴 HD 의 내부 에너지 를 REMPI 법으 로 측 정하였는데, Valenti ni 등에 의한 공진성 반스톡스 라만 분광법 (coherent anti -S to k es Raman spe ctro scop y : CARS) 의 결 과 [75] 와 잘 일 치하였다 . 이 들 은 가용 에너지의 73% 가 생성물들의 병진운 동 에너지 로 , 9 % 가 HD의 진동 에너지로, 18% 가 HD의 회전 에너지 로 분 배되며 또 이 분포 들 이 준고전적 궤적(q uas i -class i cal tra je c t or y : Q CT) 의 예 측 과 잘 일치함을 보였는데 이는 대부분의 궤 적 들 이 반웅 언덕보다 훨 씬 높은 에너지 를 가지고 에너지 언덕을 넘 기 때문(따라서 양자역학적 효과가 미미함)으로 해석하였다. H+C02 반 응은 연소 과정 [76] 과 대가화학 [77] 에서의 중요성 때문에 많이 연구 되어 왔는데 주로 기체상에서 HX 를 광분해하여 고에너지 H 원자 를 만 들 고 이 를 C 아와 반응시킨 후 생성된 CO 와 OH의 병진, 진동 및 회전 에너지 분포 를 다이오드 레이저 를 이용한 적외선 홉수 분광법 이나 레이저 유도형광법으로 측정하였다 [78, 79). 결과 들 은 반응이 Hoco· 중간체 를 통하여 일어남을 시사하지만 보다 분명한 매커니 즘을 밝히기 위해서는 더 많은 연구가 필요하다. 분자빔을 이용하여 충돌을 완전히 배제한 상태에서 이분자 반응의 생성물의 내부 에너 지 를 측정 한 예는 Wi ttig 그룹에서 연구한 H+C02[79, 80] 와 H+

Nz0[79, 81] 등의 반응이 있다. 이들은 HX 와 CO2 혹은 N z()의 혼합 반데르발스 분자집단체의 분자빔을 만들고 자외선 레이저로 HX 를 광분해하여 반응에 필요한 운동 에너지롤 H 원자에 공급하였다. H+ CO2 계에 대하여는 두 반응생성물, OH 와 co 의 내부 에너지들이 측 정되었으며 H+N z()계에서는 OH 를 검출하였다. 이 연구들은 최근의 해설 [79] 에서 자세히 소개하고 있으므로 보다 상세한 내용은 생략한 댜 Bernste i n 둥은 분자빔 내에 정 렬된 분자와 또 다른 분자빔 을 교 차시켜 다른 실험에서는 얻을 수 없는 많은 동역학 정보들을 얻었는 데 N0 +03 -N02• + 02, Nz () + Ba - BaO 나 N2, CI¼ F + Ca.-CH J+ caF· 등의 반옹을 연구하였다 [82]. 이들은 전자적으로 들뜬 상태로 생성된 생성물에서 방출되는 형광을 분석함으로써 내부 에너지에 관 한 정보를 얻었으며 분자의 정렬 방향을 변화시키면서 형광의 세기 룰 측정하여 반응에 있어서 충돌하는 분자간의 충돌 방향의 중요성 을밝혔댜 10.5 벡터 상관법 레이저를 이용하여 화학반옹의 동역학을 연구하는 방법으로 비교 적 최근에 이용되기 시작한 것인 백터 상관법 (vec t or correla ti ons) 이 있다 [83]. 반응 동역학에서 관심을 가지는 백터량들로는 분리되는 분 해생성물들의 (1) 상대속도 v, (2) 각운동량 벡터 J, (3) 모분자의 전 이 쌍극자 모멘트 µ 둥이고, 네번째 백터량은 레이저 광의 전장의 방향 E 이다. 전장 벡터 E 와 0 의 각을 이루고 있는 전이 쌍극자 모 맨트 µ를 가진 분자의 전이 확률은 cos20 에 비례하므로 편광된 레 이저 광에 의해 들뜬 분자는 전장 E 에 대해서 정렬한다. 정렬된 분 자의 분해에서는 µ-v, µ-], V —J 및 µ 一 (v- J) 등의 여러 상관관

계가 있을 수 있으며 각각의 상관관계의 크기는 생성물들의 도플러 선모양(p ro fil e) 을 해석 함으로써 얻어지는데 각 상관관계는 분해 과정 에 관한 다른 정보들을 제공한다. 일반적으로 들뜬 분자의 수명이 분 자의 회전 주기보다 훨씬 길면(전분해의 경우처럼) µ와 다른 벡터량 과의 상관도는 거의 사라지게 되어 v-J 상관관계만 남게된다. 당연 한 이야기지만 반옹하는 분자나 생성물이 다른 분자들과 충돌하면 모든 상관관계는 사라지므로 충돌이 없는 조건에서 실험이 행해져야 한다. 수명이 극 히 짧은 들 뜬 상태로부터의 광분해반옹에서 생성된 생성 물들의 각분포는 다음 식으로 주어진다. I ( 0 ) = (4 7[ )-l[ l + /3 F ic os 0 )] (10 .1 ) 이 식에서 ?;(cos 0 )=l/2(3cos2 0 -l) 은 2 차 Leg e ndre 다항식이며, /3= 2?,(cosx) 인데 x 는 전이 쌍극자 µ와 산란 방향 백터 v 가 이루는 각도이 다. 이 식 의 /3 는 불 균일 변수 (an i so t ro py p arame t er) 라 부르는 데 -1 에서 2 까지의 값을 가질 수 있다. /3 =2 인 경우는 cosX=l 이며 따라서 µ와 v 는 서로 평행하며 반면에 f3 =-1 인 경우는 cosx=() 이 고 µ와 v 는 서로 수직인 경우에 해당된다. µ-v 상관관계를 도플러 분광법으로 연구한 좋은 예는 Welge 둥에 의해서 연구된 266nm 에 서 의 HI 의 광분해 이 다 [84]. HI 의 전이 쌍극자 모맨트는 분자측에 평 행한 것과 수직한 것의 두 성분을 가지고 있다. 따라서 편광된 레이 저에 의해서 분해될 때 H 원자의 속도 백터는 두 방향, 죽 레이저 광의 전장의 방향과 그에 수직한 방향으로 정렬된다( 들 뜬 HI 는 회전 주기보다 짧은 시간 내에 분해된다). 서로 수직인 속도 벡터 를 가진 H 원자 들 은 전혀 다른 Ly m an-a 전이선의 도플러 선모양을 나타내는 데 이들을 해석하여 분자축과 평행한 전이에 의해서 I(2P 1/2)이 생성 되며 수직한 전이에 의해 1( 2Par2 )이 생성된다는 것을 밝혔다. 이에

관한 것이 그림 10.9 에 나와 있다. 이들은 또 두 경로의 갈라집비 (branchin g ra ti o) 를 결정하였다. 광분해 산물의 불균일 변수 /3는 앞 에서도 언급한 2D 영상법으로도 얻을 수 있는데 CH3l[ 67 ], CFJ1 [ 70], O3[69] 등의 광분해에 사용되 었다. 분해생성물의 속도 벡터인 v 와 각운동략 벡터 J간의 상관관계로부 터 수명이 비교적 긴 분해반응 중 원자들의 움직임에 대한 정보를 얻을 수 있댜 Lee 그룹은 193nm 의 레이저에 의해 들뜬 1, 4- 사이클 로 핵사다이 엔이 밴젠과 H2 로 분해하는 과정을 연구하였다 [85]. 이들 은 진공자외선을 이용한 LIF 로 얻어진 생성된 H2 의 도플러 선모양 으로부터 계산된 H2 의 v-J 상관관계로부터 H2 의 v 벡터와 J 백터가 서로 평행합을 밝혔다. 즉 H2 분자가 모분자로부터 분리될 때 벤젠 분자의 평면과 평행한 평면 내에서 헬리콥터의 날개처럼 희전하면서 벤젠에서 멀어진다. 또 Huber 등은 363.5nm 에서 분해하는 (CH3)2N_ NO 의 NO 분자의 도폴러 선모양으로부터 NO 의 V, J 백터가 서로 직각을 이루고 있음을 알았고 따라서 NO 는 두 C 원자와 두 N 원자, 그리고 0 원자가 이루는 평면 내에서 진동 회전하면서 분리됨을 알 아냈다 [86). Sim ons 등은 248 nm 에서 HOOH 의 분해산물인 OH 의 공 간적 불균일 (s p a ti al anis o tr o p y, (J)과 v-J 상관관개로부터 HOOH 의 분해 과정을 상세히 밝혔다[8 7). 이들의 결과에 의하면 HOOH 의 0-0 결합은 이 분자가 들뜬 즉시 반발 위치에너지곡면을 따라 끊어 지며 이때 두 0-H 부분은 0-0 결합을 축으로 수레바퀴의 살처럼 회전하면서 서로 멀어진다. 이외에도 H2C0[52], CHOCHO [88], H20[89], OCS[90] 등 많은 분자의 분해 과정이 이 방법으로 연구되 었으며 벡터 상관관계를 취급한 여러 글 [83, 91-93] 에 도폴러 선모양 의 실제적 해석에 필요한 이론과 응용 예들이 소개되어 있다. 반응에 관련된 벡터량간의 상관관계는 레이저를 이용한 다른 연구 방법에 비해 반응중의 분자 내 원자들의 움직임에 관한 직접적 정보

4.0 M 0'=o·

C___ 3.0 어Y ZJ2.0 1.0 0.0 -2.0 -1.0 0.0 1.0 2.0

4.0 /\ 0'= 9 0·

3.0 -

Y어_―c 2.0 Z

J1.0 0.0 -2.0 -1.o 0.0 1.0 2.0 레이저 진동수 (X102GH,)

그립 10.9 HI 의 광분해에서 생성된 H 원자의 도 플 러 선모양 . 전이 쌍극자 모맨트 가 서로 수직인 두 전이에서 생성된 H 원자 들 이 확연히 다 른 두 가지 선모양 을 나타내는데 이로부터 l(2 pl/l)이 평행 전이에서, 그리고 l( 2 p3 12) 이 수직 전이에서 생성됨 을 밝혔다. 그립의 0’ 은 분해 래이저 의 편광 백터와 검 출 레이저의 진행 방향 간의 각도이다(참고문헌 [84] 에서 전제).

를 제공하므로 미시적 반옹 과정을 이해하려는 반응 동역학 분야에 서의 옹용이 급격히 증가하고 있다. 10.6 결합 선택 화학과 화학반응의 조절 화학자 들 은 분자 내의 많은 결합들 중 원하는 결합(들)을 선택적으 로 들뜨게 하거나 파괴함으로써 원하는 반응만을 일으키고자 하는 꿈을 가져왔다 [l] . 직관적으로는 에너지가 다른 결합으로 흘러나가기 전에 결합이 붕괴될 정도의 에너지 를 한 결합에 축적하면 그 결합만 을 끊을 수 있댜 그러나 항상 반응은 가장 낮은 에너지 경로를 통해 서 일어나고 또 들뜬 분자에서는 가장 약한 결합이 먼저 끊어진다. 이는 분자 내의 에너지 흐름이 반응속도에 비하여 훨 씬 빠르기 때문 이다. 그러나 최근 이 분야의 새로운 연구 결 과 들 은 화학자들의 오랜 꿈이 실현될 가능성이 있음을 시사하고 있다 . Cr im 그룹은 진동준위 매 개 광분해(vi bra ti onall y me diat e d pho to - di ssoc i a ti on) 라는 일종의 이중 공명법 (double resonance) 을 이용하여 HOD 분자에서 0-H 결합만을 선택적으로 끊는 데 성공하였다 [94]. 이들은 비교적 작은 분자인 HOD 에서는 분자 내 에너지 흐름이 느리 다는 사실을 이용하여 먼저 가시광선 레이저로 바닥전자 상태의 HOD 분자의 0-H 뻗힘 진동방식에 약 13 , 800cm - 1 의 에너지 를 넣고 다른 자외선 레이저로 반발 위치에너지곡면을 가진 들뜬 전자 상태 로 들 뜨게 함으로써 0-H 결합만을 선택적으로 파괴하였는데 0-D 결합에 비하여 0-H 결합의 선택도는 약 15 배였다. 이들은 또 이분 자반옹인 H+HOD 반응에서 거의 같은 에너지 언덕을 가진 두 경로 중 한 경로로만 반응을 일으킬 수 있음을 보여주었다. 이들은 HOD 분자의 0-H 뻗힘 진동방식을 네번째 (v=4) 진동준위로 들뜨게 하고

H2+0D

H+HOD(4 110H)< HD+OH 凡0 HS 00D1,1 U . 。0 2D이1 따OD ,1µ‘ d—wILl1 307.5 2 307.5 4 307.56 307.58 검춤 레이저 파장 (nm)

그림 10.10 결 합 선택 화학반응 : H+HOD 반옹에서 생성된 OH 및 OD 라디칼의 형광 둘 뜸 스팩트럼. OH 는 거의 보이지 않고 OD 만이 생성되는데, 이 는 H 가 HOD 의 0-H 및 0-D 결합 중 0-H 결합과 선택적으로 반응 합 을 의미한다 (F. F. Cr im , ]. Phys . Cheni. 100, 12725 (1996) 에서 전재).

H 원자와 반응시켰다. 그림 10 .1 0 에 보여진 이 실험에서는 놀랍게도 H 원자가 0-H 결합과 선택적으로 반옹하는 것이 관찰되었는데 그 선택도는 약 220 배였다 [95-97]. 반대로 0-D 결합을 0-D 뻗힘 진동 의 t.t)-o = 5 준위로 들뜨게 한 실험에서는 0-D 결합만이 약 200 배의 선택성을 가지고 반옹하였다. 이러한 결합 선택적 이분자반옹은 Cl 원자와 HOD(4t. t)H ) 간의 반응에서도 관찰되었다 [98]. Lee 등은 210 run 의 레이저 광에 의해서 들뜬 CHzBrl 분자에서 C-1 결합보다 더

강한 C-Br 결합이 주로 끊어지는 것을 발견하였다 [99]. 반응좌표 (reac ti on coord i na t e) 를 선택적으로 들뜨 게 하는 방법뿐만 아니라 경쟁적으로 진행되는 반옹경로간의 양자간섭 현상을 이용한 화학반웅의 조절 가능성 을 보여 주는 현상 들 도 보고되 었다 . Gordon 둥은 간섭성인 자외선과 진공자외선 파장의 두 레이저 광의 위상을 조절합으로써 HCI 과 co 분 자의 들똔 상태의 점 유 도를 조절할 수 있 음을 보여주었으며 [100, 101] HI 분자의 자동이온화와 전분해반응의 상대 적 비 율을 조절 하였다 [l02] . 보다 최 근 에 는 CH 3 I 의 이 온화 과정 에서 생성되 는 CH3 t- 와 1+ 이온의 상대 적 인 양 을 조절할 수 있음을 보였다 [103]. 이러한 실험적 연 구 에 앞서 이 론적 연구 들 은 화학반응 의 조절 가능성 을 보여주었다. Brumer 와 Shapi ro 등은 구별 이 불가 능한 동역학적 경로간의 간섭 현상을 이용하여 화학반응을 조절할 수 있음 을 제시하였다 [104, 1051 이성 릴 교수는 A 2J ;+ 전자 상태로 들 뜬 OH의 광분해에서 생성되 는 0 원자의 세 sp in- o rbit 상태 ( 3 Pi , j= 0, l, 2) 분포가 들뜸을 일으키는 파장과 들뜨 기 이 전 의 바닥전자 상 태의 진동준위에 따라 현저히 달 라 짐을 이 론적 으 로 보였다 [l06]. 인위적인 화학반응의 조절 은 최근 Zewail 등 이 수행한 Xe+I-1__. (Xe+ … E I)*- X el+I 반응에서 처음으 로 보고되었다 [107] . 이 들 은 두 개의 펨토초 레이저 펄스들 간의 지연 시간 을 변화시킴으로써 반 옹이 일어나게 하거나 일어나지 않게 할 수 있었다. 그 결과의 해석 에 전혀 의문이 없는 것은 아니나 [108] 적어도 반응이 레이저 광에 의하여 조 절 되었다는 실험적 사실은 다 른 반응 들 에 대해서도 그와 같은 조 절 이 가능함을 시사하는 것이다. 현재까지 알려진 이러한 연 구 결과들은 비교적 작은 분자의 기체상 반옹에 관한 것들이지만 화 학반응에 대한 이해가 깊어지면서 보다 크고 실용성 있는 분자들에 도 확장이 가능할 것이다.

10.7 결론 지금까지 레이저와 분자빔을 이용하여 화학반웅의 미시적 현상 들 을 이해하려는 반응 동역학의 여러 분야들의 최근 연구 현황을 개괄 적으로 살펴보았다. 본문에서 암시한 바와 같이 레이저는 화학반옹 과 같은 분자 내 원자들의 미시적 움직임을 직접 혹은 간접으로 볼 수 있 는 가장 유용한 도구이 다. 따라서 Jou rnal of Phys i c a l Chemi st r y 100 주년 기념호 [109] 에 실려 있는 많은 총설이 시사하 듯 이, 다양한 성능을 가진 첨단의 레이저 들을 활용함으로써 지금까지 알려지지 않은 화학반응의 신비 를 밝히는 것이 향후 반응 동역학 연 구의 주제가 될 것이다. 참고문헌 [1] G. C. Pi m ente l and J. A. Coonrod, Op po rt un it ies in Chemi st r y (Nati on al Academy , Wachin g ton , D.C. , 1 987) [2] D. H. Levy, Ann. Rev. Phys . Chem. 31, 197 <19 80 ) [3] G. Scoles, At om i c and Molecular Beam Meth o ds, Vol. 1 and 2 (Oxfo rd Univ e rsit y Press, New York, 1988) [4] W. Demt ro oder, Laser Sp ec tr o scopy , 2nd ed. (Sp ri n g e r, New York, 1996) [5] R. Schin k e, Photo d is so c iat i on Dy n ami cs (Cambrid g e , New York, 1993) [6] P. J. Robin s on and K. A. Holbrook, Unim olecular Reacti on s (W ile y, London, 1972) [7] W. Frost, Theory of Uni1 n olecular Reac tion s (Academi c, New

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제 ll 장 극성 및 비극성 용액에서의 용매 동역학 강태종 11.l 서론 대부분의 유기 및 생체 반응들은 주로 용액 상태에서 일어나며 이 과정에서 용매 분자의 존재는 화학반응에 다양한 경로로 영향을 끼 칠 수 있댜 일반적으로 반응속도에 미치는 용매 분자의 영향은 정적 인 경우와 동적인 경우로 구분할 수 있다. 기체 상태의 반응과 비교 할 때 용액 상태의 반응에서는 용매 분자의 존재가 반옹물과 생성물 의 자유 에너지 및 반응의 활성화 에너지를 변화시켜 반응속도에 영 향을 줄 수 있다. 이것을 정적 용매 효과 (s t a tic solvent e ff e ct)라고 정의하며, 용매에 따라 전자 전이선의 에너지가 다르게 나타나는 용 매화 발색 현상 (solva t ochrom i sm) 이나 점도 또는 극성과 같은 용매의 거시적 성질과 화학반웅속도와의 상관관계들이 그 예라고 할 수 있 다 [1, 2]. 이러한 효과 이의에도 용매 분자는 반응이 진행되는 과정에 서 반응물과의 무수한 충돌에 의하여 에너지와 운동량을 교환하거나 반응물의 전하 분포의 변화에 따라 움직이면서 반응에 참여하는데, 이것을 정적 용매 효과에 비유하여 동적 용매 효과 (d ynami c solvent

e ff e ct)라고 한다 [3]. 다시 말해 정적 용매 효과는 Ahrren i us 의 속도 상수식에서 활성화 에너지에 영향을 주는 반면, 동적 용매 효과는 A - 인자에 반영된다고 할 수 있다 반응의 활성화 에너지가 kT 와 비 교하여 상대적으로 큰 경우 동적 용매 효과는 거의 미미하지만, 장벽 에너지가 kT 보다 작거나 반응속도가 용매의 분극(p olar i za ti on) 이 변 하는 속도와 비슷한 경우 반옹속도는 반응물 주위의 용매의 배열이 나 움직임 등과 밀접하게 연관된다. 액체 상태에서의 분자간 충 돌 , 위상공진성 이완 (de p has i n g), 에너 지 전이, 초고속 전자 이동반응, 용매 이완과 같은 물리 화학적 현상 등은 피코초 혹은 그 이하의 시간대에서 일어나는 현상 들 이며, 주로 전이선의 선폭을 분석하여 간접적으로 그 시간대 를 예 측 하였다. 이 러한 현상 들 을 실험적으로 직접 관 찰 하기 위해서 는 반옹이 일어나는 시간보다 훨씬 짧은 광원이 필요하다. 현재까지 수십 펨토초의 펄스 폭과 큰 에너지 를 갖는 안정한 레이저 광원 들 이 많이 개발되었으며, 최 근 들 어 백 색 광 발생 (whit e ligh t conti nu um ge nerati on )[4, 5] 방법 둥에 의한 레이저 파장 영역의 확대 및 극초단 레이저 펄스를 이용 한 초고속 분광학 기술의 발전은 액체 상태의 분자 동역학 연구에 커다란 진전을 가져다주었다 [6]. 이 장에서는 용매 동역학에 대한 몇 가지 이론적인 모델들을 언급하고, 초고속 레이저 분광학을 이용한 극성 및 바극성 환경에서의 용매 분자들의 운동에 관한 실험들을 살 펴보고자 한다. 아울러 용매 동역학과 화학반응과의 상관관계를 명 확하게 잘 보여주는 예로 반응의 활성화 에너지가 거의 없고 아주 빠른 시간대(보통 10 - 12 초 이하)에서 일어나는 분자 내 전자 이동반옹 에 있어서 용매 동역학의 중요성을 간략히 살펴보기로 한다.

11. 2 용매 동역학의 기본 이론 11.2.l 유전체 연속 모델 용매 동역학을 기술하는 가장 단순한 접근 방식으로, 용질 분자 를 구모양의 공동 (cav ity) 안에 놓여 있는 점 전하 또는 점 쌍극자로 가정 하고 그 주위를 둘 러싸고 있는 용매 분자 를 거시적 유전 매질 (die l ectr ic med i um) 로 간주하는 것이다 [7-9]. 따라서 이 모델에 의하 면 용매 분자는 어떠한 구조도 갖지 않는 연속적인 매질로서 진동수 ((JJ)에 의 존 하 는 유전 상수 (d i ele ct r i c consta n t) e( (JJ)로 기술되며, 일 반적 으로 다 음 과 같은 Deby e 식 으로 나타난다. e((L )) =e CX)+ lC-o -i( I )CT oD (11 .1) 여기서 co 와 € oo 는 각각 직류 전기장과 매우 높은 진동수(보통 수십 GHz) 의 전기장하에서의 유전 상수값을 나타내고, TD 는 Deby e 또는 유전 (d i elec t r i c) 이완 시간 을 나타낸다. 이 식을 시간 영역으로 바꿔 서 살펴보면 펄스 의 형태로 가해진 전기장에 대하여 용매 분자 또는 유전체의 분극 이완이 시간 상수 (rD) 로 소멸하는 지수함수의 형태를 띠게 된댜 지금까지 측 정된 주파수 범위 내에서 €((J))는 주로 용매 분자의 회전운동에 기인한다고 볼 수 있으며, 간단한 용매 분자들의 회전운동은 위의 식으로 어느 정도 잘 기술되기도 하지만 알코올과 같이 두 개 이상의 시간 상수 를 갖는 보다 복잡한 식으로 기술되는 용매 분자 들 도 많이 존재 한다 [10]. 유전체 연속 모델에 의하면, 용매 분자의 유전 상수가 위와 같은 함수로 주어질 때 용매 분자의 분극 세기 변화 8 P(t)는 다음과 같이 주어진댜

aP< . t) = aP< . t=O ) e -l/rL (11.2) 여기서 rL 은 소위 종적 이완 시간(l on git ud in al relaxati on ti me) 이라 는 상수이며 Deby e 이완 시간과는 다음 관계에 있다. rL=— CcOoO r D (ll.3) 극성 용매에 있어서 co 은 cC0 보다 훨씬 더 크므로 rL 은 rD 보다 작아 보통 10-13_10 - 10 초 범위의 값을 갖는다. 거시적인 관점에서 본다 면 rD 는 축전기가 전지로부터 충전되는 경우처럼 일정한 전위차하 에서 이완 시간을 측정하는 것이고 rL 은 일정한 전하하에서 이완 시간을 측정하는 것과 같다 [ll]. 따라서 rL 이 들뜬 상태에서의 쌍극 자 모맨트의 변화나 전하 이동이 일어나는 상황에서 용매의 동역학 을 더 잘 반영한다고 볼 수가 있다. 흔히 비회합 (nonasso ci a t ed) 용매 에 대하여 r D 는 분자 하나의 회 전 확산 시 간 (ro t a ti onal dif fus io n ti me) 에 비유되는데, 유전체 연속 모델의 예측에 의하면 용매화가 확 산보다 훨씬 빠르게 일어난다. 이것은 용매 분자들이 서로 협동적으 로 움직여 용매화가 가속되는 것으로 생각할 수 있다. 일반적으로 분 자적인 성질을 무시한 유전체 연속 모델이 용매 동역학을 만족하게 설명하기를 기대하는 것은 무리이지만, 실험 결과와 비교할 때 어느 정도의 단순한 예측이 가능하다는 측면에서 용매 동역학을 이해하는 출발점이라고 할 수 있다. 11.2 .2 분자 모델 초고속 분광학의 광범위한 응용으로 용매 동역학에 대한 여러 실 험 결과들이 축적되면서 용매화의 복잡한 과정들이 드러나고 단순한

유전체 연속 모델로는 설명이 되지 않는 부분들이 알려졌다 [12-16]. 실험적인 관측 결과들을 간단히 요약해 보면 우선 용매 동역학이 유 전체 연속 모델에서 예측하는 것과 달리 비지수 (nonex po nen ti al) 함수 의 형태롤 보인다 [8]. 다시 말해 용매의 이완 과정이 하나의 시간 상 수로 나타나지 않고 여러 이완 시간대의 분포가 존재한다. 또 비록 실험에 사용된 용질 분자들의 성질이 서로 크게 다르지는 않았지만 용매 동역학은 용질 분자에 거의 무관하게 용매 분자에 의해 주로 결정된다. 또한 알코올 용매의 경우는 rL 과 비슷하거나 작고, 그 이 외의 용매 들 에 대해서는 일반적으로 rL 보다 크게 나타난다. 이러한 몇 가지 측면에서 용매 동역학이 유전체 연속 모델로 잘 설명되지 않는다는 사실은 이 모델이 용매와 용질 간의 상호작용에 있어서 분 자 성질을 무시한 결과에 기인한다고 볼 수 있다. 용매와 용질 간의 상호작용에 있어 분자 성질을 이론적으로 고려 한다는 것은 쉬운 일이 아니지만, 용매 동역학을 설명하는 데 있어서 지금까지 실험 결과들과 가장 많이 비교된 이론으로 평균 구면 근사 법 (Mean Sp h eric a l Ap pro xim ati on : MSA) 을 들 수 있다 [17-20]. MSA 이론에서는 실제 용질 분자 주위의 상황이 탄성구인 이온이나 쌍극자 를 탄성구인 용매 분자들이 둘러싸고 있는 상황과 같다고 가 정한다. 이러한 MSA 모델의 결과에 의하면 일반적으로 용매화가 일 어나는 시간대가 rL 이외에 다음과 같이 주어지는 또 다른 시간대 r c71- 존재 한다고 예측하고 있다 [18]. TG=rD 1l ++ *1i (( rree/lDD5s))(c(ocoo ++33)) (11.4) 여기서 t D 는 Deby e 이완 시간, re 는 용질분자의 반경, Ds 는 용매 분 자의 직경을 표시한다. MSA 모델의 새로운 결과는 대략 다음의 세

가지로 요약할 수 있다. 첫째, 용매의 분극 이완이 용질 분자로부터 의 거리에 따라 서로 다른 속도로 일어나는데 , 용질 분자에 가까울수 록 더 느리게 일어난다. 이것은 Onsa g ar 의 반전 눈뭉치(i nve rt ed snowball) 의 개념과 부합하는 결과이기도 하다 [2 1]. 참고로 물 분자 에 대한 분자 동역학 모사 실험 (molecular dyn a mi cs s i mula ti on) 은 용 질 분자 를 가장 가까이서 둘러싸고 있는 용매 껍질 (solven t shell) 에 서 가장 빠르게 이완이 일어난다 는 결 과가 보고되었다 [22, 23]. 둘째, 용매의 이완은 어 느 거리에서도 하나의 시간 상수로 주어지지 않는 댜 셋째, 이러한 비지수함수 형태의 이완은 TD 와 rL 사이의 시간 상수 를 갖는다. MSA 이 론 의 결 과에 대한 현상학 적 설 명에 따르면 용질 분자로부터 멀리 떨어져 있 는 곳 에서 는 용매 분 자의 위치에 따 른 전기장의 변화 정도가 적 어 유전체 연 속 모델의 가정이 잘 들어 맞아 용매의 이완이 rL 의 시간 상수로 일 어 날 것이라고 생각할 수 있댜 반면에 용질 분자의 가까운 곳 에서 는 용매 분자의 크기에 비교 되는 짧은 거리에서도 전기장의 변화가 크 기 때 문 에 유전체 연속 모 델의 기본적인 가정이 실현되기 어렵다 . 이 경우에 있어서 용매의 이 완은 용매 분자 들 의 집 합운동 (collec ti ve mo ti on) 을 기 술 하는 r L 보다 는 입자 한 개의 운동을 기술하는 TD 에 더 가깝게 일어난다고 볼 수 있으며 전체적으로 용매 분자의 동역학과 관련된 시간 상수는 rD 와 rL 사이에 분포할 것이다. 유전체 연속 모델에 비하여 MSA 모 델로 실험 결과의 중요한 부분들을 어느 정도 잘 설 명한다는 점에서 큰 진전을 보았다고 할 수 있지만 , 물 분자의 분자 동역학 모사 실험 결과와 비교해 볼 때 용매 동역학을 완전하게 기 술 하는 데는 여전히 미홉한 점이 남아 있다.

11.3 액체 상태에서의 초고속 레이저 분광학 11.3.l 동적 스톡스 이동 분광학 시간분해 형광 분광범으로 형광 단파장 변환법(fl uorescence up c onversio n ), 시 간상관 단광자 계 측법 (tim e-correlate d sin gle ph o- ton counti ng ) 및 자국 카매 라 (s t reak camera) 둥의 이 용을 들 수 있 댜 시간상관 단광자 계측법이나 자국 카매라는 신호 검출기의 전기 적 특성으로 인하여 그 시간분해능에 한계가 있으며 현재 피코초 이 하의 시간분해능을 요하는 현상 측정에는 사용이 불가능하다. 반면 형광 단파장 변환법은 비선형 과정을 이용하여 광학적으로 신호를 검출하기 때문에 감도는 조금 떨어지지만 높은 시간분해능으로 인하 여 초고속 현상 연구에 매우 적합하다. 형광 단파장 변환법은 일종의 진동수 혼합 방식으로 시료를 들뜨 게 하였을 때 발생하는 형광(진동수 {J))을 극초단 펄스의 탐지 레이저 빛(진동수 {J) l, )과 함께 비선형 결정에 집광시키면, 위상일치 조건이 만족될 때 형광 진동수와 탐지 레이저 진동수의 합에 해당되는 새로 운 진동수의 빛({J) s = {J)+{J)십이 발생되는 원리를 이용하는 것이다 [24]. 그림 11 .l에서 보는 것처럼 시간분해는 들뜸 레이저 펄스에 대 한 탐지 레이저 펄스의 상대적인 거리 차이에 의해 얻어지고, (t) s 의 빛은 탐지 레이저 펄스가 존재하는 동안만 나타나므로 분해능은 탐 지 레이저 펄스의 시간 폭에 의해서 결정된다 죽 형광 단파장 변환 법은 일종의 광밸브룰 이용한다고 할 수 있는데 탐지 레이저 펄스의 시간 폭만큼씩 형광 소멸 과정을 여닫는 방법이다. 따라서 시간에 대 한 형광의 세가는 들뜸 펄스에 대한 탐지 펄스의 상대적 시간 지연 에 대하여 (t)s 빛의 세기 l( t)를 기록함으로써 얻어진다. 측정에서 얻 어진 I( t)는 다음 식과 같이 순수 형광 소멸함수(Ir,{t))에 기기감응함

형광단파장변환법

(a) 위상일치각 (0) / -, Ws(=w+wp ) 비선형결정 (b) ` 들 뜸레이저펄스 。 시간 (I) 탑지 레이저팝스 。 시간(t)

그림 11. 1 광학적 비선형 과정 을 이용한 형광 단파장 변환 전환(fl uorescence up c onversio n ) 방법 을 보여주고 있다. (a) 형광 빛(주파수 (J))과 탐지 레이저 빛(주파수 (J)p)이 비선형 결정에서 (J)s (= (J) + (J)p)의 빛으로 전 환되는 과정 을 나타낸다 . (b) 들 뜸 펄스에 대한 탐지 펄스의 상대적 거 리 률 변화시키면서 형광을 여닫는 과정 을 보여준다 . (J) s 의 빛은 탐지 펄스의 시간 폭 동안만 존재한다(참고문헌 [24]).

수(in s t rumen t resp o nse function ) R(f)가 포개져서 (convolu ti on) 나타 난다. J( t) = f。 ]F( t ' )R( t-t' )dt' (11.5 ) 측정된 형광 소멸 데이터로부터 순수 형광(IF ) 이완함수를 추출하기 위해서는 기기감응함수를 제거 (deconvolu ti on) 해야 하며, 따라서 기기 감응함수를 알고 있어야 한다. 기기감응함수는 들뜸 펄스와 탐지 펄 스의 교차상관함수 (cross - correla ti on fu n cti on) 로 주어 지 며 광학적 비 선형 방법을 이용하여 실험적으로 측정이 가능하다. 실제 데이터 분 석에서는 IF 에 대하여 모델함수(보통 지수합수)를 가정하고 기기감응 함수와의 반복적인 포개기 작업을 통하여 측정에서 얻어진 I( t)와의 차이 를 최소화하는 방법으로 형광 이완 시간 상수를 추출한다. 형광 단파장 변환법을 이용하여 지난 몇 년간 극성 용매에서의 시간에 따 른 형광 스펙트럼의 변화를 연구함으로써 피코초 이하의 시간대에서 일어나는 용매 이완 과정에 대하여 여러 가지 새로운 정보들을 제공 하였댜 용매의 변화에 따른 형광 스펙트럼의 이동, 즉 용매화 발색 현상은 용매 분자와 용질 분자 사이의 극성 상호작용에 기인하며 들뜬 용질 분자가 용매 분자에 의한 안정화 정도를 나타낸다. 그림 1 1. 2 에서는 시간에 따른 용매화 과정을 나타내는 순간 용매화(t rans i en t solva- ti on) 의 개념을 자유 에너지 곡선을 이용하여 설명하고 있다. 그림에 서는 바닥전자 상태와 들뜬 전자 상태의 에너지가 용매좌표 X에 대 하여 포물선모양의 퍼텐셜로 주어진다고 가정한다. 극성 분자들간의 상호작용에 있어서 용매좌표는 주로 용매 분자의 분극 변화에 의하 여 결정된다고 할 수 있다 (25]. 바닥 에너지와 들뜬 에너지의 최저값 은 서로 상이한 용매의 분극값과 평형을 이룬다. 대부분의 분자들에

L

.

l

xpxH뽀 Fg Xg •q x.oq 용매분극 ,X

그립 11. 2 용매좌표(분극)에 대한 바닥전자 상태와 들 뜬 전자 상태의 비평형 자유 에너지 를 도식적으로 나타냈다. 바닥 상태와 들 뜬 상태 를 잇는 화살표 들 은 흡수 전이선 및 시간에 따 른 형광 전이선을 표시한다(참고문헌 [15 ]).

있어서 들뜬 전자 상태에서의 쌍극자 모맨트가 바닥전자 상태에서 보다 크게 나타나는데, 이 경우 형광 스펙트럼의 봉우리는 흡수 스팩 트럼의 봉우리보다 낮은 에너지 쪽에서 나타나게 된다. 즉 홉수 스펙 트럼과 형광 스펙트럼 사이에 일정량의 에너지 차이가 존재하게 되 는데, 이 를 스톡스 이동 (S t okes sh ift)이라고 하며 용매화 에너지의 일부 를 반영한다. 시간에 따른 스톡스 이동의 변화 를 관찰하기 위하여 전자 상태에 따른 쌍극자 모맨트의 변화가 큰 용질 분자(탐지 분자) 를 용매에 녹이 면 용매 분 자 들 은 용 질 분자의 쌍극자 모맨트에 따라 적절하게 배열 되어 평형 상태 를 이룬다 . 이 평형계에 극초단 레이저 펄스 를 사용하 여 용 질 분자의 전자 상태 를 들 뜨게 하면, 프랑크-콘돈 (Franck-Condon) 원리에 의해 용매 분자의 운동은 거의 정지된 채 용질 분자의 전자 상태가 순 간적 으로 변화하고 용질 분자와 용매 분자들 사이에는 비 평형 상태가 만 들 어진다 . 이후 용매 분자들은 용질 분자의 새로운 전 자 상태에 적 응하기 위하여 움직이기 시작하고, 비평형 상태가 이완 되면서 ― ―즉 용매화가 진행됨에 따라― 一 용질 분자의 형광 에너지 는 점점 작아지기 시작한다. 에너지 이완 과정 동안에 스펙트럼 모양 이 크게 변화하지 않는다면 형광 스펙트럼의 단파장 쪽에서는 형광 세기가 빠르게 감소하고 장파장 쪽에서는 같은 시간 상수로 빠르게 증가하는 현상을 관측할 수 있다. 그림 11.3 은 프로피온니트릴 용매 에서 쿠마린 152 (coumarin e 152) 분자의 시간에 따른 형광 세기의 변화 를 보여주고 있다. 시간에 따른 형광 스펙트럼의 세기 변화 를 여 러 파장에서 측정하여 종합하면 특정한 시간에서의 순간 형광 스펙 트럼을 구성할 수 있다. 이러한 시간분해 형광 스펙트럼으로부터 형 광이 시간에 따라 장파장 쪽으로 이동하는 현상을 쉽게 관찰할 수 있는데, 이것을 동적 스톡스 이동 (d yn am i c Sto k es sh ift)이라고 한다. 동적 스톡스 이동의 원리 를 이용하여 용매 이완 현상을 연구하는 경

(a)

. -. ..... _ . k

l

}Y如 R

o (b) (c) -2.0 8.0 시간(p s)

그림 11. 3 쿠마린 15 '2J프로피온니트릴 (coumarin 15'2J pro p ion - itri l e ) 용액의 시간에 따 른 형광 세기의 변화 를 (a) 460 nm (b) 513 nm (c) 570nm 의 파장에서 보여주 고 있다. 그림 (a) 의 영접 근처에는 기기감옹함수 륜 나타냈다( 참고문헌 (14 )).

우, 우선 탐지 분자의 스톡스 이동이 크며 형광과 경쟁하는 분자 내 의 다른 에너지 이완 경로(예 를 들어 전하 이동, 이성질화 둥)가 없고, 또 형광속도 상수 (rad i a ti ve rate cons t an t)가 클수록 유리하다. 이는 용매 이완 과정이 주로 용매와 용질 분자의 쌍극자간 상호작용에 기 인하는 것으로 간주할 수 있기 때문이다. 형광 스펙트럼이 이동하는 시간은 용매 분자의 운동과 밀접한 관 계가 있는데 일반적으로 스톡스 이동 상관함수 (S t okes-sh ift correlati on f un cti on) 라는 다음의 식으로 간단히 정량화할 수 있다 [26 1. C(t )ll(=O ) —~11 (0 0) (11.6) 여기서 l/ (Q), l/ (ro), l/ (t)는 각각 형광 스팩트럼의 봉우리 에너지를 진동수 단위로 나타낸 값이며, 들뜬 순간, 완전히 이완된 상태 및 임 의의 시간에서 측정된다. 용매 동역학은 앞에서 이미 언급한 것처럼 오랫동안 유전체 연속 모델로 설명되어 왔다. 이 모델에 의하면 C( t) 는 t L 의 시간 상수로 감소하는 지수함수로 표현된다. 여러 가지 용 매들에서 측정된 C( t)는 유전체 연속 모델의 예측과 어느 정도 정성 적으로는 일치한다고 볼 수 있지만 보다 구체적인 이완 메커니즘을 설명하기에는 부족한 점들이 있다. 즉 여러 용매들에 있어서 용매 이 완 시간이 유전체 연속 모델에서처럼 하나의 시간 상수로 주어지지 않으며, 또 TL 과 다르게 나타나는 경우가 많다. 이룰 설명하기 위해 용매 분자들을 연속적인 매질이 아닌 일정한 형태의 분자 구조를 고 려 한 MSA 와 같은 분자 모델 [17-20] 및 non-Deby e 형 태(비지수함수) 의 이완 모델 [27] 등이 제시되었으며, 또한 유전 이완 (d i elec tri c relaxa ti on) 의 매 커 니 즘으로 분자의 회 전운동뿐만 아니 라 병 진운동까 지 포함하는 이론도 제안되었다 [28, 29]. 한편 용액 상태의 전자 이동반옹에 있어서 용매 동역학의 영향에

대한 이론적인 연구도 큰 진전을 보았다 [30-33]. 전자 이동반응의 에 너지가 용매 분자들의 배열 (co nfigurati on) 및 그 배열 변화에만 의존 한다면 동적 용매 효과는 극대화되고, 반응의 위치에너지곡면의 좌 표는 반응물의 내부좌표가 아닌 용매의 움직임에 좌우된다. 이러한 상황은 반응 전후의 상태가 강하게 상호작용하여 하나의 위치에너지 곡면에서 반옹이 진행되는 경우 ― 一 단열 (ad i aba ti c) 전자 이동반응의 경우 [34] ― ―흔히 일어날 수 있다. 이론 적 으로 이러한 경우의 전자 이동속도 는 용매 이완 시간의 역수에 비례한다. 실제로 분자 내 전자 이동속도와 rL - l 의 상관관계가 실험적으로 관찰되었으며 [35, 36], 또 한 동적 스톡스 이동 방법으로 측정된 용매 이완 시간 상수와 잘 연 관되는 경우도 보고되었다 [37 - 39]. 반면에 전자 이동속도가 용매 이 완보다 더 빨리 일어나는 경우도 알려졌는데 [40], 이 론적 으로는 용매 의 움직임과 함께 분자 내 진동운동을 고려할 때 전자 이동의 동역 학이 용매의 이완속도보다 빨리 일어나고 비지수함수의 형태를 보인 다고 예측하고 있다 [30]. 이러한 결과들은 용매 동역학 이 분자 내 전 자 이동반응에 깊이 관여하고 있음을 보여주는 예라고 할 수 있다. 11. 3. 2 순간 홀버닝 분광학 순간 홀버닝 분광학은 들뜸 - 탐지 실험의 한 방법으로 측정하고자 하는 계 를 들뜸 펄스로 들뜨게 하고 뒤이어 탐지 펄스로 계의 홉수 변화 를 파장 및 시간의 함수로 측정하는 것이다. 순간적인 홉수 스팩 트럼을 측정하기 위해서는 넓은 범위의 파장 영역에서 극초단 레이 저 펄스가 필요한데, 이것은 백색광 발생법을 사용하면 비교적 간편 하게 얻을 수 있다. 큰 출력의 매우 큰 레이저 펄스를 물이나 유리와 같은 투명한 매질에 강하게 집광하면 자체 위상변조 (sel f ph ase modula ti on) 가 일어나 넓은 파장 영역에서 비슷한 시간 폭을 갖는 레

이저 펄스가 생성되고 따라서 필요한 파장을 분리하여 실험에 맞게 사용할 수 있다 [4 , 5]. 최근 순간 홀 버닝에 대한 이 론 적인 연구와 [41, 42] 더불어 수십 펨토초의 시간분해능으로 여러 가지 계에서 실험 결 과 들 이 발표되면서, 순간 홀 버닝 방법이 액체상에서 용매와 용질의 상호작용을 연구하는 한 방법으로 제시되었다 [43-46]. 엑체 상태에서는 용 질 분자의 전자 상태가 용매에 의해 크게 영향 을 받는데 , 이것은 기체 상태에서의 홉수 스펙트럼과 용액 상태에서 의 홉 수 스 펙트럼을 서로 비교해 보면 확실하다. 일반적으로 기체 상 태에서 잘 분리되고 좁은 선폭의 전자 전이선들이 액체 상태에서는 서로 합쳐지고 흡 수 선폭이 넓어지는 것을 쉽게 관찰할 수 있다. 엑 체 상태에서의 이러한 변화는 용매화에 의한 정적인 (s t a tic) 전자 전 이 에너지의 분포에도 기인하지만 용매 분자들에 의한 전자 에너지 준위의 매우 빠 르 고 끊임없 는 섭동(p e rt urba ti on) 에도 크게 영향을 받 는댜 용매에 의한 용질 분 자의 전자 상태의 섭동은 보통 피코초 혹 은 그보다 더 빠 른 시간대에서 일어나는 것으로 알려져 있다. 순간 홀 버닝 방법은 동적 스톡스 이동 방법과 비교할 때 기본적으 로 는 서로 같은 개념에 기초하고 있으나 그것들이 적용되는 매커니 즘에 있어서 몇 가지 다른 특징이 있다. 동적 스톡스 이동의 경우에 는 분자의 들 뜬 전자 상태와 용매 간의 상호작용을 보는 반면 순간 홀 버닝 방법은 분자의 들 뜬 상태와 바닥 상태 모두에 대하여 용매 분자의 상호작용 정도 를 측 정한다. 또 동적 스톡스 이동에서는 용매 와 용질 분자 간의 극성 상호작용에 기초하므로 극성 용매에서만 적 용이 가능하나 순간 홀 버닝 방법을 적용하면 비극성 분자간의 상호 작용에 대해서도 측정이 가능하여 보다 광범위한 계에 대하여 용매 분자 들 이 미치는 영향을 연구할 수 있다. 배치좌표 (co nfigurati on coordin a te ) 모델을 이용하여 순간 홀버닝의 개념을 그림 1 1. 4 에서 간략하게 설명하고 있다. 이 경우에 있어서도

동적 스톡스 이동에서처럼 용질 분자의 전자 상태와 강하게 작용하 는 하나의 용매좌표 Q를 가정한다. Q에 대하여 용질 분자의 전자 에 너지를 포물선 퍼텐셜 에너지로 나타내고, 또 바닥전자 상태와 들뜬 전자 상태의 에너지는 서로 다른 Q값(즉 서로 다른 용매 분자의 배열) 에서 최저값을 보이고, 퍼텐셜 에너지 곡선의 기울기(용매에 의해 결 정된다고 가정)는 편의상 서로 같다고 놓는다. 들뜨기 전의 바닥 상태 에서는 Q의 가우스 분포가 존재하고(그립 ll.4 ( a)) 이 상황에서 홉수 전이를 측정하면 전이선이 가우스합수의 형태 를 갖는다. 마찬가지로 평형(최저 에너지)에 도달한 들 똔 상태의 분자 분포는 가우스 분포의 형광 스펙트럼을 주는데, 전자 에너지의 최소값이 서로 다른 Q에 놓 여 있기 때문에 홉수 봉우리와 발광 봉우리 사이에 스톡스 이동이 존재한다. Q가 변화하는 시간대보다 시간적으로 짧고 파장 폭이 좁 은 레이저 펄스로 분자들을 들 뜨게 하면, 순간적으로 들뜬 전자 상태 에서는 펄스의 에너지 폭에 해당하는 만큼의 들 똔 분자의 분포가 만 들어지고, 바닥전자 상태에서는 들뜬 분자 분포에 상응하는 만큼의 흡수 감소(이것을 홀이라고 합)가 생겨 전체 계는 비평형 상태에 놓인 다(그림 ll. 4( b)). 이어서 Q의 요동(fl u ct ua ti on) 으로 인해 바닥 상태와 들뜬 상태에서의 분자 분포는 새로운 평형(그림 l l. 4(d) )으로 이완되 는데, 이 과정에서 분자 분포에 대한 전이선 스펙트럼은 이동 (sh ift) 과 선폭 확대 (broaden i n g)가 동시에 일어난다(그림 ll. 4( c)). 따라서 전 이선 스펙트럼의 시간에 따른 변화를 측정하면 분자운동의 이완 메 커니즘을 예측할 수 있고 이완 시간에 대한 정보 를 얻을 수 있다. 보 통 동적 스톡스 이동 방법을 이용한 극성 용매의 이완에서는 주로 원거리에서의 쌍극자간 상호작용이 중요한 요인으로 작용하지만, 순 간 홀버닝 방법에 의한 비극성 용매의 이완에 있어서는 짧은 거리에 서의 반발력 (re p uls i ve fo rce) 이 중요하게 작용한다고 볼 수 있다.

332

(a) v\(b) \<

_KH p \<\ >(c) (d) 용매화좌표.Q

그립 11. 4 배치좌표 모델 을 사용하여 순간 홍 버닝의 과정 을 나타냈다 . (a) 둘 뜨기 전의 바닥 상태의 평형 분포, (b) 들뜸 펄스에 의해 훈 이 생성된 순간, (c) 들뜬 상태의 분자 분포 및 바닥 상태의 홈 이 부분적으로 이완된 상 태, (d) 완전히 이 완된 상태(참고문헌 [46]).

ll.3.3 광자 메아리 분광학 전이선모양과 이완 현상은 서로 밀접한 관계가 있는데 고체나 유 리질 상태에서 손님 분자(gu es t)나 이온과 그 주위 를 둘러싸고 있는 주인 분자 (hos t)들의 상호작용을 연구하 는 데 전통적으로 전이선의 선폭 측정에 의한 방법 들 이 많이 이용되어 왔다. 전이선모양에 영향 울 주는 요인으로는 정적인 과정과 동적인 과정으로 나눌 수가 있는 데 전자의 경우는 주로 무질서나 결함 등에 의해 전이 에너지의 분 포가 존재하고 그 결과로 전이선이 보통 가우스함수의 형태를 띠게 되 며, 이 것을 불균일 선폭 확대(i nhomo g eneous broaden i n g)라 부른 댜 반면 후자의 경우 는 손님 분자의 에너지 준위가 주위의 주인 분 자 들 의 상호작용으로 빠르게 섭동되어 흔히 로렌츠함수 모양의 전이 선을 주고 모든 분자에 똑같이 적용된다고 볼 수 있으며, 이것을 균 일 선폭 확대 (homo g eneous broaden i n g)라 부른댜 이러한 구분을 다 시 정의해 보면 균일 선폭 확대는 손님 분자 ― 주인 분자의 상호작용 상관 시 간(i n t era cti on correlati on tim e) 이 상호작용 세 기 (int e r act ion s t rengt h) 의 역수보다 훨씬 작은 경우이고 불균일 선폭 확대는 그 반 대의 경우인데, 흔히 현상적으로 균일 선폭 확대는 아주 빠른 섭동에 기 인하고 불균일 선폭 확대는 느린 섭동에 기 인한다고 본다 [47]. 분자간의 빠른 상호작용에 대한 정보 를 제공해 주는 전자 전이선 의 균일 선폭(I' I, )은 들뜬 분자의 수명과 위상공진성(p hase cherence) 이완에 의해 결정되는데 아주 낮은 온도에서, 즉 모든 분자운동이 거 의 정지된 상황에서는 불확정성의 관계로부터 수명에 기인한 선폭 확대만이 존재하다가 온도가 올라가면 격자운동에 의한 전자 전이 에너지의 요동이 생기고, 이것에 의한 선폭 확대가 수명에 의한 선폭 확대에 더해져 I'/,이 나타난다. 따라서 균일 선폭을 다음과 같이 나 타낼 수 있다.

r,, (=*)=吉:+갑 (11.7) 여기서 Tl 은 들뜬 분자의 수명이고 T2. 는 전이 에너지의 요동에 의 해 순수 위상공진성 이완 시간으로 정의된다. 위상공진성 이완 혹은 위상공진성이 감쇠되는 것은 열에너지 들뜸에 따른 격자운동 산란에 기인한댜 따라서 높은 온도에서는 위상공진성 이완 과정이 I' h 를 결 정하는 데 크게 기여하지만 온도가 낮아지면서 기여 정도가 상대적 으로 작아지고 절 대온도 0 으로 접근하면 균일 선폭은 오직 m 에 의 해서만 결정 된다. 고체나 유리 질 상태에서 불균일 선폭 확대는 균일 선폭 확대에 비 해 훨씬 넓게 나타나 는 데 손님 분자-주인 분자 사이의 빠른 상호작 용을 이해하기 위해서 는 불균 일 선폭 확대로부터 균일 선폭 확대 성 분을 추 출 하 는 작업이 필 요하다 . 이 목적에 효과적인 몇 가지 분광학 방법 _— 형광 선폭 축소 (Fluorescence Line Narrowi ng ), 홀버닝 (Hole Burnin g ), 공 명 라만 (Resonamce Raman), 광자 메아리 (Pho t on Echo) 등 -들 이 제안되었다 [48 1. 형광 선폭 축소 분광학이나 홀버닝 분광 학은 위치 선택 (s it e selec tion ) 분광학의 방법으로 진동 영역에서 실 험이 이 루 어지 는 반면, 광자 메아리 방법은 펄스 레이저를 사용하여 직접 시간 영역에서 균일 선폭에 상옹하는 위상붕괴속도를 측정한다. 여기서는 극초 단 레이저 펄스 를 사용하여 직접 시간 영역에서 분자 동역학을 연구하는 광자 매아리 분광학에 대하여 살펴보기로 한다. 광자 메아리는 원래 핵자기공명의 스핀 매아리에서 유래하는데 사 용되는 전자기파의 진동수가 광학적 영역으로 옮겨가면서 광자 메아 리 방법이 개발되었다 [49 1. 이 방법을 이용하면 r,1 의 역수에 해당하 는 위상공진성 이완 시간을 직접 측정할 수 있는데 들뜸에 사용되는 레이저 펄스의 선폭은 r,, 보다 훨씬 커서 선택적 들뜸이 일어나지

않으며 시료 를 들 뜨게 하는데 일련의 레이저 펄스 들 에 의하여 위상 공진성이 감쇠되는 시간을 측정한다. 가장 간단한 경우로 2 펄스 광자 메아리 를 예로 들 수 있는데, 우선 위상이 잘 일치하는 레이저 펄스 로 분자 들 을 들 뜨게 하면 바닥 상태와 들 똔 상태 사이의 위상공진성 중첩 (coherent sup e rp o sit ion ) 상태 가 만 들 어 지 고 이 에 따라 진동 쌍극 자 (osc ill a ting d ip ole) 들 이 형성된다 . 들 뜬 순간 이 쌍극자들은 모두 같은 위상으로 진동하나 시간이 지남에 따라 진동수의 불균일 선폭 확대(I'i nh) 로 인해 쌍 극 자 들 간의 위상공진성이 감소한다. I'inh- J보다 짧은 시간차 r 를 두고 두번째 레이저 펄 스 를 시료에 쪼여주면 중첩 상태의 위상에 변화가 나타나 위상 공 진성 이완 과정을 역전시키는 효과가 있고 , 또 다 른 r 만큼의 시간 지연 뒤에 는 처음에 존재하던 위상공진성이 다시 생겨 거시적 진동 쌍 극 자 로 부터 새로운 광자가 방출되는데 이것을 광자 메아리라 한다. 시간 지연 2r 에 대한 매아 리 신호의 세기 변화는 곧 위상공진성 이완 시간 T2 를 반영하게 된 다 [50-51l 홀버닝 방법으로 얻어진 r,, 가 광자 매아리 실험으로 측정되는 T2 - 1 보다 훨씬 크게 나타나는 경우가 보고되었다 [52]. 이 문제에 대해 서는 홀버닝, 형광 선폭 축소, 광자 메아리 등의 방법으로 얻어진 결 과들을 해석하는 데 있어서 각각의 실험 들 이 적용되는 시간 영역을 고려해야 할 것이다. 2 펄스 광자 매아리의 경우 측정하는 시간 영역 이 광학적 위상공진성 이완 (o pti cal de phas i n g)이 일어나는 시간대에 놓여 있고, 형광 선폭 축소는 형광 시간대에 놓여 있으며, 홀버닝의 경우는 훨씬 더 긴 시간대에 놓여 있다. 유리질에서처럼 넓은 시간대 에 걸쳐 이완이 일어나는 경우, 어떤 특정한 방법의 측정 시간대보다 빠르게 일어나는 과정이면 균일 선폭 확대에 기여하고 느리게 일어 나는 경우이면 불균일 선폭 확대로 간주된다. 따라서 전자적 위상붕 괴를 연구하는 데에는 그것이 일어나는 시간대에서 직접 측정이 가

능한 광자 매아리나 순간 홀버닝 분광학이 보다 적절한 방법이라고 할수 있다. 11. 4 결론 이 장에서는 용매 동역학에 대한 기본적인 이론 및 용매 분자의 움직임을 초고속 분광학의 방법 들을 이용하여 실험적으로 정량화하 는 방법 들을 살펴보았다. 시간분해 형광 분광학 방법을 이용하여 팸 토초의 시간분해능으로 순간 형광 스펙트럼을 측정 하여 극성 용액에 서 실험적인 용매 이완 시간 을 이 론적 인 예 측 과 비교하였고, 용매의 운동이 분자 내 전자 이 동반옹속도 와 중요한 상관관계 를 갖는다는 것을 보았댜 또한 순간 홀버닝 분광학을 이용하여 주위의 용매 분자 둘 에 의한 용질의 전자 상태 변화에 대하여 알아보았고, 동직 스톡스 이동 분광법이 극성 분자간 의 상호작용을 연구할 수 있는 반면 순간 홀 버닝 분광법은 비 극성 분자들간의 상호작용에도 적용할 수 있음을 보았다. 광자 메아리 분광학은 시간 영역에서 이루어지는 일종의 선 폭 축소 방법으 로 균일 선폭에 상응하는 위상붕괴에 대한 정보 를 제 공한다고 볼 수 있다. 현재 초고속 분광학은 빛과 물질 간 혹은 분자간의 상호작용, 비평 형계의 이완 현상, 화학반응의 속도, 생체 내의 광합성 과정, 들뜸자 (ex cit on) 의 동역학 동 광범위한 분야에 적용되어 물리 화학적 기본 현상 규명에 널리 쓰이고 있다. 초고속 분광학은 펨토초 레이저 펄스 생성 및 측정 기술의 발달로 시간분해능이 점차 증가되어 지금까지 는 관측이 불가능하던 새로운 현상 연구에 커다란 기여 를 하고 있으 며, 특히 액체상에서의 분자 동역학 연구에 큰 진전을 가져왔다. 이 러한 연구들은 분자들간의 상호작용을 분자들의 거시적인 성질로 설

명하려는 고전 적 인 접근 방식에서 발전하여 분자 수준에서 분자 동 역학에 대한 보다 구체적인 지식을 제공해 줄 수 있으리라 기대된다. 참고문헌 [1] J. T. Hy ne s, Theory of Chemi ca l Reactio n s (CRC, 1986) [2] J. M. Hi ck s, M. T. Vandersall, E. V. Sit zm an, and K. B. Eis e nth a l, Chem. Phys . Lett. 135, 413 0987) [3] J. T. Hy ne s and J. Sta t . Phys . 4 2, 149 ( 1986) [4] R. R. Al fan o, L. L. Hop e, and S. L. Shap iro , Phys . R e v. A6, 433 (1972) [5] R. L. Fork, C. V. Shank, R. Yen and C. A. Hi rli m ann, IEEE J Qua nt Electr o n, QE 19, 500 0983) [6] G. R. Flemi ng , Chemi ca l Ap pli ca ti on s of Ultra fas t Sp e ct ro s- cop y (Oxfo rd , 1986) [7] H. Frohlic h , Theory of Diel ect ri c s (Oxfo rd Univ . Press, 1958) [8] C. J. F. Bott ch er and P. Bordewi jk, Theory of Elect ro nic Po- lariz a ti on , Vol. 2 (Elsevie r , 1978) [9] J. Hubbard and L. Onsag e r, ]. Chem. Phys . , 67, 4850 0977) [10] S. K. Garg and C. P. Smy th, J. Phys . Chem . 69, 1294 (1965) [11] H. L. Fr ied man, ]. Chem . Soc., Faraday Trans. II 79, 1465 (1983) [12] E. W. Castn e r, Jr., M. Maroncell i, and G. R. Flem ing, ]. Che, n. Phys . 86, 1090 (19 87) [13) M. Maroncell i and G. R. Flemi ng , ]. Chem . Phys . 86, 6221 (19 87)

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제 12 장 시간 영역 레이저 분광학 주태하 12.l 서론 우리가 흔히 측정하는 홉수 또는 형광 스펙트럼의 x 축은 빛의 진 동수(또는 파장)이다. 만일 화학반응속도를 측정하기 위하여 반응물질 을 섞은 순간부터 한 진동수에서 시간에 따른 시료의 홉수도 변화를 측정한다면(예 를 들 어 화학과 학부 과정에 대부분 포함된 아세톤의 브롬화 반응속도 측정 실험) 데이터의 x 축은 시간이 되며 이로부터 반응속도 식을 구할 수 있다. 이와 같이 데이터의 x 축이 시간인 분광법은 자연 히 계의 변화(동역학)와 밀접한 관계가 있을 것이다 . 여기에서 소개되 는 시간 영역 분광학은 대부분 짧은 펄스의 빛을 이용하여 물질-빛 계의 화학적 또는 물리적 반응을 일으킨 후 역시 빛을 이용하여 계 의 변화 과정을 시간의 함수로 측정한다. 이로부터 상태의 위상공진 성 이 완 (de phas i n g), 입 자수 이 완(p o p ula ti on relaxati on ), 화학반응속 도, 분자간/분자 내 에너지 전달, 분자의 회전/병진운동, 확산 둥 다 양한 동역학 정보를 얻을 수 있다[1]. 일반적으로 시간 영역 분광학 에서는 1 개 이상의 펄스를 사용하여 계를 원하는 상태로 준비시키고

탐지 펄스 를 사용하여 계의 변화 를 관 측 한다 . 따라서 빛과 물질은 한 번 이상의 상호작용을 하므로 자연히 비선형 분광학으로 분류된다. 진동수 영역 스펙트럼과 시간 영역 스 펙 트럼 은 푸리에 변환 (FT) 관계에 있으며 근 본 적 으로 동일한 양 을 측 정한다 . FT NMR 이 그 예 이댜 이 경우 실 험상 또 는 계산상의 편리성 또 는 관심 있는 물리적 양이 어 느 영역의 스펙트럼에 더 민감하게 나타나 는 지 등의 차이점 이 있 을 뿐이댜 그 러나 많은 경우 , 특 히 비 선 형 광학의 경우, 시간 영역 분 광학 기 술 과 진 동 수 소펙 트럼 의 관 계 는 명확하게 성립하지 않는다 . 80 년대 초반 부 터 시작된 펨 토 초 레이 저 기술 의 발 전은 초고속 과 정의 연구에 새로운 장 을 열 었으며 이 를 이 용 한 많은 새로운 연구 결 과가 나오고 있다 [2]. 특 히 90 년대 초 타이타 늄 사파이어 레이저의 상업적 등장 이래 많은 연 구 그 룹들 이 안정한 펨 토초 펄스를 이용한 물질의 구조 및 동역학의 연구에 참 여하고 있다. 팸토초 시간 영역 분광학은 점차 화학, 물 리, 재료, 전자, 생명 등의 여러 분야에서 동 역학 연구의 기본 기술로 자리잡고 있다. 여기에서 는 팸토초 시간 영 역 분광학을 중심으로 일반적인 시간 영역 분광학 실험의 기본 원리 를 기술하고 이 룰 이용한 몇 가지 시간 영역 분광학 기술을 소개하 고자한다. 12.2 미켈슨 (M i chelson) 간섭계를 이용한 시간분해 짧은 레이저 펄스 를 이용한 시간 영역 분광법의 경우 x 축의 시간 대는 일반적으로 길게는 마이크로초부터 짧게는 펨토초의 영역에 있 다. 시간분해능은 분광법의 종류에 따라 다르게 결정되며 펄스의 길 이, 계측기기의 시간분해능, 또는 입사광의 전기장 상관 시간 (ele ctri c

fiel d correlati on tim e)[ 3 , 4] 등 에 의하여 결정된댜 일반 적 인 시간 영 역 분광학 실험은 1 개 이상의 펄 스 를 사용하여 계 를 원하는 상태로 준비시키 는 들 뜸 단계와 이 로부 터 얼마의 시간이 지난 후 계의 변화 를 측 정하 는 탐지 단계 로 나 눌 수 있다 . 신호 를 전기적 계 측 기기 를 이용하여 직 접 시 간분 해 할 수도 있으나 자국 카매라 (s t reak camera) 와 같은 가장 빠 른 시 간분 해 능을 가 진 기기 를 사용하더라도 분 해능 은 1 피코초 정도 에 머문 다 . 더 욱 빠 른 시간분해 롤 위해서 는 미켈슨 간섭 계 등을 이용하여 입사 펄스 사이의 시간 간 격을 조절 하되 생성 된 신호 는 시 간분 해 하지 않고 시 간 에 따라 직분된 신호 를 측 정하는 방법 을 사용한다. 이 원 리 는 앞으 로 소개될 여러 분광학 기술 들 을 이 해하 는 데 필 수 적 이다 . 물론 제 7 장에 설명된 시간분해 자발 형광법 과 같이 신호 를 직접 시 간분 해 할 수도 있다. 그러나 이 경우에도 펨 토 초 의 시 간분 해 능을 이 루 기 위해 서는 비선형 광학 현상과 간섭계를 이용하여 위와 같은 원리 로 측 정한다 . 2 차 조 화 진동수 발 생 (second harmonic ge nerati on : SHG) 을 이용하 여 팸 토 초 펄 스의 길 이 를 측 정하는 것을 예로 들어보자. 그림 12.l (a} 는 이 장치의 골 격 을 보여 주 고 있다. 먼저 진동수가 (J)인 펄스 를 빔 나 눔 판 (beam s plitt er) 으 로 2 개 의 동일 한 펄스( 펄 스 l 과 펄스 2) 로 나눈 다. 펄스 l 은 빛전달 지연 장치 를 통과시킨다. 이것은 모터 를 장착한 판 위에 거울을 설치한 것으 로 거울의 위치 를 움직여 빛의 통과 거 리 를 조 절할 수 있다 보통 0.1 µm의 I) 분해능은 쉽게 이 룰 수 있다. 펄 스 2 는 고정된 거리 를 통 과하여 두 펄스간의 시간 거리 r 를 조절 한다. 두 빛살의 파동 벡터 를 각각 kl k2 라 하고 두 빛 을 2 차 조화 진동수 2 (J) 를 발생할 수 있는 물질 (KDP, BBO 둥 의 결정)에서 다시 1) 이때 시간 분 해능은 빛 이 0.1 µm 의 2 배 판 몽 과하 는 데 전리 는 시 간 인 0.66 젭 토 초 이다.

(a)

A 팜스A L K1+K2, 2(J ) 1 — 조리개 레이저 B.S. 펄스 2 M ,Ib, )

_190B060402 (

}

급 (

a

Z

)

~

SH 0.0 L -100 -50 。 50 100 r, 펨토초

그립 12.1 (a) 미켈슨 간섭계 를 이용한 펄스 길이 측 정 장치. B.S ., 빛나눔판 :M, 거울 : L, 렌즈 : KDP, KHzP04. (b) k1+k2 방향의 SHG 세기 를 펄스 간 시간 간격으로 측 정한 그림. 펄스는 폭이 2 1. 2 펨토초인 가우스함수 를 가정하였으며 이때 SHG 는 폭이 30 펨토초인 가우스함수이다 .

합친다. SHG 는 2 차 비선형 감응률에 의한 것이므로 빛과 물질 사이 에 두 번의 상호작용을 필요로 한다. 따라서 한 개의 펄스(1 또는 2) 가 두 번씩 작용하는 경우와 펄스 1, 2 가 각각 한 번씩 작용하는 세 가지 경우가 있다. 이 때 2(J } 신호의 파동 벡터 방향은 각각 2k1, 2k2, k1+k2 이며 (3.2 절 참조) 2(J } 빛의 세기 (In t ens ity)는 각각 1i2, h.2, Mh 에 비례한다. 파동 벡터 방향이 k1+k2 인 2(J } 신호를 그림 12.l (a)

와 같이 공간적으로 분리한다. 이 신호는 펄스 l 과 2 가 동시에 결정 에 도착했을 때만 발생되므로 그 세기를 두 펄스간의 시간 거리 r 의 함수로 측정하면 그림 12 .l (b) 와 같은 신호를 얻으며 이로부터 펄 스의 폭을 알 수 있다. 2(J J 신호는 대략 펄스의 길이만큼 지속되나 이를 시간분해하지 않고 시간에 적분된 전체 세기를 측정하면, 이 값 은 펄스 1 과 2 가 겹친 부분의 면적에 비례한다. 펄스 세기 윤곽선 (pu lse int e n sit y envelo p e) 함수 를 I( t)로 하면 2(J ) 신호는 다음과 같다. S( r)= f一~ 0011 (t- r)J 2( t) dt. (12 .1 ) 즉 신호 를 시간에 대하여 분해하지 않고 적분된 양을 측정한다. l(t) 가 폭이 2 1. 2 팸토초인 가우스함수인 경우 그림 12 .l (b) 와 같은 S(r) 를 얻게 된다 . S(T) 는 펄스의 자체 상관함수 (Au t ocorrela ti on fun c- ti on) 이며 실제 실험에서는 S(T) 를 측정하여 풀어내기 (deconvolu ti on) 하면 J(t) 롤 얻을 수 있다. 그림 12.Hb) 에서 S( i:)도 가우스함수이며 폭은 30 팸토초이다 [5]. 이상과 같이 높은 시간분해능을 실현하기 위해서는 실시간에서 신 호를 직접 시간분해하지 않고 빛전달 지연 장치를 사용하여 입사광 들의 시간 간격을 조절합으로써 생성되는 신호를 조작하는 방법이 주로 쓰인댜 뒤에 소개될 여러 방법들도 같은 원리를 이용한다. 물 질계의 여러 가지 동역학들을 관찰하기 위해서는 입사 펄스들의 시 간 간격을 적절히 조절하여 계를 목적에 맞게 조작하는 것이 시간 영역 분광학의 초점이다.

12.3 기초 이론 12.3.l 에너지 계단 그럼법 및 공진성 대부분의 시간 영역 분광 기 술들 은 준 비 단계와 탐지 단계로 나눌 수 있다 . 준비 단계에서 는 한 개 이상의 펄스를 사용하여 계를 원하 는 상태로 조작한다. 예 를 들 면 들 뜬 전 자 상태의 입자수 이완 시간 을 측 정하기 위해서 는 전 자 홉 수선과 공 명인 진동 수 를 가진 짧은 펄 스로 분자 를 들 뜬 전자 상태로 전이시킨다 . 들뜬 전자 상태에서 일정 시간 동안 전개한 후 탐지 펄 스의 홉 수, 산란 등을 이용하여 계의 변 화 를 측 정한댜 빛과 물 질 간의 상호작용 및 계의 전개 과정은 밀 도 행렬 (dens ity ma t r i x) 을 사용하면 편리하게 기술할 수 있다(제 5 장의 5.3 절 참조). 바 닥 상태 |1 〉과 들 뜬 상태 |2 〉로 이 루 어진 간단한 두 준위계를 예로 들 어보자. 전자기파가 존재 할 때 계의 전체 해 밀톤 (Ham ilt on) 연산자 는 물질의 해밀톤 연산자g `o 와 빛과 물 질 사이의 상호작용 해밀톤 연산자 g;의 합으로 나타낼 수 있다. 行= H`o+g ; (12 .2 ) 전자기파의 진동수 (J)가 |2> -1 1> 전이 진동수 (J)。와 거의 일치할 때 임의의 시간에서 계의 파동함수는 |1> , 12> 파동함수의 선형 조합으로 나타낼 수 있다. I lJf(t)> = C1( t) 11> + C2(t) 12> (12 .3) 빛과 물질 간의 상호작용은 대개 전기 쌍극자 근사를 사용하여 나타 낸다. 상호작용 해밀톤 연산자 ft<= -D· E, D는 전기쌍극자 E 는 전

기 장)를 2 차 양자화 (second q uan ti za ti on) 를 사용하여 나타내 면 다음과 같다 [6]. ft= in g k{ ak exp (-iwt+ ik • r) - a : exp (iwt -ik • r)} x {|l>< 2 1+ 1 2> <1 1} (12.4) 여기에서 a k 와 itk 는 파동 백터가 k 인 광자의 소멸 (ann i h i la ti on) 과 생성 (crea ti on) 연산자이며 gk 는 상수이다. 여기서 |l 〉〈 21 와 12 〉〈 11 는 물질의 상태 를 전이시키는 연산자임을 알 수 있다. 초기 상태( t= 0) 에서 계가 바닥 상태에 있는 경우 를 가정하면 밀도 연산자 p (O) = 11 〉〈 1| 이댜 한 번의 빛과 물질의 상호작용에 의한 전이는 庄晶 밀도 연산자에 작용시켜 구할 수 있다. 위의 초기 밀도 연산자 에 g} 를 bra 또는 ket 쪽에 한 번 적용시키면 영이 아닌 P12 또는 P21 을 얻 는 댜 죽 한 번의 전기 쌍극자 상호작용은 물질에 공진성을 생성한다(아직 둘 뜬 상태의 입자가 생성되지 않았음에 유의한다). 생성된 공진성 P12 또는 P21 은 이완을 하게 되는데, 이것을 위상공진성 이 완이라고 부르며 진동수 영역 홉수 스펙트럼의 모양(폭)을 결정한다 . 여기에 다시 한 번 g규 를 작용시키면 Pll 또는 P22 를 생성한다. 즉 형식적으로 두 번의 빛과 물질 사이의 전기 쌍극자 상호작용에 의하 여 들 뜬 상태에 입자 를 생성한다. 들뜬 상태는 그 수명 시간(lifeti me) 에 따라 이완하게 된다. 이와 같은 계의 전개 과정은 그림을 통하여 도식적으로 나타낼 수 있는데 양쪽 파인만 도식 (double-s i ded Feyn m an dia g ram )[7-8], 또는 에너지 계단 그림 [9] 동이 쓰이고 있다. 여기서는 에너지 계단 그림을 사용한다. 에너지 계단 그림에서는 각 준위 를 가로선으로 나 타내며 시간은 왼쪽에서 오른쪽으로 갈수록 증가한다. 빛과 물질의 상호작용은 화살표로 표시하는데 점선 또는 실선은 g討 룹 각각 밀도

연산자의 bra 또는 ket 쪽으로 작용시킴을 나타낸다. 윗방향 실선과 아랫방향 점선 화살표는 十 (L) 상호작용을 나타내며, 윗방향 접선과 아랫방향 실선은 -(L} 상호작용을 나타낸다. 마지막으로 형성된 분극 은 물결 실선으로 나타낸댜 이와 같이 형성된 분극을 입력항으로 하 여 맥스웰 (Maxwell) 의 파동 방정식을 풀면 원하는 차수의 비선형 신 호 전기장 세기를 얻을 수 있다 (7, 8, 10]. 진동수가 + (L} 1 과 - (L} 2 인 2) 두 빛이 순서대로 분자와 각각 한 번씩 상호작용한 경우를 생각해 보자 . 두 번의 전기 쌍극자 상호작용 후 물질의 상태는 (L}i Q 2 의 크기에 따라 몇 가지 상태를 가진다. (L}I ;;:: (L} 2 인 경우 그림 12.2(a), 12.2(b) 와 같이 전자 바닥 또는 들뜬 상태의 업자를 생성하며 1 (L} 1- (L}짜가 분자 진동 진동수와 근사한 경 우 그림 12.2(c), 12.2(d) 와 같이 전자 바닥 또는 들뜬 상태에 분자 진 동공진성을 형성한다. 그림 12.2(b) 상태 를 r 초 동안 전개한 후 탐지 펄스의 홉수 변화를 측정하면 둘뜬 상태의 수명을 구할 수 있다 (4 . 3 .1 절 참조). 그림 12.2(c) 또는 12.2(d) 상태를 r 초 동안 전개시킨 후 탐 지 펄스의 산란을 측정하면 (4.2.3, 4.3.3 절 참조) 진동공진성의 감소, 즉 바닥 또는 들뜬 전자 상태에서 분자의 진동 위상공진성 이완 과정을 알수 있다. 공진성과 위상공진성 이완은 시간 영역 분광학의 이해에 필수적이 므로 간단히 설명한다. 분자의 전이 에너지와 같은 진동수의 빛을 쪼 여주면 분자에는 진동하는 분극(p olar i za ti on) 이 형성되며 그 진동수 는 대략 분자의 전이 에너지와 같다. 초기에 각 분자에 형성된 분극 의 위상은 입사 펄스의 위상으로부터 정확히 예측할 수 있다. 죽 펄 스를 쪼여준 직후 각 분자들은 입사광에 의하여 결정된 동일한 위상 을 가지고 진동한댜 이 경우 각 분자의 분극에 의한 전기장은 보강 2) 형식적으로 +(J)와 _(J)는 다른 주파수로 다룬다.

+{JJ, -{JJ2 +{J), -{J)2 +(J)1 -(J)2 +(t)t -{t)2 le>

If> lh> lg> (a) (b) (c) (d)

그림 12.2 진동수가 + (JJ 1jl l- - (JJ 2 인 두 빛이 순서대로 분자와 각각 한 번씩 상호 작용했을 때의 에너지 계단 그림.

간섭을 하므로 전기장의 세기는 분자의 수에 비례하여 커지며 빛의 세기는 전기장의 제곱, 죽 분자수의 제곱에 비례하여 커진다. 또한 이 경우 정해진 방향만으로 보강간섭이 일어나게 된다. 이를 공진성 (여러 입자의 위상이 동일한) 상태라고 한다. 시간이 지남에 따라 충돌, 주위 분자로의 에너지 전달 등에 의하여 각 분자의 전이 에너지는 임의로 바뀐다. 따라서 각 분극 사이의 위상은 점점 무질서해진다. 완전히 무질서해지면 전기장은 잡음에 의하여 측정될 수 있으므로 그 세기는 분자수의 제곱근에 바례한다. 따라서 빛의 세기는 분자수 에 비례한댜 이와 같이 위상을 잃어버리는 과정을 위상공진성 이완 이라 한다. 공진성은 여러 분자가 있을 때 정의되나 위상공진성 이완 은 한 분자일 경우도 정의될 수 있다. 12.3.2 위상일치 방향의 설정 입사광에 의하여 시료에 진동하는 분극(p ol ari za ti on) 이 형성되며 이것은 측정할 수 있는 전기장 신호가 된다. 입사광들을 시료에 쪼여 주면 시료에는 선형 및 여러 비선형 분극이 동시에 형성된다. 그러면

실험적으로 어떻게 원하는 차수의 분극만 을 선택할 수 있을까? 2 절 의 SHG 예와 같이 시간 영역 분광학에서는 파동 백터의 위상일치 조건을 통해 측 정하고자 하 는 정보를 가진 파동 백터룰 선택하고 각 펄스간의 시간 간격을 조절함 으로써 ( 측 정하 는 신호에 대하여) 계의 전 개 과정을 원하 는 대로 조절할 수 있다. 시 료 안에 한 개의 분자만 이 존재 하 는 경우 입사광에 의하여 생성 된 선형 또 는 비선형 분극은 모든 방향에서 측정할 수 있다. 즉 측정 에 선택성을 가 질 수 없다. 시 료 에 여러 개의 분자가 존 재하는 경우 각 분자 에 분극이 형성되며 각 분극의 위상이 같게 더해지는 방향, 죽 보강간섭이 일어나 는 방향으 로 강한 신호가 나오게 되며 상쇄간 섭이 일어나는 방향으 로는 신호가 약해진다. 시 료 안에 는 무수히 많 은 수의 분자가 있으 므로 일반직으로 각각의 신호는 공간의 한 방향 만으로 보강간섭이 이 루 어지며 이 를 각 신호의 위상일치 조건이라 한다. 신호의 위상일치 방향은 형성된 분극을 입력항으로 하여 맥스 웰 의 파동식을 풀면 얻어지며 분극 에 의 한 전기장 의 세기는 다음과 같다 [8]. Es ( l , t) = n(2(m/)s. ) ~C IP.( t ) sin c (LJ k l/2) exp (iLJk l/2) (12.5) 여기에서 ^ k=ks - ( 土 k1 ± k2 士 如…… 士 k,,) , (J)s = 土 (J)I 土 (J) 2 土 (J)3 '… • • ± (J),,이며 k s 와 (JJ s 는 신호의 파동 벡터 및 진동수이며 k; 와 (JJ,는 (i = 1 부터 ?1 까지) 입사광의 파동 벡터 및 진동수이다 : R( t)는 비선형 분 극의 크기이며 c 는 빛의 속도이다. s i nc(x) = 요門요 L 이며 l은 빛과 상호작용하는 물질의 길이 이다. /----1- 00 일 때 sin c (x) ->(2;r )3 o (L 1k/) 이며 L1k· /~;r일 때만이 Es 가 커짐을 알 수 있다. 죽 (J) s = 士(J) I±(/)2 ± (J) 3 ……土 (J),, 신호의 위상일치 방향 조건이 6. k=ks_ (士 k1±k 士 k

……土 k,.)=0 임을 알 수 있다. 예 를 들 어 진동수가 (L)s =(L )1 _(L )2 +( L)3 인 3 차 비선형 신호는 그림 12.3(a) 와 같이 ks= k, - kz + k3 에 나 타나며 이 신호에 해당하는 에너지 계단 그림은 12.3(b) 와 같다. 이와 갇이 각각의 신호 는 위상일치 방향을 가지며 이 를 공간직으로 분리 함으로써 원하는 신호 를 선택적으로 측정할 수 있다. 또한 펄스간의 시간 간격을 조절함으로써 각 신호가 나타내는 정보 를 선별할 수 있다. 12.4 몇 가지 시간 영역 분광학법 시간 영역에서 스펙트럼 및 동역학을 관찰하기 위하여 많은 분광 기술들이 개발되어 있다. 여기에서는 많이 사용되고 있는 몇 가지롤 선택하여 그 원리 를 설명한다. 12.4 .l 시간분해 자발 형광 분광범 자발 형광 (s pon t aneous fluo rescence) 신호의 세기(또는 스펙트럼)를 시간의 함수로 구하면 계의 동역학에 관한 많은 정보룰 구할 수 있 댜 시간분해에는 몇 가지 방법이 있으나 시간상관 단일 광자 측정법 (tim e correlate d sin g le ph oto n coun ti n g)과 비선형 합진동수 발생 (sum freq u ency ge nerati on : SFG) 을 이 용하는 방법 이 주로 사용된다. 전자는 들뜸 펄스에 의한 전이 순간부터 한 개의 형광 광자가 측정 되는 시간을 전기적으로 측정하는데 대략 ~10 피코초의 분해능을 얻 을 수 있다[1]. 여기에서는 펨토초의 분해능을 이룰 수 있는 후자에 대하여 설명한다. 형광을 펨토초의 분해능으로 측정하기 위해서는 진동수가 (J)g인 짧은 창문 펄스를 사용하여 형광((JJ/)과 창문 펄스((JJg)의 SFG 를 이

(a)

K2 K1 • 氏 & + 氏 (b) a, -a)2 W3 (JJS

그림 12.3 (a) 세 개의 입사 펄스 k1, k2, k3 를 쪼여주었 을 때 OI, _W2, O3 세 번 의 물질과 빛의 상호작용에 의한 3 차 비선형 신호의 위상일치 방향 ks= k1_&+& 룰 나타낸다. (b) 이 신호의 에너지 계단 그림, Ws, 신호의 진동수.

용한다. 그림 12.4 는 장치 (l2.4(a) )와 원리(1 2 .4 (b)) 를 도식적으로 보여 준다. 먼저 들뜸 펄스로 시료 를 들뜬 상태로 전이시킨다. 발생된 형 광 (L) I 를 수집하여 창문 펄스 (L)g와 비선형 결정에서 합치면 진동수 가 (L)s ( =(L)g十(L)/)인 빛이 ks ( = kc+ k1) 방향으로 발생된다. 그 림 12.4(b) 에서 볼 수 있 듯 이 시간에 대한 형광의 세기는 분자가 들 뜬 상태에서 바닥 상태로 이완함에 따라 점차 줄어든다. 합진동수 신 호의 세기는 12.2 절의 2 차 조화 진동수와 같이 합하는 두 빛, 죽 형광 의 세기와 창문 펄스의 세기에 비례하므로 (L)s 빛의 세기를 펌프 펄 스와 창문 펄스 사이의 시간 r 의 함수로 측정하면 형광의 시간 모 양을 얻을 수 있다. 펄스의 길 이 를 델타함수로 가정하면 k( r )는 직 접적으로 시간분해된 형광을 나타낸다. 예를 들어 시료의 형광 감소 가 시간 상수가 500 팸토초인 지수함수일 경우 k( T )는 역시 500 펨토 초 시간 상수로 감소한다. 이는 그림 12 .4 (c) 에서 볼 수 있다 .. 최적의 시간분해능을 얻기 위해서는 형광 수집과 합진동수 발생 과정에서 펄스의 길이가 늘어나지 않도록 반사 광학기기를 사용하여 세심하게 장치 를 구성해야 한다 . 이룰 위하여 여러 가지 집광 수법이 고안되었다. 타원의 한 초점을 지나 타원주에 반사된 빛이 타원의 또 다른 초점을 지나는 것을 이용하여 타원 거울을 채용한 형광 수집 및 합진동수 발생 장치가 그림 12 .4 (a) 에 나와 있다. 그림에서 시료는 타원의 한 초점에 위치하며 합진동수 발생 결정은 또 다른 초점에 위치하고 있다 이 장치는 60 펨토초 정도의 시간분해능을 실현할 수 있다 [11). 한 쌍의 포물면 거울을 이용하는 방법도 고안되었으며 비 슷한 정도의 시간분해능을 가짐이 알려져 있다. 한 예로 그림 12.5 는 자주빛 박테리아 Rb. Sp haro id es 의 광합성 계 에서 안테나 (LHl) 의 시간분해 형광 신호를 타원 거울을 이용하여 측 정하였다 [12). 형광 신호는 세 개의 시간 상수로 분해할 수 있으며

(a) (JJg`+(JJ I / ’

W g M 0 g M M W p 타원형거울 레 01 저 B.S. M

(b)

。 , 다,,`...,..,, . ' '... . ....’‘ ` .,., ., ' '.. ’ ,,.,3 '.'..', , ,,' .',' ,'', ' ,,.,.,,. '’'. ,’' ‘’ , ' ‘' r W@l 들뜹팔스 .형광감소곡선 k100806040200 可 。 500 r, 펨토초 1000 1500 2000

그림 12.4 (a) 합진동수 발생을 이용한 펨토초 분해능 형광 측정 장치, (b) 장치의 간단한 원리. 실선과 점선 펄스는 각각 들뜸과 탐지 펄스 를 나타내며 실선은 시간에 따른 형광의 세기 를 나타낸다. 탐지 펄스(접선) 를 조사하 면서 (J)g+ (J) I 를 측정 하면 그림 (c) 와 같은 신호 를 얻는다.

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·: 40:•. \T::• .;• ?•, . .•\ : .::' ~:•·, 강:: '::~;:.•? ::.:• .• ?:• ::., ·인: ·:' .>l: .,•.;•: ..:, . `.· ~•· `· •:: .; :철登,: :.: .: :、: 20000 c

=可Y 어R 1 。。 。 。 。 -50 0 。 500 r, 펨토초 1000 1500 2000

그립 12.5 자주빛 박테리아 Rb. Sp haro id es 의 광합성 계에서 안테나 (LHl) 의 시 간분해 형광 신호 . (J)p= 860nm, (J)1 = 9 52run. 삽입 그립은 진동항 을 자세히 보여준다. (위) 세 개 지수함수로 맞춘 경우의 오차, (중간) 세 개 지수함수와 320 펨토초 주기의 코사인 진동함수로 맞춘 경우의 오차.

진동하는 항도 포함되어 있음을 관찰할 수 있다. 이것은 짧은 펌프 펄스에 의하여 들뜬 상태에 형성된 파동뭉치 (wave packe t)의 움직임 에 의한 것이다. 이와 같아 형광을 펨토초 시간대로 분해하면 들뜬 상태에서 분자의 파동함수의 움직임 동과 같은 고도의 다양한 정보 를 얻을 수 있댜 12.4 .2 비공명 3 차 비선형 감응률을 이용한 기술들 입사광이 분자의 전자 전이와 비공명인 경우 3 차 바선형 감응률을 이용한 방법들에는 CARS(coherent anti -S to k es Raman scatt er i ng ) , CSRS(coherent Sto k es Raman scatt er in g ), OKE(op tica l Kerr eff ec t ), 순간 회절격자 분광법(t rans i en t grating : TG) 둥이 있다. 이들 모든 기술들은 실제로 아주 유사하나 입사광의 진동수 조건 또는 측정 방 법 둥에서 약간의 차이가 있다. 입사광과 전자 전이가 비공명인 경우 빛과 물질 간의 두 번의 상호작용에 의해 라만 전이와 유사한 형태 로 원자핵의 운동과 관련된 상태들――즉 분자 내/분자간의 진동, 회 전, 병진 상태 동-사이에 공진성을 형성하게 된다. 이러한 상태는 r 초 동안 전개하게 되며 탐지 펄스에 의해 r 초 동안의 위상공진성 이완을 측정한다. ® 비공명 순간 회절격자법 (non-resonan t tra nsie n t grating ) 그림 12.3(a) 에서 볼 수 있듯이 순간 회절격자 분광법에서는 진동 수가 같은 세 개의 펄스 k1, ki., kJ룰 시료에 쪼여주고 k1-ki .+kJ 방 향의 신호를 측정한다. TG 의 에너지 계단 그림은 그림 12.6(a) 와 같 다. r = O 일 때 (J)1 , _ (J)2 두 빛은 시료와 각각 한 번씩 상호작용하 여 낮은 진동수 영역의 스펙트럼(분자간 회절격자운동Oi bra ti on), 분자 간 진동, 병진운동, 낮은 진동수의 분자 내 진동 둥)을 들뜨게 하여 이러

TG(OKE) CARS CSRS

{J)1 _{J)2 w1 -w2 {J)3 _.( --J)1'’’’’2 - - (.J.’’’’,)-, , --- ------ ----(J~-) 3-- -- ---- lg, 1 > lg, O > (a) (b) (c)

그립 12.6 (a) 순간 회 절격자, (b) CARS, (c) CSRS 의 에너지 계단 그립 비공명 계이므로 펄스 l 과 2 는 동시에 시료와 상호작용한다.

한 상태 사이의 공진성을 생성한다. 공진성은 시료에 일종의 분극 회 절격자(po lar i za ti on grati n g)를 형성하는데 그림 12.7 을 보자. k1 과 & 는 0 의 각도로 시료에서 만나는데 각 선들을 파의 봉우리로 생각하 면 봉우리끼리 만나는 선 A 위치에서는 보강간섭이 일어나고 봉우 리와 골짜기가 만나는 선 B 위치에서는 상쇄간섭이 일어난다. 따라 서 선 A 위치의 분자들은 강하게 작용하며 강한 공진성이 생성된다. 즉 시료에 생성된 공진성은 공간적으로 강약을 반복하게 된다. 격자 의 거리는 tl/2 sin ( 0/2) 이다. 이를 분극 회절격자라 하며 분광기에 들어 있는 회절격자와 같이 빛을 일정한 방향으로 굴절시킨다. 굴절 의 효능은 분극 회절격자의 세기에 비례하므로 공진성의 이완, 분자 의 확산 둥에 의하여 분극 회절격자의 크기가 줄어들면 굴절되는 신 호의 세기도 감소한다. 분극 회절격자에 의하여 & 파는 k1- k J.+kJ 방향으로 굴절되는데 그 세기를 r 의 함수로 측정하면 주로 분자간 상태의 동역학, 확산 둥을 측정할 수 있다[1 3]. ® 광학적 Kerr 효과 Kerr 효과란 동방성(i so t ro pic) 물질에 전기장을 걸어주었을 때 물

k1 & 의 각도로 만났실0음 선때들 시은 펄료에스의 생 성전파&된면 (:wa회v전격麟e°:f;8tr.ont;각·하 )강면간섭- 이모 -우인c편어\나오:며 }봉봉 :우?리: 와\ 麟꼽짜: \기 : } \:기가 공간상에서 주기적 으로 변 한 다.상쇄 간섭 이 일 어나 -,

~~동;;:麟.k2 가 만나는 B지접 은 12.7 그립

질이 복굴절 (b i re fri n g en t) 현상을 보임을 말하며 (14] 빛의 전기장에 의 한 복굴절 현상을 광학적 Kerr 효과 (O pti cal Kerr Ef fec t : OKE) 라 한다. OKE 의 에너지 계단 그림은 순간 회절격자와 동일하며, 따라서 같은 양을 측정하나 그 방법에 약간의 차이가 있다. OKE 측정에서 는 들뜸 k,, 와 탐지 k, 두 개의 펄스만을 사용하는데 시료의 전후 탐 지 펄스의 경로상에 두 개의 직교된 편광자 를 설치한다. 들뜸 펄스가 없을 경우 두 편광자가 직교되어 있으므로 등방성 시료의 경우 탐지 펄스는 두번째 편광자 를 통과할 수 없다. 들뜸 펄스에 의해 시료는 복굴절 현상을 보이며, 따라서 탐침 펄스의 편광이 회전하여 두번째 편광자 를 일부 통과한다. 두번째 편광자 를 통과한 탐지 펄스의 세기 를 펄스간 시간 간격으 로 측 정하면 주로 분자간 상태의 동역학, 확산 등을 측정할 수 있다. 이 를 위의 TG 와 같은 방법으로 다음과 같이 설명할 수 있다. 들뜸 펄스는 시료와의 (1)p, _ (1)p 두 번의 상호작용을 통해 TG 와 동일한 낮은 진동수 영역의 스팩트럼을 들뜨게 하여 공진성을 생성 한다. r 초 후 탐지 펄스 k,의 굴절을 측정하는 데 신호의 위상일치 방향은 k,,-k,,+k;, 즉 탐지 펄스와 같은 방향임에 유의한다. 실제 실 험에서는 OKE 3 차 비선형 분극 P(3)(T, t)와 탐지 펄스의 전기장을 다음과 같이 he t erod yn e 하여 측정한다. 먼저 두 개의 편광자를 완전 히 직교시키지 않고 탐지 펄스가 약간 통과하도록 조절한다. 통과한 탐지 펄스는 3 차 분극과 같은 방향이므로 탐지 펄스와 3 차 분극은 간섭한다. 측정하는 신호는 역시 시간에 따라 적분된 양이다. S(r)= L: IE;(t) +E <3>(r, t)l 2dt -oo = L_O:O IE;(t )l2 +1E<3>(r, t)l 2+2Re[E;(t ) • E<3>(r, t)] dt (12 .6)

여기서 E,{ t)는 탐지 펄스의 전기장 세기이며 E(3)(r, t)는 3 차 분극 에 의한 전기장 세기이다. 일반적으로 3 차 신호 E (3)( r, t)는 E.{ t)보 다 훨씬 작으므로 |E(3)(r, t) |2 는 무시할 수 있고 |E,{ t) l2 는 위상-잠 금 동의 방법으로 제거한다. 또한 거의 직교된 두 편광자의 각도를 90+ o 와 90_8 의 두 가지로 정하고 동일한 신호를 두 번 측정함으 로써 p (3)( l'.)의 실수 부분과 허수 부분을 모두 측정할 수 있다. 즉 TG 의 경우 3 차 분극의 세기( |P(3)(r)| 2) 를 측정하나 OKE 는 P( 3)( r) 를 직 접 측정 한다 (15]. ® CARS 와 CSRS 시간 영역 CARS 또는 CSRS 는 분자의 진동 위상공진성 이완을 측정하며 각각의 에너지 계단 그림은 각각 그림 12.6(b), 12 . 6(c) 와 같 다. k1-kl .+kJ 방향의 신호를 측정하게 되는데 k1, kl. 두 빛의 진동수 차이가 분자의 진동운동 진동수와 일치하며 k1, kJ의 진동수는 같다 ((J)1 =(J )3 ). 단 CARS 의 경우 (J) 1> (J) 2 이며 CSRS 에서는 (J) K (J) 2 인 빛 을 사용한다. r =O 에 k1, & 두 빛이 시료에 동시에 도착하여 분자 내 진동공진성을 형성한다. 이것도 순간 회절격자의 일종이다. r 초 동안 진동공진성은 위상공진성 이완을 하며 남아 있는 공진성은 & 파를 k1-ki .+kJ 방향으로 굴절시키는데, 그 세기는 시료에 남아 있 는 진동운동의 공진성에 비례한다. 따라서 이 경우 계의 분자 전동운 동 위상공진성 이완을 측정하며 신호의 푸리에 변환은 라만선 스펙 트럼과 같으나 높은 시간분해능을 사용한 시간 영역 방법은 초기 위 상공진성 이완 과정을 정확히 측정할 수 있는 장점이 있다. 서로 다른 파장의 25 펨토초 펄스를 이용하여 상온 액체상 벤젠 m 진동방식의 위상공진성 이완을 CARS 로 측정한 데이터가 그림 12.8 에 나와 있다 [16]. 분자 진동운동의 위상공진성 이완은 대개 지수함

右 어R吉 0O..11,T(..@.b,111 1 ||I1 .혼 헝 ;(; ;° .우 .\’. 1 •.〈·? c , . : 소 r 'f2.:' •1I .•....'• .: ‘: .1 .: . :' -,:2··: :· ' 군 ... • .·0-..• ·.나 . . ..• `• : •:)` ·\ •·; `.· ,、 . \II·'· , :-. :. -. :: . 김 . ;. . .': :,`. .,. , :.::: g ’ . .? •... ; .. :、. ... ;..군 ‘ .、 . ... 갑.: :. .顔` ... . · ,...합 . .. .\' .. .rl .. 「 . 근 ,..· ; ··· ~ ... .• . .、. .. ;i `: :\ .7 ' ·,-.---』 .. - ...

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.,. ...`.. `. . 150 c—lwk13 。F 。 } ,...... .. -500 0 500 1000 ...... r, 펩토초 50 .... .. ....... ... 。 。 5 10 15 r, 피코초

그립 12.8 벤젠의 시간분해 CARS 신호. (J)1 , (J)3 펄스 2.5펨토초 610m n, (J)2 펄 스 70 펨토초 650nm. 이 실험의 시간분해능은 (J) 1( (J) 3) 에 의해 견정된 다. Kubo 함수 (a) 또는 지수함수 (b, C) 로 맞춘 경우의 오차. 단 (c) 의 경우 r 가 600 펨토초 이상의 데이터만 사용한다 .

수로 가정하는데 빠른 시간분해능으로 측정한 결과 초기 위상공진성 이완 과정이 가우스함수와 같이 감소함이 관찰되었다. Kubo 함수로 [17] 데이터룰 분석한 결과 대략 500 펨토초 동안 가우스함수 성격이 지속됨을 알 수 있다. 이는 물리적으로 중요한 의미를 지니는데 분자 의 진동 위상공진성 이완을 관장하는 동역학이 일반적인 액체상 진 동 위상공진성 이완 시간(수피코초)보다는 빠 르 나 충분히 오랫동안 위상공진성 이완 과정은 확산하지 않고 관성운동을 하고 있음을 나 타낸다. 12.4 .3 공명 3 차 비선형 감응률을 이용한 분광 기술들 12 . 4.2 절에서 소개된 분광 기 술들 은 3 차 비선형이나 실제로는 원자 핵과 관련된 동역학 스펙트럼의 자유 유도 감쇠(fr ee ind uc tion decay) 측정과 동일하다. 따라서 원칙적으로는 진동수 스펙트럼으로부터 동 일한 정보 를 얻을 수 있다. 입사광의 진동수가 분자의 전자 전이 진 동수와 가까운 경우 한 번의 상호작용만으로 물질에 전자공진성을 생성할 수 있으며, 따라서 조절할 수 있는 시간 간격은 세 가지로 늘 어난댜 공명 3 차 분광법들은 진동수 영역 스펙트럼과 직접적인 관계 는 없으며 홉수 분자에 대한 다양한 정보를 제공한다. 여기에서는 자 주 사용되는 몇 가지 분광 기술들을 소개하고자 한다. ® 둘뜸/탐지 순간 홉수 분광법 이 방법은 시간 영역 분광법 중 가장 광범위하게 쓰이고 있는데 들뜸과 탐지 펄스의 파장을 같게 혹은 다르게 함으로써 다양한 동역 학 정보를 얻을 수 있다. 순간 흡수 분광법은 빛과 물질 사이에 세 번( 들 뜸 두 번, 탐지 한 번)의 상호작용으로 형성된 분극을 탐지 펄스 와 헤테로다인 (4.2.2 절 참조)하여 측정한다. 정확한 신호 크기의 계산

은 비선형함수론을 이용하여 계산할 수 있으며 다양한 정보 를 얻어 낼 수 있으나 [8, 18], 여가서는 근사적으로 기술한다. 먼저 강한 들뜸 펄스로 색소 분자를 들뜬 상태로 전이시키고 r 초 동안 전개한 뒤 약한 탐지 펄스를 쪼여주어 색소 분자의 홉수 변화를 추적한다. |g> 와 le 〉로 이루어진 간단한 두 계단 계에 대하여 순간 홉수 실험을 하는 경우를 생각해 보자. 그림 12.9 는 각 상태 입자수의 시간에 따 론 변화를 보여준다. 에너지 계단 그림도 참고로 그려져 있다. 탐지 펄스가 들뜸 펄스보다 먼저 시료에 도착한 경우 (r< 0), 들뜸 펄스의 영향은 없기 때문에 탐지 펄스는 N 개의 색소 분자에 의한 홉수로 그 세기가 줄어든다. r = O 일 때 들 뜸 펄스가 시료에 도착하여 전체 N 개의 색소 분자 중 Nc11l 를 들 뜬 상태로 전이시킨다. 이때 탐지 펄스

le>

I g> ..a..o..o..o... oooo O Q oooo r r lg> (b)

그림 12.9 (a} 시간에 따 른 바닥 상태와 둘 뜬 상태의 입자수 변화, (b) 에너지 계 단 그립. 비공명인 경우와 달리 - (J)p, (J)p의 간격이 영이 아닐 때도 신 호가 생성된다.

의 홉광도는 r

0.8

0.6 W3l1어ic k nio 4 2 三:三O nm `

6800 B850 0-.10 0 00 。 1000 2000 3000 4000 5000 r, 팸토초

그림 12.10 삽입 그림과 같은 두 가지 색소 분자(자주빛 박테리아 Rb. Sp ha roid e s 의 광합성 계의 LH2 안테나의 B800 과 B850) 에 대한 모델 순간 흡수 실험 신호. 둘 뜸과 탐지 펄스 의 파장은 각각 800 과 850nm 이다. B800 에서 B850 으 로의 에너지 전달 시간은 700 펨토초이며 B850 의 수명은 10PS 로 가정한다.

B850 은 모두 바닥 상태에 있으므로 순간 홉수 신호의 세기는 들뜬 펄스와 무관하다 U( r ) =O). r 가 증가함에 따라 B850 이 B800 으로부 터 에너지를 전달받아 들뜬 상태가 되므로 탐지 펄스의 세기가 탈색 과 자극 방출 효과에 의 해 증가한다. 따라서 I( r )의 초기 중가속도 로부터 B800---+B850 에너지 전달속도를 구할 수 있다. 들뜬 상태의 B850 은 다시 바닥 상태로 이완하므로 T 가 계속 커지면 ]( r) 는 다시 줄어든다. 죽 이 실험에서는 신호의 초기 증가 시간 상수로부터 에너 지 전달속도를 구하며 차후의 감소로부터 B850 들뜬 상태의 입자수 이완 시간을 구할 수 있다 . ®광에아리 웅축상 색소 분자의 전자 흡수선의 넓이는 보통 수백-수천 cm-1 에

달하며 이 경우 외관상 전자 전이의 위상공진성 이완 시간은 수펨토 초에서 수십 펨토초 사이에 불과하다. 이는 분자의 진동 상태 둥 다 중 전이에 의한 기여, 불균일 선폭 확대(i nhomo g eneous broadenin g , 무한히 느린 동역학) 및 균일 선폭 확대 (homo g eneous broadenin g, 무한 히 빠 른 동역학)로 나눌 수 있다. 한 상태의 전이에 의한 스펙트럼의 선폭과 모양은 계의 동역학과 직접적인 관계가 있으며 보통 균일 선 폭 확대와 불균일 선폭 확대 기여도 로 나 눈 다. 실제 계에서, 특히 액 체상에서의 동역학은 대단히 복잡하여 단순히 위의 두 가지로 나눌 수는 없으나 여기에서 는 광메아리 ( echo) 의 원리와 방법만을 간단히 설명하기 위하여 이 룰 사용한다. 광메아리 는 개념상 NMR 에서의 스 핀떠}]아리 (s pi n-echo) 와 같으며 [21), 따라서 전이선의 선폭 중 균일 선폭 확대의 기여도 를 구하는 방법으 로 많이 쓰여져 왔다. 광메아리도 3 차 비선형 분광학의 일종이며 시간 영역 분광학에서 는 두 개 또는 세 개의 펄스를 이용한다. 여기서는 보다 일반적인 3 펄스 자극 광메아리 (3- p ulse sti m ulate d ph oto n echo) 를 설명한다 . 실 험 장치는 위의 CARS, CSRS, 순간 회절격자 분광법 등과 유사하며 위상일치 방향의 신호 ― k1+k2+k3( 또 는 k1-k 2 +k3) 를 측정한다. 3 펄 스 자극 광메아리의 에너지 계단 그림과 펄스 순서는 그림 12.11 에 그려져 있다. 비공명인 경우 k1, k2 사이의 시간 r 가 영이 아니면 물 질에는 분극이 형성되지 않으며, 따라서 비선형 신호도 생성되지 않 는다. 공명인 경우는 r 가 영이 아닐 때에도 물질에 분극을 형성할 수 있다. 측정은 k2, k3 사이의 시간 T를 고정시키고 k1, k2 사이의 시간 T 의 함수로 신호의 세기를 측정한다 . l g〉와 le 〉로 이루어진 두 준위계에 대하여 각 시간 동안 물질계의 상태를 에너지 계단 그 림을 보며 생각해 보자. 초기의 밀도 연산자는 p(O) = l g〉〈더 이다. 첫번째 ―(J} 1 에 의한 상호작용은 bra 쪽에 작용하여 들뜬 상태 〈러로

P'`3 ` ,,'-. t•\`,`I ` `

,`` ,, ’’ ’ _들,' ’’ ' ,’ `` `` `` ` ` ` 人 간 t1 L t'3 t· - {J!’’’’’’’’’’’’’’’’’’’'’’’’J’’’’’ ’ 1 p9r 0 {/)2 PoTo , 、,'',,'',',',,T,',',',',',''', 3 Poo W5 llge>>

그립 12.11 3 펄스 유 도 광매아리의 펄스 순서 및 에너지 계단 그립. 신호의 위상 일치 방향은 -k1+k2+k3 이다.

전이시키므로 r 동안의 밀도 연산자는 p(t1) = lg>< 려 이며 P gc :\=O 이다. 죽 r 동안 물질은 전자 위상공진성 이완한다. 두번째 (J)2 펄스 는 ket 쪽에 작용하여 들뜬 상테 |e 〉로 전이시키므로 T 동안의 밀도 연산자는 p(tz) = le> <려 이며 p ce*O 이다. 이 시간 동안 물질은 입자 수 이완한다. 마지막 세번째 (l)3 펄스는 bra 쪽에 작용하여 바닥 상 태며〈더로 전이시키므로 F 동안의 밀도 연산자는 p(t 3)=le 〉〈꾀이 Pc g *O 이다. F 시간 동안 물질은 전자 위상공진성 이완을 하게

된다 이상의 전개 과정에서 중요한 점은 p eg = p .g c 로부터 r 와 t' 사이의 밀도 행렬 성분은 서로 복소수 쌍관계가 있다. 죽 r 동안의 분극의 위상과 t' 동안의 분극의 위상이 반대이며 따라서 r= t'일 때 분극의 위상이 t= O( 물질 에 처음 분극을 생성한 순간)에서와 같음을 의미한다. 홉수선의 불균일 선폭 확대 기여도가 큰 계의 경우 시료 안의 각 분자는 서로 다 른 전이 진동수를 가지게 되며, 따라서 각 분 자의 분극도 서로 다른 진동수로 진동하는데 r =t'일 때는 전이 진 동수에 관계없이 모든 분자의 분극 위상은 t= O 에서와 같다. 죽 서로 다른 진동수를 가진 분자 들 의 분 극 이 r = t ’ 에서 공진성을 가진 보강 간섭을 하는 매아리 현상이 일어나게 된다. 단 r +T+t ' 동안 전이 진동수가 바뀐(상이완된) 분자의 경우 보강간섭에 참여할 수 없으며, 따라서 메아리 신호는 한 분자의 위상 공진 성 이완속도 (homo g e­ neous dep h asin g ra t e) 에 따라 감소한다. 불균일 선폭이 균일 선폭보 다 훨씬 큰 이상적인 경우 광메아리 신호의 세기는 다음과 같다. I(r) :::::::: Iex p [-(r+ t' )/T서 ,2 :::::::: Iex p(― 2 처 T2)12 = exp (-4 r/T2) 02.7) 여기에서 乃는 균일 위상공진성 이완 시간 상수이며 E로부터 균일 선폭, 즉 동역학의 정보 를 구할 수 있다 . ® 공명 순간 회절격자법 펄스 순서 및 스캔 방법은 비공명인 경우와 동일하다. 그러나 이 경우 k1-k2+& 신호의 에너지 계단 그림은 두 종류가 가능하다. +(J)1, _ (J)2 두 번의 상호작용 후 물질에는 그림 12 .1 2(a) 와 같이 바닥 상태 에 공진성이 형성된 경우와 그림 12.12(b) 와 같이 들뜬 상태에 형성 된 두 종류가 가능하며(광메아리에서도 두 가지 모두 가능함), 따라서

(J), -(J)2 (JJ3 (JJS le> w, -{J)2 (1)3 (I). le>

r r lg> lg > (a) (b)

그립 12.12 k1-k2+k3 신호의 에너지 계단 그림. _ (J) 2 의 상호작용이 ket 또는 bra 쪽임에 따라 물질 계 는 두번째 상호작용 후 바닥전자 상태 또는 들 뜬 전자 상태에 있 을 수 있다.

신호에는 바닥 상태와 들 뜬 상태의 동역학이 모두 기여한다. 낮은 진 동수의 분자 진동운동이 있는 경우 바닥 상태의 진동운동과 들뜬 상 태 운동의 진동이 모두 신호에 나타나게 된다. 또한 실험에서 펄스의 길이는 영이 아니므로 r( 펄스 1 과 2 사이 시 간)가 영이 아닌 경우의 기여도 신호에 나타나는데 이것은 신호에 큰 영향을 끼치며 이 룰 이용하여 들뜬 상태의 용매화 과정 등의 동역학 에 관한 정 보 를 얻을 수 있다 [18]. 12.4 .4 5 차 이상의 높은 차수의 감응률을 이용한 비선형 분광학 이상의 방법들은 3 차 비선형 감옹률을 이용한 것이며 현재까지 사 용되어 온 거의 대부분의 방법들이 이에 속한다. 최근 들어 5 차 또는 7 차 둥 높은 차수의 비선형 감응률을 이용한 방법들이 사용되기 시 작하고 있는데 대표적인 것으로 5 차 광학적 Kerr 효과 (5 t h order opt ica l Kerr eff ec t )[2 2], 5 차 3 펄스 광메아리 (5 t h order thr ee pu lse pho to n echo)[23], 라만 메아리 (7 차 비선형 )[24] 둥이 있다. 그 외 많이

연구되 고 있는 분야로 광학적 공진성 조절 (o pti cal coherent contr o l) 이 있다 (25]. 이것은 특별히 고안된 펄스 순서(또는 전기장의 모양)롤 이용하여 계 를 원하는 시간에 원하는 양자 상태로 만들어 이룰 동역 학의 연구, 화학반응 둥에 이용하기 위함이다. 이에 대해서는 몇 가 지 결과가 발표되었으며 이론적으로는 많은 논의가 있으나 실험은 아직 초보적인 수준에 머무르고 있다. 12.5 결론 시간 영역 분광학은 특 히 펨토초의 시간분해능이 가능해져서 많이 사용되고 있는데 화학반옹의 과정, 분자의 진동운동 동을 실시간에 서 관찰할 수 있으며 많은 과정 들을 펨토초 시간 단위로 연구할 수 있다. 용액상 (광)화학반응의 연구도 가능하며 아직은 요원하나 반응 을 원하는 대로 조종할 수 있는 가능성을 열었다. 또한 시간 영역 분 광학을 의학에 응용(진단 및 치료)하려는 노력도 진행되고 있으며 [26], 앞으로 더욱 넓은 영역에서 (팸토초) 시간 영역 분광법들이 사용될 것이다. 참고문헌 [1] G. R. Flemi ng, Chemi ca l Ap plica ti on s of Ultra f a s t Spe c tr osc opy (Oxfo rd , London, 1980) [2] 펨토초 시간 영역 분광학의 최근 동향은 다음 책들을 참조하시오. Ultra fa s t Phenomena, Vol. IX (1994) and X (19 96), eds. G . A. Mourou, A. H. Zew ail, P. F. Barbara and W. H. Knox

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제 13 장 펨토초화학 김홍래 13.l 서론 화학반응 동역학은 반응좌표계 를 따라 변화하는 계의 위치 에너지 를 추적하여 계 를 구성하고 있는 각각의 입자들에 대한 운동 방정식 을 푸는 것으 로 이해 될 수 있다. 이때 각 입자들간의 상대적인 거리 의 함수로 표시되는 계의 위치 에너지를 위치에너지표면이라고 부른 다. 이 위치에너지표면에는 우 물 과 봉우리들이 존재하는데 특히 화 학결합이 끊어지거나 생성되는 경우 반응좌표계에서의 우물과 봉우 리가 중요한 의미 를 갖는다. 이차원 위치에너지표면의 전형적인 그 림은 그림 13 .1에 나타나 있다. 그림에 보여진 H+H2 의 반응에서 왼 편의 우 물 은 반옹물계의 위치 에너지 그리고 오른편의 우물은 생성 물계의 위치 에너지 를 나타낸다. 그림에서 계의 최대 위치 에너지 를 나타내는 봉우리는, 선형 충돌에 의해 진행되는 이 반응에서 반응중 간체 H-H-H 가 갖는 위치 에너지 를 나타낸다. 충 돌 에 의해 생성되 는 이러한 반응의 중간체 를 충 돌 복합체 (co lli s i on com p lex) 라고 부르 고 계의 이러한 상태 를 전이 상태(t rans iti on s t a t e) 라고 부 른 다. 충 돌

1.6

1.4 ql;:J 1.2 1.0 0.8 0.8 1.0 1.2 1.4 1.6 R12

그립 13.1 H+H2 계의 위치에너지표면.

복합체의 구조와 수명은 계의 종류와 충돌 변수에 따라 다르고 이것 이 반응 동역학을 결정짓게 한다. 주어진 위치에너지표면에서 고전 역학 또는 양자역학적인 운동 방정식을 풀면 각각의 입자들의 궤적 을 시 간의 함수로 얻을 수 있다(그림 13.2). 궤 적 계산의 결과로부터 반응속도, 에너지 분포들에 대한 자세한 정보를 얻게 된다. H+ 比 반옹의 궤적 계산 결과를 나타내는 그림에서 보면 충돌복합체가 수 십 펨토초 동안 존재하는 것을 알 수 있다. 일반적인 실험 방법으로

5

HA+HaHc 4 3 Y. l

KN2 百R 1 ' /\.,,./~\一/\ 。 2 3 4 5 시간, 10-14 sec

그림 13.2 H+HBHc 반응에서 시간의 함수로 도식한 핵간 거리(]. Chem . Phys . 43 (19 65) 3259).

는 이렇게 수명이 짧은 분자 를 감지할 수 없다. 따라서 종래에는 반 응생성물의 물리적 상태 를 측정하는 것으로 전이 상태를 예측하고 이로부터 동역학을 이해하려고 하였다 [l]. 그러나 최근 수펨토초의 펄스형 레이저가 개발됨에 따라 이러한 전이 상태를 직접 관찰하고 반응의 시간에 따른 진행 정도 를 관찰하는 실험적인 방법이 고안되 어, 몇몇 계에 대해 적용하려는 연구가 수행되고 있다 [2, 3]. 이 분야 룰 펨토초 전이 상태 분광학 (Fem t osecond • Transit ion Sta t e Sp e c- t rosco py :FTS) 이라고 부르는데 이 장에서는 이러한 펨토초 영역의 실험 방법 및 반옹 동역학의 결과 를 소개하고자 한다.

13.2 일반적인 연구 방법 위에서 언급한 위치에너지표면은 실제 분자의 경우 매우 복잡하 댜 그러나 FTS 에 대한 일반적인 방법을 설명하기 위해 반응좌표계 를 따라 단순화시킨 위치에너지곡선을 그림 13.3 에 나타냈다 . 상온에 서 분자는 Vo 로 표시되는 위치에너지표면에 주로 존재한 다. FTS 실 험은 이 분자에 펨토초 펄스를 조사하여 분자 를 V1 으로 표시되는 반 발 상태에 도달하게 한 후 분해하는 것에서 시작된다. 빛을 홉수한 분자는 핵간 거리가 멀 어짐에 따라 V1 으 로 표시되는 위치에너지곡선 울 따라 분해하여 생성물을 생성한다. 일반적으로 반발 상태에서 분 자가 분해하는 경우 수백 팸결 . 초 정도 걸리는 것으로 알려져 있다.

he —hAeZ LIF

he A1 반응쿨 ' 전이상태 생성쿨

그림 13.3 FTS 실험의 예. 단순화된 세 개의 위치에너지곡선이 나타나 있다.

가장 간단한 형태의 FTS 실험은 t =O 에서 분자 를 분해하는 빛을 조 사한 후 시간의 함수로 분해생성물을 감지하는 것이다. 분해생성물 을 감지하는 방법으로는 레이저 유도형광, 공명 확대 다광자 이온화 등의 방법을 사용하는데 이러한 레이저 분광학의 방법에 대해서는 이 책의 다른 장에서 자세히 다루었다 [4] . 또한 분자 를 기체 상태에 서 유리시키고 잘 정의된 양자 상태에 있도록 하기 위해 초음속 분 자선을 사용하 는 데 이러한 실험 방법에 대해서도 다른 장에서 다루 고 있다 [5] . 예 를 들 어 분해생성물을 감지하는 방법으로 공명 확대 다광자 이온화 를 이용하 는 경우, 분해생성물이 홉수하여 이온을 생 성할 수 있는 파장의 팸토초 펄스를 조사하여 생성되는 이온 신호를 시간의 함수로 측정한다. 이때 사용되는 파장의 빛을 모분자가 홉수 할 확률은 분해생성물에 비해 무시할 수 있을 정도로 작아야 하고, 따라서 핵간 거리가 충분히 멀어졌을 때 홉수가 시작된다. 이렇게 이 온 신호의 증가로부터 측정되는 지연 시간은 모분자가 분해하는 데 걸리는 시간을 직접 측정 한 값이 된다 . 지연 시간의 함수로 측정되는 분해생성물의 신호는 다음의 조건을 만족하면 정확히 m /2에서 계단식의 함수꼴을 나타내게 된다. (1) 분 자 를 분해하는 빛과 생성물을 감지하는 빛이 시간적 그리고 에너지 에서 정확히 델타함수꼴일 때, (2) V1 위치에너지표면에서 생성된 파 동뭉치 (wave p acke t)가 분산됨이 없이 움직일 때이다. 그러나 실제 의 경우 두 빛은 시간과 진동수 영역에서 불확정성의 원리에 기초한 다음의 관계를 만족하여야 한다. 6 V6t= Q. 44 (13 .1 ) 따라서 진동수 영역에서 들뜸 펄스는 유한한 폭을 갖는다. 이러한 펄 스에 의해 V1 표면에 도달되는 분자들은 한 개의 핵간 거리에서 V1 표면에 도달하는 것이 아니라 핵간 거리에 분포를 가져 분해생성물

에 도달하는 시간에도 분포 를 갖는다. 따라서 FTS 신호는 계단식함 수의 꼴을 갖는 것이 아니라 이 분포에 의해 날카로움이 없어진다 . 그러나 실제 잉여 에너지에 비해 이 선폭은 매우 작다 . 예를 들어 100f s 펄스에 대해 선폭은 150cm- 1 그리고 잉여 에너지는 약 6000 cm- 1 정도가 보통이므로 들 뜸 펄스 의 폭 에 의한 효과는 미미하다. FTS 신호의 모양에 더 영향을 주는 인자 는 들 뜸과 탐지 펄스의 시 간 폭이다 즉, 지연 시간의 함수로 얻어지 는 FTS 신호는 I1( t)와 I2( t)가 두 펄스 의 세기 분포 라 할 때 다음으 로 주어지는 두 펄스의 교차상관 계수 (cross-correla ti on fu n cti on ) 의 포개넣기 가 포합되어야 하기 때문이다. C( t) = J_0000 11 ( t-y) lz (y) dy (13 .2) 이제 FTS 신호의 모양을 결정 하 는 또 하나의 요소는 쩌 표면에서 형성되는 파동뭉치의 분산에 의 존한다. 들 뜸 펄스 에 의해 V1 표면으 로 들뜨는 분자는 분해하여 여러 회전 _ 진동 상태에 있는 분해생성물 을 형성하는 상태로 들뜨고, 각 생성물의 양자 상태에 따라 병진운동 의 에너지가 다 를 것이므로 모분자는 각각 다른 경로를 통하여 분해 된댜 이때 FTS 신호는 이 표면의 각 성분에 의존하고 이로부터 위 치에너지표면의 자세한 모양을 유추 할 수 있다. FTS 실험은 탐지하는 빛의 파장을 분해생성물이 홉수하지 않는 영역으로 하는 것으로도 수행될 수 있다. 그림 13.3 으로 다시 돌아가 보자. 바닥 상태에 있는 분자에 펨토초 펄스를 조사하여 V1 상태에 있도록 한 후 이 분자가 V1 표면에서 V2 표면에 도달할 수 있는 빛 을 조사학여, 지연 시간의 함수로 홉수 또는 형광 스펙트럼을 얻을 수 있다. 이 신호의 모양은 홉수와 분해생성물 간의 핵간 거리가 멀 어짐에 따라 소멸되는 모양을 보일 것이다. 이때 얻어지는 FTS 신

호는 V1, V2 표면의 모양, 전이 확률 및 분해생성물간의 상대속도에 의해 결정되므로 결국 전이 상태에 있는 분자의 스펙트럼을 얻는 것 과 같아 분해반응의 동역학적 정보 를 준다. 이제 탐지 파장을 일정하 게 유지하고 들 뜸 파장을 변화시키면서 FTS 신호 를 얻으면 V1 표면 에서 일어나는 동역학에 대한 정보 를 얻을 수 있다. 이 경우 Vl 표면 에서 에너지 를 변화시킬 수 있고 분해생성물의 상대속도 를 변화시킬 수 있다. 따라서 지연 시간의 함수로 얻어지는 FTS 신호에서 r112 이 들뜸 파장에 의존하게 되고 이로부터 V1 표면에서 분해하는 반응의 동역학에 대한 정보 를 얻 을 수 있다. 이제 FTS 신호에 대해 이 론 적인 해석을 가해보자 [6]. 고전역학적 으로 보면 분해반응 을 두 분해생성 물 의 위치에너지표면을 따르는 운 동으로 나타낼 수 있다 핵간 거리 R* 에서 탐지 펄스의 최대 홉수가 일어난다면 임의의 R 에서 탐지 펄스에 의한 홉수는 로렌츠함수 홉 수 모양을 가정 했을 때 다음과 같다. A(R)=--; 다[ ^ v(R??\ V(R> ] 2 (13 .3) 여기서 r 는 탐지 펄스의 폭, 6.V (R)=V2(R)— V1 (R), C 는 상수이 다. FTS 실험에서 얻어지는 신호는 시간의 함수로 얻어지는 A( t)에 직접 비 례하는 값으로 t*룰 R=R* 일 때의 t로 하면 다음과 같이 얻 어진다. A(t )r =+m~v(t) - 6 V( t) ]2 (13 .4 ) 그림 13.3 에서처 럼 V2 표면의 모양이 V1 표면의 모양보다 매우 평 평하다면 위의 식은 다음과 같게 된다.

A(t) = 군+[ Vl(t)C _-V\( t. )]2 (13 .5) 이제 V1(R) 의 모양 을 해석적인 식으로 사용하여 운동 방정식을 풀면 핵간 거리 를 시간의 함수 (R( t))로 얻을 수 있다 . V(R) 과 R( t)로부터 V( t) 를 구 할 수 있고, 따라서 FTS 신호의 모양 을 해석적으로 구할 수 있댜 예 를 들 어 그 림 13.3 과 같 이 위치에너지 곡 면이 반발 상태라 면 E 를 총 에너지 , L1 을 변수로 할 때 V1 은 다음과 같다. V 1 (R) = V ~exp ( -R/ L 1)= E exp [ -(R-R 。)/ L 1] <13 .6) 이 식을 이용하여 운 동 방정식 E= 김 - µv 紅 V 1 (R) 로부터 R 과 t 에 대한 식을 얻 을 수 있댜 R( t) = R 。一 L 1ln[ sech2 ( 星 )] (13 .7) ex p[-~。 ]= s ech2[ 顯 ] (13 .8) 따라서 V1 은 다음과 같다. V 1 (t) = Esech2[ 갭~] 03.9) 여기서 v 는 분해생성물의 최종속도를 나타낸다. 이 경우 FTS 신호 는 다음으로 주어지고 최대 홉수 Amax=C/ 군은 t= t에서 얻어진다. A( t)= 군+ w?(t, t*) ’ m: t, t*)= E [se ch 2( 검 )- se ch 2 (if; )] (13 .10 )

1.2

1.0 0.8 둔 0.6 0.4 0.2 0.0 。 100 200 300 400 지연 시간(t s)

그림 13.4 ICN 의 분해반옹을 예로 고전역학적으로 예 측된 FTS 신호의 모양. 왼 편으로부터 t= 1 00,150, 200, 250, 1000 f s 이다 .

따라서 규격화된 FTS 신호는 다음과 같이 된다. 무A m=ax - l+r 一 2 硏1( t, t.) (13 .11) 그림 13.4 에 여 러 가지 f에서 얻어지는 FTS 신호의 모양을 나타냈다•

예측한 대로 t*=CX)에서 시간이 지연된 분해생성물의 홉수와 t. *OO 에 서 홉수 후 소멸되는 FTS 신호의 모양이 보인다. 이 FTS 신호의 모 양은 위치에너지표면의 모양에 전적으로 의 존하 게 된다. FTS 실험에 대한 양자역 학적 인 계산은 Heller 둥에 의해 수행되 었 는 데 위치에너지표면 을 따 르는 파동뭉치의 움직임과 파동뭉치가 시간에 따라 분산 되 는 것 까지 를 명확히 보 여주고 있다. 이에 대한 자 세한 이론적 계산은 참고문현 [7] 을 참조하기 바란다. 실험적으로 얻어진 FTS 신호로부터 위에서 소개된 고전역학적인 이론을 적용하면 위치에너지 표면 V1 을 얻을 수 있댜 V I (t) = V I (「)〔::二 (13 .1 2 ) 따라서 시간의 함수로 얻어진 V1 I+CN 의 반응을 들어보자. 자외선의 빛을 홉수해 도달되는 A 상태에서 분해하는 ICN 의 동역학에 대한 연구는 생성물 CN 과 I 의 홉수 스펙트럼 및 질량 분석 스펙트럼의 측 정을 통해 이루어졌다 [8]. 분해생성물의 에너지 분포, 공간 각분포 및 배향으로부터 이 반응은 수평 전이에 의해 선형 구조를 갖는 상태로 홉수가 일어나며 짧은 핵간 거리 R, 죽 프랑크급콘돈 (Franck-Condon) 영역에서 굽은 구조를 갖는 상태로, 위치에너지곡선상에서 교차가 일어난 후 분해하는 것으로 확인되었다. 따라서 분해생성물 CN 은

회전 에너지를 많이 갖는 것으로 나타난다. 또한 공간 각분포의 비등 방성이 들뜬 상태에 있는 모분자의 회전속도에 따라 달라진다는 사 실을 이용하여 이 반응이 수백 팸토초 동안에 일어난다는 것을 예측 하였다 (9, 10]. 이러한 간접적인 연구 결과를 바탕으로 전이 상태에 있는 분자의 모양과 실제 분해반응의 동역학에 대한 연구를 FTS 방 법을 이용하여 수행하였다. 그림 13.5 에 ICN 분해반옹에 대한 위치에너지표면에 대한 그림을 나타냈댜 A 띠 흡수에 의한 분해반응에서 수평 전이에 의한 ICN-+ CN(X)+J *(2 Pv 2 ) 반응은 285nm 이하의 파장에서 주로 일어나므로 이 실험에서 들 뜸 펄스의 파장을 홉수 스펙트럼의 장파장부, 즉 307 nm 부근으로 하여 이 채널에 의한 효과를 최소로 하였다. 먼저 탐지 펄스의 파장을 생성물 CN 의 홉수에서 띠의 머리가 나타나는 부근으 로 하여 FTS 신호 를 지연 시간의 함수로 측정한 것이 그림 13.6 에 나와 있다. 그림에서 r 112=205 士 30 f s 임이 측정되어졌다. 즉 I 와 CN 간의 결합이 분해되는 데 걸리는 시간이 약 200 f s 임이 확인되었다 (11, 12]. 1 절에서 논의하였듯이 이 시간은 핵간 거리 Ro 의 초기 들뜬 상태에서 상대속도 v( t)로 움직이는 생성물이 움직인 거리와 관계가 있댜 따라서 앞 절에서 사용한 거리 변수 L1 을 이용하여 rl fl을 구 하면 다음과 같다. TI/2= (은 )In( 또) (13 .1 3 ) 운동 에너지로부터 계산된 상대속도를 0.026 A f s-1 로 하면 rIll 에 서 L1 이 0.8 A 으로 얻어진다. 분해 시간을 명확히 정의하는 것은 매 우 어렵다. 보통 분해생성물간의 핵간 거리가 멀어져 생성물둘간의 상호작용이 사라지는 시간을 분해 시간이라고 하는데, 상호작용운 측정할 때의 실험적인 방법에 따라 그 시간이 달라지기 때문이다. 분

?r V2(R) :’’’’’’’’ 三

\ \ \ \k ,,’’'’ \ 혼 \6 1 -V ,(R\\':' ) \ \ `` ` ` ``-—— ______ 1-1+ C N(B' A2 . A 중 'E음 흥 終 \r--- 1•+ c N(X2 1: + } 허':i< 2 I• Vo\(R ) ~ 1+ C N{X2 1: + ) 2.5 3.0 3.5 仁6.0 RL cN (A)

그림 13.5 ICN 의 위치에너지 곡 선의 모양과 FTS 실험의 예 .

1.5

。 。 01 °1 I ■ Y_c可一一 10o5 0 0 °。° 얗 0 `o안Ci . 杓 • ?o ; :乳·· c 긴어^ 틀 。 古

寄 R

l

K0 J.o ”이叫F 똥홍 안

i --0.5 -40 0 -200 。 200 400 600 800 1000 1200 지연시간(f s)

그립 13.6 ICN 의 분해반응에서 지연 시간의 함수로 측정된 광분해생성물 CN 의 FTS 신호. t = O 을 주는 보정 신호 (o) 에 대해 r 112=205 士 30 f s 의 지 연 시간이 측 정되었다.

해 시간을 생성물이 위치에너지표면을 따라 Ro 에서 R 만큼의 거리에 도달되는 시간과 최종속도에 도달하는 데 걸리는 시간의 차이로 정 의하면 R-+OO 에서 이 시간차로부터 rd=(L i/ v)ln4 를 얻을 수 있고, 이렇게 하면 ICN 의 경우 4 A 에서 결합이 분해한다는 것을 알 수 있다. 들뜸 에너지를 증가시켰을 때, 죽 들뜸 펄스의 파장을 28.5 run 로 하였을 때 측정된 m/2 은 160 土 30 fs로 상당히 짧아지는 것이 확인되 었다. 이것은 에너지의 증가로 인해 생성물의 상대속도가 증가해 분 해가 빨리 일어나는 것이며, 같은 L1 을 보인다는 것은 위치에너지표 면의 교차가 짧은 R, 죽 위에서 언급한 대로 프랑크-콘돈 영역에서 일어난다는 사실과도 잘 일치하고 있다. 이제 13 .1절에서 언급한 대

로 탐지 펄스의 파장을 생성물 CN 의 흡수 파장으로부터 장파장부로 이동시키면서 FTS 신호 를 지연 시간의 함수로 얻으면 전이 상태에 있는 분자의 동역학적 정보 를 얻을 수 있음을 그림 13.7 에 보여준다. 그림에서 보면 예 측 한 대로 신호의 세기가 증가 후 감소하는 모습을 볼 수 있고 r 1/2 이 작아지 는 것을 볼 수 있다. 이 결과는 고전역학적 인 모델로부터 예 측 된 FTS 신호의 세기 A( t)와 잘 일치하며 이로부 터 측정된 전이 상태의 수명 r*7} 50 fs임을 확인하였댜 얻어진 실 험 결과로부터 고전역학적인 모델을 이용하여 들뜬 상태의 위치에너 지표면이 자세히 계산되어져, 얻어진 V( t)와 V(R) 을 그림 13 . 8 에 나 타냈댜 13.4 Nal 분해반응 동역학 들뜬 상태 위치에너지표면이 상당히 큰 R 에서 교차가 일어나는 경우의 예를 들어보자. 이 경우는 MX(M=L i, Na, X=Br, I) 에서 나 타나는데, 바닥 상태 분자가 이온결합의 성질을 가져 공유결합의 성 질을 갖는 반발 들뜬 상태에서 분해하는 경우보다 해리 에너지가 높 기 때문에 나타난다. NaI 의 위치에너지표면에 대한 그림을 그림 13.9 에 나타냈다. 그림에서 보듯이 반발 상태에서 분해가 일어날 때 이 두 상태간에 상호작용이 작으면 분해반응은 들뜬 상태 위치에너지곡 면을 따라 일어나, 반발 상태에서 바로 분해가 일어나듯이 Na+I 가 생성되고 (d i aba ti c lim i t) 상호작용이 크면 위치에너지표면간의 교차 금지 (avo i ded cross i n g)에 의해 들뜬 상태에서 얕은 위치 에너지 우물 이 생성된다. 이룰 따르는 분해반옹은 상호작용의 정도에 따라 달라 지고 전이 상태가 상대적으로 긴 수명을 갖는다 [13] . t =O 에서 들뜸 펄스에 의해 생성된 파동뭉치는 V1 위치 에너지상

1.5

긴어一lcw可 100509 ./ 4.' .:. .... .. , 싸기 古'fo山lvE寄~ 느 ¢···4 I f ’ f 뻐

1.5 E .뻐~Fg43_}f마Eok5i.if3k5g어Ycl 100500 1`.A . l. f.. ,.. µ’.: ..’ l · ·사. J ,.\ ..\•. .閔.. . >.. . ’. . ` ..... . . . ` .` ,... • h

국 00 -200 0 200 400 600 800 귀 00 -200 0 200 400 600 800 지연 시간(f s) 지연 시간(f s)

그립 13.7 탐지 파장 (a) 388.9 nm, (b) 389.8 run, (c) 390.4 r un, (d) 391 .4 run 에서 측정 된 ICN 의 FTS 신호(J. Chem . Phys . 89 (19 88) 6135).

6000

5000 40030002000 0 (

-

Hp3E,K_ )휴_ 年

1000 5 4 3 2 0 50 100 150 200 250 R(A) Al 간{f s)

그림 13.8 ICN 분해반옹의 FTS 실 험으로부터 t와 R 의 합수로 얻어진 위치에너 지 곡선 (J Chem. Phys . 89 0988) 6138).

에서 움직이나 우물이 있는 경우 반사되어 되돌아온다. 이때 이 분자 가 홉수할 수 있는 빛, 죽 분해생성물이 홉수하는 빛의 공명 파장에 서 장파장 쪽으로 멀리 떨어져 있는 탐지광을 사용하면 생성된 파동 뭉치가 전후로 움직임에 따라 홉수가 일어나 지연 시간의 함수로 측 정된 FTS 신호는 진동한다. 생성된 위치 에너지 우물은 비조화적일 것이므로 파동뭉치에 확산 현상이 나타날 것이고 반사할 때마다 일 부가 생성물계로 새어나간다. 따라서 생성물의 홉수 스펙트럼, 이 경 우 Na D_ 선에 의한 홉수는 파동뭉치의 진동주기에 따라 진동하면서 중가할 것이 예상된다. 지연 시간의 함수로 Na D- 선의 홉수 파장을 포함한 여 러 탐지 파장에서 측정 된 FTS 신호가 그림 13 .1 0 에 나타나 있다. 그림에서 보면 FTS 신호가 분해생성물 Na 의 홉수 파장에서

4

2 \ Na•+1 f::oi: -2。 1\I \ I I /二(Covalen t) 一 느NNaa++ L1I • (/\8)1 。 ~,l 귀。 5 10 15 20 핵간거리 (A)

그립 13.9 Nal 의 위치에너지곡선. 바닥 이온결합 상태는 Na + +r 와, 바닥 공유결 합 상태는 Na l- 1 와 상관관계에 있다 .

4

3 c

}可Y_어R b師i 2 中~1守 1KJ0 @ -

띠司

5 (d) 。-\ 。 2 3 4 5 6 7 8 지연 시간{p s)

그립 13.1 0 탐지 파장 (a) 575 run, (b) 580 run, (c) 590 nm, (d) 615 run 에서 측정 된 Nal 분해반응의 FTS 신호(J. Ch em. Phy s. 91 (19 89) 7422).

멀 때 진동하는 것을 볼 수 있다. 들뜸 파장을 311run 로 했을 때 진 동주기 l. 2 p s 가 측정되었다 . 한편 생성된 위치 에너지 우물의 바닥에 가까울수록 조화적일 것이며 생성되는 파동뭉치의 확산되는 정도와 진동의 주기가 더 작아질 것이 예상된다 . 따라서 들뜸 펄스의 파장을 장파장으로 이동시키며 측정한 FTS 신호에서부터 이것을 감지할 수 있고 주기가 약 2.0 에서 0.9 p s 로 감소하는 것으로 측정되었다. 또한 진동하는 FTS 신호의 폭은 첫번째 봉우리가 약 300f s 그리고 두번 째 봉우리가 약 520 f s 로 확산되는 것을 알 수 있었다. 이러한 정보롤 종합하여 생성된 위치 에너지 우물에서의 진동수가 약 30 cm 가 비조 화 상수 X = 1.2 X lQ - 3 을 측정 하였다 [14]. 파동뭉치가 한 위치에너지표면에서 다른 위치에너지표면으로 전이 될 확 률 은 Landau-Zener 모델에 의하면 교차점에서 입자들의 상대 속도와 위치에너지표면의 곡률에 의존한다. PLZ= exp [ - h v4r : ]) 꿉 I VV00 \ II I ] (l3.l4) 들뜸 파장 311 nm 에서 FTS 신호로부터 측정된 PLZ 는 0.11 이고 교차 점에서 공유결합성 위치에너지표면의 곡률은 영에 가까우므로 쿨롬 위치에너지곡선에서 dV oo/ dr~5x10-5er g/c m 를 이용하면 혼합 행렬 요소 (cou pli n g matr i x element) Vo1=370 cm-1 을 얻을 수 있다. 전이 확률은 상대속도에 따라 커질 것이며, 따라서 들뜸 파장을 단파장부 로 이동시켰을 때 이 값이 커지는 것을 볼 수 있다.

13.5 H+C02 반응의 동역학 이분자 충돌 반응의 경우 FTS 실험은 앞 절에서 언급한 단분자 분해반응의 경우와는 달리 반응 개시 시간 t =O 를 정확히 정의하는 것이 매우 어렵다. 교차분자선 또는 낮은 압력의 기체 시료를 이용하 는 경우 두 입자의 충돌에 걸리는 시간은 대략 마이크로초에서 수백 나노초 정도가 소요된다. 충돌에 의해 반응이 진행되는 경우 반응생 성물의 공간 각분포로부터 이 반응이 직접 일어나는지 또는 충돌복 합체를 통해서 일어나는지를 유추할 수 있고, 공간 각분포의 비등방 성으로부터 충돌복합체의 수명을 예측할 수 있다. H+C02-0H+ CO 반응을 이러한 반응의 예로 들 수 있다 [15]. 이 반응의 반응좌표 계를 따르는 위치 에너지를 그림 13.11 에 나타냈다. 선형 충돌에 의 한 최소 에너지 반응경로에는 그림에서 보듯 약 105 k J /mol 의 초기 에너지 장벽이 존재하고 이를 극복하면 HOCO 의 안정한 충돌복합체 가 생성되어, 출구 쪽에 있는 낮은 에너지 장벽을 넘어 천천히 반응 이 진행된다. 운동 에너지를 충분히 갖는 H 원자는 이원자 HX( X=

H+OCO 충돌 에너지의 평균 에너지

HO+CO HOCO (시스/트랜스)

그림 13.11 H+C{} z 반응계의 위치 에너지.

I, Br) 의 자외선에 의한 광분해에 의해 생성되며, 생성된 H 원자는 HI 를 239nm 에서 분해시켰을 때 운동속도 약 20 km /s 및 c~ 와 선 형 충돌을 가정했을 때 충돌 에너지 약 200k J /mol 을 가져 초기 에너 지 장벽의 높이 를 능가한다 . 이렇게 반웅 개시 시간 t =O 를 정의하기 어려운 반응에 대해 이 어려움을 극복할 수 있는 실험 방법이 시도되었다. 이 방법은 반응물 분자들의 혼합물 을 높은 압력에서 초음속 제트로 팽창시킬 때 반데 르발스 힘에 의해 약하게 결합된 분자복합체가 생성될 수 있다는 사 실을 이 용한 것 이 다 [16]. 즉 반응물 C 아와 HI 를 높은 압력 의 He 기 체에 혼합하여 작 은 구멍을 통하여 진공으로 팽창시켜 IH·- O CO 분 자복합체 를 생성시킨다. 이 분자복합체의 구조는 분자빔 전기 공명 (molecular beam elect ri c resonance) 방법 에 의 해 정 확히 알려 져 있 댜 이제 239nm 의 들 뜸 펄스를 이 복합체에 조사하면 위에서 언급한 운동 에너지 를 갖 는 H 원자가 생성된다. 생성된 H 원자는 복합체의 구조에 따라 CO2 의 한쪽 0 원자와 충돌하여 OH 와 CO 를 생성시킨 다 . 들뜸 펄스로 피코초의 펄스를 사용하면 생성된 H 원자의 운동속 도가 약 200 A/ p s 이므로 들뜸 펄스 내에서 충돌반옹, 즉 초기 에너 지 장벽을 넘어 안정한 충돌복합체에 도달한다. 이제 지연 시간의 함 수로 생성물 OH 를 감지할 수 있는 탐지광을 조사하여 생성물을 감 지하면 t =O 가 잘 정의된 상태에서 충돌복합체 HOCO 의 수명을 실 시간에서 측정할 수 있다. 탐지광의 파장을 OH 의 A-X 전이에서 한 회전 가지의 홉수에 맞춰 레이저 유도형광을 지연 시간의 함수로 측 정한 결과를 그림 13 .1 2 에 나타냈다. 이 그립과 시간상관함수(ti me correlati on fu n cti on) 를 고려하여 r =5 土 2 p s 가 측정되었다 [17, 18]. 이 실험은 Wi ttig 둥에 의해 재현되어져 그 값이 r ~1 p s 로 측정되 었는데 실시간 대에서 충돌복합체의 수명이 측정되었으므로 이로부 터 반응생성물의 공간 각분포, 에너지 분포 둥을 예측할 수 있었다.

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그림 13.12 지연 시간의 함수로 측 정된 H+co2 반응의 생성 물 OH 의 레이저 유 도형 광 신호(J. Chem、 Phy s. 87 0987) 1452).

13.6 여러 가지 다른 반응들의 동역학 이 절에서는 FTS 방법을 이용하여 수행된 여러 가지 다른 반응들 의 동역학에 대해 소개하고자 한다. 13.6.1 Cl02 의 분해반응 OCIO 의 바닥전자 상태에서 허락된 전자 쌍극자 전이는 들뜬 상태 2 소 상태로의 전이이다. 초음속 분자선을 이용하여 분자의 내부 에

너지 를 최소로 한 상태, 즉 바닥 상태 (O O O) 에서 OCIO 의 흡수 스팩 트럼은 자외선 영역 (300-350nm) 에서 잘 분해된 대칭 신축 진동 구조 를 보인다 . 그러나 들 뜬 상태에 있는 분자는 비대칭 신축 진동의 좌 표 를 따라 OCl+O 의 분해반응이 일어난다. 312-352nm 까지 파장을 변화시켜 가면서 펨토초 둘 뜸 펄스 를 분자에 조사시켜 대칭 신 축 진 동의 v = ll - 17 까지 를 들 뜨게 한 후, 620nm 의 탐지 펄스 를 주어 네 개의 광자 를 분자에 흡 수시키면 공명 다광자 이온화가 일어나 생성 된 이온 을 비행 시 간 측 정 질량 분석을 통하여 분석할 수 있다. 생성 되 는 각각의 이온 을 지연 시간의 함수로 측정하여 이들의 분해에 대 한 동 역 학적 정 보 를 얻었다 [19]. oc10+ -2 } OCI + 의 신호 를 지연 시간 의 함수 로 얻은 결 과 를 그림 13 .1 3 에 나타냈다. 각 신호들이 시간의

1.0

·n·e)~ iv 。 5 ~lo 0.0 -500 。 500 1000 지연시간 (Is)

그립 13.13 Cl(h 분해반옹의 지연 시간의 함수로 측 정된 oc101· 이온과 CIO+ 이 온의 FTS 신호(]. Chem. Phys . 9 9 <19 93) 4433).

함수로 감소하는 모양을 보면 빠른 감소( r 1) 와 완만히 감소( r2) 하는 모양을 보인댜 v=ll-17 까지에서 r 1=30 土 120 f s 와 r 2 =300 土 500 f s 가 측정되었으나 OCI + 의 생성이 약 40f s 정도 지연되는 것이 보인 댜 이로부터 다음의 반응 메커니즘이 제안되었다 . (OCl0)*(2A2) 一 0Cl +0 --> (OCIO/ c2B 1) --> OCI +O --> Cl+02 대칭 신축 진동은 속박 상태 를 나타내지만 비대칭 신 축 진동으로의 전이가 일어나 OCI+O 의 반웅이 진행되고 이때 결 합이 해리하는 데 걸리는 시간은 약 40 f s 이다 . 얻어진 신호, 즉 신호의 빠른 감소와 느 린 감소는 처음 들뜬 상태의 에너지 재 분 배(빠 른 감 소) , 즉 진동 들뜬 바닥 상태 (2BI) 로의 전이 그리고 그 후 일어나 는 분해반응(느린 감소) 으로 해석되었댜 한편 CIO + 는 620nm 광자 를 한 개 더 홉수하여 분 해하고 분해반응의 동역학은 OCIO 의 분 해반응의 동역학과 유사하다. 또한 OCIO 의 분해에서 CIO 가 생성되는 데는 약 200f s 정도의 시간 이 소요된다 . 13.6.2 CzF4l2 一 C2F4+2I 반응의 동역학 여러 종류의 할로겐 원자가 결합되어 있는 알칸의 경우 자외선 영 역의 홉수 스펙트럼은 각각의 C-X(X=Cl, B r, I ) 에서 X 의 n-a• 전 이에 의한 홉수띠들이 겹쳐져 있는 것으로 나타난다. 따라서 흡수 파 장을 조절하면 특정한 결합을 해리시킬 수 있는 것으로 알려져 있다. CzFzl2 는 두 개의 요오드 원자가 대칭으로 결합되어 있기 때문에 이 두 원자의 해리를 구별할 수 없다. 자외선의 빛을 흡수한 이 분자는

:.?~._ •. ,.4. .:. ·. ·· `.::. .수 ···:•! . :

써,,.’ .· r . z

J

d0 O미一JI5차 )[ ’ r=32 士 10 p s 。 20 40 60 80 100 Al 간(p s)

그립 13.14 CzF4lz 의 분해반응 에서 지연 시간의 함수로 측 정된 생성 물 I 와 I· 의 FTS 신호(J Chem . Phy s. 92 (19 90> 232).

해리가 일어나 스핀-궤도 상호작용에 따라 l( 2 p2/3)와 1(2Pm) 두 종 류의 요오드 원자 를 생성시킨다. 이 분자에 t =O 에서 펨토초 펄스를 홉수시킨 후 (2+1 ) 공명 확대 다광자 홉수 이온화 방법을 이용하여, 지연 시간의 함수로 요오드 원자의 이온 신호를 감지하여 이 분자의 분해반응에 대한 자세한 동역학적 연구가 수행되었다 [20] . 측정된 I 와 I* 의 이온 신호 를 그림 13 .1 4 에 나타냈다. 그림에서 I* 는 1 p s 보다 빨리 생성되는 것이 보여 이 반응이 반발 상태에서 일어남을 알 수 있다. 그러나 I 신호의 경우 30p s 이내의 빠른 중가 를 보인 후 150p s 정도의 느린 증가를 수반하는 것으로 관측되었다. 또한 이러한 증가 속도는 들뜸 펄스의 파장이 길어지면, 죽 에너지가 낮아지면 느려지

는 것이 관측되었다. 이로부터 이 분자의 분해반응에 대해 다음과 같 은 동역학적인 결론이 유도되었다. 이 분자에서 첫번째 요오드 원자 가 해리하는 반응은 반발 상태에서 일어나고 많은 내부 에너지를 갖 는 C 戒 4I 라디칼이 생성된다. 이 라디칼의 내부 에너지는 들뜸 펄스 의 에너지에 비례한다. 이 라디칼에서 I 원자가 분해하는 속도는 라 디칼이 갖고 있는 내부 에너지에 의존한다 . 라디칼이 갖고 있는 내부 에너지는 모분자에서 첫번째 요오드 원자가 분해하는 반응을 반발 상태에서 분해한다고 가정하고 충동(i m p uls i ve) 모델을 이용하여 구 할 수 있다 (2 1]. 두번째 요오드 원자가 분해하는 반응의 속도를 RRKM 이론으로부터 구하여, 관측된 분해속도 를 성공적으로 예측하 였댜 13.6.3 (C HJ)z CO 一 2CH3+CO 반응의 동역학 분자 내의 동일한 두 결합의 해리에 대한 동역학 연구가 위에서 언급한 CzF4lz 외에 아세톤의 분해반웅에 대해 수행되었다 [22). 아세 톤에 C=O 를 중심으로 한 두 c-c 결합이 모두 해리될 수 있는 충 분한 에너지가 공급되었을 때 이 두 결합이 동시에 해리되는가 또는 단계적으로 해리가 일어나는가에 대한 많은 논란이 있었다. 이제 2.80 nm 와 308nm 의 파장을 갖는 펨토초 들뜸 펄스를 이 분자에 조사하 면 두 개의 광자를 홉수하여 이 분자가 분해된다. t =O 에서 들뜸 펄 스를 조사한 후 지연 시간의 함수로 다광자 이온화 방법을 이용하여 비행 시간 질량 분석에 괴한 (CH3)2C0+ 이온과 메틸기가 해리된 CHaCO+ 이 온의 신호를 측정 하였다(그림 13.1 5 ). 그림 에 서 보면 두 이온 신호의 모양이 크게 다른 것을 볼 수 있다. 따라서 아세톤에서 두 개의 메틸기가 분해하는 반응이 단계적으로 일어난다는 것을 알 수 있다. 아세톤에서 한 개의 메틸기가 분해하는 데 약 50 f s 의 시간

OIIc

\ cH 3 r 2= 500 士 100Is ··: : ... OIIc \ c D3 •2 = 750 士 100 Is .'. ....... s .. .. -·. 으 0 500 1000 1500 2000 2500 3000 지연 시간 (Is)

그림 13.15 아세 톤 의 분 해반응에서 지연 시간의 함수로 측 정된 (CH3)2CO 의 FTS 신호. 아래 그 림 은 같은 실험에서 동위원소 효과 룰 나타내고 있다(J Chem. Phys . 103 <19 95) 479).

이 소요되며 중간체 CH3C0 에서 또 하나의 매틸기가 분해하는 데 약 500 f s 의 시간이 소요되는 것을 알 수 있다. 이로부터 아세톤에서 첫 번째 매틸기가 분해하는 것은 n 一 6* 전이에 의한 반발 상태에서 일 어남을 알 수 있으며 분해 시간으로 보아 주어진 에너지가 분자 내 에서 재분배가 일어나기 전에 분해가 일어날 것으로 생각되어진다. 따라서 CH3CO 라디칼이 갖고 있는 내부 에너지 를 충동 모델을 이용 하여 예측할 수 있고 내부 에너지 를 갖고 있는 분자의 분해반응의 속도를 통계적인 이론을 적용하여 예측하였다. RRKM 이론을 이용 하여 계산된 반응속도는 실험치와 잘 일치하고 또한 반응속도의 에 너지 의존과 동위원소 효과 를 잘 설명하고 있다. 13.7 결론 이제까지 펨토초 펄스를 이용하여 화학반응의 동역학에 대한 연구 룰 실시간에서 측정하여 수행한 몇 가지 예를 소개하였다. 분해생성 물의 물리적인 성질을 측정하고 동역학 이론을 적용하여 반응경로를 규명하는 종래의 방법에 비해, 이 방법은 경로와 속도를 직접 관측할 수 있다는 점이 인상적이다. 이제까지 수행된 연구의 대부분이 광분 해, 즉 단분자 분해반응에 주로 제한되어 있지만 이 반응을 충돌반응 에 적용할 수 있는 일반적인 방법을 개발하는 연구가 진행중이다. 그 하나가 약한 힘으로 결합된 분자복합체를 이용하는 방법이다. 화학 동역학의 문제에서 짧은 시간의 영역에서 일어나는 현상에 대해 실 시간에서 관측이 가능하다는 것을 이 방법이 보여주고 있어 앞으로 이 분야에 무한한 응용이 기대된다.

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제 14 장 광음향 분광학과 그 응용 최중길 14.l 서론 넓은 의미에서 분 광학은 물 질과 에너지의 상호작용을 연구하는 학 문이다 . 광 분 광학 (opti cal s p e ct rosco py)에서 사용되는 에너지는 X 선 에 서 마이 크로파 영 역 을 갖는 광자 (o pti cal ph ot on ) 또는 양자(q uan t a) 의 형태로 존 재한다. 다양한 영역에서 응용될 수 있고 비파괴적이기 때문에 광분광학은 물 질의 특성을 연구하는 가장 중요한 도구의 하 나로 지난 1 세기 이상 널리 사용되어 왔다. 투과 또는 홉수 분광법은 매우 약한 홉 수 특 성을 나타내는 경우나 분말, 무정형의 고체 및 불 규칙한 표면을 가진 시 료 의 특 성 연구에 적용하기에는 많은 제한성 을 가지 고 있댜 이 에 비 하여 광음향 분광법 (op toa cousti c 또는 ph oto a cousti c sp e c tro scop y : PAS) 은 물질이 빛에너지 를 홉수함으로 써 음향파가 발생하는 일련의 과정인 광음향 효과 [1-4] 를 이용한 분 광범이다. 광음향 분광법은 일반적인 분광법과는 달리 조사된 에너 지가 광자의 형태에 있지 않더라도 물질의 상호작용에 의하여 물 질 에 홉 수되는 에너지 를 직접 측 정함으로써 광홉수성이 적은 물 질에

적용될 수 있는 높은 검출 감도 를 갖는다. 또한 시료의 전처리 과정 도 필요하지 않고, 비 파괴 평 가 방법 (nondestr u c tive evalua ti on) 으로 써 커다란 장점을 지니고 있어 기체는 물론 액체 및 고체에 이르기 까지 거의 모든 시료에 대한 응용이 날로 높아가고 있다. 원리 및 실 험 방법이 비교적 간단하면서도 대단히 높은 감도와 다양한 응용성 을 가진 광음향 분광학에 대하여 몇 가지 대표적인 사례 를 들어 소 개하고자 한다. 14.2 광음향 효과의 원리와 실험 방법 광음향 효과는 1880 년에 Bell 이 최초로 발견 했으며 [5], 곧이어 1881 년에 T yn all 과 Ron tg en 에 의해 다시 확인되었다. Bell 의 실험을 간단 히 요약하여 그림 14 .1에 도시하였고 이 현상을 이용한 광음향 분광 학의 중요한 실험 장치들을 그림 14.2 에 나타냈다. 광음향 효과는 홉

기체가채워진시료관

단속 71

그립 14.1 Bell 의 실험 그립. 기체 를 이용한 최초의 광음향 실험은 1881 년 Phil o sop hi c a l Mag a z in 러 발표된 것 이 다.

L_ 譯가변레이저 尸 __ 단®속기 시료셀

마아크로폰 변조된신호 기록기 위상감지 신호층폭 71

그림 14.2 기체 시료에 대하여 광음향 분광학을 사용한 실험 장치의 개략도.

수 매질에 일정한 주기로 변조된 빛이 입사되면 입사된 빛과 같은 주파수의 음향 신호가 시료에서 발생되는 현상인데, 기체 상태 시료 의 연구에는 주로 분자의 진동방식을 들뜨게 할 수 있는 적외선 영 역의 레이저 광원에 의해 이 루 어졌다. 레이저 빛이 시료에 입사되면 기체는 들 뜬 상태로 되고 기체 분자들의 충돌에 의해 열이 발생된다. 이와 같은 열변화는 닫혀진 용기 안에서 압력 변화를 유발하며 결국 음향파의 형태로 나타나는데 이러한 음향 신호는 주로 마이크로폰에 의하여 검출된다. 마이크로폰이 기체상의 광음향 분광학에 주로 사용되는 반면 액체 나 기 체 에 는 압전 검 출기 (piez oelect ric tra nsducer : PZT) 가 사용되 고 있다 . 이러한 검출기로 감지된 전기적 신호는 위상 감지 신호증폭기 (loc kin amp lifier , 광원이 연속 출 력인 경우)나 박스카 신호평균기 (boxcar int e g ra to r , 광원이 펄스인 경우)에 의해서 최종적으로 검출된 다 광음향 효과는 대체로 적외선에 의해서 실험적으로 사용되지만 마이크로파에서부터 자외선 영역에 걸쳐 광범위하게 관찰된다. 또한 기체 상태뿐만 아니라 액체와 고체 상태의 시료, 죽 빛에너지가 홉수 되어 열에너지로 바뀔 수 있는 모든 계에서 나타날 수 있다. 이와 같 이 광범위한 분야에 응용될 수 있는 광음향 효과는 Bell 의 발견 이후 100 여 년간 거의 잊혀져 왔으나 고출력 레이저의 개발 이후 이 기술의

고감도가 재인식됨에 따라 다양한 분야에서 많은 연구가 진행되고 있 댜 광음향 효과의 이론에 대해서는 참고문헌 [2] 를 참조하기 바란다 14.3 광음향 효과의 응용 광음향 분광법은 다른 분광범에 비해 감도가 뛰어나 기체의 이완 시 간 (relaxa ti on ti me) 을 측정 하는 데 많이 사용되 었지 만 높은 출력 의 레이저 를 도입함으로써 더욱 향상된 감도와 선택성을 이용한 분석적 인 검출 기술이 중요한 응용 분야가 되었다. 또한 보통의 분광학적 기술로는 얻기 어려운 분말, 무정형의 고체 및 불 규칙한 표면들의 홉 수 스팩트럼을 얻을 수 있다는 장점으로 인해 현재 고체 물리나 표 면 화학 부분에서도 많은 관심이 집중되고 있다. 광음향적 검출은 비방사 과정의 직접적인 관찰 수단으로 사용되며 홉수나 형광 분광학적 방법으로도 사용되는 독특합과 일반성을 함께 지 녔고, 그것의 놀랄만한 감도는 전이 금지 상태(fo rb i dden op tica l t rans iti on) 나 혼합물 속 극미 량 성 분들의 연구에 활용할 수 있는 잠 재력을 지니고 있다. 특히 광음향학적 기술의 높은 감도 를 이용하여 일반적인 분광학적 기기로는 검출하기 힘든 무기 및 유기 반응에서 의 중간 또는 최종 생성물들의 검출에도 이용되기 때문에 이러한 반 옹에서의 반응속도 연구에도 응용되고 있다. 그러면 이 방법을 이용 한 몇 가지 대표적인 응용을 간략히 소개하고자 한다. 14.3.l 극미량 검출 광음향 분광법은 표 14 .1에서 보는 바와 같이 공기 중 공해물질의 검 출 한계가 ppb (l0-9 ) 미만까지 내려가는 극미량 검출(t race dete c tion )

표 14.1 기체 오염원에 대한 광음향 신호의 감도

기체 갑도( pp b) 레이저 파장 (µm)

암모니아 0.4 co 6.14 93 배` 재도 3 CO2 9.6 39 2 1,3 - 부 타디엔 1 co 6.2 15 3 1,3 - 부 타디엔 2 CO2 10.6994 l 一 부덴 2 co 6.06 8 5 1 - 부텐 2 CQ 10.7 87 4 에 틸렌 0.2 CO2 10.5 32 1 매 탄올 0.3 CO2 9.67 6 0 일산화 질소 0.4 co 5.2148 이 산화질소 0.1 co 6.2293 프로필렌 3 co 6.0685 트리클로로 에 틸 렌 0.7 CO2 10.6321 닫口 14 co 5.94 1 7

에 사용되고 있다 [8 _ ll] . 광음향 분광법은 기체 크로마토그래피와 더 불 어 사용될 때 물질 에 따라 10-1 5 몰 범위에 상당하는 양의 검출도 가능함이 실험적으로 밝혀짐으로써 [12] 극미량 분석에의 응용 가능 성이 입증되었다. 일반적으로 기체 크로마토그래피-광음향 (GC-OA) 검출기의 감지능은 기체 크로마토그래피-질량 분석기 (GC 一 MS) 장치 보다 떨 어지나 값이 싸고 사용하기 쉬우며 질량 분석기로는 구별하 기 힘든 이성질체 들 의 선택적 검출에도 이용될 수 있다는 __ 이성질 체 들 마다 홉 수 스펙트럼이 조금씩 툴리므로 레이저의 파장을 바꿈으 로써 —— 중요한 장점 을 지 니 고 있다. Kreuzer 는 기 체 크로마토그래 피에 레이저 를 사용한 광음향 검출기 를 도입하여 보통 사용되는 기 체 크로마토그래피-적의선 홉광법 (GC-IR) 보다 감도가 수천 배 이상

표 14.2 광음향 분광법의 검출 한계

화합물 검출 한계 감도 a 레이저 파장 및 출력

1-chloronaph th a lene 110 pm ol08 ng ) 1.6 pm oVs 10RU2), 8W 3-chlorobip h eny l 170 pm oH31 ng ) 2.4 pm oVs 9R(28), 4W 2,5,2 一t r i chlorob ip hen y l 170 pm ol( 45 ng ) 2.4 pm oVs 9P(28), 4W eth y le ne oxid e 1050 pm ol( 46 ng ) 26p m oVs 10P(40) , 1.5W vin y l chlorid e 200 fm ol(l 3 p g) 3.4 fm oVs 10P(22), lOW sulfu r ~hexa flu orid e 18 fm oH2.7 pg) 0.5 f m oVs 10P(20) , 3W

a 위상 감지 신호중폭기의 시간 상수 를 1 초 로 하였으며, 신호/잡음 비가 2 인 경우의 최소 감지량을 검출 한계로 하였다 래이저의 파장은 C02 래이저의 9.6 µm 진동 전이 릅. 9 로, 10.6µm 진동 전이 를 10 으 로 표시하고 회전 전이 가지 를 R 과 P 로 , 회전 상태릅 괄호 에 표시하였으며, 출력은 W 로 표시하였다.

증가된 새로운 기체 크로마토그래피一적외선 홉광법 시스템 (LOS-GC) 을 개발하였다 [13] (그립 14.3 ) 또한 기체 크로마토그래피에 레이저 광 음향 검출기를 사용하여 환경 오염물질 등의 극 미량 검출에 대한 실 험 결과를 표 14.2 에 요약하였다 [l2]. 14.3.2 화학반응 연구 ® 유기, 무기, 생화학반응 최근 Anderson 동이 [14] 그림 14 .4의 실험 장치 를 사용하여 다음과 같은 금속 배위화합물과 일반 분광기기로는 검출하기 힘든 생화학반 옹(그립 14.5(a)) 의 반응생성물을 광음향 분광법을 사용하여 검출하여 (그립 14.5(b)) 반응 과정 연구에 응용하였다.

(a)

(

u

J

可詞R-어lG) L

25 30 35 40 시간(초)

(b)

1

uJ뜨Iu三1110 0

(0

og詞)前어lR可 1021二 35 40 45 a 1 。 시간(초)

그림 14.3 에탄을에 포함된 이소프로필 알코윤의 크로마토그래피 측 정 진과로서 (a) 는 불 꽃 이온화 감지기 (FlD) 로 측 정한 결과이고, (b) 는 레이저 강옵 향 감지기로 얻은 이차원 광음향 크로마토그래피이다.

CN:

NCXSSNC \cN cN C ph Ph2P(CdiHp 2h CosH)2 PPh2 一 Ph ?/\'p _/hP [>N CN G6P NAD+ +G 6P 3> NADH + 6- p h osph og lu cono- 8 -la ct at e dehy d rog e nase

거움

엑시머 레이저 색소레이저 오실쿠^구 II 셀

71 록 계 박스카신호평균기

그림 14.4 펄스 폭 15 ns 인 XeCl 엑시머 레이저 (308 nm) 를 사용한 실험 기구 도식 도이다. 펄스에 의한 신호가 오실쿠人구立에 나와 있다〈 x 축은 단위당 2µs).

(a)

0.012 버

。 5 4 3 2

(b)

버젊 l4 l2 5 3 시간(분)

그립 14.5 (a) 1 cm 석영 셀을 가진 분광계 를 이용해 (b) 와 동일한 조건에서 얻은 신호이다. Cb) Ph: iPC H2CH2PPh2 농도는 5.0xl0 - 6M 이고 금속 착물 의 농도는 2.Sx10·7M 인 아세토니트릴에서 385nm 파장으로 반웅 1 에 대한 광음향 측 정을 도시한 것이다. 레이저 는 8Hz 로 작동하였고 적분 기는 8 s 동안 64 펄스 를 적분한 후 적분 초기값 (rese t)이 되게 하였다.

® 연쇄반응속도 연구 광에너지가 증가하여 분자의 결합 에너지에 접근하면 광음향 효과 의 발생은 단순한 진동이완 과정뿐만 아니라 화학반응 과정, 즉 라디 칼이 생기는 분해, 연쇄반웅 또는 중합반응 등의 과정에 의해서도 나 타난다. 자의선에 의해서 염소 분자가 염소 원자로 광분해된 상태에 서 수소 를 첨가하면 연쇄반응에 의한 열방출이 일어난다[1 5]. 이 경 우 많은 수의 연쇄 전개반응이 생겨 화학반응에서 방 출된 에너지에 의한 광음향 신호는 처음에 홉수된 광에너지에 의한 것보다 훨씬 증 가한다. 이러한 일련의 과정을 광음향 효과의 화학 증폭 (chem i cal am p l ifi ca ti on) 이라 하며, 광음향 효과의 크기는 연쇄 전개 과정의 수 에 비례한다. 광화학 연쇄반응의 연구에서 하나의 중요한 척도인 연 쇄반응의 길이 측정은 Cl2 광분해반응에 의한 광음향 신호 (H2 첨가 전)와 증폭된 후 (H2 첨가 후)의 신호 를 비교합으로써 실험적으로 쉽게 결정할 수 있다[1 6]. 위에서 예로 든 연쇄반응은 수소뿐만 아니라 H 원자 를 가지고 있 는 일반적인 탄화수소에서도 화학 증폭의 원리가 적용되며 이러한 계의 연쇄반응속도 연구에도 응용될 수 있을 것이다. 아울러 이 원리 를 극미량 검출에 적용할 수 있으며 [17] 이는 이론적으로 광음향 신 호가 증폭된 만큼 검출 감도를 높일 수 있는 데 근거를 두고 있다. 한편 위의 반응이 일어나고 있는 계에 라디칼의 농도를 감소시키는 물질(이 경우 NO) 이 존재한다면 다음의 소광(q uench i n g)반응이 일어 난다. Cl + NO .==± NOCI Cl + NOCI .==± NO + CI2 H2+Cl2 에 의해서 증폭된 광음향 신호가 라디칼 제거제인 NO 농 도에 따라 감소하며 이러한 신호의 감소를 측정함으로써 연쇄반옹계

안의 NO 의 농도 를 직접 측정할 수 있댜 위와 같은 현상은 광음향 효과의 새 로 운 응용으로 연쇄반응과 같은 복잡한 계에서의 반응 메 커니 즘 연 구 에 사용됨은 물론 10-12 몰 범위에 해당하는 검출 감도 를 갖 는 것 이 실험적으 로 밝혀짐으로써 (17) 물질의 극미량 분석도 가능 하개 되었다 . ® 촉매반응 촉 매 물질들 은 일반 적 인 분광 방법으로 그 특성을 연구하기 어려우 며 아 주 미세한 분말 의 형태로 존재하기 때문에 앞에서 언급한 바와 같 이 굉음향 분광법이 촉 매 연구에 있어서 이상적이고 적절한 연구 방법이 라 는 근 거가 여기에 있다 . 예 를 들어 알루미나 위에 부착되어 있 는 무기 절 연체인 CoMoO 려 수소탈황반옹 (h y drodesu lf u ri za ti on) 촉 매 작용 을 설 명하기 위한 광음향 분광학 실험 결과를 그림 14.6(a) 에 나타냈다 [18]. 또한 그림 14.6(b) 에는 a,/3 - CoMo0 .1 및 CoAi z0 .1 ( t e t rahedral) 에서 와 CoS 0. 1-H z() (oct ahedral) 에서 Co2+ 이온의 결정장 띠 (c rys t al fiel d band) 에 대한 상세한 연구 결과를 보여주고 있다. 이 와 같 이 PAS 는 리간드 - 전자 구조의 차이에서 일어나는 촉매 작용의 변화에 대한 중요한 정보를 제공한다. 또한 전이 금속 착물이 고분자 리간드에 붙어 홉착된 촉매 를 형성 하 는 반옹은 올레핀의 수소화반옹을 활성화시키기 위해서 사용되는 데, 이러한 경우에도 PAS 가 화학반옹 과정과 구조-반응성 관계를 설명하기 위하여 금속 - 고분자 착물의 전자 구조 를 연구하는 데 옹용 될 수 있다 [19]. 이와 같이 PAS 는 광학적 방법이지만 구조 를 밝히는 데 주로 사용되는 X 선 회절 방법을 전혀 사용할 수 없는 경우, 죽 고체 상태 광생성물 등의 특성을 밝히는 데도 매우 유용하게 사용된 다 [19]. 그 외에도 PAS 는 고분자물질 위에서 반옹하는 금속의 환원 정도 를 알아내는 데에도 사용된다.

Co 시2 04

정사면체 어 a -CoMo04-저 온상 R g 0

01R吉 200 400 600 800 400 500 600 700 nm nm (a) (b)

그립 14.6 코발트 몰리브데이트의 광음향 분광 연구로 (a) CoMo04 의 알파 형태 (저온)와 배타 형태(고온)에 대한 스팩트럼, (b) CoS04-HzC) (정팔면 체), a,/3 - CoMo04, CoAl z()셉 대한 Co2 + 의 결정장띠 스팩트럼.

최근 밀폐형 C 아 레이저의 전극 개발에 대한 연구에서 레이저 방 전관에서 일어나는 C 아 농도의 변화를 그림 14.7 과 같은 광음향 분 광학 장치를 사용하여 검출한 실험을 Ki m 둥이 수행했으며 [20], co 산화반응에 대한 Ln1-xSrxCoOaCLn=Nd, Gd, Eu) 계 페롭스카이토 촉 매 효과에 대한 반응속도론적 연구가 광음향 분광법으로 행해짐으로 써 [21, 22] 촉매반응에 대한 응용이 더욱 넓어지고 있다.

거울 민속 71

CO2 레이저 마이크로폰 sig. Ref. 위상감지신호층폭기 빔차단기

그림 14.7 방전관 내에서 CO2 의 광음향 검출법에 대한 실험 장치의 개략도.

14.3.3 분광학적 연구 PAS 의 동역학 분야에 대한 분광학적 응용은 최근 날로 증가하고 있댜 최근 나프탈렌에서 고체와 기체상 사이의 C-H 결합의 변화 [23], 피리딘 및 그 유도체, 포름알데히드 등의 C-H 신축배진동 [24-26], 아세톤의 전자 스펙트럼에 대한 분광학적 연구 및 이론적 연구들이 [27] 계속 보고되고 있다. 기체 상태의 PAS 에 비해 응축상 물질(액체나 고체)에 PAS 방법을 응용한 연구는 그 역사가 비교적 짧아 80 년도에 들어 비로소 활발히 진행되고 있으며 물리나 화학에 있어서 분광학적 도구로서의 잠재력 이 증명되어 그 응용이 날로 다양해지고 있다. 앞에서 이미 언급했지 만 PAS 의 중요한 옹용은 보통의 분광학적 기술(홉수 또는 반사)로는 얻기 어려운 분말, 무정형의 고체 및 불규칙한 표면 들 의 분광학적 정

보를 제공한다. 예를 들어 Crz03 분말에 대한 PAS 스펙트럼은 그 분 해능 및 광학적 홉수 특성이 결정 상태의 흡수 스펙트럼에서와 거의 동일하며 특히 확산 반사 (d iff use ref lec ta n ce) 스펙트럼에 비해서는 월등함이 밝혀졌다 [28]. 또한 레이저 창 (w i ndow) 의 광학 코팅의 질을 확인하는 데도 응용되어 왔다 [29]. 한편, PAS 는 분말 형 태의 유기, 무기, 반도체에서 직 • 간접띠 전이 (band t rans iti on) 를 관찰하는 데 유 용하게 쓰일 수 있다 [18, 30]. 특히 시료가 단 결 정이거나 또는 시료함 에서 바로 꺼내 전혀 정제가 되지 않은 분말이건 관계없이 쉽게 측 정할 수 있다는 것이 이 방법의 가장 중요한 장점이다 . 또한 시료의 양도 단지 수 mg 정도면 충분하고 측 정 시간도 수분밖에 걸리지 않 기 때문에 고진공 속에서 고순도의 정제 기술이 필요없이 반도체의 광학적 또는 전기적 특성을 아주 쉽게 알아 볼 수 있다. 14.3.4 표면 연구 PAS 는 금속, 반도체, 심지어는 절연체 표면 들 에 홉착된 분자들을 모든 파장 영역에서 연구할 수 있는 훌륭한 장점을 지니고 있다. PAS 가 이러한 분야의 연구에 응용될 수 있는 높은 가능성을 제공해 준 것 이 바로 박막 크로마토그 래 피 (thi n lay e r chromato g raph : TLC) 에로의 적용이다 [3 1]. TLC 기술은 화학, 생물, 의학 분야에서 혼합물 의 분리에 대단히 효과적이며 중요한 방법이다. 그러나 TLC 판에 홉 착제로 사용되는 실리카겔이 대단히 불투명하고 빛의 산란성이 매우 높기 때문에 일반적인 분광학 기술로는 TLC 에서 분리된 물질들의 확인이 대단히 어렵다. 반면에 PAS 는 TLC 판 위에서 혼합물의 각 구성물질을 직접 확인하는 비파괴 분석으로서, 그 응용이 간단하면 서도 감지능이 높은 기술임이 판명되었다. 그림 14.8 은 TLC 판 위에 분리된 다섯 가지 다론 물질에 대해서

광음향 스팩트럼(TL C 판 위에서) 자외선 흡수 스펙트럼(용액상에서)

0.8 ~-~~—~~-~ o8o8o8 어~—( z381 吉RoJlag 3 0.8 0.4 3 2 250 300nm@3 50 250 300 350 nm (b)

그립 14.8 박막 크로마토그래피에 대한 광음향 연구 . (a) 다섯 가지 물질에 대한 자외선 광음향 분광 스펙트럼이다 . (I) p-니트로 아닐린, (Il) 벤질리덴 아세톤, (III ) 살리실 알데히드, (IV) I- 테트라론, (V) 픕무오레논, 이 스펙트럼 들 은 박막 크로마토그래피판 위에서 직접 취해졌다. (b) 용액 내에서의 동일 화합물에 대한 가시광선 흡수 스펙트럽이다.

TLC 판을 직접 사용하여 얻은 PAS 스펙트럼이다. 그림 14.8(a) 와 그 림 14.8(b) 를 비교해 볼 때 PAS 스펙트럼은 순수한 각 물질에 대한 액체 상태의 자외선 홉수 스펙트럼과 일치한다는 데서 PAS 의 장점 올 더욱 쉽게 인식할 수 있을 것이다. 이 PAS 의 감도를 알아보기 위 하여 몇 가지 농도의 벤질리덴 아세톤을 TLC 판에 전개시켜 그 판을 직접 사용하여 PAS 스펙트럼을 얻은 결과, 0.1 µg보다 적은 시료(대 체적으로 단분자층으로 추정됨)에 대한 PAS 스펙트럼 에서 밴질리덴 아 세톤에 기인하는 흡수띠룰 쉽게 관찰하였다. 따라서 PAS 기술은 홉 착된 물질의 단분자층을 확인, 검출하기에 충분한 감도 를 지녔음이 증명되었다 [3 1). 또한 이 방법은 여러 가지 조건하 에서의 표면 산화 또는 표면 환원 과정을 [18) 이해하는 데 옹용될 수 있을 뿐만 아니라 고체 표면에서의 촉매 작용에 대한 보다 많은 정보 를 제공하고 있댜 14.3.5 상전이 현상 연구 광음향 신호는 시료의 광학적 성질뿐만 아니라 열적인 성질, 죽 비 열의 변화에 의존한다. 이와 같은 특성을 이용하여 온도에 따른 광음 향 신호 를 측정할 경우, 시료의 열적 성질의 변화 를 측정할 수 있으 며 상전이 현상을 연구하는 데 이용할 수 있다. 또한 1 차 상전이의 경우 잠열(l a t en t hea t)이 존재하기 때문에, 온도 를 올리면서 광음향 신호 를 측정하는 경우, 광흡수로부터 발생된 열은 잠열로 사용되어 상전이 온도에서의 광음향 신호가 갑자기 감소한다. 반면에 온도를 내리면서 측정하는 경우에는 잠열에 의해 발생되는 열이 온도의 직 류 성분에 해당되기 때문에 광음향 신호에는 아무런 영향을 주지 못 한다. 따라서 광음향 방법을 이용한 상전이 현상의 연구는 상전이 온 도 측정 외에도 상전이가 1 차 전이인지 2 차 전이인지를 결정할 수 있고 여러 종류의 다른 상전이룰 모두 측정할 수 있다.

광음향 효과의 이론 [2] 에 의하면 광학적으로 불투명하고 열적으로 도 두꺼운 고체 시료에 대하여 광음향 신호는 광흡수 계수에 무관하 며 다음과 같이 나타낼 수 있다 [32]. Qs = [ CS( 접『ffi172 • (l4.1) 여기서 A 는 온도에 무관한 모든 계수를 나타내며 F(T) 는 셀과 내 부 기체의 열적 성질에 관한 함수이고, Cs(T) 와 Ks(T) 는 시료의 정 압비열과 열전도도이다. 이 식에 의하면 온도가 변함에 따라 비열이 갑자기 변하는 상전이 온도에서 광음향 신호는 급격히 변화한다. 고체 시료의 상전이 현상을 관찰하기 위해서는 시료의 광음향 신 호가 시료의 열적 성질에만 관련되도록 해야 하므로 Q s 에서 A 와 F( T)값 을 먼저 결정해야 한다. R-G 이론 [2] 에서 보듯이 탄소검댕과 같이 광학적으로 불투명하고 열적으로 얇은 시료에 대한 광음향 신 호는 바탕 물질 의 열적 성질을 나타내므로 광음향 신호는 다음과 같다. Q c=~( 삽『T) ])/2 • (14 .2 ) 여기에서 Cb(T), Kb(T) 는 배경 물질의 비열과 열전도도이다. 배경물 질의 열적 성질을 알고 있을 경우, A 와 F( T)는 Q s 와 Q c 에서 같은 값을 가질 것 이 므로 식 (1 4 .1)과 (l4 . 2) 를 사용하여 다음과 같이 표현 할수 있다. 오Qc =K [[ CCSb( (7n)KKS m ( 7])1 ] /I2I2 • (14 .3) 여기에서 K는 일반적으로 측정값이 동일하지 않은 경우의 보정값이 다. 시료의 열전도도 Ks(T) 가 온도에 대해 완만한 함수라고 하면 위

단속 71

아르곤이온레이저 Sig . Ref. 위상감지신호증폭기

그림 14.9 상전이 현상을 연구하기 위하여 저온 진공 듀워 (dewar) 를 포함하는 실 험 장치의 개략도.

의 식으로부터 온도에 따른 비열의 변화 를 볼 수 있다 [33]. 이 경우 광음향 신호는 비열의 변화에 전적으로 의존하므로 이 신호를 바탕 으로 상전이 현상을 관찰할 수 있다. Sulf os pi ne l 구조를 갖는 FeCr2S4 의 자성 전이에 대하여 그림 14.9 에서와 같이 온도가변용 광음향 셀을 사용한 연구를 Bak 등이 수행 하였으며 [33] 광음향 분광법에 의한 실험 결과는 Mossbauer 분광법 으로는 검출할 수 없는 Neel 온도 외의 구조적 전이까지 검출할 수 있는 방법임을 보고하였다. 이러한 상전이 현상에 대한 연구는 Flori an 등이 [34] 처음 시도한 후 결정 구조적 전이는 물론, 강유전체 의 전이, 고체-액체 상전이 및 초전도체의 초전도 전이 둥에 이르기 까지 많은 연구에 옹용되 고 있다 [35-42].

14.3.6 반도체의 분광학적 연구 최 근 광음향 분광학을 이용한 반도체의 특성 연구가 활발히 진행 되고 있 는 데 [43] 이것은 단순히 광음향 분광학이 일반적인 분광법과 비교 할 때 갖고 있는 장점뿐만 아니라 반도체가 신소재와 첨단 기술 연구 개 발 에 중요한 역할을 한다는 관심이 집중되면서 반도체의 물 리적, 화 학적 성질 연구가 매우 중요한 분야로 인식되었기 때문이다. 특 히 반 도 체 소자에서 열의 발생은 그 기능을 저하시키기 때문에 반 도체에서의 비방사 과정의 연구는 학문적인 측면에서뿐만 아니라 실 용적인 면 에서도 매우 중요하다. 광음향 분광학을 이용한 반도체의 연구 는 변 조 주파수 의존성, 파장의존성, 광음향 현미경(p ho t oacous­ tic mi cr oscop y, PAM) 법의 세 가지로 크게 나눌 수 있다 첫번째는 주파 수 변 조 에 의한 방법으로 광홉수 계수나 열확산도와 같은 열적 성 질 연 구 및 반도체의 운반자 특성을 연구할 수 있으며, 두번째는 반도체띠 간 격 부근에서 파장을 변화시키면서 띠 간격 특성을 연구 하 는 것 이다. 세번째는 광음향 현미경법을 들 수 있는데 이것은 변조 주파수에 따라 광홉수 길이가 변하는 것을 이용하여 반도체 표면뿐 만 아니라 표면 밀 (sub-s urf ace) 의 구조를 연구하는 데 중요한 역할 을 한댜 주파수 변조에 의 한 반도체 광홉수 계수의 연구는 Hordvik 둥이 [44] 몇 가지 고체 시료에 대한 광홉수 계수를 얻은 이후로, Podorovic 둥이 [45] 반도체의 표면과 내부의 광흡수 계수를 계산하였 댜 대부분 반도체가 기판 위에 박막의 형태로 존재하기 때문에 두께 에 따른 광홉수 계수의 측정이 중요하다. Fath a llah[46] 둥과 Baldassarre[47] 등은 이러한 박막 구조를 갖고 있는 반도체에서 각 충에 대한 광홉수 계수 를 측정할 수 있었다. 또한 Tam[48] 둥은 펄 스 레이저 를 이용하여 반도체에서 순간적인 광흡수나 매우 작은 광

홉수 계수를 측정하였다. 반도체의 열확산도나 열전도도의 측정은 반도체 소자의 성능에 깊이 관계하므로 이에 대한 연구가 활발히 진 행되어 왔다. 특히 Va g as 와 Mi ra nda[49, 50] 등은 Si, GaAs, PbTe 둥 여러 가지 반도체의 열확산도를 측정하였고, 변조 주파수에 따른 반도체의 운반자 특성, 이완 시간 등을 광음향 신호와 위상으로부터 측정하였다. 반도체의 광음향 분광학의 파장의존성 연구에서는 Masahik o [51] 등이 ZnS : Mn 계의 파장에 따 른 홉 수 스 펙트럼으로부 터 띠 간격 부근에서의 에너지 준위 를 밝혀서 ZnS 반도체에서의 Mn 효과를 설명하였다. 또한 Si, Ge, InSb, GaAs, GaP 의 반도체에서 파 장에 따른 홉수 스펙트럼으로부터 띠 간격 에너지가 측 정되었다 [52]. 특 히 반도체에 첨가물질을 주입하여 광음향 신호의 변화 를 시도하였 는데, McFarlane 과 Hess[53] 는 GaAs 기판 위에 S i 을 이온 주입(i on i m p lan t a ti on) 하여 이온 주입 에너지에 따 른 결 정 상태와 유리화 상 태 를 파장에 따른 홉수 스펙트럼 변화로 연구하였다. 최 근 에는 광음 향 분광법의 변조 주파수 의존성과 파장의 존 성으 로 부터 반도체에 여 러 가지 첨가물질의 밀도 를 변화시킨 시료로부터 여러 가지 정보를 얻고 있다. Zeradi[ 5 4-57] 둥은 CulnSez 단결정으로부터 o+, Ne\ Cu\ Xe\ Li+ 동을 이온 주입하여 변화되는 홉수 스펙트럼으로부터 띠 간격 변화, 결함 구조와 운반자 메커니즘, 박막에서의 특성을 보고한 바 있다. 최 근 Chu[58] 둥은 그림 14 .1 0 의 장치 와 같은 광음향 분광법 을 사 용하여 GaAs 시료의 열확산도 를 측정함으로써 첨가물질의 밀도 측 정에 옹용할 수 있음을 밝혔다. 또한 그림 14.11 에 나타난 바와 같이 AlGaAs/GaAs 다양자 우물 (mul ti-q uan tu m well) 에서 반도체 미세 구조의 홉수 특성 을 측정 하여 양자구속 효과(q uan t um con fine ment e ff e ct) 를 관찰함으로써 새로운 차원의 차세대 광소자 개발 둥을 위 한 기초 자료로 사용될 수 있음이 증명 되 었다 [58].

M

Ar + 레이저 °` P3 기준신호 단속 71 기준 셀 71 록 71 I , I 신二위호상증갑폭지 71 ,1 빕분 합 기 0 f 0l 크로폰 입력신호

그림 14.10 GaAs 의 열확 산도 축 정 을 위한 광음향 분광법 실험 장치.

한 편 L i m[59] 은 그림 14 .1 2 의 실험 장치를 이용하여 GaAs 기판 위 에 S i 로 n - 첨 가한 시료들과 Zn 으로 p_첨가한 시료들에 대하여 광음 향 분 광범의 변조 주파수에 의한 운반자-운송 특성과 광흡수 계수 및 열확 산 도 등 의 열적 성질에 따른 광음향 신호와 위상의 변화를 연구하였다 . 또한 파장 변화에 의한 GaAs 띠 간격 부근에서 띠 꼬리 및 띠 이동 (sh ift) 을 연구하였다. 아울러 이러한 실험 결과를 이용하 여 반도체 시 료 에서 첨가물질의 밀도 를 결정할 수 있는 방법을 처음 으로 제안하였다 . 그림 14 .1 3 은 GaAs 기판 위에 첨가된 S i의 밀도에 따른 광음향 신호의 크기 를 보여주는 것으로 광음향 신호가 S i의 첨 가 밀도에 정비례함이 밝혀짐으로써 미지 시료의 농도 측정에 직접 응용될 수 있음을 증명한 결과이다 (59]. 즉 PAS 방법은 여러 가지 다른 시스템에서 사용되어지는 수많은 반도체의 광학적 특 성을 빠 른 시간 안에 규명할 수 있다는 데 대단히 높은 경제성을 갖고 있으며,

2.5

2.3 (

UB J

vd)이Z

J 2.1 1.9 83 0 840 850 綴 파장 (nm)

그립 14.11 실온에서 최소 용량 광음향 셀 을 이용한 AJ o.3 G ao.1 A s/GaAs 다양자 우물의 광음향 신호 스펙트럼 . 입사각은 80· 이상이며 변조 주파수는 2000Hz 이다 .

마이크로폰

Ar+ 레이저 신호 ND 변환기 신위호상증갑폭지기 증폭 71 三三

그림 14.12 광음향 분 광법 을 이용한 반도체 연구의 실험 개략도.

여러 가지 형태의 반도체에 대한 구조적 또는 전기적 특성 연구에 있어서 시료 를 단결정 상태로 만들어 X 선을 측정해야 하는 필요성을 제거함으로써 매우 용이한 기술로 각광받고 있다. 반도체에 대한 옹 용 외에도 박막(t h i n fil m) 의 광학적 특성에 대한 연구에도 널리 응용 되는데 [60], 특히 이 기술은 측정을 위해 어떠한 전처리가 요구되지 않는 비파괴 분석 및 측정이라는 특성 때문에 실제 옹용면에서의 가 치는 실로 대단한 것이다. 14.3.7 광음향 현미경법 PAS 응용의 하나로 고체의 표면 특성 연구에 사용될 수 있는 레 이 저 광음향 현미 경 법 (ph oto a coustic mic r oscop y : PAM) 은 아주 미 세

(a) 1.5

1D05 • data (密fitting u

J

oR

iV

ld

)

이 0.0 14 15 16 17 18 19 20 21 Log(도핑 밀도)

(b) 1.2 0

1.15 룹 11..0150 J \ • fitting data 可~홍 1.00 ~ 0.9 5 0.90 0.8 5 0.80 14 15 16 1’7 1’8 19 20 21 Log(도핑 밀도)

그림 14.13 G aA. s 의 첨가 밀도의 lo g값에 대한 (a) 신호, (b) 위상의 직선관계 그 래프.

한 거리 를 움직일 수 있는 (µm 단위) 미세 위치 조절 X-Y 판 (mi ni a t u r e po sit ion in g X-Y s t a g e) 에 거울을 부착시켜 이동할 때, 렌 즈에 의해 시료 표면의 미세한 부분에 레이저 빔의 초점을 맞추면 광음향 홉 수 신호가 발생하며 이것을 마이크로폰으로 검 출 하는 방법 이다. 따라서 거울 을 아주 미세하게 이동합으로써 표면 전체의 홉수 특성 을 얻 을 수 있다. 이러한 현미경법은 고체 표면의 2 차원적 홉수 특 성 연 구 에 활 용 할 수 있는 기술로 간주되고 있다. 그림 14 .1 4 와 14 .1 5 는 세라믹 시료에서 표면의 특 성을 관찰하기 위한 실험 장치와 실험 결 과 를 각각 나타낸다 [6 1]. 그림 14 .1 5 에 나타난 바와 같이 세라 믹 시 료 표 면에 금 (crack) 이 생긴 것을 쉽게 관찰할 수 있다. 이와 같 이 PAS 는 시 료 의 비파괴 측 정에 이용될 수 있다 또한 PAS 는 반 도 체 공업에 유용하게 쓰일 수 있다. 죽, Si 웨이퍼 의 기하 학적 특 성 , 물 리 적 특 성, 또한 여러 가지 조립 단계에서의 복 잡한 금속 화 과정 및 산화물충에 대한 정보를 제공함으로써 공정 조 절 기 기로 써 유용하게 쓰일 수 있다. 또한 PAM 은 영상 [62, 63] 뿐만 아니라 광 학 현 미경에서 얻을 수 없는 표면이나 표면 아래의 광학적, 열적 특성을 연구하고, 미세 구조에 대한 깊이 파악 (de pt h- p ro fili n g) 능력 을 갖 고 있어 박막의 두께 룰 측정하는 데도 응용되고 있다. 이러 한 다양한 능력 때문에 PAM 은 큰 크기의 집적회로나, 다른 전자 기 구의 공정에서 상당한 경비 절감 효과 를 얻을 수 있어 높은 경제성 도 가지고 있다 . 14.3.8 광학 마이크로폰법 광음향 분광학에서 일반적으로 사용되는 마이크로폰 대신 광학적 인 방법으로 광음향 신호 를 측정하는 방법을 Cho i와 Di ebold[64] 가 고안하였으며 증폭기(p ream plifi er) 의 1/f 잡음을 제거하기 위하여 두

마이크로폰

단속 71 광다이오드. 비율측정기

그립 14.1 4 마이크로폰을 이용한 래이저 광음향 현미경법 개략도 .

3mm

그림 14.15 세라믹 표면 내에 금 (crack) 이 존재함을 보여주는 X-Y 광음향 현미 경 관측 .

대의 위상 감지 신호증폭기를 사용한 실험 장치를 그림 14 .1 6 에 나타 냈다 . 광음향 셀 속의 SF6 가 셀의 공명 주파수로 변조된 10.6 µ m 의 CO2 레이저를 홉수하면 변조 주파수에 해당되는 광음향 신호가 생겨 셀에 부착된 펠리클(fl ex i ble refl ec ti ng dia p h rag m , pellicle ) 빔 분할기 (pe ll icle beam s plitt er) 의 표면이 주기적으로 떨린다. 이때 펠리클로부 터 반사되어 나온 헬륨」사온 레이저 빔은 막의 편향 형태 (de fl e cti on

구리거움

펠리클 / 呂 CO2 레이저 빔분합기,’'’ ’ ’ ' ’ ’ ’’ ' ’ : 니’ ’'’ ’ ’ ’'’ ’ ’ &’ : 오실레이터 B 조리개 c::::,;’ ’’’ ’' ’ ' ’’ ’’'’' `변조' \ 광다이오드 ―죠= 오디오오실레이터 He Ne 레。 저

A 위상감지신호증폭기 A 배춤신호 위상감지신호증폭기 B 배출신호

그립 14.16 레이저 슐리렌 마이크로폰의 개략도.

p a tt ern) 에 따라 변화하여 조리개 를 지난 뒤 빛의 진폭에 변조가 일 어난댜 즉 셀 속에 생긴 광음향 신호의 크기에 따라 막의 변위에 차 이가 생기고, 이것은 곧 광다이오 드 에 감지된 전 기적 신호의 차이로 나타나며 이 신호의 크기는 셀 속 에 들어 있 는 시료의 홉수 차이에 비례한다. 이러한 방법은 원리면에서 충격관 (shock t ube) 의 반응속도 연구에서 사용되던 슐 리렌 (schl i eren, 영어 로는 길 (p a t h) 의 뜻 ) 시스템 과 동일하여 레이저 슐리렌 마이크로폰 (laser schlie r en mi cr op ho ne, 또는 옵토폰 (o pt o p hone) ) 이 라 명 명 되 었다 . 그림 14 .1 6 에 나타난 실험 장치 를 Chuan g과 Zare[65] 가 실험실의 진동 및 기타 잡음 을 제거하도 록 개선하였으며, De Paula[66] 등은 이러한 기술을 고체 시료의 분광학적 검 출 에 적 용하였다 . 이와 같은 음향파의 광학적 검 출 기 (o pt o p hone) 는 비교 적 정 교하지 않은 디자인 인 데도 보통의 마이크로폰과 같은 감도 를 보였으며 압 력 변화를 측 정할 수 있는 광학적 방법을 개선함으로써 이 론 적 한계에 접근하는 마이크로폰의 감도 를 얻을 수 있다는 것 을 제시하였다. Park 과 Di ebold[67] 는 펠리클이 페브리-페로 (Feb ry - Pero t) 간섭 계의 한 소자 로 이용되는 옵토폰 (o pt o p hone) 디자인을 고안하였고, Chu[6 8 ] 등은 그림 14 .1 7 와 같이 미캘슨 (M i chelson) 간섭계의 원리 를 이용한 음향 파의 광학적 측정법을 개발하였다. 옵토폰 방법은 광음학 분광학에 필수적인 마이크로폰 대신 광학적 인 측정 방법을 이용하는 것으로 일반적인 마이크로폰을 사용하여 얻을 수 없는 여러 가지 특성을 검 출 할 수 있는 방법이다. 이러한 옵 토폰의 실제 감도가 마이크로폰보다 못지 않다는 것 외의 몇 가지 독특한 특성을 요약하면 다음과 같다. 첫째, 대단히 빠른 감응 시간 을 갖는다. 둘째, 검출기와 펠리클 사이의 거리를 늘림으로 이득 (g a i n) 을 마음대로 중가시킬 수 있어 궁극적으로 잡음으로부터 자유 로워질 수 있다 . 셋째, 일반적으로 마이크로폰의 증폭기(p ream plifi er)

U_dJ

{gK CO2 레이저 血

K g

Ref. 위상감지신호층폭가

그립 14.17 미켈슨 간섭계 를 이용한 광음향 분광법의 개략도.

가 고입력 임피던스를 갖고 있어 외부의 전자기적 잡음이 쉽게 추가 될 수 있 는 반면, 이 방법은 입력 임피던스가 대단히 낮기 때문에 이 러한 주위의 전자기적 잡음에 비교적 영향을 받지 않는다. 마지막 특 성은 실용적안 면에서 찾을 수 있는데, 고온, 저온 또는 부식성이 강 하거나 방사성이 있는 시료의 분광학적인 측정에서 일반적인 마이크 로폰의 사용이 불가능하여 비접촉 방법이 필수적일 때 옵토폰의 가 치는 더욱 중요해질 것이다. 14.4 광음향 효과와 밀접히 관련된 현상 광음향 효과에서 신호의 기원은 빛이고 신호는 열에 의하여 직접 또는 간접적으로 발생된 음향파이다. 이것과 밀접히 관련된 몇 가지

다른 효과가 있다. 예 를 들 어 빔음향 효과 (beam - acous ti c e ff ec t)는 PAS 효과와 비슷하나 신호의 기원이 에너지 를 갖 는 범( 전 자법 이온 빕 매존빔, X 선, 라디오파 동 )이다 광열 효과(p ho t o t hennal e ff ec t)도 PA 효과와 유사하나 시 료 에서 발 생된 열 을 PAS 와 는 다 른 방법으로 측 정 한다 광굴 절 효과(p ho t ore fr a cti on e ff e ct)도 PA 효 과와 비 슷하나 검 출 되 는 양은 직 접 또 는 간 접적 으 로 발 생되 는 열 에 의한 굴절 률의 변화이댜 이 들 방법 들을 간단 히 소 개하면 다 음과 같 다 . 14.4 .l 빔음향 효과 빔음향 (beam - acous ti c : BA) 효 과라 는 말 은 빔을 가지고 시 료를 들뜨 게 하여 음향파 를 검출 하 는 방법 을 의미하며 , BA 효과는 PA 효과 룰 포합한댜 BA 효과 를 처음으 로 관찰한 사 람은 나타나 지 않으나 돌을 물 에 던져서 소리 를 듣는 것 이 BA 효과 의 간단한 예라고 할 수 있댜 BA 효과가 이용되 는 모든 분 야에 대해 서 술 하기 는 곤 란하 지만 높 은 에너지 를 이용한 물 리학이나 우 주 선 (cosm i c - ray) 연구에 이용되고 있다 특 히 우 주 선 연 구 계 획을 DUMAND< De ep Underseas Muon and Neutr i n o De t ec t or) 라 부르고 우주선의 방 출 이나 이온화 를 검 출 하는 대신 바다 밑 에 하이 드 로폰 (h y dro p hone) 을 설 치하여 우주 선에서 나오는 높 은 에너지의 입자 를 검 출 하 는 데 사용한다 [69]. PA 현미경법과 유사한 BA 효과의 가장 좋 은 예 로는 전 자 - 음향 (elect ro­ acousti c : E A) 현미경법이 있 는 데 , 주사 현미경 을 6MHz 로 변조된 전자빔으로 시료 표면에 l µm 크기로 초점 을 맞춘 다음 시 료 의 반 대 표면에 붙 은 압전 검 출 기로 같은 주파수에서 초음파 를 검 출 하였 다 [70]. 이 결과 약 4 µm 분해능의 영상을 얻 을 수 있었고 박막 시 료에서는 0.1 µm 분해능까지 가능하다고 보고되었다. 세라믹 기판에 서의 EA 영상뿐만 아니라 640MHz 로 변조된 주파수로 Si 웨이퍼에

P 가 첨가된 것을 검출하였고 그 영상도 발표되었다 [7 1). 14.4 .2 광열 효과 광열(p ho t o t hermal : PT) 효과는 시료의 광홉수에 의하여 열이 발 생하는 현상이며 시료의 주기적인 열팽창에 의하거나 주위 기체의 열전달, 끓음 (bo i l i n g), 융제 (abla ti on), 화학 분해, 중합, 상전이 동과 같은 덜 일반적인 현상에 의해 음향파가 발생한다. 이것들은 PA 효 과에 해당되나 PT 효과의 결과이다. PT 현상에 의해 증가된 온도의 직접 측 정 기술은 레이저 빔이 들뜸에 사용되면 광열량계 (o pti cal calorim etr y), 또는 레이저 열량계라 부른다 . 이 기술은 단순히 에너 지 보 존 법칙에 기초 를 두는 것으로 홉수된 빛에너지는 방출되는 열 에너지와 같다. 만약 발광 (lum i nescence) 이 없으면 광화학 또는 광전 기 현상이 일어난다. 광열 광선법 (PT rad i ome try :PTR) 은 PT 현상 에 의해 열이 방출됨으로써 시료에서 적외선이 발생되는 것을 측정 하 는 방법으로 비접촉 수단에 의한 시료의 특성 연구이다 [72]. 비접 촉 검 출 방법이라는 장점과 높은 검출 감도는 PTR 방법이 경우에 따라 PA 검출보다 우월하다고 할 수 있다. 특히 원거리 추적이 필수 적 일 때(높은 온도 시료, 부식 시료, 생산중인 생성물의 검사, 너무 크거나 너무 작은 시료에서 검 출 기 를 붙 이거나 PA 셀 봉합이 어려울 때) 이용된 댜 최근 여 러 가지 시료 (Nd 心 3 분말, 혈액, 녹색 잎)의 PTR 스펙트럼 을 값싼 비 공진성 (inc oherent) 광원으로 측정 될 수 있음이 보고되 었다 (그림 14.1 8 ) [73]. PTR 응용의 확대는 비접촉 특성에 기인하며 PA 영 상과 바교해 보면 PTR 영상 [74] 의 몇 가지 뛰어난 장점을 알 수 있다. 즉 빠른 영상화가 가능하고 시료를 멀리 둘 수 있으며 시료의 오염을 최소로 할 수 있고, 시료의 크기와 무관하게 연구할 수 있다. 특히 의학 진단에서의 가장 중요한 응용은 PTR 추적에 의한 체내 영상이다.

위상감지

신호증폭 71 적검춤외선기 위상감지 신호증폭 71 Ge 창 :三 ---- ---- I- 二〈 -닌 _: 빔분할기 시료 ;尸--장---가--변-- -I-R -레 --이-저-- -l-- --- ------ - - ----- - ---,

그림 14.18 PTR 분광학에 사용되는 실험 배열. 비 공 진성 가시광선 광원이나 가 변형 적외선 래이저가 듄 뜸에 사용된다 .

14.5.3 광굴절법 광굴절(p ho t ore f ra cti on : PR ) 효과는 빛의 흡수로 발생된 열변화로 인한 굴절률 변화 (re f ra cti ve ind ex grad ie n t : RIG) 가 일어 나는 현상이 다. 들뜸빔에 의해 생성된 RIG 는 들뜸빔의 진행에 영향을 미쳐 자체­ 확산 (se lf -de fo cus i n g : SD) 이 나 빔 의 열 적 확대 (the rmal bloomi ng) 현 상이 일어난다. 보통 자체-확산은 자체-집중 (se lf- foc usin g) 대신에 일어나는데, 그 이유는 온도에 대해서 굴절률은 항상 음의 값이기 때 문에 온도 변화율은 오목렌즈를 만든다. 한편 들뜸광에 의한 RIG 는

증폭기와기 목 기로

파장가번 레이저

그림 14.19 열렌즈 분광학의 일반적 실험 장치. 시료의 흡수띠 영역에 래이저 파 장을 맞추면 빔의 확산이 일 어나고 , 따라서 투과빔의 선 폭 확대가 일 어난댜 이것을 바 늘 구멍을 통과하는 빔 세기의 감소로 관찰한다.

들뜸광 주위 에 있는 다 른 약한 탐지빔의 진행에 영향을 준다. 따라서 RIG 는 자체 ― 확산 이나 탐지빔 굴절 (p robe-beam refr action : PBR) 에 의해 측정될 수 있댜 평행 (co lli near) 탐지빔이 침가된 PBR 방법은 단 일빔 자체_확산 방법보다 감도를 높여주는데 이것을 검출빔의 열적 렌즈(t hermal lensin g : TL) 라 부른다 . TL 실험 [75-78] 의 일반적인 실 험 장치 를 그림 14 .1 9 에 나타냈다. 특히 이 기술은 상대적 홉수 (6 J/I o) 룰 l0 - 7 까지 검출할 수 있음이 밝혀졌고 이것은 진한 색의 용액에 대 하여 l0-I I M 정도의 검출 감도를 갖는 것으로 홉수 분광 분석 중 적 은 비용의 고감도 검출 방법으로 각광받고 있다. 14.5 결론 14 . 3 절과 14 .4 절 에 언급된 내용들은 광음향 분광학 응용의 대표적 인 몇 가지 예 를 보인 것으로 이외에도 PAS 는 최근 생물이나 의학 분야의 연구에서 많은 관심이 집중되고 있다. 이는 현재 실험실에서 매우 복잡한 습식 분석적 과정을 통하여 얻어지는 결과 를 PAS 기술 을 사용하여 실험실이나 야외에서 있는 그대로의 생물학적 계 를 연 구할 수 있으며 [79 - 81], 의학 분야에서 PAS 는 생물조직과 같은 완전 한 의학적 물질에 대해 비파괴 분광학적 또는 열적인 분석을 할 수

있기 때문이다. 또한 응축상에서의 들뜸 해소 (deexc it a ti on) 과정 연 구, 특히 형광 과정 연구, 양자 효율 측정, 광화학, 광합성, 광전도도 특성 연구에도 많은 응용이 이루어지고 있다 [1 - 4]. 한편 물질의 광학 적 특성 이외에 열적 또는 기하학적 특성 규명, 즉 열확산도, 상전이 현상 연구는 물론 푸리에 (Fou ri er) 나 Hadamard 변환을 이용한 연구 가 활발히 진행되고 있다 [1 - 4]. 아울러 깊이 파악 (de pt h- p ro fi l i n g)과 두께 측정 및 저온 실험에서 PAS 를 이용한 연구 들 은 다 른 방법에 비해 PAS 가 갖고 있는 여러 가지 훌륭한 장점을 접목시킨 것으로 그 활용도에 대한 관심이 날로 증가하고 있다. 광음향학 또는 광음향 분광학은 그 응용이 아직 완전히 정착된 것 이 아니며 연구 분야나 분석 도구로서의 잠재력은 거의 무궁무진하 다고 해도 과언이 아니다. PAS 가 개발되기 이전에 는 자연 상태의 물질이나 합성된 수많은 물질에 대하여 통상적으로 사용되는 여러 가지 광학적 방법으로는 그 성질들을 즉시 조사하기 어려웠음이 사 실이다. 이러한 물질들은 대부분 분말, 다공질의 고체, 끈적끈적한 것, 겔, 기름, 부유물 등의 형태로 존재하기 때문이다. 반면에 PAS 는 시료의 상태에 무관하게 광학적인 홉수 결과를 비파괴적으로 쉽게 얻을 수 있는 특징이 있다. 게다가 PAS 는 검출기에 따른 한계가 제 한되지 않는, 즉 자외선 영역에서 적외선 영역까지 확장되며 심지어 는 그외의 파장 영역에서도 관찰되는 것으로 그 적용 영역이 실로 다양하다. 따라서 화학, 물리뿐만 아니라 전자, 재료 등 여러 분야에 서 연구 성질에 따라 쉽게 변형, 적용될 수 있는 기술이다. 가까운 미래에 광음향 분광범은 많은 실험실에서 일반적이고 유용한 분석, 연구 기술로 쉽게 정착될 것이고 분광학적인 도구뿐만 아니라 열적 또는 탄성 성질의 비분광학적인 검출법으로도 유용하게 쓰일 것이다.

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제 15 장 표면 및 계면 탐구를 위한 타원편광법 김성규 15.l 서론 타원편광법 (Ellip some try)은 빛이 표면(혹은 계면)에서 반사되었을 때 업사광의 편광 상태가 바뀌어지는 정도로부터 계면의 광학적 성 질을 알 수 있는 방법이다. 타원편광법은 1808 년까지 거슬러 올라갈 정도로 역사가 깊다[l]. 그리고 균일한 계면에 대해서는 고전 광학적 으로 정리된 수식 들 로 잘 표현되어 있다. 1963 년 미국 워싱턴 D.C. 에 서 처음으로 타원편광법 전문가들이 모여 타원편광법의 정의, 이론, 분석 방법의 소개가 이루어진 후 [2], 1968 년 [3], 1975 년 [4], 1979 년 [5] 모임이 이루어지는 동안 계산 알고리즘, 실험 오차 분석, 거치른 표 면 효과 처리 등 소프트웨어적인 문제들과 효율적인 자동화 를 위한 하드웨어 문제들에 대한 발전을 이룩하였으며, 다양한 응용으로 전 자기성 박막(t h i n film ), 반도체성 박막, Lang m uir -B lodg e tt 박막, 지 방질 생체막 둥의 관찰 , 금속 표면의 산화 현상, 고체 표면 위의 기 체 홉착 현상, 고체 표면충의 재배열 현상 둥이 많이 연구되었다. 특 히 고체 위에 형성된 박막, 코팅 둥의 두께 룰 비파괴적으로 측정하기

위한 장비가 상용화되어 널리 쓰이고 있으며 반도체 산업에서 반도 체막의 성장 과정을 실험중인 그 상황(i n s it u) 에서 직접 추적할 수 있는 방법으로 활용되고 있다 . 참고문헌 [6] 은 타원편광법의 이론적 배경 , 방법, 최근의 발달상을 잘 정리하였으며, 참고문헌 [7] 은 보다 쉽게 실용적 인 측면을 잘 설 명하였으므로 초보자에게 특히 추천하고 싶다. 한편 고전적인 타원 편광법은 연구하려는 계면의 구조가 불균일함 에 따라 보다 복잡한 방법을 채택하여 발전되었는데, 그 하나 는 분광 타원편광범 (S p ec­ tro scop ic Ellip s ometr y)[ 8, 9] 으 로 빛의 편광 변화 를 여 러 파장에서 관측하여 스펙트럼화하고 모델화된 계면에 맞추어보는 방법이다. 또 다른 방법은 편광 변화 를 2 차원 표면에 대해서 영상화하는 방법이다. 이런 1960 년대의 타원편광법에서 부터 최근의 타원편광법의 발전을 이루는 동안 수천( 혹은 수만) 편의 논문들 중에서 주로 방법론적인 측 면에서 주목할 만한 94 편의 논문을 재편집한 참고문헌 [10] 도 주목할 만하댜 이 장에서는 타원편광법의 기본적인 방법을 설명한 후 몇 가지 적 용 사례 를 살펴볼 것이며 타원편광법의 영상화 등을 살펴볼 것이다. 한 가지 아쉬운 것은 지면관계상 분광 타원편광범에 대한 소개를 제 외할 수밖에 없다는 점이다. 15.2 타원편광법의 기본 15.2 .1 빛의 편광 상태 편광 상태란 빛의 전기장의 크기와 · 방향의 상태를 가리킨다. 보통 의 빛은 전기장 벡터에 일정한 방향성이 없지만 비등방성 결정을 통

과함으로써 편광성을 띤다. 예를 들어 레이저 빛은 증폭되는 동안 공 명기 안에서 비등방성 물질을 통과한다거나 반사되어 선편광(li nearl y p olar i zed) 되어진다 일반적으로 편광된 빛의 전기장 백터는 빛의 진 행 방향에 (z 축으로 하겠음) 수직 한 두 방향의 (s, fr-죽으로 하겠음) 벡 터 합으로 나타낼 수 있댜 이 를 행렬 방식으로 나타내면 식 (1 5 .1)과 같다. E = exp [꾹 (z-v t)][ Ef ;ia ] (15 .1) 위의 식 에서 j = {二 I 이며 A 와 쩌즌 빛의 파장과 속도이다. E: 와 E~ 는 전기장 백터의 두 직교 성분의 크기를 나타내며 8 는 이들 사이 의 위상차 를 나타낸다. z 축상의 한 점에서 E 의 방향과 크기를 시간 적으로 관찰하면 (s, p) 평면 위에서 일반적으로 타원 궤도를 그린다. 이 타원의 타원도 (e llipti c ity)는 8 가 결정하며 타원의 기울어짐은 E : 와 E 詞 비율이 결정한댜 특별히 8 가 0 혹은 겹 때, E 는 선 편광이라 한댜 이 경우 E 의 방향은 g표으로부터 c/J =ar ct an(E~~) 의 각도에 고정되어 있댜 또한 8 = 꿈 이고 E~=E 醫일 때는 원편광 (cir c ularly po lariz e d) 이 댜 15.2.2 매질의 광학 상수와 광학 요소들 빛이 한 매질에서 다른 매질로 입사될 때 투과, 굴절, 반사가 일어 난다. 이 과정에서 빛의 편광은 각 매질의 복소 굴절률 (com p lex refr a c tive in dex) 에 의 해 변화된다. 복소 굴절률( N) 은 보통 굴절률 로 불리는 n 과 빛의 홉광계수 (ex ti n cti on ind ex) k 로 식 (1 5.2) 와 같 이 표시된다.

표 15.1 몇 가지 고체 결정의 광학 상수 들

고체 n k 스° IJf. w 3.41 2.63 130.0 · 23.3. Ni 2.0 1 3.75 121 .0 · 33.2' AI 1.21 6.9 2 140.4° 4l.9° Au 0.1 6 3.2 1 104.7° 43.7 Si 3.8 8 0.0 2 178.5° 10.5 다이아몬 드 2.4 1 0.00 칼사이트 l.4 8(e 축) 0.0 0 1 . 65(o 축) 0.0 0 t::,.· ' ljf. 는 <1> 1= 7 0 , A =6 328A 인 경우 에 계산된 것입

N= n— jk (15 .2 ) n 과 k 는 빛의 파장에 의 존 하지만 매질의 홉수띠에서 벗어난 파장 에서는 매우 약한 파장의존도 를 보이며 그런 파장에서 타원편광법을 쓰는 것이 보통이다. 표 15 .l에는 6328 A 파장에서 여러 물질 의 n 과 k 를 나타냈다. 표 15 .l에서 칼사이트 (calc it e) 의 경우는 n 값이 두 축 ( o 축 과 e 축)에 대해서 상당히 다른 값을 보인다. 이러한 결정을 복굴절 ( b ir e fri n g en t) 결정이라고 한다. 또한 두 축에 대한 k 값이 상당히 다른 결정도 있 을 수 있다. 이런 결정을 이색성 (d ic hro i c) 결정이라고 한다. 이색성 결정은 두 축 (o 축과 e 축)에 나란한 전기장 성분 들간 의 홉광계수가 크 게 차이가 나서 결국 편광의 기울기 를 변화시킨다”. 값싸게 얻을 수 있는 폴 라스틱 편광기(p olar i zer) 는 한쪽 방향으로 잡아당겨진 고분자 결정에 나타나는 이색성을 이용한다.

1) 원형 이색성(ci rcular d i chro i sm) 과 광학적 회전 분 산 (o pti cal rota t o r y dis - pers io n ) 분광법에서는 원편광된 빛의 비등방성 전파와 홉광도로 정의하므로 반 대의 결과 가 나옴 울 유의하기 바란다.

복굴절 결정은 두 축(o축과 e축)에 나란한 전기장 성분간의 전파속 도가 크게 차이가 나서 결국 두 성분간의 위상변화를 준다. 이는 편 광의 타원도를 변화시킨다. 복굴절 결정의 두께 d를 위상변화 (27r(n。-ne)d/A)가 7r/4에 홀수배가 되도록 만들면 선편광된 빛 을 통과시켰을 때 원편광된 빛으로 바꾼다. 또 그 반대의 변환도 가 능하댜 이 러 한 광학 요소가 사분파판(quarter waveplate)이 다. 사분 파판이 입사광에 7r/4의 위상변화를 유도하려면 결정의 광학축(e축 혹은 o축)을 입사광의 편광축과 45·의 각도를 놓아야 한다. 그 밖의 각도에서는 위상변화가sin20(0 :광학축과 편광축의 각도)에 따르는 변화를 가져온다 그런 의미에서 사분파판은 지연판(retardation plate)이 라고도 불린다. 또한 타원편광법에는 시료의 복굴절성을 반 대로 보상하는 역할을 하기 때문에 보상기(compensator)라고도 불린 댜 한편 위상변화를 7f/2의 정수배가 되도록 만들어진 복굴절 결정 은 입사광의 편광축을 20만큼 회전시키기 때문에 선편광된 빛의 편 광축을 원하는 각도만큼 돌린다. 이런 역할을 하는 광학 요소가 이분 파판(half waveplate) 이 다. 15.2.3 편광의 반사 편광된 빛이 표면에서 반사될 때는 입사면에 평행한 성분(Ep)과 수직인 성분(Es)이 다른 반사율을 보인다. 그림 15.l(a)에 등방성 매 질의 경우 각 매질의 복소 굴절률, 입사 평면(incidence plane), 입사 각( 3), Ep, Es 의 방향 둥을 나타냈다. 각 전기 장 성 분 에 대해서 반사 계수(Z,Z)들은 일반적으로 복소수이며 아래의 Fresnel 식을 따른다. 아래의 식과 그립 15.1에서 아래첨자는 매질을

(a) Ep 표면수직

Es 복소굴절률=N2

(b)

복소굽절률큰.N.1 .. 복소굴절률=N2 복소굴절률=N3

그립 15.1 계면에서의 편광 반사. (a) 고체 표면, (b) 고체/막 계면. 매질 l은 보통 진공이나 공기이며, 2는 박막, 3은 기판을 대표한다.

나타내며 매질 l은 보통 진공이나 공기, 매질 2는 박막, 매질 3은 기 판을 나타낸댜 (s 성 분) rs= NN—11 ccooss ((JJ)) 11+ -N N—33 ccoo ss ((JJ)) 33 = | 一r』e jI 8u ,• (15.3) (p 성 분) rp= 썬N3- ccooss ((/J)) 11+- N산1 .cCoOsS ((J/)) 3드 | rp I e j 8 ' (15.4)

(Snell의 법칙) Msin © 1=Msin © 3 (15.5) 실제적으로 탐지되는 빛의 세기는 전기장 세기의 제곱에 비례하므로 반사율을 다음과 같이 정의한다. Rs= I rs I 2, Rp= I rp I 2 (15.6) 광학 교과서를 보면 빛의 입사 각도에 따라 Rs, Rp를 여러 매질에 대하여 계산된 결과를 볼 수 있다. 진공( N;=l.00)으로부터 투명한 매질( k3=0), 즉 유전체(dielectric material)로 입사되는 경우 Rs는 입사각이 o·일 때 0.1 정도의 값에서 입사각이 중가함에 따라 꾸준히 증가하여 go· 에서는 1이 된다. 반면 Rp는 o· 에서는 Rs와 같으나 입 사각에 따라 감소하여 0이 되었다가 다시 급격히 증가하여 l이 된다. Rp의 값이 0이 되는 입사각, 즉 식 (15.4)의 분자가 O이 되는 (J) 1을 브루스터(Brewster) 각이라 한다. 진공에서 유전체에 입사되는 경우 브루스터 각은 arctann3와 같으며 n3=1.5일 때 56·이고n3=3.0일 때 71°이댜 반사하는 매질이 빛을 홉수하는(k2*O) 경우에는 Rs, R눕 전체적으로 증가된 값들을 나타내며 Rp는 0이 되지 않지 만 위의 브루스터 각 근처에서 최소값을 가진다. 대개의 고체 결정들 이 70° 입사각 근처에서 최소의 Rp값을 가지므로 주로 이 각도 근 처에서 타원편광법을 사용한다. 반사체가 고체 표면 위에 두께가 d인 막인 경우 그립 15.l(b)에 나 타난 대로 계면충에서 반사와 굴절을 반복한 반사광을 얻는다. 이때 Fresnel 반사 계수는 다음과 같고 이 식 들을 Airy-Drude 공식 이 라고 부른다[11].

rs= 1r ,+( 1r.2() 1 +2) rr,.((2233)) eexxpp (( —-jj 22 aa )) <15.7) rp= 1r p+( 1rp2()l 2+) rrpp((2233)) eexxpp(( —-jj22 8o )) (15.8) a = ~21rd N一2 cos (/) 2 (15.9) 위의 식에서 Z(l2) 등은 식 (15.3)-(15.5)를 매질 l과 2 사이 등에 적용하여 얻을 수 있다. 이 외에도 기판이 바등방성 결정인 경우, 막이 비등방성인 경우, 다층막인 경우 등에도 복잡하긴 하지만 반사율을 유도할 수 있다. 이 들에 대해서는 참고문헌 [6]이나 [8]을 참조하기 바란다. 15.2.4 반사에 의한 타원편광성 변화 편광된 빛이 반사를 일으킬 때 s 성분과 p 성분은 서로 다른 반사 율과 위상변화를 겪는다. 식 (15.3)-(15.9)에 나타난 대로 s 성분과 p 성분의 반사율의 차이는 타원편광의 기울기를 변화시키며 기울기가 돌아가는 각도 lJf는 다음과 같다. tan lJf = II -rr,』, I (15.10) 한편 s 성분과 p 성분의 위상차는 반사 전( 0 ;)과 반사 후( 01) 차이 가 있어 편광의 타원도에 변화를 준다. 이 위상차의 변화를 ^(= 8 ;_ 8 f)로 나타낸다. 복소 반사율 7-는 다음과 같이 정의할 수 있다.

—p = ---따-= f- = tan IJf e jc,. (15.ll) rs 결국 타원편광법에서는 A과 lJf를 실험적으로 얻고 이룰 통하여 계 면의 복소 굴절률을 얻는다. 15.2.5 타원편광범의 방법 그림 15.2는 기본적인 타원편광법의 여러 광학 요소들의 배치로 광 원, 편광기, 보상기, 분석기 및 탐지기로 광전중배관이 나타나 있다. 광원은 단색성과 편광성이 뛰어나야 하므로 레이저가 적합하고 6328 A의 He-:-Ne 레이저가 가장 많이 쓰이고 있댜 편광기는 일정한 방 향의 선편광된 빛을 통과시킨다. 광원이 편광이 아니면 이 편광기의 각도로써 일정한 방향의 선편광을 얻을 수 있지만, 이미 선편광된 레 이저 광원의 경우에는 편광기가 선편광성을 더 높이는 역할을 한다. 레이저 광원의 선편광 각도를 돌려야 할 때는 편광기를 돌릴 수 없 으므로 이분파판을 써야 한다. 편광기로는 칼사이트와 같은 비동방 성 결정을 프리즘으로 만들어 접합시킨 글랜-톰프슨(Gian-Thompson) 방식이 많이 쓰인다. 이런 편광기는 소광도가 l0-5에 이른다. 보상기 는 사분파판을 의미한다. 분석기는 편광기와 같은데 단지 반사된 빛 의 편광 상태를 조사하는 기능을 하기 때문에 다른 이름이 주어졌다. 그림 15.2(a)는 타원편광법을 쉽게 이해하기 위한 구도로 PSCA 구도라고도 한다. 편광기에 의해 시료 평면에 입사되는 빛은 편광기 P에 의해 선편광되었다. 반사된 빛은 일반적으로 타원편광이며 보상 기 C를 돌리면 다시 선편광으로 만들 수 있고, 선편광의 방향은 분 석기를 돌려서 빛이 최소로 광전중배관에 잡히는 점(영접)으로부터 알 수 있다. 죽, 주어진 편광기의 각도에서 영점을 가져다 준 보상기

(a): I 三영점

\ I 三/

(,~

그림 15.2 타원편광법의 배열 (a) 개념적인 구도, (b) 영접 추적을 위한 구도, (c) 광계측법을 위한 구도. p:편광기, H:이분파판, C:보상기, A:분석기, PMT:광전중배관.

와 분석 기 의 각도를 찾으면 ^과 1Jf를 계산할 수 있다. 같은 원리 이 지만 실제적으로는 그림 15.2(b)와 같이 보상기 C가 편광기 P와 시 료 평면 사이에 놓임으로써 타원편광을 입사시키는 구도(PHCSA)가 더 많이 쓰이는데, 이 구도에서는 보상기 C의 광학축을 45·에 고정 하고 편광기 P(혹은 반파장판 H)와 분석기 A를 돌려가면서 영점이 되는 각도를 찾는다. 이러한 방법이 측정된 각도와 6, 1Jf의 관계를 더욱 간명하게 한다. 여기서 각도의 약속에 대해서 언급할 필요가 있다. 편광기, 보상기, 분석기의 각도는 모두 빛의 진행 방향을 거슬러 바라보았을 때 입사 평면으로부터 시계 반대 방향으로 정의한다. 이런 방법으로 각도를 정의하면 한 영점을 나타내는 편광기와 분석기 각도의 조합은 두 가 지 영 역 에 서 가능하다[12, 13]. 영역 2: ―{-

렇지못한 경우 두 영역의 평균값을 취하여 오차를 줄인댜 영점 근 처에서는 광전증배관에 잡히는 광량도 매우 작고 각도에 둔감하므로 정확한 영점에 해당하는 P와 A를 구하기 어려울 때도 있댜 이럴 때 는 영점을 중심으로 같은 세기의 빛이 탐지되는 두 대칭 각도를 읽 어서 평균하는 것이 오차를 더욱 줄일 수 있다. 영점 추적에 근거한 타원편광기에서는 편광기와 분석기가 마이크로 프로세서에 의해 제 어되는 회전 스테이지에 붙어 있으며, 마이크로 프로세서는 컴퓨터 프로그램의 알고리즘에 따라 광전증배관에 탐지되는 빛의 세기가 최 소가 되는 회전 각도를 찾아준다. 영점 추적법을 쓰지 않고 분석기를 일정한 속도로 회전시키면서 광전증배관 신호를 시간에 따라 기록하는 방법이 광계측법(photo­

metric method)이다[14, 15](그림 15.2(c)). 이 방법에서는 보통 편광기 는 45·에 고정되어 있고 보상기의 광학축을 업사 평면에 수직으로 놓든지 아예 제거한다. 그리고 분석기의 각도만을 일정한 각속도((JJ) 로 회전시킬 때 탐지되는 빛의 세기는 다음과 같다. I( t) = I。[1 + a cos (2 (J) t+ c) + /3 sin (2 (J) t+ c) ] 05.16) 위의 식에서 c는 위상의 off set이며 Io는 평균 빛의 세기에 해당된 다. a와 /3는 푸리에(Fourier) 성분으로 D.., lJf와 다음 관계가 있다. cos D= 土Fi5 ' tan lJf = {于군 (15.17) 6.=D (보상기가 없을 때), 6.=D+망_ (보상기가 있을 때) (15.18) 광계측법은 많은 결과에 대해 비선형 최소좌승법을 사용하여 ^, lJf 룰 구하므로 훨씬 정확한 D.., lJf를 제공한다. 또 상당히 약한 광원을 사용할 수 있기 때문에 램프와 단색기를 사용하는 분광 타원편광법

에서는 광계측법을 주로 사용한다. 또한 보상기의 사용은 분석기에 도달하는 빛이 원편광에 가깝도록 하는 것이 더 정확한 측정을 할 수 있기 때문에 경우에 따라 필요하다[l6]. 죽 선편광된 빛이 입사된 경우 평면이 士망에 가까운 위상차를 유도한다면 보상기를 써서는 안 되며, 0나 J[에 가까운 위상차를 유도한다면 보상기를 써야 한다. 15.2.6 6, lJf와 계면의 광학적 성질 측정한 6, IJf로부터 반사 계면의 굴절률( n), 홉광계수( k) 및 계면 두께의 측정이 타원편광법의 목적이다. 우선 반사체가 단순한 고체 기 판이라면 식 (15.3)-(15.5), (15.10)을 정리하여 다음과 같이 나타낸다. n~ -k5 = nI sin2(J) 1( 1 +tan2qJ1(c(o1s +2 s2in1~/2f° 1-Jsf' icno2s66'· s)2in 2 ]21Jf' ) (15.19) 2n3k3 = 갑 sin2(<1P+1 stainn221

당하다. 그림 15.3(a)는 진공중의 Si 기판( N;=3.872—0.037j) 위에 유전체인 SiOi( M=l.46) 막울 주어진 두께만큼 만들었을 때의 t::., ljf 궤도이댜 그러므로 두께를 모르는 막에 대하여 실험적으로 얻어 진 6, lJf롤 이 궤도와 비교하여 알 수 있다. 유전체 막( k2=0)의 경 우 궤도는 막의 두께가 d。=정_(n~-sin2<1>1)-1/2의 정수배가 되면 닫힌 한 사이클을 이룬다. 그림 15.3(a)의 경우에는 d。=2832A이다. 그러므로 이보다 두꺼운 막의 경우에는 다른 방법으로 대략적인 막 의 두께롤 알아야 한다. 그렇지 못하다면 두 가지 이상의 광원 파장 이나 입사 각도에서 6, lJf를 얻고 각각의 조건이 제시하는 막의 두 께 중에서 공통적인 두께를 찾는 방법이 있다. 그림 15.3(b)에서는 6, lJf가 다른 막의 굴절률에 대한 궤도를 보여 준다. 각 굴절률의 궤도는 그림 15.3(a)와 같은 닫힌 사이클을 이룬 댜 막의 굴절률을 모를 경우 이러한 궤도와 실험에서 얻어진 6, 1Jf 룰 비교하여 막의 두께와 굴절률을 동시에 알 수 있다. 그림 15.3(b) 를 보면 ^, lJf 궤도는 막의 두께가 d。의 정수배 되는 곳에서는 잘 구분이 가지 않고 반정수배되는 곳에서 구분이 명확함을 볼 수 있다. 그러므로 막의 굴절률을 정확히 알려면 막의 두께가 d。의 반정수배 에 가까운 곳에서 6, lJf를 측정해야 한다. 막이 홉광을 할 경우( k2=\c0), 6, lJf 궤도는 닫히지 않는다. 막의 두께가 0일 때는 기판의 6, lJf값을 나타내고 두께가 CX)일 때는 막 질이 위순에물 질W((b uMlk,)=로3서.4 1갖-2는.6 63,j ) lJ막f를을 나쌓타아낸 다나.갈 그 때림 ^15, .깐4에 궤서는도 를Si 나기 타냈다. 그리고 k2의 값이 0.2와 1.0인 다른 두 막의 6, 깐 궤도도 나타냈다. k2의 값이 작을수록 나선형 궤도를 나타낸다. k2-0에 따

(a) 360

막의 n=1.46 300 240 180

{b) 180

150 120

그림 15.3 유전체 막의 두께에 따른 t::,,., 1jl 궤도. ~,=70, A= 6328 A 일 때의 계 산을 나타냈다. (a) N;=3.872-O.O37j인 기판〈Si) 위에 N;= I.46 인 유전체 막(SiOi)을 적충할 때, (b) 굴절뮬이 각각 1.46, 1.6, 1.8, 2.0 인 유전체 막을 적충할 때. 각 경우 100 A마다 나타냈다(참고문헌 [71).

130 110 N=3.41-1.o i 90 。 10 20 30 i:

그립 15.4 홉광체 막의 두께에 따른 6, lJf 궤도. ~ 1=70° , 11 =6328 A 일 때 의 계산을 나타냈다. N;=3.872一0.037j인 기질(Si) 위에 Nz= 3.41-2.63j인 홉광체 막(W)을 적충할 때, 또 M=3.41 —l.Oj, 3.41-0.2j인 막을 적충할 때 각 경우 조그만 접들은 10 A마다 계산 되었으며 큰 점들은 50-500 A마다 계산된 것이다(참고문헌 [7]).

라 닫힌 사이클의 궤도에 접근한다. 또한, 막의 두께가 얇을 때는 6, W 변화가 크며 따라서 그림 15.4에서 lO A마다 조그마한 점들로 나 타냈다. 그러나 막의 두께가 커짐에 따라 6, 1Jf 변화가 작아 훨씬 큰 간격 의 (50-500 A) 점 들로 나타냈다. 15.2.7 기판의 굴절률이 미지수일 때 실험적으로 측정한 6, 1[f로부터 막의 두께(d)와 복소 굴절률( Ii;)

을 구하기 위해서는 기판의 복소 굴절률( 꼬;, 혹은 m, &)을 정확히 알아야 한다. 기판의 복소 굴절률을 문헌값에만 의존하는 것은 안전 하지 못하다. 많은 금속들이 성장 과정의 조건에 따라 결정 구조가 달라지므로 다른 광학 상수들을 보이기 때문이다. 막이 입혀지지 않 은 기판에 대해서 미리 타원편광법으로 ^°, lJf°를 구할 수 있다면 별 문제가 없으나 그렇지 못한 경우가 많다. 특히 금속은 쉽게 산화 막을 형성하기 때문에 타원편광범을 진공 중에서 하지 않는 한 정확 한 스° , lJf° 를 얻기 어렵다. 미지의 ^° , lJf° 를 얻을 수 있는 방법은 두 가지 이 다. 첫 째 는 Auger 분광기 나 러 더 퍼 드(Rutherford) 후산란 분광기 (Backscattering Spectrometer) 같은 표면 분석 장비 의 도움을 받는 것이고 둘째는 추정치의 사용이다. 이들 표면 분석 장비는 특히 진공중의 막의 두께에 대한 정보를 얻을 수 있어 유용하다. 막의 두 께가 알려진 시료를 여러 개 준비하여 6, lJf를 측정하여 궤도를 그 리면 거꾸로 ^° , lJf° 룰 찾을 수 있다. 일단 스° , lJf° 가 결정된다면 번거로운 표면 분석 장비에 더 이상 의존할 필요는 없다. 또한 추측 을 하는 방법은 두께를 모르는 여러 박막 시료의 6., lJf를 궤도상에 나타내 놓고 필름의 두께가 작아질수록 6, lJf값은 시계 방향의 곡선 을 그리면서 ^° , lJf° 에 접근한다는 사실에 근거해서 추정할 수 있 다. 추정한 스° , lJf° 룰 가지고 계산된 6, lJf값과 측정된 6, lJf 점들 의 일치 여부를 반복 조사하여 추정한 스° , lJf° 의 오차를 줄일 수 있다. 이러한 방법은 고체 표면의 산화막 형성과 같이 박막의 성장을 임의로 제어하기 곤란한 경우에 적합하다. 15.2.8 표면의 거칠기 효과 지금까지의 타원편광법의 식들은 매끈한 표면을 가정하였으나 실

(a) (b)

그림 15.5 표면의 거칠기 효과. (a) 거치른 표면에 의한 간섭, (b) 유효 매질 근사 (EMA)에 의한 계면.

제 표면은 어느 정도의 거칠기를 가지고 있으므로 그 효과를 고려해 야 한댜 거친 정도가 빛의 파장보다 큰 경우에는(거시적 거칠기) 단 지 빛을 산란시키므로 반사되는 빛의 양을 줄이는 효과만을 나타낸 다. 그러나 거칠기가 빛의 파장보다 작은 정도라면(미시적 거칠기) 새 로운 간섭 효과를 고려해야 한다. 이런 간섭 효과에 의해 표면의 !::., ljf가 영향을 받으므로 적당한 굴절률을 갖는 박막으로써 거친 부분 의 간섭 효과를 줄일 수 있다(그림 15.5) 이를 유사 매질 근사법 (Effective Medium Approximation)이라고 한댜 굴절률을 계산하는 이론은 여러 방법이 제시되었으나 Aspnes 둥[17]이 정리한 바를 따 르면 거친 표면 구조에 의해 새로이 나타나는 쌍극자 유도 편극 효 과를 계산하는 방식으로 Bruggeman의 방식[18]을 택하여 다음과 같 이 나타낼 수 있다. fl 陶짜-+2瓦定 +I2 핥핥+--:t=瓦ft; =O (15.21) 위의 식에서 w;』곱는 각각 기판과 그 위의 매질의 복소 굴절률이고

瓦가 구하려는 유효 굴절률이다. /1./2는 이들이 거치른 표면 구조 에서 차지하는 부피비이다. 예를 들어 공기중의 Si 표면의 거치른 모 양을 피라미드형으로 가정한다면 f공기=2/3, /s;=l/3이다. 위의 f값들이 표면 거칠기의 구조에 따라 달라지기 때문에 위의 유사 매체 근사법은 상당한 제한을 받는다. 실제로 단파장 타원편광 법으로 거친 구조를 알 수 있는 방법은 없으며 대부분의 경우 무시 하거나 적당한 가정에 의한 모델링을 할 뿐이다. 거친 표면의 구조를 정확히 알려면 여러 파장의 광원을 사용하는 분광 타원편광법을 사 용해야 한다. 15.3 편광 분광법의 적용 그림 15.3(b)에서 Si 위의 여러 가지 굴절률을 가진 박막의 ^, 1Jf 궤도를 보면 박막의 두께가 처음 50 A까지는 굴절률에 매우 둔감함 을 알 수 있다. Langmuir-Blodgett 막, 자연 산화막, 화학 홉착된 단 충막 둥이 이런 정도의 두께를 보이는 초박막에 해당된다. 그림 15.3(b)에서도 알 수 있듯이, 특히 초박막의 경우 W는 두께에 매우 둔감하고 스만 두께에 민감하다. 그림 15.3(b)의 경우 ^의 변화가 o.25° 일 때 두께 변화는 약 1 A 정도에 해당된댜 이 정도는 편광 분 광법의 분해능 안에 있으므로 단충막의 분율까지도 확인할 수 있다. 이런 분해능을 이용하여 고진공 혹은 초고진공 안에서 깨끗하게 처리된 고체 표면에 기체의 적충을 타원편광법으로 많이 살펴보았다. 많은 연구 결과에서 8^(=스-A° )는 덮임률에 비례함을 확인하였다. 따라서 8^를 기체의 노출양에 따라 나타내면 이상 흡착의 경우 Langmuir 등온식을 따르는 곡선을 확인할 수 있으며[19] 새로운 단

충막이 형성될 때마다 8^의 갑작스런 증가를 볼 수 있다[20]. 또한 81:':,를 기체의 노출 시간에 따라 관찰하여 반응속도를 측정할 수 있 다[21). 그 밖에 깨끗하게 처리된 금속 위에 홉착된 기체들에 대한 몇 가지 예를 표 15.2의 참고문헌에 나타냈다. 또한 반도체 산업에서는 여러 형태(웨이퍼, 결정, 막)의 기판 위에 화학 증기 증착법이나 에피택시얼 방법으로 다결정 Si를 성장시키는 과정을 타원편광법으로 제자리에서(in situ) 관찰한다. 이 과정에서 어려운 점은 다결정 Si가 성장함에 따라 결정 구조가 변화할 기능성 이 크기 때문에 성장 조건에 따라 굴절률에 큰 차이가 난다. 따라서 성장하는 Si의 두께를 정확히 추적하기가 어렵다[31-33). 또 Si아 막 이 형성되어 기판과 성장하는 다결정 Si 사이의 계면의 성질이 변하 는 점도 어려운 문제이다. 그러므로 Auger 분광기 등의 표면 분석 장비의 보조에 의존하거나 분광 타원편광법에 의존한다. 이외에도 타원편광법의 많은 적용 사례를 찾아 볼 수 있으며 표 15.2에 단파장을 사용한 몇 가지 적용 사례를 골라 분류하여 보았댜 그러나 표 15.2에는 빠진 적용 사례가 무수히 많을 것이다. 15.4 타원편광법의 동적 영상화 타원편광법은 표면 혹은 계면의 복소 굴절률과 두께에 대한 정보 룰 제공하지만 이들은 조사되는 부분의 공간적인 평균값이다. 그러 므로 공간적으로 불균일한 계면에 대해서는 표면의 각 지점에서의 복소 굴절률과 두께를 조사할 필요가 있다. 이러한 목적을 위해 간섭 법에 근거한 여러 광학적인 방법들이 개발되어 있지만 대개 1000 A 이하의 두께는 탐지하지 못한다. 영상간섭법[57]은 두께의 분해능과 평면 점들의 분해능이 매우 뛰어나지만 순간적인 영상화가 불가능하

표 15.2 단파장 타원편광법의 적용 예

분류 적용 계면.

[CO, 071Ag/19], [Xe/Ag 또는 Ptf20], [Oz/Bef21], [N0, (초)고진공에서의 02, CO/Cu/22 ], [OJ/(Pt)/Ni/23], [OJ/Al 필름!24], [Oz, 고체 표면 위의 N2, CO, CO2, H2, CH1, /Si 필름/25], [OJ/Si/26), [02, 기체 흡착 H2, PH:v'Si/27], [Kr, Xe, 아, C沮2,부탄/Si/281, [O//29), [H2, 02, CO/Ru/30) 반도체 박막의 [Si/수정/31 ~33], [Sit-xGe✓SV34], [SiO?!Si/35), A01又0)-[SbNJSi/36] , [SiO.Ny/GaAs/37] [Ar, He, H2 이온빔/SV38l, [플라즈마 표면 치리/39], [열 표면 처리 처 리(anealing)/40), [레이저 열처리/41) 쿠口 공기중 [Bi 필름/42], [NV43l, [InP/44] 속= 의 풍라즈마 [Ta/45), 산~I- 화전학기적 [Zr/46], [Ti/47], [V/48], [PbOvPb/49], [Mg()2fPl:/50] 유기 박막 [azoles/Cu/51 ~53), 고분자 박막 [albumin/SiO忍],[PMMA 용액/55], [PMMN血%6]

• [ / / ]은 계면의 뭉질을 위충에서 밑충(기판)으로 가면서 나타낸 것이다. 마지막 숫 자는 참고문헌 번호이 다.

다. 타원편광법을 유지하면서 시료 평면을 주사(scan)하는 방법을 생 각할 수 있지만 시료 평면의 한 점에서 다른 접으로 옮기고 편광기 등을 재조정하는 데 약 4초가 걸린다면(l00X100) 점을 움직이는 데 약 11시간이 걸린다. 따라서 이러한 방법은 짧은 시간 간격으로 시료 의 불균일성을 관찰하는 데 적합하지 않다. 최근에 개발되고 있는 방법은 조사되는 평면에 대하여 타원편광도 를 영 상화하는 방법 이 다[58-61]. 특히 Cohn, Wagner, Kruger 둥이 개발한 방법[60, 61]을 동적 영상화 미세 타원편광법(Dynamic Im-

aging Microelliposometry : DIM) 이 라고 한댜 그 장치 는 광계 측법 을 위한 그림 15.2(c)의 장치를 약간 변형한 것으로 그림 15.6에 개략도 가 나타나 있댜 특기할 것은 CCD 카메라와 디지털 영상을 처리할 수 있는 컴퓨터 기능이다. 또 CCD 카메라 영상이 충분한 명암 대비 를 나타내기 위해서는 반드시 레이저를 광원으로 사용해야 하는데, 레이저의 공진성 때문에 렌즈, 편광기, 시료 등의 미세한 결점이나 먼지에 의한 간섭 효과로 인한 얼룩덜룩한 점들이 나타나기도 한다. 이룰 제거하기 위해서 간섭성 제거 장치(coherence scambler)를 해야 한다. 간섭성 제거 장치는 1800rpm으로 회전하는 갈아진 유리판에 레이저 빔을 통과시키거나[6이 오디오 스피커에 감겨 혼들리는 10미 터 정도의 광섬유에 레이저 빔을 통과시킨다[62]. 후자의 경우가 간 섭성 제거에 더 효과적이다. 그 대신 광섬유를 사용하는 경우 레이저 빔은 직진성을 잃기 때문에 렌즈를 추가로 사용한다. 참고문헌 [61] 에서는 간섭성이 적은 다이오드 레이저를 사용하였다. 광계측법에 의한 타원편광법에서는 입사 편광의 각도(P), 보상기의 각도(C), 분 석기의 각도(A) 중에서 두 개의 각도를 고정하고 나머지 한 각도(주 로 분석기 A)를 돌려서 탐지기의 신호를 추적한다. 그러나 각도마다 탐지기의 신호를 기록하기에는 시간이 부족하므로 최소로 필요한 각 도에서만 탐지기의 신호를 기록하는 방식을 택한다. 이 경우 정확성 은 떨어지지만 빠른 시간에 f::::., 1Jf를 알 수 있다. DIM의 P, C를 주 어진 각도에 고정시켜 놓고 A는 -45· , o· , 45· , go·에서 각각 영상 점들의 세기를 기록한다. 그러면 각 영상 점에서 스, lJf가 다음과 같 이 계산된다. 6 = arcc2Vo I(0s ° [)I(~90 ]° ) -arctan [s~in2C ] (15.22)

재홍

063° 회전대 --------- --;二一〔三〉:RC223- gFera mrrebab |―-~글- &화면기제어 gtIn eregime apscroe rso二三一PCA/ 퓨터디크스 장치T컴& 저장三一三

6[)]a0.) ( 헌문고참( 도 략개 의치장 1DI.M56 립그

tan 1Jf = l1 +— ccoo ss22CC ccooss22((PP——CC)) 尸V 1(9工0 • ) (15.23) 만일 A 대신 P를 각각 -45° , 0° , 45° , 90° 에서 했다면 식 (15.22), (15.23)의 P 대신 A가 사용된댜 이런 방법으로 표면의 2차원적인 스, lJf 영상 지도를 보통 (480X512) 점으로 나타낸다. 각 영상 지도 롤 얻는 데 걸리는 시간은 -45° , 0° , 45° , 90° 의 네 각도를 편광기가 움직여야 하는 시간과 컴퓨터 디지털 영상을 처리하는 시간에 좌우 되는데, 현재의 기술로는 4초 정도 걸린다. 또한 영상의 크기와 각 점들의 분해능은 망원 렌즈의 배율로 결정되는데 그 배율의 한계는 결국 조사되는 레이저 범의 밝기와 CCD 카매라의 조도가 결정한다. 점분해능은 배율과 카매라의 분해능이 결정하지만 궁극적으로는 빛 의 파장 정도의 공간분해능을 가질 수 있다. 참고문헌 [60, 61]의 장 치는 약 lQXlO µm의 공간분해능으로 6., 1jJ의 오차가 각각 0.4· ' 0.15° 정도의 영상 지도를 4초 안에 그릴 수 있다. 또한 스, lJf의 정확한 값 대신 그들의 대략적인 변화만을 CCD 카 매라의 빠르기로 관찰할 수 있다. 이런 타원편광 영상 기술을 가지고 Rotermund, Ertl 동은 초고진공에서 준비된 Pt 금속 위에서 일어나 는 CO+l/202-C아 반옹의 시공간적인 진동, 카오스(chaos) 등의 패턴 형성 과정을 연구하고 있다[62]. 이러한 기술을 표면 영상을 위 한 타원 편 광 현 미 경 (ellipsometric microscopy for surface imaging : EMSI)이라고 부른다. 이 장치는 DIM 장치와 거의 같댜 다른 점이 있다면 레이저를 좀더 센 출력의 Ar 이온 레이저를 사용해야 하는데 이는 주로 6., 1jJ 변화가 매우 작은 단분자층 이하의 변화를 관찰하 기 때문이다. 또 다른 차이는 CCD 영상의 실시간 디지털화를 하지 않는다는 점이다. 그 대신 바탕 영상을 제거하는 작업이 필요하다. 그림 15.7은 이런 실시간 영상의 한 예를 보여준다. 이 그림에서 회

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색 바탕은 0에 의해 포화된 Pt(ll0) 표면을 나타내며 이 표면은 lXl 구조를 가지고 있다[63]. 이렇게 0에 의해 포화된 표면의 타원편광 영상이 바탕 영상 재거에 의해 전체의 배경이 된다. 0에 포화된 표 면에 일정 량의 CO를 넣어 co+o -► CO2 반응과 CO, 0의 비등방성 표면 확산이 비선형직으로 어우러져서 CO 덮임률이 커진 부분이 나 타난다. co의 덮임률이 0.2를 넘은 부분의 표면 구조는 1x2 형태[63] 이기 때문에 0가 포화된 표면과는 다른 광학 상수를 가져 EMSI 영 상에서 다른 명암(그림 15.7에서 검은색의 링들)으로 나타난다. 영상의 형태는 02, co의 부분압과 온도에 따라서 링형, 나선형. 정상파형, 고립파(solition)형, 빗방울형, 카오스형, 단순 진동형 등 다양한 형태 가 나타나며 비선형 화학반응식의 답과 비교할 수 있다[64]. 이런 패 턴 연구는 주로 광전자 방출 현미경법(photoelectron emission microscopy : PEEM)으로 연구되 어 왔으나, PEEM은 10-3 torr 이 하의 진공에서만 가능한 반면 EMSI는 진공에서는 물론 촉매 작용이 원활 히 이용되는 대기압 수준에서도 가능한 실험이다. 참고문헌 [1] E. L. Malus, Nouvel Bull Soc. Philomath. l, 266 (1808) [2] Symp. Proc. on Ellipsometry in the Measurement of Sur/ace and Thin Films, National Bureau of Standards Miscellaneous Publication 256, eds. E. Passaglia, R. R. Stromberg, J. Kruger (Washington, D.C., 1964) [3] Proceedings of the Symposium on Recent Deve/J)oments in Ellipsometry, eds. N. M. Bashara, A. B. Buckman, A. C. Hall (North-Holland Publishing, Amsterdam, 1969), published in

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제 16 장 액정 상태 특성 연구에의 레이저 분광학 0。 一-09 김학진 16.1 서론 일상적인 액체 상태와 마찬가지로 유동성을 갖지만, 결정상 고체 와 유사하게 이방성(anisotropy)을 보여주는 액정(liquid crystal) 상태 는 모든 종류의 물질에서 관찰되는 것은 아니며, 특이한 구조의 분자 들에서만 나타난다. 액정 상태는 19세기 말 처음 Reinitzer와 Lehmann에 의해 관찰되었으며, 현재 수천 종의 유기화합물들이 액 정 상태를 보여주는 것으로 보고되어 있다[1]. 근래에 들어 노트북 컴퓨터, 고화질 TV의 스크린 등 여러 용도의 디스플레이에 다양하 게 응용되고 있는 액정물질들은 신물질의 하나로 활발히 연구되고 있다[2]. 이 장의 전반부에서는 고체와 액체의 중간 형태라는 의미에 서 중간상(mesophase or mesomorphic)이라고도 불리는 액정 상태의 일반적 특성들에 관하여 간략히 살펴보고, 후반부에서는 액정 상태 의 특성 연구에 응용되는 몇 가지 레이저 분광법들에 관하여 살펴보 고자한다.

16.2 액정 상태의 일반적 특성 액정 상태를 보여주는 분자들은 막대나 원반과 같이 기하학적 이 방성을 갖는 구조를 취한다[3]. 이러한 분자들은 결정 상태로부터 균 일한 액체 상태로 변화하기 전에 액정 상태를 보여주는데, 그 특성에 따라 네마틱(nematic), 스매틱(smectic), 콜레스테릭(cholesteric) 상태 둥으로 분류된다. 또한 온도에 따라 액정 상태가 나타나는 열변 (thermotropic) 액정과 용매의 종류와 농도에 따라 액정 상태를 보여 주는 농도 전이형(lyotropic) 액정으로 나뉘며, 고분자 물질 중 일부가 액정 상태를 보여주기도 한다. 16.2.l 액정 상태의 종류와 구조 그림 16.l은 결정 상태와 균일한 액체 상태, 그리고 여 러 가지 액 정 상태의 미시적 분자 배향을 개략적으로 보여주고 있다. 네마틱 상 태는 무질서도 면에서 균일한 액체 상태에 가장 가까운 상태로, 분자 의 장축 방향으로 배향 질서(orientational order)가 높은 편이지만 병 진 질서(translational order)는 없댜 막대형 분자들의 장축을 비교적 평행하게 배열된 경우가 네마틱 상태이며, 이러한 액정계의 이방성 을 표시하기 위하여 분자의 배향에 해당하는 지시자(director)라 불리 는 백터를 도입하기도 한다. 스메틱 상태는 그림 16.l(d)와 16.l(e)에 나와 있듯이 충상 구조를 가진 분자 배열 상태를 가리킨다. 이러한 충상 구조는 층간의 상호작용 정도에 따라 다양한 변형 구조를 가질 수 있으며, 스메틱 A, B, C,… 동 여러 가지 상태로 분류된다. 콜레 스테릭 상태는 광학적 활성(optical activity)을 갖는 분자들이 이루는 액 정 상태로, 그림 16.l(f)에 보여 진 바와 같이 광학적 활성 특성 이 일정 간격으로 반복되는 구조를 갖는다. 광학적 활성이 반복되는 단

I I I I I I I I I \I\\1///l\\\/ \I\!/ | @ |\\I\II /I\

! i ! i ! i ! i ! i \ \ !I iI !I iI I! iI I! Ii I! i I_ — (a) (b) 11111111111111111111111 11111111111111111111111 11111111111111111111111 (d) /////////////////// /////////////////// /////////(e/)/ //////// (f)

그림 16.1 (a) 고재 결정, (b) 균일한 용엑 (c) 네마틱, (d) 스매틱 A, (e) 스매틱 C, (f) 콜레스테릭 상태에서의 분자 배향.

위길이룰 피치(pitch)라 한다. 콜레스테릭 상태 역시 스메틱 상태와 마찬가지로 여러 가지 상태로 분류되는 복잡한 분자 배열을 가질 수 있댜 이러한 액정 상태들은 한 물질에서 조건에 따라 다양하게 나타 날 수 있다. 열변 액정의 경우 온도 증가에 따라 무질서도가 중가하 는 순서의 액정 상태들을 보여주지만 물질에 따라서는 미시적으로는 다르지만 거시적으로 같은 종류로 분류될 수 있는 액정 상태가 반복

하여 나타나기도 한다. 실험실에서 연구자의 손으로 다룰 수 있을 정 도의 거시적인 면에서, 액정 분자가 그림 16.l에 나와 있는 액정 상태 의 배열을 갖도록 하기 위해서는 마이크로미터 단위의 홈을 가진 기 판을 이용한다든지, 기판의 표면을 부드러운 천이나 고분자 물질로 일정한 방향으로 문지르거나 기판의 표면을 배향에 유리하도록 코팅 하는 것과 같은 배향 과정을 거쳐야 한다[4]. 거시적 배향 과정을 거 치지 않은 보통의 액정물질 __ -시약병에 들어 있는 액정물질 —―은 가시광선 파장 단위 크기의 미시적 덩어리가 같은 배향을 이루고 있 댜 이러한 미시적 덩어리의 배향은 지시자 백터로 표시할 수 있댜 시약병 속의 액정물질은 수많은 미시적 덩어리의 합으로 각각의 지 시자가 무질서하게 배향하고 있으며, 거시적으로 배향되어 있지 않 은 지시자 벡터가 영(zero)인 상태이다. 미시적 덩어리는 가시광선을 산란시킬 수 있는 정도의 크기이기 때문에 보통의 액정물질은 콜로 이드 용액과 같이 불투명하게 보인다. 열변 엑정의 경우 온도가 변화 하여 액정 상태에서 균일한 액체 상태로 상전이가 일어나면 불투명 한 용액은 투명하게 바뀐다. 초기의 액정에 관한 연구들은 불투명한 유동물질(액정물질)이 투명하게 바뀌는 과정(이유)에 관한 것들이었다. 이러한 액정물질의 광학적 특성 변화는 전기장이나 자기장을 이용해 도 유사하게 일어나며, 많은 액정 디스플레이 기구들은 이러한 광학 적 특성을 이용하여 액정물질을 광필터로 사용하고 있다. 열변 엑정물질은 네마틱 상태를 거쳐 균일한 액체 상태에 도달하 더라도 상당히 높은 온도 범위까지 미시적 이방성을 가지고 있는 것 으로 알려져 있다. 이러한 미시적 이방성을 가진 액정 분자의 액체 상태는 액정 상태를 이루지 않는 물질의 액체 상테와는 매우 다른 분자 동역학적 특성을 보여준다[3, 5]. 농도 전이형 액정은 두 개 이상의 물질로 구성되어 있다. 흔히 계 면활성제와 같이 친수성의 작용기와 소수성의 작용기로 이루어진 물

질이 물에 혼합될 때 농도 전이형 액정 상태가 나타난다. 좁은 조성, 온도 범위에서 두 개 이상의 액정 상태를 보여주는 농도 전이형 상 태는 매우 복잡하다. 핵산, 단백질과 같은 생물학적 물질들 중 농도 전이형 엑정 상태를 보여주는 예에 관한 연구도 활발히 진행되고 있다. 액정 상태를 이루는 고분자들은 막대형 분자나 원판형 분자를 중 합하여 만드는데, 이러한 액정 상태는 원하는 물리, 화학적 특성을 부여할 수도 있다는 가능성으로 인해 많은 연구가 이루어지고 있다. 이 장에서는 농도 전이형 액정과 고분자 액정 상태에 관한 논의는 제외하고, 열변 액정 중에서 막대형 분자로 이루어진 비교적 간단한 액정 분자계 _ 다른 장들에서 다루어지고 있는 분자계와 비교하면 매우 복잡하지만_에 관하여 논의하고자 한다. 16.2.2 액정 상태의 물리 화학적 특성 액정물질의 많은 물리적 특성은 이방성을 가져 두 개의 값으로 표 시된다[3, 6). 전기장에 의한 물질의 분극 정도를 표시하는데 사용되 는 유전율값은 액정물질의 지시자 방향과 평행한 방향의 값과 수직 한 방향의 값이 서로 다르다. 또한 이 값들의 상대적 크기 역시 액정 에 따라 다르다. 이러한 이방성은 유전율뿐만 아니라 자기 감옹률 (magnetic susceptibility), 굴절률, 확산 계수, 점성도 계수 둥 모든 물리적 특성에서 나타난다. 콜레스테릭 상태의 액정 분자는 광학적 활성도에 이방성이 있다고 할 수 있다. 그림 16.2에 나와 있는 막대 형 분자가 같은 방향으로 배열할 때 분자의 장축 방향(지시자 방향이 라 할 수도 있음)의 성질과 단축 방향의 성질이 다름은 쉽게 예상할 수 있으며, 액정물질의 이방성은 이러한 분자의 구조에 기인한다[7]. 곁가지 기능기들은 알킬기, 알콕시기, 니트로기, 시아노기 둥이며, 두 방향족 고리를 연결하는 결합기들은 탄소-탄소 다중결합, 에스터, 토

R A x A' A'

결합71 곁7fXI 걷?因 (끝7f::i:I)

그림 16.2 액정 상태를 보여주는 전형적인 막대형 분자 구조. 곁가지-방향족 고리­결합기-방향족 고리-곁가지(끝가지)의 순서로 결합되어 있다.

레인, 아조, Schiff 염기 등 다양하다. 이러한 결합기에 따라 액정 분 자들을 분류하기도 한다. 방향족 고리는 반드시 벤젠기일 필요는 없 고, 포화알킬고리나 여러 개의 밴진 고리가 연결될 수도 있다. 또한 헤테로고리화합물이나 유기금속화합물로 이루어진 액정 분자들도 많 이 존재한다. 액정 분자계의 이방성과 연관하여 가장 널리 사용되는 변수가 다 음과 같이 정의되는 분자계의 질서도(order parameter), S=l/2<3co급 0 -l>(16.1) 이다[3]. 여기서 O는 분자계 전체의 장축(각 분자축의 벡터합으로 주어 지는 축)과 각 분자축의 사이각이며, <••• >표시는 계에 포함된 모든 분자에 대한 평균값을 가리킨다. 모든 분자가 같은 방향을 가리키고 있으면 질서도는 l이며, 분자들이 무질서하게 배열, 운동하고 있는 경우 질서도는 0이 된다. 따라서 결정 상태의 질서도는 l에 가까우 며, 균일한 액체 상태가 되면 질서도는 0이다. 액정 상태의 질서도는 이론적으로 0과 l 사이이지만 실제로 0.4보다 크다. 일반적으로 액정 상태에서 액체 상태로 상변이가 일어날 때 질서도는 0.4 정도의 값을 보여준다[3, 6]. 액정 상태의 물리적 특성들과 관계 있는 질서도를 측 정하기 위한 많은 실험 방법들이 개발되어 있다. 액 정 분자의 물리 적 성 질들은 외 부 장(external field)의 변화에 선

형 감응하는 일반적인 특성 이외에 제곱, 또는 그 이상의 비례하는 비선형 감응도를 보여준다[7]. 이러한 비선형 특성은 선형 특성에 비 해 그 효과가 작아 레이저와 같이 매우 강한 외부 장이 존재할 때만 관찰된댜 이러한 비선형 특성에 관해서는 제4장에서 자세히 다루 고 있다. 액정 분자의 비선형 특성은 다른 분자들에 바해 매우 강하 며, 특히 그림 16.2의 결합기에 다중결합이 있어 두 방향족 고리를 포합하여 비편재화된 T 전자들의 공액 길이가 길어지는 경우 비선 형 특성이 매우 크다. 16.2.3 액정물질의 응용 흔히 LCDOiquid crystal display)라고 불리는 여러 가지 액정 디스 폴레이에 사용되는 액정 분자들은, 1970년대 실용화되기 시작한 이래 그 시장이 매우 빠르게 성장하고 있는 물질 중 하나이다[2]. 실용적 으로 이용되는 액정물질들은 대부분 원하는 물리, 화학적 특성을 강 화시킨 혼합물이거나 색소 분자와 같은 여러 가지 물질들을 소량 첨 가하여 만든다. 또한 고분자 액정물질뿐만 아니라 일상적인 고분자 물질을 매질로 하여 액정 분자를 분산시킨 재료를 사용하기도 한다[9]. 이러한 액정을 이용한 디스플레이 기구들은 액정 분자의 여러 가 지 광학적, 전자기적 특성을 이용하여 작동하고 있으며, 각 기구들에 서의 액정 분자 특성들을 분자 수준에서 정확히 이해하는 것이 쉽지 는 않다. 순수한 물질로 이루어진 액정 상태의 물성 및 동역학적 특 성에 관한 미시적 지식이 충분치 않은 현재, 혼합물이나 전기장이나 자기장과 같은 외부 영향을 받는 혼합물 시료의 특성에 관한 연구를 하는 것은 이론 및 실험적 측면에서 많은 어려움이 따른다. 하지만 다른 기술들과 마찬가지로 관련 현상에 관한 기초 과학적 이해가 그 응용 기술들에 크게 도움을 줄 것은 분명하다.

16.3 액정계에 적용되는 레이저 분광학적 방법 일반적인 물질들과 마찬가지로 많은 분광학적 방법들이 액정 상태 의 특성들――분자 구조와 운동, 에너지 전이, 상변화, 질서도, 비선 형 특성 등-을 연구하기 위하여 사용되고 있다. 홉광, 발광, 광산 란 등 레이저를 이용하여 그 효과를 증대시킬 수 있는 분광법들뿐만 아니라 핵자기공명법, 비탄성 중성자 산란법 등 넓은 의미의 많은 분 광학적 방법들이 적용되고 있다. 액정 분자들의 이방성으로 인해 편 광을 이용한 분광학 방법들이 많이 이용되는데[10], 대부분의 레이저 빛이 편광이기 때문에 레이저는 편광 분광법에 유리하다. 액정 상태 는 균일한 액체 상태에 비해 광산란이 크기 때문에 분광학적 연구를 위해서는 센 빛이 요구된다. 따라서 레이저의 강한 출력은 액정을 대 상으로 하는 분광학적 연구에 유리하다. 이 절에서는 액정 상태의 연 구를 위해 사용되고 있는 다양한 분광학적 방법들 중에서 가시광선/ 자외선 영역에서의 편광 분광법과 광산란 분광법, 세 개의 레이저 펄 스를 시료에 동시에 쪼여 신호를 얻어내는 4파 혼합 분광법을 이용 한 엑정 연구의 예를 간략히 살펴보도록 하겠다. 16.3.l 편광 분광법 액정 분자의 이방성은 당연히 액정의 굴절률에도 나타난다. 앞에 서 언급한 바와 같이 콜레스테릭 액정은 광학적 활성에 이방성을 가 지고 있다. 빛은 항상 직교하는 전기장과 자기장이 진동하면서 진행 하는 파동이므로, 전기장의 특성 규정으로부터 빛의 특성 규정이 가 능하며, 다음에서는 주로 빛의 전기장으로 현상을 기술하고자 한다. 편광에 대해서는 제 15 장에서 자세히 서술하고 있다. 일반적으로 굴절률은 파장의 함수로, 파장에 따라 편광(전기장축)의

회전 각도를 측정한 스펙트럼을 광학적 회전 분산 (o pti cal rota t o r y dis p e rsio n : O RD) 스펙트럼이라 한다. 광학적 활성을 가진 물질들은 편광을 이루는 두 성분에 대한 굴절률뿐만 아니라 홉광도에도 차이 룰 가질 수 있다. 이렇게 두 성분에 대한 홉광도의 차이에 의한 스펙 트럼을 원형 이색성(ci rcular dic h rois m :C D ) 스펙트럼이라 한다. 그림 16 . 3 은 CD 스펙트럼의 한 예이다. 일반적으로 편광을 이용한 분광법에는 ORD, CD 분광법과 서로 직교하는 선형 편광을 이용한 홉수 분광법이 포함된다. 그림 16 .4는

0.4

0.2。 --·- '' ’ '^ 2,’’ , '\` ’' ~\ \,r,I `` 2 、` ,.i h -0.2 U311지3 46 -- 10. 8 `가`. -1.0 `o’

-1.2 -1.4 L 24 28 32 36 24 28 32 36 ii(10 3 cm-1)

그림 16.3 cholest- 4 -en-3-one( 왼쪽)과 17 P-pr o p ion y lo xy -5 a -androst- 1 -en- 3-one( 오른쪽)의 CD 스팩트럼 실선은 각각 n-he pt ane 과 d i oxane 에 서의 스펙트럼이며, 접선은 액정인 choleste r y l chlo ri de 와 choleste ryl laurate 혼합물(무게비로 1.8 : 1) 80 'c(균일한 상태)에서의 스펙트럽이 며, 파선은 35.3 ·C 의 네마틱 액정에서의 스펙트럽을 나타낸다[11).

2.0

5CT 1.6 1.2 (\ / II 』

0.8 0.4 t-:.:- ····-•... . .. 。•• .................. •··· ....• ········.J.. •••....... 200 250 300 350 400 파장(nm)

그립 16.4 네마틱 상태의 4-cyano-4''-n-pentyl-p-terphenyl (5CT)의 편광 스 펙트럼[12].

편광을 이용한 액정물질의 홉수 스펙트럼을 보여주고 있다. 이와 같 은 홉수 스펙트럼으로부터 액정 상태의 질서도를 결정할 수 있다. 질 서도 S는 세 가지 변수 D, g, 0 에 의해 다음 식으로 주어진다[7]. S=[(gD기)/(gD+2)]/[1―3/2 sin2 0 ] (16.2) 여기서 D는 편광 홉수 스펙트럼으로부터 결정되는 두 성분의 비이 며, g는 빛의 이방성으로부터 나타나는 보정값이며, O는 전이 쌍극 자 모맨트와 분자의 주축과의 각도이다. g와 O는 별도의 실험을 통 해 결정해야 한다. 편광을 이용한 홉수 스펙트럼은 그림 16.5에서와

(a) 2.5 /Jm 5µm 10µm 20µm

100 80604020040 (

)

古寧2 叫

。。3000 2000 1500 1000 SOO(cm-1)

(b) 2.5 µm 5µm 10µm 20,,m

100 80 (6040 흙

)

디뽀2 8 叫20 3 7 。

4000 3000 2000 1500 1000 SOO(cm-1)

그림 16.5 네마틱 액정의 적외선 스펙트럼[13) (a) 4-n-pentyl-4'-cyanobiphenyl (5CB), (b) N-(p-methoxybenzylidene)-p-n-butylaniline (MBBA).

같이 자외선/가시광선 영역뿐만 아니라 적외선 영역에서도 가능하며 적외선 스팩트럼도 자외선/가시광선 스펙트럼과 유사한 정보를 제공 한다. 액정 상태는 분자의 이방성으로 인해 편광을 이용한 연구의 주 된 대상의 하나이지만 일반적으로 레이저 빛의 파장 법위에 제약이 있으므로 위의 분광법들에 레이저를 적용하기는 어렵다. 색소 레이 저나 타이타늄 : 사파이어(Ti : sapphire) 레이저, 반도체 레이저 동 몇 몇 레이저를 제외하면 레이저 출력 파장 법위를 변화시키는 것은 불

가능하며, 위 레이저의 출력 범위 역시 그림 16.3, 16.4, 16.5에 나타난 파장 영역을 전부 포함할 정도로 넓은 것은 아니다. 따라서 레이저의 편광 특성은 홉광이나 ORD 관찰보다는 발광이나 산란 실험을 통한 액정 분자계의 연구에 이용된다. 발광과 산란 실험의 신호는 사용되 는 빛의 세기에 직접 비례하므로 레이저의 강한 세가가 장점으로 작 용하며, 레이저의 편광 특성이 유용하다. 분자로부터 방출되는 빛의 전기장 방향-편광 방향은 발광에 관계 하는 전이 쌍극자 모멘트의 방향과 같다. 빛의 홉수 역시 마찬가지 로, 홉광에 사용되는 빛이 편광이면 편광과 같은 방향의 홉수 전이 쌍극자 모맨트를 가진 분자들만이 빛을 홉수하여 들뜬다. 따라서 분 자의 들뜸에 사용된 빛이 편광이고 발광하는 동안 분자의 위치 변화 가 없으면, 방출되는 빛의 편광 방향과 분자의 들뜸에 사용된 빛의 편광 방향은 같다. 물론 홉광에 관계하는 전이 쌍극자 모멘트와 발광 에 관계하는 전이 쌍극자 모멘트에는 약간의 차이가 있을 수 있으므 로, 두 빛의 편향이 완전히 일치하지는 않는다. 따라서 제 11 장에서 다루고 있는 용액에서의 분자 회전운동을 연구하는 것과 마찬가지의 원리가 적용되어 액정 분자의 회전운동에 관한 정보를 얻을 수 있다 [14]. 편광을 이용한 발광 현상을 통해 액정 분자의 회전운동을 연구 하는 것은 액정 분자의 발광 효율이 높은 것을 전제로 하지만, 액정 분자의 낮은 발광 효율은 이러한 연구를 어렵게 한다. 경우에 따라서 는 발광 효율이 좋은 탐지 분자를 액정 분자에 소량 첨가하여 연구 하기 도 한다[15]. 이 경 우 탐지 분자의 운동을 액 정 분자의 운동으로 해석할 수 있는지 여부가 문제로 남는다. 또한 액정 분자는 균일한 액체 상태라 할지라도 보통의 액체 상태와는 미시적으로 다르며, 색 소 분자가 첨가된 경우 특이한 현상을 보여주기도 한다[16]. 액정 분자를 배향시키기 위해서 앞 절에서 언급한 시료 기판의 처 리 이의에 전기장이나 자기장을 적용할 수도 있다[3, 4, 6]. 의부 전

자기장에 의한 배향 변화를 Freedericksz 전이라 하며, 그 문턱 전자 기장의 세기는 용기의 두께에 반비례하여 흔히 전압 둥으로 표시된 다. 빛은 진동하는 전자기파이므로 레이저와 같은 강한 빛을 쪼이면 분자가 빛의 전기장을 따라 배향되는데 이를 광학적 Freedericksz 전 이라 한다 레이저 빛을 홉수하는 색소 분자가 포함된 액정의 경우 광학적 Freedericksz 전이의 문턱 전압은 크개 낮아지며, 온도의존도 도 크게 달라짐이 관찰된다[l6]. 이러한 현상에는 이방성의 분자 배 향 분포와 색소 분자의 회전 동역학이 중요한 역할을 한다. 액정에 첨가된 탐지 분자가 이성질화반응과 같은 광화학반옹을 일으키거나 빛의 전기장에 의해 희전하는 경우 주변의 액정 분자들에 스트레스 를 가하여 액정 구조에 변화가 일어나는 것으로 파악된다. 16.3.2 광산란 분광법 광산란은 흔히 두 가지 서로 다른 관점에서 이해된다[8]. 하나는 Brillouin 산란이나 라만 산란에서와 같이 대상계의 에너지 구조와 관련하여 이해하려는 관점이며, 다른 하나는 빛을 전자기파로 취급 하여 파동과 물질의 산란 현상으로 이해하려는 관점이다. 이에 관해 서는 제 9 장의 레이저 산란 부분에 자세히 논의되어 있다. 액정 분자 의 경우 일반적인 레이저 산란 실험 방법들울 적용할 수 있지만, 액 정 분자는 보통의 용액과는 다른 산란 특성들을 보여준다[6]. 거시적 으로 배향된 액정 상태도 지시자 배향의 작은 동요로 인해 불투명할 수 있댜 지시자 배향의 동요에 의한 산란 효과는 일반적인 유체의 밀도 동요에 의한 산란 효과보다 훨씬 크다. 편광을 이용한 산란 실 험을 통해 액정계의 질서도를 결정할 수 있으며, 탄성 산란인 Rayleigh 산란된 빛의 세기를 각도에 따라 분석하면 액정 상태의 여 러 가지 물성 ―_탄성 계수, 점성도 둥-을 결정할 수 있다. 액정

상태의 이방성은 액정 상태의 탄성 변형을 설명하기 위한 여러 종류 의 탄성 계수들을 요구한다. 액정 상태의 변형은 지시자 배향에 직접 영향을 주며, 이는 광산란의 세기, 각도의존도의 변화로 나타난다. 따 라서 광산란 결과를 분석하면 액정 상태의 여러 가지 탄성 계수를 결정할 수 있다[17.J 또한 산란된 빛의 진동수 분석은 Brillouin 산란 과 라만 산란에서 격자운동과 분자의 진동운동에 관한 정보를 얻는 것과 마찬가지로 지시자 운동에 관한 운동 방식과 진동수(에너지)에 관한 정보를 제공한다[6]. 액정 상태의 지시자 운동은 매질의 점성도 계수와 연관되므로 광산란 결과를 분석하면 점성도 계수를 결정할 수 있다[18). 액정 상태의 점성도 계수 역시 액정의 이방성으로 인하 여 여러 종류의 계수가 나타난다. 이러한 이방성 연구를 위한 광산란 실험에는 레이저가 유용하다. 광산란과 관련된 액정 분자의 중요한 특성은 액정 분자에 전기장 이나 자기장이 적용되었을 때 나타난다[2]. 액정의 전기유체역학적 특성은 여러 가지 디스플레이에 응용되고 있다. 이와 관련된 현상의 연구를 위해서 레이저가 필수적인 것은 아니지만 광범위한 옹용을 감안하여 간단히 살펴보고자 한다. 지금은 구식이 되었지만 동학적 산란 방식 액정 디스폴레이(dynamic scattering mode LCD)는 액정의 전기-광학적 응용의 첫번째 실용적 성공이라는 점에서, 또 어느 정 도는 이해되고 있지만 미시적 관점의 지식은 아직도 부족하다는 점 에서 이와 관련된 부분을 살펴보는 것은 가치가 있다. 이 분야는 1960년대 초반 미국 RCA사의 Heilmeier 둥이 이끄는 연구진들에 의 해 괄목할만한 진전이 이루어졌다. 일반적으로 유전율의 이방성( Ca= g,-ei)이 음성인 액정물질들에 직류의 전기장을 가하면 분자들은 전기장의 방향에 수직인 방향으로 배열한다. 하지만 몇몇 유전율의 이방성이 음성인 액정물질들은 전 기장의 방향과 평행한 방향으로 배열하는 것으로 관찰되었다. 이 특

bf?'1

'·y 반

그림 16.6 네미틱 액정이 보여주는 전기유체역학적 배향. Williams 도매인이라 불 리는 이 특성은 38 µm 두께의 p-azoxyanisole에 lOOHz, 7.8V의 교 류를 가하여 얻은 것 이 다(20].

이한 배열은 전기전도도의 이방성으로 인한 액정 분자의 운동 때문 이라는 것이 밝혀지기 전까지 많은 논란을 일으켰다[6]. 이렇게 전기 장에 의해 유도되는 액정 분자의 유체운동은 특이한 광산란 현상을 보여준다. 유전율의 이방성이 음성인 네마틱 액정에 직류 전기장을 가하면 그림 16.6에 나타난 것과 같은 줄무늬롤 관찰할 수 있으며, 이러한 형태를 Williams 도메인이라 부른다[19]. Williams 도매인을 관찰하기 위한 실험 장치가 그림 16.7에 나타나 있다. 투명한 전도성 막으로는 인듐 주석 산화물(indium tin oxide : ITO)이 사용되 며, 셀의 간격을 조절하기 위한 스페이서로는 흔히 테프론 테이프가 사용되기

투명한전기전도코팅

유리 액정 공간조절기 유리 l

*

그립 16.7 Williams 도매인을 관찰하기 위한 실험 기구.

도 하고, 직경이 수마이크론에 해당되는 석영 구슬이 사용되기도 한 댜 이러한 실험 장치는 액정 분자의 동역학에 미치는 전기장의 효과 를 관찰하기 위한 분광학적 연구에 쓰일 수 있다. 그림 16.6의 줄무 늬 간격은 전극의 간격, 죽 스페이서의 두께와 관계가 있는데, 이는 액정 분자의 대류 현상에 의한 것으로 해석된다. 직류 전기장의 세기 가 증가하면 Williams 특성은 불안정해지며, 액정은 불투명하게 되어 빛을 강하게 산란시킨다. 이를 동학적 광산란(dynamic light scattering) 이라 부르며[2-5, 6, 20], 디스플레이에 실용화되기는 하였다. 유전율의 이방성이 음성인 액정에 특정 진동수보다 큰 진동수의 교류 전기장을 적용하면 그림 16.8에 나타난 것과 같은 특성을 관찰 할 수 있는데, 이는 셰브런(chevron) 특성이라 불린다. 셰브런 특성이 나타나는 문턱 전압은, 직류 전압을 가할 때 Williams 특성이 나타나 는 문턱 전압보다 높다. 액정에 외부 전기장을 가할 때 나타나는 특 성의 종류는 가해지는 전기장의 진동수에 의해 결정된다. 특정 진동 수 이하의 교류나 직류를 가하면 Williams 특성이 나타나고, 그 진동 수 이상의 교류를 가하면 셰브런 특성이 나타난다. Williams 특성이

그림 16.8 세브란 특성이라 불리는 이 특성은 두께 100 µm의 네마틱 액정 시료 N一(p-methoxybenzylidene)-p-n-butylaniline(MBBA)에 120 Hz, 260 V의 교류를 가하여 얻은 것이다[21].

나타나는 낮은 진동수 영역을 전도성 영역(conducting regime)이라 부르며, 셰브런 특성이 나타나는 영역을 유전성 영역(dielectric regime) 이 라 부른다[3, 6, 21l 외부 전기장이나 자기장은 액정 상태간 상전이룰 일으키기도 하 고, 액정 지시자의 축을 회전시키기도 한다[2, 3, 6). 이러한 전기장이 나 자기장으로 유도되는 현상들은 레이저를 이용해도 나타난다. 복 잡한 액정의 동역학적 특성에 관한 분자 수준의 이해롤 위해서는 이 책에서 다루고 있는 여러 가지 레이저 분광법들이 사용될 수 있으며, 다음 절에서 다루고 있는 4파 혼합 분광법은 그 예의 하나이다. 보다 자세한 내용은 참고문헌을 참조하기 바란다[7, 8, 22).

16.3.3 4파 혼합 분광범 세 개의 레이저 빛을 시료에서 혼합하여 신호를 얻어내는 4파 혼 합 분광법(four-wave mixing spectroscopy)은 비선형 분광법의 대표 적인 예로 레이저를 이용하지 않고는 관찰할 수 없는 현상이다[23]. 비선형 분광법의 기본 원리에 대해서는 제5 장 비선형 광학 부분에 서 다루고 있다. 세 개의 레이저 빔을 시료에 혼합하여 간섭성 (coherence)이 매우 큰 신호룰 얻어내는 4파 혼합 분광법에는 여러 가지 종류가 있으며 , CARS(coherent anti-Stokes Raman scattering), CSRS(coherent Stokes Raman scattering) 분광법과 같은 비선형 라 만 분광법들이 이에 속한다. 이 절에서는 순간격자판 분광법(tran­

sient grating spectroscopy)[S, 24]이라 불리는 4파 혼합 분광법의 한 예에 관하여 논의하고자 한다. 그림 16.9에 나타난 바와 같이 두 개 의 레이저 펄스가 공간 시간상 교차하여 간섭 현상을 일으키면, 보강 간섭 무늬간의 거리 d는 Bragg 조건에 의해 빛의 파장 A 와 교차각 O로 다음과 같이 주어진다. d=-1/2sin( e/2) (16.3) 이러한 빛의 간섭 현상은 간섭 무늬와 같이 매질의 굴절률을 변조하 여, 시료를 마치 격자판과도 같게 변화해서 제 3의 빛을 회절할 수 있다. 매질의 굴절률 변조에 사용되는 두 레이저 빔을 들뜸이라고 부 르고, 회절을 관찰하기 위한 빔을 탐지라 부른다. 여러 가지 원인에 의하여 매질의 굴절률 변조가 원래 상태로 이완되면 격자판은 사라지 며, 신호를 주는 회절 현상은 없어진다. 이러한 매질의 굴절률 변조는 매질의 여러 가지 성질에 의해 일어나며, 이완 과정에도 매질의 많은 특성이 연관된다. 따라서 회절되어 나오는 신호를 시간에 따라 관찰하 면 계의 동역학에 관한 정보를 얻을 수 있다. 신호를 시간에 따라 관

탐지 둘뜸 들뜸

11llJ 11 시료 E 신호

그립 16.9 순간격자판 분광법에서의 4파 혼합. 두 들뜬 빔이 간섭하여 시료에 격 자판을 형 상하고, 제 3의 빔 이 회 절하여 신호를 준다. 들뜸에 사용된 빛 과 탐지범의 파장이 다룰 수도 있지만, 간섭과 회절 모두 Bragg의 조 건을 만족해야 한다.

찰한다는 점 에 서 순간격 자판 분광법은 시간분해 분광법(time-resolved spectroscopy)의 하나이다. 그림 16.10은 순간격자판 분광법을 위한 실험 장치의 한 예이다. 레이저 빛의 간섭 현상을 이용한 순간격자판 분광법은 레이저 유 발 동학적 격 자판 분광법 (laser-induced dynamic grating), 강제 적 Rayleigh 산란 분광법(forced Rayleigh scattering), 홀로그래피 이완 분광법(holographic relaxation spectroscopy) 둥의 이름으로도 불린다. 매질의 굴절률 변조를 일으키는 많은 메커니즘들이 알려져 있는데, 간단히 살펴보면 다음과 같다. 첫째, 보강간섭을 일으키는 부분에는 빛이 존재하고 소멸간섭을 일으키는 부분에는 빛이 존재하지 않기 때문에 빛의 전기장과 물질의 상호작용에 의해 혼히 광학적 Kerr 효

Q-전환 Nd : YAG 레이저

헬륨_네온 레이저 물

광층폭71 \ 순간신호검충기

그림 16.10 순간격자판 분광법을 위한 실험 장치의 예. 여기서는 나노초 영역의 Q-전환 레이저가 사용되고 있지만, 피코초 이하에서부터 밀리초 영역 까지 다양한 길이의 펄스가 사용될 수 있다. 회절 신호를 위한 레이저 로 연속 출력 레이저가 이용되고 있지만 시간분해능을 가진 레이저를 이용할 수도 있다.

과라 불리는 굴절률 변조가 일어난다. 이러한 효과는 피코초(l0-l2초) 영역의 강한 극초단 펄스 레이저를 이용해야 관찰이 가능하다. 둘째, 매질의 분자가 레이저 빛을 홉수하여 들뜬 전자 상태를 형성할 때 굴절률이 바닥 상태와는 달라진다. 이 경우 분자가 바닥 상태로 전이 하면 굴절률 변조가 사라져 격자판이 없어지므로 들뜬 상태의 수명을 측정할 수 있다. 또 들똔 상태의 수명이 충분히 긴 경우에는 들뜬 상 태의 분자가 소멸간섭 부분으로 확산하여 굴절률 변조가 없어질 수도 있댜 이 경우 순간격자판의 소멸 시간 상수 r ――흔히 exp(-t/r)와 같은 지수함수의 형태로 표시됨 ―一는 들뜬 상태의 수명 시간 rlife와 확산 계수 D로 다음과 같이 표시된다. 1/ r =l/ r litc+4 군D/d2 (16.4) 여기서 d는 식 (16.3)으로 주어지는 간섭무늬간의 거리이며, K는 원 주율이다. 따라서 두 레이저 펄스의 사이각을 변화시켜 조절할 수 있 는 간섭무늬간의 거리에 대한 순간격자판의 소멸 시간의존도를 관찰 하면 확산 계수를 결정할 수 있다. 위의 식은 분자의 확산뿐만 아니 라 열에너지의 확산과 같은 일반적인 전달 현상(transport phe-nomena) 연구에도 적용이 가능하댜 광학적 Kerr 효과나 들뜬 상태 의 생성 이외에도 매질의 굴절률 변조가 일어날 수 있는 원인들은 많댜 분자가 전자적 들뜬 상태에서 바닥 상태로 비발광 전이를 하면 들뜸 에너지가 열로 방출된다. 따라서 매질의 온도, 밀도 둥에 변화 가 일어나며, 이러한 변화는 굴절률 변조로 나타난다. 이 경우 온도 가 평형에 이르는 속도와 밀도가 평형에 도달하는 속도가 다르기 때 문에 순간격자판은 두 개의 상이한 시간 상수를 갖는 두개의 지수함 수 형태로 소멸한다. 액정 분자의 이방성은 위에 언급한 순간격자판의 형성과 소멸에 관련된 메커니즘들을 복잡하게 만든다. 액정계에서는 분자의 확산,

D( x 107cm2sec-1)

1 05 * +

_

쳐kR

血I 2 E:1;1=二5?.。8 士12%kcal mo1-1 3.3 3.1 2.9 1 /T(K-1 X 103)

그립 16.11 네마틱 상태와 균일한 상태의 N-(p-methoxybenzylidene)-p-n-butylaniline(MBBA)에서의 MR(methyl red)의 확산 계수(25]. 네 마틱 상태에서는 액정의 이방성으로 인해 두 개의 확산 계수가 나타 나며, 균일한 액체 상태에서는 한 개의 확산 계수가 나타난다.

열전도 등 모든 전달 현상에 이방성이 존재하므로, 두 가지 이상의 확산 계수를 결정해야 한다. 또 액정계의 물리적 성질에 큰 영향을 주는 질서도의 변화는 순간격자판을 형성하는 또 다른 메커니즘으로 작용한다. 액정의 이방성과 관련되어 순간격자판 분광법이 적용된 고전적인 예는 액정의 확산 계수를 측정한 것이다[25). 확산 계수 역 시 이방성을 가져 두 개의 다른 값들이 존재하는데, 그림 16.11은 순 간격자판 분광법을 이용하여 측정한 확산 계수들을 보여준다. 이 실 험에서는 액정 분자에 탐지 분자로 색소 분자를 첨가하여 색소 분자 의 확산을 관찰하였다. 물론 액정 분자의 확산 계수와 색소 분자의 확산 계수는 다르며, 액정 분자의 확산 계수는 액정 분자가 홉수하는 레이저의 파장을 이용한 순간격자판 분광법을 통해 측정하였다. 또

한 전기장이 액정물질에서의 확산에 미치는 영향에 관해서도 순간격 자판 분광법 을 사용하여 연구하기도 하였다 (26]. 액정 분자에 관한 기초 과학적 관심은 1980 년대 말 프랑스의 P. G. de Gennes 이 액 정 및 고분자에 관한 연구로 노벨물리 학상을 수상한 이후 진작된 바 있지만 광범위한 응용 연구에 비하면 크게 부족한 편이다 또한 이 장에서 다룬 액정에 관한 소개는 액정 과학의 극히 일부분임을 밝혀둔다. 참고문헌 [1] H. Kelker and R. Hatz , Handbook of Liq u id Cr yst a l s (Verlag Chemi e, Wein h eim , 1980) [2] Liqu id Cr yst a l s-A p plica ti 01i s and Uses, Vol. 1, 2, 3 ; Bahadur, B., ed. (World Sc ien ti fic, Sin g a po re, 1991 ) [3] P. G. de Gennes, and J. Prost, The Phys ics of Liq u id Cr yst a ls, 2nd ed. (Clarendon, Oxfo rd , 1993) [4] L. M. Blin o v, Electro --op t ica l and Mag n eto --o pt ica l ProPert ies of Li qu id Cr yst a l s (W iley , Chic h este r , 1 983) [5] (a) G. Ey ring and M. D. Faye r, J. Che m. Phys . 8 1, 4314 (19 84) (b) F. Deeg, W. and M. D. Faye r, J. Chem. Phys . 91, 2269 (1989) (c) F. W. Deeg, S. R. Green fiel d, J. J. Sta n kus, V. J. Newell, M. D. Faye r, J. Chem.. Phys . 93, 3503 (19 90) (d) J. J. Sta n kus, R. Torre, M. D. Faye r , J. Phys . Chem . 97, 9478 (19 93) (e) A. Seng upta, M. D. Faye r, J. Chem. Phys . 102, 4193 (19 95) [6] Chandrasekhar, S. LU Ju id C 巧s ta ts, 2nd ed. (Cambri dg e , New York, 1992)

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기 가우스 분포 332 가우스함수 347 각분포 295 간섭성 제거 장치 466 간섭 코팅 ( inter f er ence coati ng) 90 간섭 필터 90 갈라짐비 302 감응도 (sens iti v ity) 98 감응 시간 98 감응 파장 범위 99 감응함수 156 강제적 Ray le ig h 산란 분광법 495 격자운동(p honon) 217 격 자판(grati n g) 213 결합 선댁적 이분자반응 305 계간 전이(int ers y s t em crossin g) 208 고유 상태 283 고차 Ray le ig h 산란 131 고차 라만 260 고차 라만 활성 260 고체 레이저 45 골레이 셀 IOI 공간적 불 균일 302 공명 다광자 이 온화 397 공명 라만 335 공명 라만 산란 253 공명 상태 278 공명 순간 회철격자법 370 공명 적의선 둘뜸 (resonan t infrared

pu mp ) 227 공명항 263 공명 확대 다광자 이온화 270, 295 공전가 44 공진기 내부 확장 180 공전기 덤핑 73 공진성 반스톡스 라만 분광법 299 공진성 반스톡스 라만 타원 분광법 265 공전성 반스톡스 분광법 252 공전성 이완율 240 광계수기 110 광계측법 456 광굴철(ph ot o refracti on : PR) 효과 436 광다이오드 105 광메아리(p ho t on echo) 실험 방법 240 광분광학 (o pti cal sp e c tro scop y) 405 광산란 489 광열(ph ot oth ermal : PT) 효과 435 광열 광선법 (PT rad iom etr y : PTR ) 435 광열 현상(p ho t o t hennal eff ec t) 185 광분선기 분광학 (o pt o galvani c sp ec - tro scop y) 187 광유전 효과( o pt og alvani c eff ec t) 188 광음향 분광법 (op toa cousti c 또는 phctoocoostic 一y : PAS) 405 광음향 분광학(p ho t oacous tic sp e c- tro scop y) 187 광음향 현미경법(p ho t oacous ti c mi -

croscop y : PAM) 427 광음향 효과 405, 406 광자 매 아리 (ph oto n echo) 335, 336 광자 메아리 현상 158 광전 검출기(p ho t ovol t떠 c dete c t or ) 98, 99 광전관 105 광전압 감지기(p ho t ovol t a ic dete c to r ) 200 광전자 방출 현미경법 470 광전자 분광학 277 광전증배관(p ho t omul tip l i er tub e) 98, 102 광학 마이 크로폰법 429 광학적 Kerr 효과 119, 359 광학적 검 출기 (op top h one) 432 광학적 변환 증폭도 121 광학적 변환 전동 (o pti cal pa ra- metr i c osci lla ti on ) 121 광학적 위 상공진성 이 완 336 광학적 이중 공명 192 광학적 활성 478 광학적 회전 분산 485 광화학반응 270 광흡수 계수 423 교차분자빔 275 교차상관 계수 380 교차상관함수 325 구리 증기 레이저 58 국부장 요소 118 굽힘진동 에너지 분포 295

균일 선폭 확대 334, 368 극마량 검출 408 극초단 펄스 72 글랜-톰프슨 방식 453 금속 표면 240 금지된 전이 180 기기감응함수 323 기 체 크로마토그래피 - 광음향 (GC -0 A) 검출기 409 깊 이 파악 (de pt h - p ro fi li n g) 429 L 납영(l ead salt) 다이오드 레아저 54 농도 전이형 액정 478 New ton 17 느리게 변화하는 크기 (slowl y-varying­ amp li tu d e) 근사법 148 능동적 방법 76 니오디뮴 (Neod y m i um) 레이저 48 E: 다광자 이온화 195 다광자 이온화 방법 400 다양자 우물 (mul ti-q uan t um well ) 424 다중 왕복 180 다중 채널 스케일러 112 만분자반웅 290, 293 단분자 분해반응 402

만분자총 240 단색광 분광기 (s p e ct rome t er) 213 단색화 장치 (monochroma t or) 91 단체속도 확산 226 델라함수 355 도플러 선모양 301 도플러 이동 294 동역학 정보 343 동요 _ 소실 (fluc tua ti on -dis s ip a ti on ) 정리 165 동적 스독스 이동 327 동적 영상화 미세 타원편광법 465 동적 용매 효과 317 동학적 광산란 492 둘뜸 분광학 183 들뜸 _ 탐지 실험 330 Deby e 식 319 띠 두과 ( band - p ass) 필터 93 己 라디칼 400 라만 분 광법 251 라만 산란 252 Rabi 식 32 Lande 인자 190 Lamb 의 오목함 (Lamb dip ) 192 러 더 퍼 드 (Ru t he rf ord) 461 레이저 43 레이저 유도형광(l aser ind uced flu- orescence : LIF) 183, 195, 206, '1:10

레이저 유도형광법 299 레이저 유발 동학적 격자판 분광법 495 레이저 자기 공명(l aser m 速 n etic res- onance) 188 렌즈 96 Lorentz 국부장 요소 118 로렌츠함수 381 Rayl e ig h 산란 252 Ray le ig h -Je a ns 식 24 루비 레이저 46 Ry db erg 상태 295 □ Markov ian 근사법 167 Mach-Zehnder 간섭 계 128 매 트릭 스 고립 (Matr i x Isolati on ) 분 광학 219 맥스웰 (Maxwe ll) 17, 18 맥스웰 방정식 144 Maker 줄무늬 방법 134 모드-참금 (mode-lock ing) 75 모드-참금 기술 51 몰 홉광계수 175 무격 자운동 (zero pho non) 218 무반사 코팅 88 미시적 이방성 480 미 켈슨(Mi chelson) 간섭 계 128, 345, 432 밀도반전 46

밀도 연산자 150, 349 밀도 행렬 348 밀폐형 C02 레이저 416 l::l 박스카 산호평균기 (boxcar integ rator ) 110, 407 반고전적 (sem i -class i cal) 인 방법 17 반데르발스 분자집단체 199 반데르발스 전구체 분자 288 반도체 423 반도체 레이저 52 반도체 산업 464 반발 위치에너지곡면 287 반스톡스 고차 라만 259 반스목스 산란 253 반응속도 상수 277 반전 눈뭉치 322 발광(l um i nescence) 205 발광 다이 오드 (LED) 52 방출 28 배치좌표 모델 333 배향 질서 478 백색광 발생 318 백색화 (bleach i n g) 현상 73 벡터 상관법 300 Bell 406 병전운동 에너지 분포 294, 295 병전 질서 478 보강간섭 351

보상기 449 Bohr 22 Bohr 마그네 톤 190 복굴절 361, 448 복소 굴절률 447 볼로미터 100 Boltz m ann 관계 26 분광 밀도 (s p ec t ral densit y) 156 분광 상대 감응도 98 분광학 405 분광학적 선폭 확대 165 분국 350 분극률 251 분극 세기 변화 319 분산 방지 231 분산 형광 스팩트럼 211 분자 기체 레이저 60 분자 동역학 모사 실험 158, 322 분자복합체 395 분자빔 274 분자빔 전기 공명 395 분자의 회전운동 246 분자 전동운동 246 분자집단체 270 분해반응 동역학 384 불균일 변수 301, 302 불균일 선폭 확대 368 불확정 성 334, 379 불확정성의 원리 231 브루스터 (Br ewste r ) 451 Bloch 근사법 166

비공명 순간 회절격자법 358 비공명항 263 비공진성 라만 탐지 227 비등방성 229 BBO 125 비선형 감응도 483 비선형 감응 률 117, 262 비선형 결 칭채 228 비선형 라만 분광학 252 비 선 형 분광학 143, 344 비선형 분극 244 비선형 상관함수 164 비선형 이차 감응뮬 244 비선형 최소좌승법 456 바선형 합전동수 발생 353 Beer 의 법칙 174 비임계 위상일치 조건 133 비조화 상수 284 비조화 직접계수법 284 비지수함수 321 BK7 유리 85 비파괴 평가 방법 406 비행 시간 측정 질량 분석 397 비회합 용매 320 빔음향 (beam-acous ti c : BA) 효과 434 人 사분파판 449 사파이어 85 4 파 혼합 분광법 484

4 파 혼합 분광학 159 산란 28 산란 방향 백터 301 산란 실험 278 3 차 비선형 감응률 262, 358 3 차 비선형 신호 353 3 차 조화 전동수 생성 122 상승 시 간 (r i se time ) 99 상전이 현상 420 색소 레이저 67 색소 중십 레이저 52 서미스터 100 선편광 447, 453 선형 감응률 117 선형 감웅 이론 155 선형 감응함수 147 선형 라만 분광학 252 선형 분극률 117 선 형 성 (line arity ) 98 선형 전기 광학 효과(포켈 (Pocke t s) 효과) 119 섭동론적 방법 28 소광(q uench i n g)반웅 414 속도정 렬 도플러 분광법 295 손님 분자 334 수동적 방법 76 수명 시간 349 수프라실 1 85 순간격자판 분광법 494 순간 기록기(t rans i en t recorder) 110 순간 용매화 325

순간 훌버 닝 분광학 330 순간 흡수 분광 실험 366 순간 흡수 분광학 228 순수 위상공진성 이완 시간 335 Schrodin g e r 방정 식 28 스메틱 상태 479 Sta r k 분광학 190 Sta r k 효과 190 스톡스 고차 라만 259 스톡스 산란 253 스독스 이동 327 스톡스 이동 상관함수 329 Shp ol 's k ii 분광학 218 스핀-궤도 상호작용 399 시간분해 분광법 495 시간분해 형광 분광학 212 시 간상관 단광자 계측법 323 시간상관 단일 광자 측정법 353 시간상관함수 395 시 간 상수(ti me consta n t) 99 시간의존 섭동법(tiire -de pen den t per- tur bati on meth o d) 29 시 간일 치 (syn c hronous) 들뜸 79 CARS 261 Cr : LiSA F 결정 48 。 아르곤 이온 레이저 57 Ein s te i n 계수 26, 27 알렉산드라이트 레이저 47

RRKM 이론 277 압전 검 출기 (piez oelectr ic tra ns- ducer : PZT) 407 애벌란시형 광다이오드 105 · 액정 477 액정 디스플레이 483 액정 분자 480 액체 상태 480 양자 Lio u vil le 방정식 151, 161 양자간섭 현상 306 양자구속 효과(q uan t um con fine - ment eff ec t ) 424 양자 상태 275 양자 진동(q uan t um beat) 현상 167 양자 효율(q uan t um eff ici e n cy) 99 양쪽 파인만 도식 349 어 레 이 (arra y)형 광다이 오드 106 에너지 분배 293 S 편광 90 HCI 레이저 62 HF 레이저 63 에피덱시얼 방법 464 엑시머 65 엑시폴레스 레이저 65 LBO 125 MCP(mi cr ochannel pla te ) 100 MCP 검출기 107 연쇄반웅 414 열개화(t hermal bloomi ng ) 분광학 185 열검출기 99

열 렌 즈 분 광학(t hermal lensin g sp e c tro scop y) 185 열변 액정 478 열 적 렌 즈( t hermal lensin g : TL ) 437 열적 확대 (the rmal bloomi ng ) 436 열전대 100 열전대더미 100 열편극 검출기 101 열확산도 423 영상간섭법 464 영점 에너지 278 오실로스코프 112 오존 결손 299 OPG(op tica l pa rametr i c ge nerato r ) 95 OPO(op tica l pa rametr i c osci lla to r ) 95 Onsag e r 국부장 요소 118 요오드 레이저 64 용매 껍질 322 용매 동역학 318 용매 이완 시간 330 용매화 동역학 154 용매화 발색 현상 317 용매화 재배치 (solva ti on reorga ni- zati on ) 에 너 지 157, 169 용융 석영 유리 84 운반자 특성 423 원자 및 이온 기체 레이저 55 원편광 447

원형 이색성 485 위 상 감지 신호증폭기 Oockin am- pli fi er ) 109, 407 위상공진성 334 위상공진성 이완 343 위상공진성 이완(p ure dep h asin g ) 상 수 166 위상공진성 이완속도 370 위상공진성 중첩 336 위상붕괴 337 위상일치 각도 133 위상일치 방법 133 위상일치 조건 120, 148, 225, 262 위치에너지곡면 273 위치에너지곡선 378 위치에너지표면 375 유도 라만 둘뜸 227 유도 라만 산란 256 유도 방출 43 유도 분극 117 유도 쌍극자 모멘트 117, 253 유도 자기 자유 감쇠 240 유도 자기 자유 감쇠 현상 244 유도 편광 밀도 261 유도 흡수 전이 속도 176 유사 매질 근사법 462 유전 매질 319 유전 상수 319 유전성 영역 493 유전율 481 유전 이완 329

유전 이완 시간 319 유전체 451 유전 체 연속 모델 319, 321 유전 코팅 (die l ect ric coati ng ) 88 유효 굴절률 463 음렌즈 효과 139

음향-광학 (acous t o-o pti c) 변조기 73 이분자 충돌 반응 394 이분파판 449 이산화탄소 레이저 60 이 색 거 울 (d i chro ic mi rr or) 89 이색성 결정 448 이온화 분광학 184 이 중 (b i na ry) 이 론 227 이중 공명 법 284, 304 2 차 Leg e ndre 다항식 301 2 차 비선형 감응률 346 2 차 양자화 349 2 차원 영상법 295 2 차 조화 진동수 345 2 차 조화 전동수 생성 120 이차 조화 진동자 발생 241 2 파 혼합 138 2 펄스 광자 메아리 336 인광(p hos p horescence) 205 인프라실 301 85 일산화탄소 레이저 60 일시경과 시간 226 입자수 이완 343

大 자국 카메라 (s t reak camera) 100, 107, 323 자기 감응 률 481 자발 방출 43 자발 형광 353 자의선 용융 석영 유리 85 자유 유도 감쇠 364 자체 상관함수 347 자체 위상변조 330 저에너지 전자 회 절 241 적분기 110 적 색 전이 (red shif t) 154 적외선 검 출 기 106 적외선 다이오드 레이저 195 적외선 비등방성 229 적외선 담지 227 적외선 펄스 225, 231 적의선 흡수 분광법 299 전기장 상관 시간 344 전기장 유도 2 차 조화파 생성 129 전기적 감응률 117 전기적 편광 266 전달 현상 497 전도성 영역 493 전이 모멘트 177 전이 상태 276, 375 전이 상태 이론 277 전이 쌍극자 301 전이 쌍극자 모멘트 31, 36, 277, 488

전이 확률 30 전자기장 이론 17 전자 - 음향 (elec t ro-acous ti c : EA) 현미경법 434 전자 - 전동 레이저 48 전체 감응 뮬 244 전체 전동이완 241 절단 (cu t - o ff, edg e ) 필터 93 정적 용매 효과 317 Z - 스캔 방법 123 , 139 조화 격 자운동 근사법 227 조화 진동자 용매 모형 153 종적 이완 시간 320 주인 분자 334 준고전적 궤적 299 중간상 477 중립 흡수 (neu t ral densit y : ND) 필 터 93 중적외선 레이저 224 Zeeman 분광학 188 Zeeman 효과 188 지연판 449 전동수 장파장 변환 과정 232 진동수 차이 혼합 225 진동수 차이 혼합법 229 진동수 혼합 방식 323 진동 순간 흡수 234 전동 쌍극자 336 진동 양자수 292 전동자 세기 179 전동준위 매 개 광분해 304

전동-회전 미세 구조 184 질서도 482 질소 레이저 62 집합운동 322 云 초과 분국률 117 초분극뮬 256 초음속 분자살 214 초음속 자유 재트 214 초음속 제트 395 촉매 415 최대 도플러 이동 295 추정 통계적 (s t ochas tic) 방법 152 축되 4 파 혼합 122, 135 충돌복합체 375 충동 모델 400 =' KDP 124 KTP 125 콜레스데릭 상태 479 Kubo 의 모형 167 Kurt z 분말 방법 132 쿨롬 위치에너지곡선 393 Q-전환 52, 72 크로마토그래피-적의선 홉광법 시스 템 CLOS-GC) 410

E 타원도 447 타원편광법 445 타원편광 현미경 468 타이타늄 : 사파이어 (T it an i um : Sa p一 ph ir e ) 레 이 저 48 통계적 변이 283 두과도 175 두과율(p ermeab i l ity) 18 두시 율(p erm itti v ity) 18 끄 파동뭉치 358, 379 파동 방정식 144 파라메트릭 상호작용 225 펄스 세기 윤곽선 347 페닐테트라전 215 페 르미 (Fermi ) 공명 모드 234 Fenn i의 황금률 (Golden rule) 38 펨토초 색소 레이저 230 펨토초 전이 상태 분광학 377 펨토초 펄스 344 편광 228 편광기 97 편광 분광법 484 편광 상태 446 평균 구면 근사법 321 평형 분극률 255 포인팅 벡터(pointing vect or ) 21

포켈 (Pockels) 셀 73 포화 분광학 (sa t ura ti on sp e c tro scop y) 192 포화흡수제 231 포화흡수체 색소 73 표면 과학 239 프랑크-콘돈 (Franck-Condon) 원 리 208, 327 프랑크 - 콘돈 인자 286 프리즘 96 Planck 24 PIN 형 광다이 오드 . 105 피치 479 P 편 광 90 E 하강 시 간(fa ll tim e) 99 합전동수 발생 241 해리 에너지 388 해밀토니안 (Ham i l t on i an) 에너지 연산자 28 헤테로다인 (he t erod yn e) 측정법 149 헬륨기네온 (He-Ne) 레이저 55 헬륨-카드늄 (He-Cd) 레 이 저 56 형 광(fl uorescence) 205 형광 단파장 변환법 323 형광 둘뜸 스펙트럼 211 형광 선폭 축소 335 형광 소멸함수 323 형광속도 상수 329

형 광수명 (fluo rescence life ti me ) 2()() 형광 스톡스 전이(fl uorescence Sto k es shif t : FSS) 154 형 광 스펙트럼 축소 분광학 (Fluo- rescence Lin e Narrowi ng ) 217 형광 양자수율 211 형광 탐지 227 호모다인 (homod yn e) 측정법 149 Huy ge n 17 혼합 행렬 요소 393 홀로그래 피 이 완 분광법 495 훌버닝 335, 336 화학 레이저 62 화학반웅 동역학 274 화학반응속도 343 화학반응속도론 273 화학 중기 증착법 464

화학 증폭 414 확산 계수 498 확장된 Kubo 의 모형 169 활성 매질 44 회전 미세 구조 181 회전 온도 275 회전 확산 시간 320 회절격자 359 후산란 분광기 461 Hook 의 법칙 177 흑체 24 홉광 (abso rpti on) 209 홉광계수 447 홉광도 (absorbance) 39, 175 흡수 28 흡수 감소 332 흡수 분광학 174

지은이 약력 강태종 서울대학교 화학교육과 졸업 미국 미네소타대학교 박사 미국 덱사스대학교(오스틴) 박사후연구원 현재 대구대학교 화학과 교수 김동호 서울대학교 화학과 졸업 미국 워싱턴대학교 박사 미국 프린스턴대학교 박사후연구원 현재 한국표준과학연구원 분광연구실 책임연구원 김성규 서울대학교 화학과 졸업 미국 시카고대학교 박사 미국 콜로라도주립대학교 박사후연구원 현재 성균관대학교 화학과 교수 김용록 연세대학교 화학과 졸업 미국 펜실베이니아대학교 박사 미국 펜실베이니아대학교 박사후연구원 현재 연세대학교 화학과 교수

김학진 서울대학교 화학과 졸업 미국 일리노이대학교(어바나) 박사 미국 스탠퍼드대학교 박사후연구원 현재 충남대학교 화학과 교수 김홍래 서울대학교 화학과 졸업 미국 일리노이대학교(어바나) 박사 미국 컬럼비아대학교 박사후연구원 현재 강원대학교 화학과 교수 박영동 서울대학교 화학과 졸업 미국 시카고대학교 박사 미국 프린스턴대학교 박사후연구원 현재 아주대학교 화학과 교수 박정회 고려대학교 화학과 졸업 미국 컬럼비아대학교 박사 미국 하버드대학교 박사후연구원 현재 고려대학교 화학과 교수 송남웅 서울대학교 화학과 졸업 서울대학교 대학원 박사 한국표준과학연구원 양자연구부 박사후연구원 현재 한국표준과학연구원 양자연구부 선임연구원

이민영 성균관대학교 화학과 졸업 미국 펜실베이니아대학교 박사 미국 캘리포니아대학교(버클리) 박사후연구원 현재 이화여자대학교 화학과 교수 전승준 서울대학교 화학과 졸업 미국 코넬대학교 박사 미국 하버드대학교 박사후연구원

현재 고려대학교 화학과 교수 조민행 서울대학교 화학과 졸업 미국 시카고대학교 박사 미국 MIT 박사후연구원 현재 고려대학교 화학과 교수 주태하 서울대학교 화학과 졸업 미국 코넬대학교 박사 미국 시카고대학교 박사후연구원 현재 포항공과대학교 화학과 교수 최영식 인하대학교 화학과 졸업 미국 캘리포니아대학교(버클리) 박사 미국 코넬대학교 박사후연구원 현재 인하대학교 화학과 교수

최중길 연세대학교 화학과 졸업 미국 브라운대학교 박사 미국 코넬대학교 박사후연구원 현재 연세대학교 화학과 교수 허영덕 고려대학교 화학과 졸 업 미국 예일대학교 박사 미국 캘리포니아대학교(어바인) 박사후연구원 현재 단국대학교 화학과 교수 (가나다 순)

레이저의 화학적 응용 대우학술총서·공동연구 1 판 1 쇄 펴냄 1998 년 12 월 30 일 지은이 강태종 김동호 김성규 김용록 김학진 김홍래 박영동 박정회 송남웅 이민영 전승준 조민행 주태하 최영식 최중길 허영덕 펴낸이 박맹호 펴낸곳 (주)인옵사 출판등록 1966. 5. 19 재 16-490 호 서운시 강남구 신사동 506 강남 충판문 화센터 5 층 대표전화 515- 2 000, 팩시밀리 515- 2 007 값 30,500 원 ® 강태종 김동호 김성규 김용록 김학진 김홍래 박영동 박정희 송남웅 이민영 전승준 조민행 주태하 최영식 최중길 허영덕, 1998 뭉리화학 및 이론화학 KDC/431 Pri nt e d in Seoul, Korea ISBN 89- 3 74-4549-2 94430 89 - 374-3000-2( 새트)

대우학술총서공농연구) 1

한국 여성의 전통상 김열규 외 5 인 미국인의 생 활 과 실용주의 이보형 의 5 안 현대과학과 윤리 김용준 외 3 인 중국의 천하사상 윤내현 외 4 인 인지과학 조명한 외 11 인 孤 雲 최치원 한종만 외 5 인 아담 스미스 연구 조순 외 7 인 한국상고사 한국상고사학회 대한제국기의 토지제도 김홍식 외 4 인 조선 후기 향약연구 향촌사회사연구회 한국 고대국가의 형성 한국고대사연구회 뇌의 인공적 확장은 가능한가 박순달 외 3 인 인간이란 무엇인가 장회익 외 6 인 현대과학의 제문제 김용준 외 6 인 존 스튜어트 밀 연구 조순 외 10 안 임진왜란과 한국문학 김태준 외 6 인 서재필 이택휘 외 5 안 한강유역사 최몽룡 외 3 인 현대지리학의 이론가들 한국지리연구회

구형함 정 계의 진화 오갑수 외 지방자치와 지역발전 성경륭 외 10 인 성간 매질에서의 물리 현상 강혜성 외 우주과학의 제문제 김상준 외 韓 中 實 學 史硏 究 한국실학연구회 입자물리현상론 김충선 외 정확히 풀 리는 양자계 남순건 외 茶 山 學연구 1 정 다산 연구의 현황 한우근 외 7 인 2 정 다산과 그 시대 한우근 외 7 인 3 정 E 먼의 경학 이을호 외 3 안 4 다산학의 탐구 강만길 외 6 안 X 馮료집 1 한국의 친족용어 최재석 2 충남토속지명사전 최문휘 3 한국 의 음식용어 윤서석 4 제주토속지명사전 오성찬